JPH04337623A - 半導体装置の製造装置 - Google Patents

半導体装置の製造装置

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Publication number
JPH04337623A
JPH04337623A JP11006791A JP11006791A JPH04337623A JP H04337623 A JPH04337623 A JP H04337623A JP 11006791 A JP11006791 A JP 11006791A JP 11006791 A JP11006791 A JP 11006791A JP H04337623 A JPH04337623 A JP H04337623A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin liquid
nozzle
semiconductor substrate
light
container
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11006791A
Other languages
English (en)
Inventor
Michiyo Furukawa
古川 美智代
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Kyushu Ltd filed Critical NEC Kyushu Ltd
Priority to JP11006791A priority Critical patent/JPH04337623A/ja
Publication of JPH04337623A publication Critical patent/JPH04337623A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置の製造装置に
関し、特に感光性樹脂液塗布工程に使用される塗布装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の塗布装置は、図2に示す様に、半
導体基板5を真空吸着する基体6と、基体6を上端に固
着した回転軸7と、この回転軸7を回転駆動しかつ回転
軸7を通して基体6を真空引きするポンプ8と、基体6
の上方に滴下用ノズル4を有し、さらに半導体基板5を
回転させ半導体基板表面に滴下された感光性樹脂液を振
り切る際に生ずる液の飛散を防止するふた9を有してい
た。前述の半導体基板5上に感光性樹脂液を塗布する部
分の下部に、配管により感光性樹脂液供給用容器1と、
滴下量調整部2とフィルター3が連結され、ノズル4よ
り半導体基板5表面に感光性樹脂を塗布していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来の半導体装置
製造の装置では、感光性樹脂液供給用の容器と感光性樹
脂液を適量滴下するノズル間に長い配管を有する為、そ
の配管が感光性樹脂液で充分に満たされない時内壁に乾
燥した感光性樹脂が発生し、パーティクルとなる現象が
生じていた。従ってこの構造では配管が長く、又、感光
性樹脂液を吸上げるのに高い圧力が必要である為、フィ
ルターにトラップされたパーティクルを押し出してしま
うことがあり、それが半導体基板表面に塗布されパター
ン形成の妨げとなり、歩留低下をひきおこすという問題
点があった。さらに、一度配管が汚れてしまうと洗浄が
必要となり、その洗浄が十分でない場合は、感光性樹脂
液中の感光剤と結びつきパーティクルが成長してしまう
ため、生産に多大な影響を及ぼすという問題点があった
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置の製
造装置は、半導体基板を真空吸着し回転運動させる基体
を有しこの半導体基板表面にノズルより感光性樹脂液を
適量滴下する半導体装置の製造装置に於いて、感光性樹
脂液供給用の容器とその容器に直結した滴下量調整部及
びフィルタリングユニットとが前記基体上部の前記ノズ
ルに直結されているものである。
【0005】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
。図1は本発明の一実施例の断面図である。本実施例は
、半導体基板5を真空吸着する基体6と、基体6を上端
に固着した回転軸7と、この回転軸7を回転駆動しかつ
回転軸7を通して基体6を真空引きするポンプ8と、基
体6の上方に設置された感光性樹脂液滴下用ノズル4と
、それに直結している感光性樹脂液供給用の容器1とを
有している。
【0006】基体6上の半導体基板5をポンプ8により
真空引きし、回転運動させながら、感光性樹脂液供給用
の容器1から滴下量調整部2とフィルター3を通した感
光性樹脂液を、ノズル4より半導体基板5表面に滴下さ
せる時、その回転運動により感光性樹脂液がまわりに飛
散してしまうため、飛散防止用ふた9を備えている。
【0007】このように構成された本実施例によれば、
従来のようにノズル4と容器1とを接続する配管が不要
となるため、配管に起因するパーティクルの発生をなく
すことができる。
【0008】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、感光性樹
脂液供給用の容器と滴下量調整部及びフィルターをノズ
ルに直結させることにより、従来の配管によるパーティ
クルの発生が抑えられる。また、感光性樹脂液を移送さ
せる圧力を低くできるため、パーティクルのフィルター
通過が抑えられるので、パターン形成への悪影響が解消
され、更に配管洗浄やフィルター交換などの装置メンテ
ナンスによる生産性の妨げをなくすことができるという
効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を説明する為の断面図。
【図2】従来の装置の一例の断面図。
【符号の説明】
1    容器 2    滴下量調整部 3    フィルター 4    ノズル 5    半導体基板 6    基体 7    回転軸 8    ポンプ 9    ふた

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  半導体基板を真空吸着し回転運動させ
    る基体を有しこの半導体基板表面にノズルより感光性樹
    脂液を適量滴下する半導体装置の製造装置に於いて、感
    光性樹脂液供給用の容器とその容器に直結した滴下量調
    整部及びフィルタリングユニットとが前記基体上部の前
    記ノズルに直結されていることを特徴とする半導体装置
    の製造装置。
JP11006791A 1991-05-15 1991-05-15 半導体装置の製造装置 Pending JPH04337623A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000167466A (ja) * 1998-12-01 2000-06-20 Nec Corp 薬液塗布機及びその使用方法
JP2004172201A (ja) * 2002-11-18 2004-06-17 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置及び基板処理方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000167466A (ja) * 1998-12-01 2000-06-20 Nec Corp 薬液塗布機及びその使用方法
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