JPH0435029B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0435029B2 JPH0435029B2 JP59172008A JP17200884A JPH0435029B2 JP H0435029 B2 JPH0435029 B2 JP H0435029B2 JP 59172008 A JP59172008 A JP 59172008A JP 17200884 A JP17200884 A JP 17200884A JP H0435029 B2 JPH0435029 B2 JP H0435029B2
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- JP
- Japan
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- detection
- cycle
- gas
- timing
- gas detection
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- Expired - Lifetime
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 39
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 2
- 206010037844 rash Diseases 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/12—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body in dependence upon absorption of a fluid; of a solid body in dependence upon reaction with a fluid, for detecting components in the fluid
- G01N27/122—Circuits particularly adapted therefor, e.g. linearising circuits
- G01N27/123—Circuits particularly adapted therefor, e.g. linearising circuits for controlling the temperature
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、検出タイミングを高温時と低温時
の１サイクルの間に複数回設けて高速応答を可能
にしたガス検出装置に関するものである。
の１サイクルの間に複数回設けて高速応答を可能
にしたガス検出装置に関するものである。
従来のガス検出装置として第１図に示す構成の
ものがあり、第２図のタイミングにて作動してい
た。
ものがあり、第２図のタイミングにて作動してい
た。
第１図において、３は一対のヒータ兼用電極、
４はこのヒータ兼用電極３が酸化物半導体にて一
体に固められたガス検出素子であり、１，２はそ
れぞれ電源で、それぞれ前記一対のヒータ兼用電
極３を加熱する。５は前記一対のヒータ兼用電極
３の電極間抵抗を検出するための電源、６は検出
抵抗体、７は前記電源１と電源２と検出サンプリ
ング回路８をコントロールするタイミング回路で
ある。
４はこのヒータ兼用電極３が酸化物半導体にて一
体に固められたガス検出素子であり、１，２はそ
れぞれ電源で、それぞれ前記一対のヒータ兼用電
極３を加熱する。５は前記一対のヒータ兼用電極
３の電極間抵抗を検出するための電源、６は検出
抵抗体、７は前記電源１と電源２と検出サンプリ
ング回路８をコントロールするタイミング回路で
ある。
電源１と電源２は第２図のタイミングにて作動
される。すなわち、高温時T1には高温、低温時
T2には低温に一対のヒータ兼用電極３に加える
電力を制御することにより保たれる。高温時T1
には高温に保たれるため吸着したガスの脱ガスが
促進され、低温時T2には低温に保つことにより、
ガスの吸着が促進される。この低温時T2におい
て、検出サンプリング回路８によつて検出タイミ
ングt0のみで、ガスの検出を行う。通常、この検
出タイミングt0は高温時T1が始まる直前に設けら
れる。また、高温時T1と低温時T2は１サイクル
として繰り返される。１サイクルは数10秒から数
分とするのが普通である。
される。すなわち、高温時T1には高温、低温時
T2には低温に一対のヒータ兼用電極３に加える
電力を制御することにより保たれる。高温時T1
には高温に保たれるため吸着したガスの脱ガスが
促進され、低温時T2には低温に保つことにより、
ガスの吸着が促進される。この低温時T2におい
て、検出サンプリング回路８によつて検出タイミ
ングt0のみで、ガスの検出を行う。通常、この検
出タイミングt0は高温時T1が始まる直前に設けら
れる。また、高温時T1と低温時T2は１サイクル
として繰り返される。１サイクルは数10秒から数
分とするのが普通である。
このように従来装置は構成されているので、１
サイクルとして数10秒から数分もかかり、素早い
検出が不可能であつた。また、検出タイミングが
１サイクルの内に１回しかなく、次のサイクルま
では検出しない為、急激なガスの噴出を検出でき
ず、人命等を危険にさらす可能性を有するという
欠点があつた。
サイクルとして数10秒から数分もかかり、素早い
検出が不可能であつた。また、検出タイミングが
１サイクルの内に１回しかなく、次のサイクルま
では検出しない為、急激なガスの噴出を検出でき
ず、人命等を危険にさらす可能性を有するという
欠点があつた。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を
除去するためになされたもので、１サイクルの間
に検出タイミングを複数回設けることにより、急
激なガスの噴出を素早く検知し、人命等を危険に
さらすことが少ないガス検出装置を提供するもの
である。以下、この発明を図面について説明す
る。
除去するためになされたもので、１サイクルの間
に検出タイミングを複数回設けることにより、急
激なガスの噴出を素早く検知し、人命等を危険に
さらすことが少ないガス検出装置を提供するもの
である。以下、この発明を図面について説明す
る。
第３図はこの発明の一実施例を示すブロツク
図、第４図はその動作説明のためのタイミング波
形図である。
図、第４図はその動作説明のためのタイミング波
形図である。
第３図の実施例において、１〜８は第１図と同
じものであり、９はパルス周波数逓倍回路であ
る。
じものであり、９はパルス周波数逓倍回路であ
る。
次に第３図の実施例の動作を第４図を用いて説
明する。
明する。
第４図において、t1，t2，t3……toは検出タイ
ミングである。この検出タイミングt1，t2，……
toは第３図に示すようにパルス周波数逓倍回路９
を設けることにより１サイクルＴの間に複数回、
すなわちｎ回設けられ素早い応答が可能となる。
このように構成すると、検出タイミングt1，t2，
……toに応じた検出サンプリング回路８の出力列
v1，v2，……vo（図示してない）が出力される。
この出力列v1，v2，voはガス濃度に対応して変化
する。これを逐次警報出力として出力することに
より、高精度の素早い検出ができる。
ミングである。この検出タイミングt1，t2，……
toは第３図に示すようにパルス周波数逓倍回路９
を設けることにより１サイクルＴの間に複数回、
すなわちｎ回設けられ素早い応答が可能となる。
このように構成すると、検出タイミングt1，t2，
……toに応じた検出サンプリング回路８の出力列
v1，v2，……vo（図示してない）が出力される。
この出力列v1，v2，voはガス濃度に対応して変化
する。これを逐次警報出力として出力することに
より、高精度の素早い検出ができる。
また、出力列v1，v2，……voはガスの種類によ
り変化が異なる。これは、脱ガス、ガス吸着の反
応時間が異なるためである。これを利用すること
により、１個のガス検出素子４によつて多種のガ
ス検出素子としても利用できる。
り変化が異なる。これは、脱ガス、ガス吸着の反
応時間が異なるためである。これを利用すること
により、１個のガス検出素子４によつて多種のガ
ス検出素子としても利用できる。
なお、上記実施例ではパルス周波数逓倍回路９
により検出タイミングを１サイクル中に複数回設
けたが、この他、検出サンプリング回路８自体の
サンプリング周期を速めてもよい。
により検出タイミングを１サイクル中に複数回設
けたが、この他、検出サンプリング回路８自体の
サンプリング周期を速めてもよい。
以上説明したように、この発明は隔離された一
対のヒータ兼用電極を酸化物半導体にて一体に固
めたガス検出素子と、検出サンプリング回路と、
前記一対のヒータ兼用電極を高温時T1の周期、
低温時T2の周期を繰り返すためのタイミング回
路とを有するガス検出装置において、前記高温時
T1の周期と低温時T2の周期の１サイクルの間に
ガス検出すべき検出タイミングを複数回設けたの
で、高精度なガス検出装置が得られる利点があ
る。
対のヒータ兼用電極を酸化物半導体にて一体に固
めたガス検出素子と、検出サンプリング回路と、
前記一対のヒータ兼用電極を高温時T1の周期、
低温時T2の周期を繰り返すためのタイミング回
路とを有するガス検出装置において、前記高温時
T1の周期と低温時T2の周期の１サイクルの間に
ガス検出すべき検出タイミングを複数回設けたの
で、高精度なガス検出装置が得られる利点があ
る。
第１図は従来のガス検出装置の回路図、第２図
は第１図の回路のタイミング波形図、第３図はこ
の発明の一実施例を示すブロツク図、第４図は第
３図の実施例のタイミング波形図である。 図中、１，２は電源、３はヒータ兼用電極、４
はガス検出素子、５は電源、６は検出抵抗体、７
はタイミング回路、８は検出サンプリング回路、
９はパルス周波数逓倍回路である。なお、図中の
同一符号は同一または相当部分を示す。
は第１図の回路のタイミング波形図、第３図はこ
の発明の一実施例を示すブロツク図、第４図は第
３図の実施例のタイミング波形図である。 図中、１，２は電源、３はヒータ兼用電極、４
はガス検出素子、５は電源、６は検出抵抗体、７
はタイミング回路、８は検出サンプリング回路、
９はパルス周波数逓倍回路である。なお、図中の
同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- １ 隔離された一対のヒータ兼用電極を酸化物半
導体にて一体に固めたガス検出素子と、検出サン
プリング回路と、前記一対のヒータ兼用電極を高
温時T1の周期と低温時T2の周期とを繰り返させ
るタイミング回路とを有するガス検出装置におい
て、前記高温時T1の周期と低温時T2の周期の１
サイクルの間に前記検出サンプリング回路のガス
検出すべき検出タイミングを複数回設けたことを
特徴とするガス検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17200884A JPS6148756A (ja) | 1984-08-17 | 1984-08-17 | ガス検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17200884A JPS6148756A (ja) | 1984-08-17 | 1984-08-17 | ガス検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6148756A JPS6148756A (ja) | 1986-03-10 |
| JPH0435029B2 true JPH0435029B2 (ja) | 1992-06-09 |
Family
ID=15933807
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17200884A Granted JPS6148756A (ja) | 1984-08-17 | 1984-08-17 | ガス検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6148756A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4977122B2 (ja) * | 2008-12-19 | 2012-07-18 | 大阪瓦斯株式会社 | 燃焼装置用のガス検出装置及び燃焼装置 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5766347A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Hitachi Ltd | Detector for mixture gas |
| JPS57198854A (en) * | 1981-06-02 | 1982-12-06 | Riken Keiki Kk | Identifying and detecting device for gas |
| JPS5814045A (ja) * | 1981-07-17 | 1983-01-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 複数ガス濃度計測装置 |
| JPS58189547A (ja) * | 1982-04-15 | 1983-11-05 | ツエルベルス・アクチエンゲゼルシヤフト | ガスまたは蒸気警報装置 |
| JPS59143948A (ja) * | 1983-02-07 | 1984-08-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ガス漏れ検出装置 |
| JPS59218945A (ja) * | 1983-05-27 | 1984-12-10 | Nippon Soken Inc | ガス成分および湿度の検出装置 |
| JPS6086456A (ja) * | 1983-10-18 | 1985-05-16 | Riken Keiki Kk | ガス種類判別方法及び装置 |
| JPS60198446A (ja) * | 1984-03-23 | 1985-10-07 | Hitachi Ltd | ガス検出装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53160996U (ja) * | 1977-05-25 | 1978-12-16 | ||
| JPS53155693U (ja) * | 1978-04-25 | 1978-12-07 |
-
1984
- 1984-08-17 JP JP17200884A patent/JPS6148756A/ja active Granted
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5766347A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Hitachi Ltd | Detector for mixture gas |
| JPS57198854A (en) * | 1981-06-02 | 1982-12-06 | Riken Keiki Kk | Identifying and detecting device for gas |
| JPS5814045A (ja) * | 1981-07-17 | 1983-01-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 複数ガス濃度計測装置 |
| JPS58189547A (ja) * | 1982-04-15 | 1983-11-05 | ツエルベルス・アクチエンゲゼルシヤフト | ガスまたは蒸気警報装置 |
| JPS59143948A (ja) * | 1983-02-07 | 1984-08-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ガス漏れ検出装置 |
| JPS59218945A (ja) * | 1983-05-27 | 1984-12-10 | Nippon Soken Inc | ガス成分および湿度の検出装置 |
| JPS6086456A (ja) * | 1983-10-18 | 1985-05-16 | Riken Keiki Kk | ガス種類判別方法及び装置 |
| JPS60198446A (ja) * | 1984-03-23 | 1985-10-07 | Hitachi Ltd | ガス検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6148756A (ja) | 1986-03-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |