JPH04323544A - プラスチックフィルム巻回体の検査方法 - Google Patents

プラスチックフィルム巻回体の検査方法

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JPH04323544A
JPH04323544A JP3119254A JP11925491A JPH04323544A JP H04323544 A JPH04323544 A JP H04323544A JP 3119254 A JP3119254 A JP 3119254A JP 11925491 A JP11925491 A JP 11925491A JP H04323544 A JPH04323544 A JP H04323544A
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plastic film
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ccd camera
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Masamitsu Hasegawa
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Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、紙管等の芯体に巻き取
ったプラスチックフィルムの両サイドをカットしたプラ
スチックフィルム巻回体の外観検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、プラスチックフィルム巻回体(以
下、巻回体と略称する。)からフィルムを引き出しやす
くするため、図4に示すようにサイドカッター1により
、巻き取ったプラスチックフィルム2の両端面3が平坦
になるように、サイドカットして耳仕上げを行っている
。このサイドカット工程では、図5に示すように、■コ
ーナー部に切り残し4が生じる、■芯体5にカットした
巻回体の耳屑6が残り、巻き付く、■製品幅aが規格よ
り長かったり、短かったりする。さらに、カット時は、
巻回体を回転させるが、その際、巻回体が搬送コンベア
などにあたり、表面に傷7が付く等により不良品が発生
するが、従来このような不良品の判別は全数、人による
外観検査により行われていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の検査方法は
、目視による外観検査であるため、不良品が流れても、
見逃してしまうことがあり、また検査者により、判断基
準が少しずつ違い、また同一の人間が検査するにしても
、その日の体調、精神状態により、判断基準がかわり、
常に一定基準の検査ができなかった。さらに、製品幅a
は、スケールをあてて計測するのが原則であるが、処理
本数が多い場合、全数を計測できないため、目視により
、長短を判別し、規格値前後のもののみ計測する抜き取
り検査であるため、規格値をはずれた不良品も合格品と
して流れることがあった。本発明は、上記した従来の問
題を解決するものであり、巻回体のサイドカット工程で
発生する外観上、寸法上の不良部分の有無を常に一定基
準で検査する方法を提供することを課題とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記課題を
解決するために種々検討を重ねた結果、極めて望ましい
検査方法を開発した。すなわち、本発明は、巻き取った
プラスチックフィルムの両サイドをカットした巻回体を
検査する方法において、電荷結合素子(以下、CCDと
略称する。)カメラでとらえた巻回体の画像を4n(n
は4または5)段階のレベルに分割し、巻回体の切り残
し、耳屑、寸法不良、表面の傷のそれぞれを、予め設定
された2値化レベルによりドットに変換し、この数と予
め設定された不良限度見本のドット数とを比較し、この
ドット数以上を不良品とする方法を要旨とするものであ
る。本発明において、CCDカメラでとらえた画像を4
n(nは4または5)段階のレベルに分割したのは、4
5 レベルを超えて分割しても精度が向上する割には判
別効果が向上せず、他方44 段階レベル未満のものは
、良品と不良品を判別できる微調整が出来ないためであ
る。
【0005】以下、添付図面により、本発明の方法によ
る巻回体の検査方法について説明する。図1の(イ)図
、及び(ロ)図は、巻回体の検査を実施する状態を示す
概略配置図で、それぞれ正面図及び側面図である。図2
は、CCDカメラの画面に巻回体のサイドカット部を映
した状態を示す概念図であり、図3は、巻回体の切り残
し、耳屑の検査のための照明の配置状態を示す図である
。 検査1.巻回体のコーナー部での切り残し、芯体に巻き
付く耳屑の検査 芯体5に巻き取ったプラスチックフィルム2の両サイド
カット面3のそれぞれの上方に、2個の蛍光灯8を配置
し、それぞれを図3に示すように角度θ’だけ巻回体の
両端の外側に向けて、切り残し部4、耳屑部6を照射し
、各部分の反射光をCCDカメラAがドットに変換し画
像に取り込む。CCDカメラで巻回体の不良限度見本を
写した画像は、44 〜45 すなわち256または1
024段階レベルに白黒に分割され、1〜256の間で
2値化レベルを変化させて、不良部分が光り、良品が光
らなくなるような画像となるように2値化レベルを設定
する。不良部分は、著しく光り、良品はサイドカット部
が光らないことから、CCDカメラで不良品限度見本を
基準にして決め、設定された2値化レベルによりドット
に変換し、このドット数以上のものを不良品として検出
することができる。
【0006】CCDカメラAは、サイドカット面3と芯
体5の交差部に向けて斜め上方に配置される。そのカメ
ラの中心線と、芯体面との角度θは、例えば、20°〜
80°が良く、さらに望ましくは、30°〜60°が良
い。20°未満であると、芯体5の後方に耳屑が隠れて
しまい耳屑部の判別が難しくなりやすい。80°より大
きいと、サイドカットする位置が巻回体のサイドカット
工程においては、2〜4mmずれてしまうことがあるた
め、画面のほぼ一定位置にサイドカット面が入らなくな
り、測定の対象となるウインドウの設定をすることが難
しくなりやすい。
【0007】サイドカット面3と、CCDカメラAの距
離は、図2に示すように画面にサイドカット面が大きく
映るように調節する。この様に大きく映すと、小さな不
良部分でも容易に見付けることができる。なお、この場
合、サイドカット面全体を検査するために、巻回体を回
転させる必要がある。サイドカット面とCCDカメラA
との距離は、使用するレンズの焦点距離により異なるが
、使用するレンズをズームレンズにすると、倍率をかえ
ることにより視野を一定にしてサイドカット面と、CC
DカメラAの距離を自由に変えられるので、CCDカメ
ラAを設定する位置に制限がある場合、ズームレンズを
使用すると大変使いやすい。
【0008】本発明において、巻回体のサイドカット面
を照射する蛍光灯8は、芯体の軸方向に垂直である巻回
体2のサイドカット面3の上方から芯体の軸方向に平行
な位置から、照射面を巻回体の中心から遠くなるように
外側に向けて間接照射させる(図3の蛍光灯8参照。)
ことが重要である。照射を真下、あるいは内側に向けた
直接照射(図3の蛍光灯8’参照。)にすると、耳屑部
だけではなくて、芯体も一緒に光ってしまうため、耳屑
がない良品でも芯体部の光で不良品と判別してしまいや
すい。また、2値化レベルを調整して、芯体を光らなく
するレベルまで下げると、耳屑部も光らなくなってしま
い、不良品でも良品と判断してしまいやすい。上記のよ
うに上方から外側に向けて間接照射にする場合には、切
り残し部、耳屑部は光り、芯体部は光らなくなり、良品
と不良品を正確に判別することができる。
【0009】検査2.巻回体の製品幅の測定巻回体の製
品幅を測定するには、巻回体上方に細長い蛍光灯9をお
き、巻回体の幅方向全体に照明を当て、全幅をほぼ均一
に光らせる。CCDカメラBを巻回体2の中央部上方に
、フィルムの幅方向全体が画面の中に入るような位置に
おき、2値化レベルを調節して光っている部分の長さを
測定する。蛍光灯の長さは、フィルム幅より10cm以
上長い分には特に問題がないが、必要以上に長くするこ
とはない。フィルム幅+10cmの長さより短いとフィ
ルムの両端部が均一に光らなくなり、正確な測定ができ
なくなる。
【0010】検査3.巻回体表面の傷の検出巻回体表面
の傷は、製品幅測定用のCCDカメラBの画像を新たな
2値化レベルで調節し、蛍光灯の光で光っていない部分
をウインドウで設定して、ウィンドウ内を検査するよう
にすれば、傷の所は光ってくれるため容易に判別できる
【0011】
【実施例】各検査項目について、それぞれの実施例を以
下に説明する。 検査1.巻回体のコーナー部での切り残し、芯体に巻き
付く耳屑の検査 (測定条件設定:CCDカメラAの角度設定)巻回体の
画像を44 段階レベルに分割したCCDカメラA、蛍
光灯8、巻回体2を、図1で示すような状態に配置し、
巻回体2のサイドカット不良限度見本(コーナー部切り
残り、紙管部耳屑)と良品をCCDカメラAの角度(θ
)をかえて検知した。検知の設定条件として、蛍光灯8
の照射角度(θ’) を、外側10°、2値化レベルを
140とし、光点を200ドット以上にカウントした場
合を設定条件不良(×)、200ドット未満にカウント
した場合を設定条件良(〇)とした。その結果を表1に
示す。この結果により、CCDカメラAの角度が10°
の場合には、耳屑があっても、不良と判別せず、また8
5°の場合にはウインドウからはずれて、切り残し、耳
屑があっても不良と判別しないが、40°の場合には、
両方とも検知することがわかった。図6(1)〜図6(
4)は、表1に示したカメラのそれぞれの角度(θ)に
対応した、ウインドウ(点線で囲んだ長方形)の位置を
示す。図6(3)、図6(4)から明らかなように、C
CDカメラAの角度が85°の場合には、サイドカット
面3と、CCDカメラAの距離を変えてもウインドウが
設定からはずれてしまい測定ができない。
【0012】
【表1】
【0013】(測定条件設定:蛍光灯の照射角度の設定
)次に、蛍光灯8の照射角度(θ’) をかえ、2値化
レベルを140として検知した。その判定は、光点を2
00ドット以上にカウントした場合を設定条件不良(×
)、200ドット未満にカウントした場合を設定条件良
(○)とした。実施した場合の結果を表2に示す。 この結果により、照射角度0°と内側10°では、紙管
が光ってしまうと共に、良品も不合格と判定したが、外
側10°では良品と不良品の判別が正確にできることが
わかる。
【0014】
【表2】
【0015】さらに、CCDカメラB、蛍光灯9を、巻
回体上方におき、製品幅測定、表面の傷を検知した。 検査2.巻回体の製品幅の測定 長さが550mmの市販の蛍光灯を巻回体表面から50
cm離した状態で、幅が実測値で252mm、355m
m、449mmの巻回体をそれぞれ3本用意し、2値化
レベルを100に設定して、0.5mm/ドットとして
CCDカメラBで測定したところ、製品幅は、それぞれ
504ドット、710ドット、898ドットとなり、こ
れを換算すると、252mm、355mm、449mm
となるので実測値と全く同じであった。これにより、巻
回体の製品幅の測定精度が高く、良品と不良品の判別が
正確であることが判った。
【0016】検査3.巻回体表面の傷の検出2値化レベ
ルを100に設定し、検知中にカウントしたドットの数
が500以上を不良品とし、500未満を合格品として
、巻回体の表面の傷をCCDカメラで測定して検知を行
ったところ、サイドカット工程で発生する表面の傷がは
っきりと検知でき、良品と不良品の判別が正確に行えた
【0017】(検査の実施)最後に、切り残し、耳屑、
製品幅不良、表面に傷のある巻回体を、各10、合計4
0本を良品に混ぜ、合計2000本をランダムに流した
。検査員による目視検査と、上記の実施例と同じ条件に
したCCDカメラによる検査との比較を行ったところ、
不良品の検出本数は表3の通りとなり、検査員の場合見
逃しがあるが、CCDカメラの場合には100%検出で
きた。
【0018】
【表3】
【0019】
【発明の効果】本発明の巻回体の検査方法によれば、巻
回体をサイドカットする工程で発生するコーナー部の切
り残し、芯体に巻き付いている耳屑、製品巾不良、巻回
体表面の傷は、巻回体に照明をあて、CCDカメラによ
る画像処理を行うことにより、100%判別することが
できる。これにより、今まで人による目視検査で不良品
判別を行っていた時にくらべ、不良品の見逃しがなくな
る。また、従来、良品−不良品の判断基準が、検査する
人により異なり、同一の人間が検査する場合でも、その
時により基準がかわることがあり、常に一定基準の検査
が行えなかったが、この方法により、CCDカメラ、照
明の設定を一定にしておけば、検査基準は常に一定とな
り、安定した検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の方法による巻回体の検査方法の一例を
説明するための概略図である。
【図2】CCDカメラの画面に巻回体のサイドカット部
を映した状態を示す概念図である。
【図3】巻回体の切り残し、耳屑の検査のための照明の
配置状態を示す図である。
【図4】サイドカッターによる巻回体の耳仕上げを示す
図である。
【図5】サイドカット工程で生じる巻回体の不良品を示
す図である。
【図6】(1)〜(4)は、表1に示したカメラのそれ
ぞれの角度(θ)に対応したウインドウの位置を示した
図である。
【符合の説明】
1  サイドカッター               
 5  芯体2  巻回体             
           6  耳屑3  サイドカット
面                7  巻回体の表
面傷 4  切り残し部                 
   8、9  蛍光灯A、B  CCDカメラ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】巻き取ったプラスチックフィルムの両サイ
    ドをカットしたプラスチックフィルム巻回体を検査する
    方法において、電荷結合素子カメラでとらえたプラスチ
    ックフィルム巻回体の画像を4n(nは4または5)段
    階のレベルに分割し、プラスチックフィルム巻回体の切
    り残し、耳屑、寸法不良、表面の傷のそれぞれを、予め
    設定された2値化レベルによりドットに変換し、この数
    と予め設定された不良限度見本のドット数とを比較し、
    このドット数以上を不良品とすることを特徴とするプラ
    スチックフィルム巻回体の検査方法。
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