JPH0434210B2 - - Google Patents
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- JPH0434210B2 JPH0434210B2 JP59261484A JP26148484A JPH0434210B2 JP H0434210 B2 JPH0434210 B2 JP H0434210B2 JP 59261484 A JP59261484 A JP 59261484A JP 26148484 A JP26148484 A JP 26148484A JP H0434210 B2 JPH0434210 B2 JP H0434210B2
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- signal
- servo gain
- servo
- error signal
- circuit
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000009499 grossing Methods 0.000 claims description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 3
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
Landscapes
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、コンパクトデイスクプレーヤなどに
装備されている光学式ピツクアツプに係り、特
に、フオーカスサーボ装置やトラツキングサーボ
装置を駆動するサーボゲインを自動的に調整する
サーボゲイン制御装置に関する。
装備されている光学式ピツクアツプに係り、特
に、フオーカスサーボ装置やトラツキングサーボ
装置を駆動するサーボゲインを自動的に調整する
サーボゲイン制御装置に関する。
第４図はコンパクトデイスクプレーヤに装備さ
れる光学式ピツクアツプのサーボ装置の従来例を
示すものである。
れる光学式ピツクアツプのサーボ装置の従来例を
示すものである。
図中の符号１はコンパクトデイスクであり、回
転駆動装置２に支持されて回転駆動されるように
なつている。
転駆動装置２に支持されて回転駆動されるように
なつている。
３は光学式ピツクアツプのヘツドを示すもので
あり、このヘツド３はコンパクトデイスク１の記
録面に対向している。ヘツド３には、コンパクト
デイスク１に対向する対物レンズ３ａと、発光素
子（レーザダイオード）３ｂと、ビームスプリツ
タ３ｃと、受光素子（ホトダイオード）３ｄなど
からなる光学部材が搭載されている。また、対物
レンズ３ａはアクチユエータ４によつて駆動され
ており、発光素子３ｂから発せられ、対物レンズ
３ａからコンパクトデイスク１の記録面に照射さ
れるレーザビームのスポツトが、デイスク１の記
録面に適正に当たるように補正されている。この
アクチユエータ４は、レーザビームのピントをデ
イスク１の記録面に合わせるためのフオーカスサ
ーボ装置と、レーザビームのスポツトをデイスク
１の情報トラツクに沿わせるためのトラツキング
サーボ装置として使用されている。
あり、このヘツド３はコンパクトデイスク１の記
録面に対向している。ヘツド３には、コンパクト
デイスク１に対向する対物レンズ３ａと、発光素
子（レーザダイオード）３ｂと、ビームスプリツ
タ３ｃと、受光素子（ホトダイオード）３ｄなど
からなる光学部材が搭載されている。また、対物
レンズ３ａはアクチユエータ４によつて駆動され
ており、発光素子３ｂから発せられ、対物レンズ
３ａからコンパクトデイスク１の記録面に照射さ
れるレーザビームのスポツトが、デイスク１の記
録面に適正に当たるように補正されている。この
アクチユエータ４は、レーザビームのピントをデ
イスク１の記録面に合わせるためのフオーカスサ
ーボ装置と、レーザビームのスポツトをデイスク
１の情報トラツクに沿わせるためのトラツキング
サーボ装置として使用されている。
光学式ピツクアツプの駆動時には、ホトダイオ
ード３ｄの受光出力を基にエラー信号検出回路１
１がエラー信号を検出し、位相保償回路１２によ
つて位相の補正を行なつた後に、前記エラー信号
に応じてアクチユエータドライブ回路１３がアク
チユエータ４を駆動するようになつている。
ード３ｄの受光出力を基にエラー信号検出回路１
１がエラー信号を検出し、位相保償回路１２によ
つて位相の補正を行なつた後に、前記エラー信号
に応じてアクチユエータドライブ回路１３がアク
チユエータ４を駆動するようになつている。
上記のサーボ装置においては、アクチユエータ
ドライブ回路１３によるサーボゲインを適正な値
に保つ必要がある。従来は、このサーボゲインの
調整を可変抵抗器などを用いたサーボゲイン調整
器１４によつて行なつていた。
ドライブ回路１３によるサーボゲインを適正な値
に保つ必要がある。従来は、このサーボゲインの
調整を可変抵抗器などを用いたサーボゲイン調整
器１４によつて行なつていた。
しかしながら、上記のサーボゲイン調整器１４
を用いた装置では、工場内での調整工程にてサー
ボゲインの調整値を固定して決めることになる。
ところが、実際にコンパクトデイスクプレーヤを
使用する際には温度などの環境の変化があり、ま
た、アクチユエータ４を構成する磁気回路の駆動
感度や半導体素子の特性変化、さらにはデイスク
１の記録面のばらつきなど種々の条件の変動があ
る。そのために、エラー信号検出感度が変動する
ことがあり、このエラー信号出力によつて決めら
れるサーボゲインにも変動が生じることになる。
したがつて、サーボゲイン調整器１４による固定
的な調整手段ではサーボゲインの変動に対処でき
ず、適正な補正利得が得られない場合が生じる。
を用いた装置では、工場内での調整工程にてサー
ボゲインの調整値を固定して決めることになる。
ところが、実際にコンパクトデイスクプレーヤを
使用する際には温度などの環境の変化があり、ま
た、アクチユエータ４を構成する磁気回路の駆動
感度や半導体素子の特性変化、さらにはデイスク
１の記録面のばらつきなど種々の条件の変動があ
る。そのために、エラー信号検出感度が変動する
ことがあり、このエラー信号出力によつて決めら
れるサーボゲインにも変動が生じることになる。
したがつて、サーボゲイン調整器１４による固定
的な調整手段ではサーボゲインの変動に対処でき
ず、適正な補正利得が得られない場合が生じる。
本発明は上記従来の問題点に着目してなされた
ものであり、光学式ピツクアツプのプレー中にお
ける種々の条件の変動に伴うエラー信号出力の変
化に対応して、サーボゲインを変化させるように
し、常に適正な補正利得が得られるようにした光
学式ピツクアツプのサーボゲイン制御装置を提供
することを目的としている。
ものであり、光学式ピツクアツプのプレー中にお
ける種々の条件の変動に伴うエラー信号出力の変
化に対応して、サーボゲインを変化させるように
し、常に適正な補正利得が得られるようにした光
学式ピツクアツプのサーボゲイン制御装置を提供
することを目的としている。
本発明のサーボゲイン制御装置は、記録媒体に
対向する対物レンズと、対物レンズに検知ビーム
を送る発光部材と、記録媒体からの反射ビームを
受ける受光部材と、対物レンズを補正動作させる
アクチユエータとが備えられている光学式ピツク
アツプにおいて、前記受光部材に接続されている
エラー信号検出回路と、このエラー信号検出回路
からの出力のうちサーボ帯域よりも高い異なる周
波数の信号をとり出す複数の周波数選択回路と、
とり出されたそれぞれの周波数の信号を検波し平
滑化する検波平滑回路と、検波された複数の直流
信号の差に基づいた直流信号を制御信号としてサ
ーボゲインを変化させる制御手段と、この制御手
段からの信号によつてアクチユエータを駆動する
ドライブ回路とを有していることを特徴とするも
のである。
対向する対物レンズと、対物レンズに検知ビーム
を送る発光部材と、記録媒体からの反射ビームを
受ける受光部材と、対物レンズを補正動作させる
アクチユエータとが備えられている光学式ピツク
アツプにおいて、前記受光部材に接続されている
エラー信号検出回路と、このエラー信号検出回路
からの出力のうちサーボ帯域よりも高い異なる周
波数の信号をとり出す複数の周波数選択回路と、
とり出されたそれぞれの周波数の信号を検波し平
滑化する検波平滑回路と、検波された複数の直流
信号の差に基づいた直流信号を制御信号としてサ
ーボゲインを変化させる制御手段と、この制御手
段からの信号によつてアクチユエータを駆動する
ドライブ回路とを有していることを特徴とするも
のである。
本発明では、サーボゲインを制御するための制
御信号として、サーボのエラー信号のうち複数の
周波数における出力をとり出し、その差に基づく
直流信号を制御信号として利用したことを特徴と
している。エラー信号検出回路からの出力には、
第３図に示すように種々の周波数の信号が含まれ
ている。この信号のうちトラツキングなどのサー
ボでは、例えば、500Hz程度あるいはそれ以上の
帯域のものを基準としてサーボが行なわれる。本
発明では、エラー検出回路のうちのトラツキング
などのサーボ帯域よりもさらに高い帯域であつて
半導体素子のノイズなどにより変動する成分f1
（約1KHz）と、ノイズでは変動しないが温度変化
などにより前記f1の出力成分の増減に伴つて変動
するf2（２〜5KHz）の帯域の周波数成分に着目し
たものである。すなわち、サーボ装置の特色とし
て、第３図の実線で示す出力Ａが理想的なサーボ
ゲインのときのエラー信号であるとすると、サー
ボゲインが高過ぎるときにはエラー信号は破線で
示す出力レベルＢとなり、サーボゲインが低過ぎ
るときには鎖線で示す出力レベルＣとなる。そこ
で、このレベルの変化において、前記の高い帯域
の周波数f1とf2との差に着目し、この差を補正す
るような信号をサーボゲインの制御信号として利
用するようにしたものである。
御信号として、サーボのエラー信号のうち複数の
周波数における出力をとり出し、その差に基づく
直流信号を制御信号として利用したことを特徴と
している。エラー信号検出回路からの出力には、
第３図に示すように種々の周波数の信号が含まれ
ている。この信号のうちトラツキングなどのサー
ボでは、例えば、500Hz程度あるいはそれ以上の
帯域のものを基準としてサーボが行なわれる。本
発明では、エラー検出回路のうちのトラツキング
などのサーボ帯域よりもさらに高い帯域であつて
半導体素子のノイズなどにより変動する成分f1
（約1KHz）と、ノイズでは変動しないが温度変化
などにより前記f1の出力成分の増減に伴つて変動
するf2（２〜5KHz）の帯域の周波数成分に着目し
たものである。すなわち、サーボ装置の特色とし
て、第３図の実線で示す出力Ａが理想的なサーボ
ゲインのときのエラー信号であるとすると、サー
ボゲインが高過ぎるときにはエラー信号は破線で
示す出力レベルＢとなり、サーボゲインが低過ぎ
るときには鎖線で示す出力レベルＣとなる。そこ
で、このレベルの変化において、前記の高い帯域
の周波数f1とf2との差に着目し、この差を補正す
るような信号をサーボゲインの制御信号として利
用するようにしたものである。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
第２図は本発明の実施例によるサーボゲイン制
御装置の回路ブロツク図である。
御装置の回路ブロツク図である。
第２図に基づいて本発明の実施例を説明する前
に第１図により本発明の比較例について説明す
る。
に第１図により本発明の比較例について説明す
る。
第１図に示す比較例は、サーボゲインを変化さ
せる制御手段としてアナログ乗算器２３が使用さ
れており、これが、第４図の従来例におけるサー
ボゲイン調整器１４の代わりに設けられている。
また、エラー信号検出回路１１からの出力信号の
うち、f1（約1KHz）の帯域のものをとり出す周波
数選択回路（フイルタ）２１と、この出力を検波
し且つ平滑化する検波平滑回路２２とが設けられ
ている。この検波平滑回路２２はダイオード、抵
抗器および容量の大きいコンデンサとから構成さ
れている。
せる制御手段としてアナログ乗算器２３が使用さ
れており、これが、第４図の従来例におけるサー
ボゲイン調整器１４の代わりに設けられている。
また、エラー信号検出回路１１からの出力信号の
うち、f1（約1KHz）の帯域のものをとり出す周波
数選択回路（フイルタ）２１と、この出力を検波
し且つ平滑化する検波平滑回路２２とが設けられ
ている。この検波平滑回路２２はダイオード、抵
抗器および容量の大きいコンデンサとから構成さ
れている。
また、ヘツド３は第４図に示したものと同様
に、デイスク１に対向する対物レンズ３ａ、発光
部材（レーザダイオード）３ｂ、ビームスプリツ
タ３ｃ、受光素子（ホトダイオード）３ｄなどか
らなる光学部材を搭載している。また、対物レン
ズ３ａを駆動するアクチユエータ４は、フオーカ
スサーボ装置とトラツキングサーボ装置とを構成
している。そして、受光部材３ｄはエラー信号検
出回路１１に接続されている。また、アナログ乗
算器２３は位相保償回路１２に接続され、さらに
アクチユエータドライブ回路１３を制御するよう
になつている。
に、デイスク１に対向する対物レンズ３ａ、発光
部材（レーザダイオード）３ｂ、ビームスプリツ
タ３ｃ、受光素子（ホトダイオード）３ｄなどか
らなる光学部材を搭載している。また、対物レン
ズ３ａを駆動するアクチユエータ４は、フオーカ
スサーボ装置とトラツキングサーボ装置とを構成
している。そして、受光部材３ｄはエラー信号検
出回路１１に接続されている。また、アナログ乗
算器２３は位相保償回路１２に接続され、さらに
アクチユエータドライブ回路１３を制御するよう
になつている。
この比較例では、フオーカスあるいはトラツキ
ングのエラー信号がエラー信号検出回路１１によ
つて検出される。この検出信号のうち、半導体素
子のノイズに伴つて変動するf1の周波数成分が周
波数選択回路２１によつてとり出される。さらに
この出力成分は検波平滑回路２２によつて検波さ
れ平滑化されて直流信号ｅが得られる。前述の如
く、サーボゲインが高過ぎているときには、エラ
ー信号が第３図のＢにて示すように低いレベルに
なつており、この直流信号ｅも低い電圧となつて
出力される。よつて、この直流信号ｅがアナログ
乗算器２３に入力されると、低い乗算数がかけら
れることになりサーボゲインが下げられることに
なる。その結果、エラー信号検出回路１１からの
出力が、第３図のＡで示すレベルに近づくように
制御される。逆に、サーボゲインが低過ぎている
ときには、エラー信号は第３図のＣにて示すよう
な高いレベルとなつており、前記直流信号ｅが高
い電圧にて出力される。よつて、この信号がアナ
ログ乗算器２３に入力されると、高い乗算数がか
けられることになり、サーボゲインが上げられる
ことになる。したがつて、エラー信号出力も第３
図のＡに近づくように制御される。
ングのエラー信号がエラー信号検出回路１１によ
つて検出される。この検出信号のうち、半導体素
子のノイズに伴つて変動するf1の周波数成分が周
波数選択回路２１によつてとり出される。さらに
この出力成分は検波平滑回路２２によつて検波さ
れ平滑化されて直流信号ｅが得られる。前述の如
く、サーボゲインが高過ぎているときには、エラ
ー信号が第３図のＢにて示すように低いレベルに
なつており、この直流信号ｅも低い電圧となつて
出力される。よつて、この直流信号ｅがアナログ
乗算器２３に入力されると、低い乗算数がかけら
れることになりサーボゲインが下げられることに
なる。その結果、エラー信号検出回路１１からの
出力が、第３図のＡで示すレベルに近づくように
制御される。逆に、サーボゲインが低過ぎている
ときには、エラー信号は第３図のＣにて示すよう
な高いレベルとなつており、前記直流信号ｅが高
い電圧にて出力される。よつて、この信号がアナ
ログ乗算器２３に入力されると、高い乗算数がか
けられることになり、サーボゲインが上げられる
ことになる。したがつて、エラー信号出力も第３
図のＡに近づくように制御される。
この第１図に示す比較例では、エラー信号のう
ちf1の周波数成分のみに着目しているが、この場
合、次のような不都合が生じることがある。f1の
周波数成分は主に半導体素子の発生するノイズに
より変動するものであるが、例えば、温度変化な
どにより、サーボゲインとは無関係にf1の出力成
分が増減することがある。この場合、第１図にお
いて、検波平滑回路２２から出力される直流信号
ｅが変化することになる。これによりサーボゲイ
ンが変動したのと同じ制御が行なわれ、サーボゲ
インの不必要な制御が行なわれることになる。
ちf1の周波数成分のみに着目しているが、この場
合、次のような不都合が生じることがある。f1の
周波数成分は主に半導体素子の発生するノイズに
より変動するものであるが、例えば、温度変化な
どにより、サーボゲインとは無関係にf1の出力成
分が増減することがある。この場合、第１図にお
いて、検波平滑回路２２から出力される直流信号
ｅが変化することになる。これによりサーボゲイ
ンが変動したのと同じ制御が行なわれ、サーボゲ
インの不必要な制御が行なわれることになる。
そこで第２図に示す本発明の実施例では、この
ような不要の制御を防止するため、f1の周波数成
分の他に、さらに高い周波数成分f2（２〜5KHz）
を使用している。このf2周波数成分は、半導体素
子が発生するノイズにより変動することがない
が、f2の成分は、温度変化などによりf1の出力成
分が増減すると、これに伴つてf1とほぼ同じ程度
増減する帯域のものを使用している。また、実線
で示す適正なサーボゲインのときのエラー信号Ａ
では、f1の成分における信号レベルとf2の成分に
おける信号レベルとがほぼ同じ強度になる。
ような不要の制御を防止するため、f1の周波数成
分の他に、さらに高い周波数成分f2（２〜5KHz）
を使用している。このf2周波数成分は、半導体素
子が発生するノイズにより変動することがない
が、f2の成分は、温度変化などによりf1の出力成
分が増減すると、これに伴つてf1とほぼ同じ程度
増減する帯域のものを使用している。また、実線
で示す適正なサーボゲインのときのエラー信号Ａ
では、f1の成分における信号レベルとf2の成分に
おける信号レベルとがほぼ同じ強度になる。
この点に着目し、第２図の実施例では、f1の周
波数成分をとり出す周波数選択回路２１の他に、
f2の周波数成分をとり出す周波数選択回路２４な
らびにこれに接続されている検波平滑回路２５が
設けられている。そして、f1の周波数成分からと
り出され且つ検波平滑回路２２を経て出力さる直
流信号e1と、f2の周波数成分からとり出され且つ
検波平滑回路２５を経て出力される直流信号e2と
が比較されるようになつている。第３図に示すよ
うに、サーボゲインが適正なとき（出力レベルＡ
のとき）にはe1〓e2となり、サーボゲインが高過
ぎるとき（出力レベルＢのとき）にはe1＜e2とな
り、サーボゲインが低過ぎるとき（出力レベルＣ
のとき）にはe1＞e2となる。
波数成分をとり出す周波数選択回路２１の他に、
f2の周波数成分をとり出す周波数選択回路２４な
らびにこれに接続されている検波平滑回路２５が
設けられている。そして、f1の周波数成分からと
り出され且つ検波平滑回路２２を経て出力さる直
流信号e1と、f2の周波数成分からとり出され且つ
検波平滑回路２５を経て出力される直流信号e2と
が比較されるようになつている。第３図に示すよ
うに、サーボゲインが適正なとき（出力レベルＡ
のとき）にはe1〓e2となり、サーボゲインが高過
ぎるとき（出力レベルＢのとき）にはe1＜e2とな
り、サーボゲインが低過ぎるとき（出力レベルＣ
のとき）にはe1＞e2となる。
したがつて、第２の実施例では、e1とe2の差を
とり、この差に、バイアス発生回路２６によつて
一定のバイアス電圧を加え、その結果の直流信号
ｅをアナログ乗算器２３に入力している。この直
流信号ｅに基づく乗算数に従つてサーボゲインを
制御すれば、エラー信号の出力が高過ぎるときに
サーボゲインが上げられ、エラー信号の出力が低
過ぎるときにサーボゲインが下げられるように制
御されることになる。
とり、この差に、バイアス発生回路２６によつて
一定のバイアス電圧を加え、その結果の直流信号
ｅをアナログ乗算器２３に入力している。この直
流信号ｅに基づく乗算数に従つてサーボゲインを
制御すれば、エラー信号の出力が高過ぎるときに
サーボゲインが上げられ、エラー信号の出力が低
過ぎるときにサーボゲインが下げられるように制
御されることになる。
なお、第３図におけるエラー信号がＡのとき
（サーボゲインが最適な状態のとき）、e1−e2〓０
となるので、この状態のとき、アナログ乗算器２
３に入力される直流信号ｅはバイアス発生回路２
６によるバイアス電圧とほぼ等しくなる。よつ
て、アナログ乗算器２３においてサーボゲインを
最適とする乗算数が得られる電圧値と、前記バイ
アス電圧とが等しくなるように設定しておけば、
エラー信号のレベルがＡで示す最適な状態のとき
に、（e1−e2〓０のときに）アナログ乗算器２３
により最適の乗算数が掛けられ、このときにはサ
ーボゲインが変動させられないようになる。
（サーボゲインが最適な状態のとき）、e1−e2〓０
となるので、この状態のとき、アナログ乗算器２
３に入力される直流信号ｅはバイアス発生回路２
６によるバイアス電圧とほぼ等しくなる。よつ
て、アナログ乗算器２３においてサーボゲインを
最適とする乗算数が得られる電圧値と、前記バイ
アス電圧とが等しくなるように設定しておけば、
エラー信号のレベルがＡで示す最適な状態のとき
に、（e1−e2〓０のときに）アナログ乗算器２３
により最適の乗算数が掛けられ、このときにはサ
ーボゲインが変動させられないようになる。
以上のように本発明によれば、温度などの環境
変化や、デイスクの記録面のばらつき、さらには
サーボ機構の動作感度や半導体素子の特性変化な
どによつてエラー信号が変化した場合に、サーボ
ゲインを自動的に制御できるようになる。よつ
て、フオーカスやトラツキングなどのサーボ特性
を常に良好な状態に保てることになり、機器の特
性を安定させることができるようになる。
変化や、デイスクの記録面のばらつき、さらには
サーボ機構の動作感度や半導体素子の特性変化な
どによつてエラー信号が変化した場合に、サーボ
ゲインを自動的に制御できるようになる。よつ
て、フオーカスやトラツキングなどのサーボ特性
を常に良好な状態に保てることになり、機器の特
性を安定させることができるようになる。
第１図は本発明の比較例を示す回路構成図、第
２図は本発明によるサーボゲイン制御装置を実施
例別に示す回路構成図、第３図はエラー信号検出
回路からの出力強度を周波数分布に対応して示す
線図、第４図は従来の光学式ピツクアツプのサー
ボ装置の回路構成図である。 １……デイスク（記録媒体）、３……光学式ピ
ツクアツプのヘツド、３ａ……対物レンズ、３ｂ
……発光部材、３ｄ……受光部材、２１，２４…
…周波数選択回路、２２，２５……検波平滑回
路。
２図は本発明によるサーボゲイン制御装置を実施
例別に示す回路構成図、第３図はエラー信号検出
回路からの出力強度を周波数分布に対応して示す
線図、第４図は従来の光学式ピツクアツプのサー
ボ装置の回路構成図である。 １……デイスク（記録媒体）、３……光学式ピ
ツクアツプのヘツド、３ａ……対物レンズ、３ｂ
……発光部材、３ｄ……受光部材、２１，２４…
…周波数選択回路、２２，２５……検波平滑回
路。
Claims (1)
- １ 記録媒体に対向する対物レンズと、対物レン
ズに検知ビームを送る発光部材と、記録媒体から
の反射ビームを受ける受光部材と、対物レンズを
補正動作させるアクチユエータとが備えられてい
る光学式ピツクアツプにおいて、前記受光部材に
接続されているエラー信号検出回路と、このエラ
ー信号検出回路からの出力のうちサーボ帯域より
も高い異なる周波数の信号をとり出す複数の周波
数選択回路と、とり出されたそれぞれの周波数の
信号を検波し平滑化する検波平滑回路と、検波さ
れた複数の直流信号の差に基づいた直流信号を制
御信号としてサーボゲインを変化させる制御手段
と、この制御手段からの信号によつてアクチユエ
ータを駆動するドライブ回路とを有していること
を特徴とする光学式ピツクアツプのサーボゲイン
制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26148484A JPS61139934A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 光学式ピツクアツプのサ−ボゲイン制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26148484A JPS61139934A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 光学式ピツクアツプのサ−ボゲイン制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61139934A JPS61139934A (ja) | 1986-06-27 |
| JPH0434210B2 true JPH0434210B2 (ja) | 1992-06-05 |
Family
ID=17362544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26148484A Granted JPS61139934A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 光学式ピツクアツプのサ−ボゲイン制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61139934A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0294081A (ja) * | 1988-09-29 | 1990-04-04 | Pioneer Electron Corp | ディスクプレーヤのサーボ装置 |
| JP2701406B2 (ja) * | 1989-01-09 | 1998-01-21 | ソニー株式会社 | 光ディスク装置のサーボオートゲインコントロール回路 |
| ES2563431T3 (es) | 2010-03-19 | 2016-03-15 | Selex Es S.P.A. | Dispositivo separador para objetos postales estándar y extendidos |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53149003A (en) * | 1977-05-31 | 1978-12-26 | Victor Co Of Japan Ltd | Loop gain adjusting circuit for servo-circuit |
-
1984
- 1984-12-11 JP JP26148484A patent/JPS61139934A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53149003A (en) * | 1977-05-31 | 1978-12-26 | Victor Co Of Japan Ltd | Loop gain adjusting circuit for servo-circuit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61139934A (ja) | 1986-06-27 |
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