JPH04323366A - スパッタリング用ターゲット及びその製造方法 - Google Patents

スパッタリング用ターゲット及びその製造方法

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JPH04323366A
JPH04323366A JP11546391A JP11546391A JPH04323366A JP H04323366 A JPH04323366 A JP H04323366A JP 11546391 A JP11546391 A JP 11546391A JP 11546391 A JP11546391 A JP 11546391A JP H04323366 A JPH04323366 A JP H04323366A
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JP
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melting point
target
powder
sputtering target
substance
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JP11546391A
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Akira Mitsui
彰 光井
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Asahi Glass Co Ltd
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • C23C14/3414Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高融点物質と低融点金
属との複合系薄膜を作製するためのスパッタリング用タ
ーゲットに関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、スパッタリング法を用いた薄膜の
作製が盛んになっている。その薄膜の高性能化、高付加
価値化のため、ターゲットに対して2つ以上の成分から
なる複合系ターゲットが求められる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来、ターゲットを作
製する方法として、溶融法、ホットプレス法、常圧焼結
法が用いられている。しかしながら、高融点金属やセラ
ミックスのような融点の高い物質と低融点物質との複合
系ターゲットを作製しようとすると、上記従来の方法で
は、密度差による分離や、融点の違いによる組成変化や
、低融点物質の融解による低融点物質の流出などの問題
のため、均一で高密度のターゲットが作製できなかった
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、従来技
術が有していた前述の欠点を解消しようとするものであ
る。即ち、本発明は、前述の課題を解決すべくなされた
ものであり、高融点物質と低融点金属とを含むことを特
徴とするスパッタリング用ターゲット、および、高融点
物質の粉末と、低融点金属の粉末を混合し、加熱せずに
加圧してターゲットを製造することを特徴とするスパッ
タリング用ターゲットの製造方法を提供するものである
【0005】本発明における高融点物質としては、融点
が900℃以上の物質が挙げられ、具体的には、Zr,
Ti,Ta,Hf,Mo,W,Nb,La,Si,Ni
,Crなどの高融点金属や、酸化物、炭化物、窒化物、
硼化物、珪化物、硫化物、塩化物、フッ化物や、セラミ
ックス、塩類等のうち融点が900℃以上のものが挙げ
られる。
【0006】本発明における低融点金属としては、融点
が700℃以下の金属が挙げられ、代表的なものとして
は、In,Sn,Zn,Al(順に、融点156℃,2
32℃,420℃,660℃)等が挙げられる。特にI
n,Sn等の融点が250℃以下の金属が好ましい。本
発明のターゲットは、スパッタリング成膜の際の放電状
態の安定性確保のため、気孔率10%未満、即ち相対密
度90%以上であることが望ましい。
【0007】本明細書において、気孔率及び相対密度と
は、次式で示される。 気孔率(%)=(1−(嵩密度/真密度))×100相
対密度(%)=(嵩密度/真密度)×100ここで、嵩
密度(g/cm3 )とは、作製されたターゲットの寸
法と重量から求めた実測の密度であり、真密度とは、物
質固有の理論密度から計算して求めた理論上の密度であ
る。たとえば、成分A、成分Bがそれぞれa Vol%
 、b Vol% (ここでa+b=100(%)であ
る)のものの真密度ρ(g/cm3 )は、ρ=(aρ
A +bρB )/100で表わされる。ここでρA 
(g/cm3) は成分Aの理論密度、ρB (g/c
m3) は成分Bの理論密度である。
【0008】本発明のターゲットは加熱せずに加圧成形
されたものであるから、従来の溶融法や焼結工程を含む
方法によってできたターゲットとは異なり、本発明のタ
ーゲットを構成する高融点物質と低融点金属とは化学的
結合状態にはない。
【0009】本発明のターゲットは、低融点金属の粉末
と、高融点物質の粉末(以下、これらを原料粉末という
)を混合し、加熱せずに加圧することによって製造する
ことができる。
【0010】原料粉末の粒度は、1〜300μmである
ことが好ましい。というのは、300μmを超える粉末
が混入していると、スパッタ中に異常放電が発生したり
、割れたり、密度ムラによってスパッタ速度がばらつい
たりして好ましくない。また、1μm未満では、原料粉
末を均一に混合することが困難となり成形性が悪くなっ
て、もろくなったり、バッキングプレートとのボンディ
ング時やスパッタ中に割れやすくなるので好ましくない
【0011】原料粉末を十分に均一になるまで混合した
後、加熱せずに加圧する。加圧の方法は、特に限定され
ないが、一軸プレス法、ラバープレス法(全方向均一加
圧)等を用いることができる。低融点金属の粉末は、次
の作用の欄で述べるように、結合剤、及び充填剤として
働くのであるが、このような働きをするためには、低融
点金属の粉末は、原料粉末中に20 Vol% 以上、
好ましくは40〜95 Vol%含まれていることが、
高密度のターゲットを製造する上で好ましい。
【0012】本明細書中、Vol%とは、各構成成分の
重量をその真密度で除して得られる体積の割合(パーセ
ント)のことをいう。例えば、成分A、成分Bの混合粉
末中、成分A粉末の割合(Vol%)は、次のように表
わされる。 Aの割合(Vol%)= (WA/ρA)× 100/((WA /ρA)+(W
B/ρB))ここで、WA、WBは、それぞれ成分A、
Bの重量(g)、ρA 、ρB は、それぞれ成分A、
Bの真密度(g/cm3)である。
【0013】また、加圧の圧力は、材料にもよるが、相
対密度90%以上のターゲットを製造するためには、1
000kg/cm2以上であることが好ましい。
【0014】
【作用】低融点金属(In,Sn,Zn,Al等)は、
延展性に富み、塑性変形しやすいので、加圧により変形
することができる。このため、本発明のターゲットを製
造する際、かかる低融点金属の粉末は、高融点物質の粉
末を結合する結合剤として、かつ、間隙を埋める充填剤
として働くため、高密度のターゲットを製造することが
可能となると考えられる。
【0015】
【実施例】
実施例1 粒度分布が3〜120μm(平均粒径約40μm、平均
粒径とは累積頻度分布が50%となる粒径のことをいう
。以下同じ)のSn粉末と、粒度分布が3〜120μm
(平均粒径約40μm)のCr粉末を、Snが70 V
ol% (全量2kg)となるようにV型ミキサーで混
合し、ラバープレス用のゴム型に充填し、真空脱ガス処
理を行い、1700kg/cm2でラバープレス成形し
た。成形体の密度は6.9 g/cm3で相対密度95
%であった。この高密度の成形体から直径6インチのタ
ーゲットを作製した。
【0016】このターゲットを用いて、酸化反応性スパ
ッタリング法により、Sn−Cr複合酸化物薄膜を作製
した。十分に酸化させた薄膜は透明であり、薄膜のSn
/Cr比(原子比)をESCAで測定すると約1.0で
あった。これは、ターゲットのSn/Cr比(原子比)
とほぼ一致していた。ターゲットは大変割れにくく、ス
パッタ中の異常放電もなかった。
【0017】実施例2 粒度分布が3〜120μm(平均粒径約40μm)のS
n粉末と粒度分布が3〜120μm(平均粒径約40μ
m)のCr粉末を、Snが50 Vol% (全量2k
g)となるようにV型ミキサーで混合し、ラバープレス
用のゴム型に充填し、真空脱ガス処理を行い、4300
kg/cm2でラバープレス成形した。成形体の密度は
7.1 g/cm3で相対密度98%であった。この高
密度の成形体から直径6インチのターゲットを作製した
【0018】このターゲットを用いて、酸化反応性スパ
ッタリング法により、Sn−Cr複合酸化物薄膜を作製
した。十分に酸化させた薄膜は透明であり、薄膜のSn
/Cr比(原子比)をESCAで測定すると約0.42
であった。これは、ターゲットのSn/Cr比(原子比
)とほぼ一致していた。ターゲットは大変割れにくく、
スパッタ中の異常放電もなかった。
【0019】実施例3 原料粉末の組成と圧力を変えて、実施例1、2と同様の
ラバープレス法により、各種のSn−Crターゲットを
製造した。原料粉末は、粒度分布が3〜120μm(平
均粒径40μm)のものを用いた。原料粉末の組成を決
めたときの圧力値と、作製されたターゲットの相対密度
を表1に示す。
【0020】
【表1】
【0021】実施例4 実施例3と同様に、Zn−Crターゲットに関し、原料
粉末の組成を決めたときの圧力値と、作製されたターゲ
ットの相対密度を表2に示す。なお、原料粉末は、粒度
分布が3〜120μm(平均粒径40μm)のものを用
いた。
【0022】
【表2】
【0023】実施例5 実施例3と同様に、Al−Crターゲットに関し、原料
粉末の組成を決めたときの圧力値と、作製されたターゲ
ットの相対密度を表3に示す。なお、原料粉末は、粒度
分布が3〜120μm(平均粒径40μm)のものを用
いた。
【0024】
【表3】
【0025】実施例6 実施例3と同様に、In−Crターゲットに関し、原料
粉末の組成を決めたときの圧力値と、作製されたターゲ
ットの相対密度を表4に示す。なお、原料粉末は、粒度
分布が3〜120μm(平均粒径40μm)のものを用
いた。
【0026】
【表4】
【0027】実施例7 粒度分布が3〜120μm(平均粒径約40μm)のS
n粉末と、粒度分布が3〜100μm(平均粒径約20
μm)のSi粉末を、Snが57Vol%(全量2kg
)となるようにV型ミキサーで混合し、ラバープレス用
のゴム型に充填し、真空脱ガス処理を行い、4300k
g/cm2でラバープレス成形した。成形体の密度は4
.9 g/cm3で相対密度95%であった。この高密
度の成形体から直径6インチのターゲットを作製した。
【0028】このターゲットを用いて、酸化反応性スパ
ッタリング法により、Sn−Si複合酸化物薄膜を作製
した。十分に酸化させた薄膜は透明であり、薄膜のSn
/Si比(原子比)をESCAで測定すると約1.0で
あった。これは、ターゲットのSn/Si比(原子比)
とほぼ一致していた。ターゲットは大変割れにくく、ス
パッタ中の異常放電もなかった。
【0029】実施例8 原料粉末の組成と圧力を変えて、実施例7と同様のラバ
ープレス法により、各種のSn−Siターゲットを製造
した。原料粉末は、実施例7と同様の粒度分布のものを
用いた。原料粉末の組成を決めたときの圧力値と、作製
されたターゲットの相対密度を表5に示す。
【0030】
【表5】
【0031】
【発明の効果】本発明により、高融点金属と低融点金属
からなり、均一で大変割れにくく、気孔率10%以下と
いう高密度の複合系ターゲットが実現される。
【0032】本発明のターゲットを用いることにより、
非反応性スパッタリングにより、合金薄膜や、複合酸化
物、複合窒化物、複合炭化物などの複合系薄膜を容易に
成膜できる。また、本発明の合金ターゲットを用い、酸
化、窒化、炭化などの反応性スパッタリング法により、
複合酸化物、複合窒化物、複合炭化物などの複合系薄膜
を成膜することもできる。
【0033】また、本発明のターゲットは使用後消費し
た部分に同組成の新しい粉末を充填し、ターゲット作製
する際と同様のプレスを行うことにより、ターゲットを
再生することができ、経済的にも有効である。
【0034】また、ターゲットとバッキングプレートと
をボンディングする場合、バッキングプレートと重ねた
状態で、ターゲットを作製する際と同様のプレスを行う
ことにより、バッキングプレートと接合でき、通常のボ
ンディング加工のように、数百℃を経ること無く、ボン
ディングできる。このとき、バッキングプレートとター
ゲット材との間に、Inホイルを挟むとさらに強い接合
状態が得られる。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】高融点物質と低融点金属とを含むことを特
    徴とするスパッタリング用ターゲット。
  2. 【請求項2】高融点物質の粉末と低融点金属の粉末とが
    、加熱されずに加圧成形されてなることを特徴とするス
    パッタリング用ターゲット。
  3. 【請求項3】化学的結合状態にない高融点物質と低融点
    金属を含むことを特徴とするスパッタリング用ターゲッ
    ト。
  4. 【請求項4】融点が900℃以上の物質と、融点が70
    0℃以下の金属を含むことを特徴とするスパッタリング
    用ターゲット。
  5. 【請求項5】請求項1〜3いずれか1項における高融点
    物質、または、請求項4における融点が900℃以上の
    物質が、Zr,Ti,Ta,Hf,Mo,W,Nb,L
    a,Si,Ni,Crのうち少なくとも1種であること
    を特徴とする請求項1〜4いずれか1項のスパッタリン
    グ用ターゲット。
  6. 【請求項6】請求項1〜3いずれか1項における低融点
    金属、または、請求項4における融点が700℃以下の
    金属が、In,Sn,Zn,Alのうち少なくとも1種
    であることを特徴とする請求項1〜4いずれか1項のス
    パッタリング用ターゲット。
  7. 【請求項7】高融点物質の粉末と、低融点金属の粉末を
    混合し、加熱せずに加圧してターゲットを製造すること
    を特徴とするスパッタリング用ターゲットの製造方法。
  8. 【請求項8】低融点金属の粉末が20 Vol% 以上
    含まれる低融点金属の粉末と高融点物質の粉末との混合
    粉末を加圧することを特徴とする請求項7のスパッタリ
    ング用ターゲットの製造方法。
  9. 【請求項9】1000kg/cm2以上の圧力で加圧す
    ることを特徴とする請求項7または8のスパッタリング
    用ターゲットの製造方法。
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