JPH04319646A - 物体の反射及び／又は透過特性を測定する装置 - Google Patents
物体の反射及び／又は透過特性を測定する装置Info
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- JPH04319646A JPH04319646A JP4025276A JP2527692A JPH04319646A JP H04319646 A JPH04319646 A JP H04319646A JP 4025276 A JP4025276 A JP 4025276A JP 2527692 A JP2527692 A JP 2527692A JP H04319646 A JPH04319646 A JP H04319646A
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
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- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/002—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
- G11B7/0037—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
- G11B7/00375—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs arrangements for detection of physical defects, e.g. of recording layer
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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-
- G—PHYSICS
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
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- G—PHYSICS
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- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
-
- G—PHYSICS
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9506—Optical discs
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、フレームと、物体用の
支持部材と、放射源と、検出器ユニットとを具える物体
の反射及び／又は透過特性を測定する装置に関するもの
である。
支持部材と、放射源と、検出器ユニットとを具える物体
の反射及び／又は透過特性を測定する装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】このような型式の装置は、ドイツ連邦共
和国特許出願公開第３１０８３３４４号 （本明細書に
おいて、参考文献とする） から既知である。この既知
の装置は、リボン状の製品の反射及び／又は透過特性を
測定するのに好適である。このため、この既知の装置は
、リボン状製品を連続的に移動させる案内手段と、移動
するリボン状の製品にレーザビームを入射させるための
回転可能なポリゴンミラーを有するレーザ光源と、固定
配置した検出器ユニットとを具えている。この検出器ユ
ニットは、実行すべき測定に応じてリボン状の製品の一
方の側又は両側に配置した放射感知検出器を具えている
。この既知の装置は、さらに装置のキャリブレーション
用の１又はそれ以上のセンサを有する安定化装置を具え
ている。
和国特許出願公開第３１０８３３４４号 （本明細書に
おいて、参考文献とする） から既知である。この既知
の装置は、リボン状の製品の反射及び／又は透過特性を
測定するのに好適である。このため、この既知の装置は
、リボン状製品を連続的に移動させる案内手段と、移動
するリボン状の製品にレーザビームを入射させるための
回転可能なポリゴンミラーを有するレーザ光源と、固定
配置した検出器ユニットとを具えている。この検出器ユ
ニットは、実行すべき測定に応じてリボン状の製品の一
方の側又は両側に配置した放射感知検出器を具えている
。この既知の装置は、さらに装置のキャリブレーション
用の１又はそれ以上のセンサを有する安定化装置を具え
ている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した既知の測定装
置は、装置の安定化を図るため種々のセンサが必要とな
るため、装置の構造が複雑化する不具合が生じていた。 しかも、ポリゴンミラーのような高速の駆動系を用いて
走査する必要があるため、同様に装置が複雑化する不具
合も生じていた。
置は、装置の安定化を図るため種々のセンサが必要とな
るため、装置の構造が複雑化する不具合が生じていた。 しかも、ポリゴンミラーのような高速の駆動系を用いて
走査する必要があるため、同様に装置が複雑化する不具
合も生じていた。
【０００４】従って、本発明の目的は、冒頭部で述べた
型式の測定装置において、キャリブレーション用の付別
的なセンサを不要とし装置の構造を機械的及び光学的に
簡単化することを目的とする。
型式の測定装置において、キャリブレーション用の付別
的なセンサを不要とし装置の構造を機械的及び光学的に
簡単化することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段及び作用】上記目的を達成
するため、本発明による装置は、前記検出器ユニット及
び支持部材が回動軸に対して相互に回動可能であり、前
記支持部材及び検出器ユニットを回動軸を含む面内で相
互に近づくように及び遠ざかるように移動させる手段が
設けられていることを特徴とする。前記手段を用いるこ
とにより、測定すべき物体及び検出器ユニットを互いに
正しい測定位置に配置することができる。実行すべき測
定、すなわち反射率測定、透過率測定又はこれらを組み
合せた測定とは無関係に、測定されるべき物体を測定位
置に配置する前に検出器ユニットの放射感知素子を放射
源と対向するように位置決めして装置をキャリブレーシ
ョンすることができる。実用的な面からして、検出器ユ
ニットを回動軸を中心にして回動可能なホルダに配置す
ることは極めて有用である。また、構造設計の面から前
記手段を回動軸に平行に移動可能なスライダで構成する
ことも極めて有用である。
するため、本発明による装置は、前記検出器ユニット及
び支持部材が回動軸に対して相互に回動可能であり、前
記支持部材及び検出器ユニットを回動軸を含む面内で相
互に近づくように及び遠ざかるように移動させる手段が
設けられていることを特徴とする。前記手段を用いるこ
とにより、測定すべき物体及び検出器ユニットを互いに
正しい測定位置に配置することができる。実行すべき測
定、すなわち反射率測定、透過率測定又はこれらを組み
合せた測定とは無関係に、測定されるべき物体を測定位
置に配置する前に検出器ユニットの放射感知素子を放射
源と対向するように位置決めして装置をキャリブレーシ
ョンすることができる。実用的な面からして、検出器ユ
ニットを回動軸を中心にして回動可能なホルダに配置す
ることは極めて有用である。また、構造設計の面から前
記手段を回動軸に平行に移動可能なスライダで構成する
ことも極めて有用である。
【０００６】本発明による装置の実施例は、前記ホルダ
が２個のリムを有するフォーク状構造をなし、前記リム
が回動軸にほぼ平行に延在し、各リムがそれぞれ放射感
知検出器を支持し、２個の検出器が互いに対向するよう
に配置されていることを特徴とする。この実施例は、測
定中に、一方の検出器が物体の一方の側に位置し他方の
検出器が反対側に位置するので、物体の反射特性及び透
過特性を同時に測定する場合に極めて好適である。測定
すべき物体をホルダのリム間に位置させる前に、各検出
器を放射源と対向するように位置決めし、ホルダを回動
させることによりキャリブレーションを行なうことがで
きる。従って、キャリブレーション操作も簡単になる。 キャリブレーションの後、測定すべき物体を検出器間に
配置し、その後所望の測定を行なう。
が２個のリムを有するフォーク状構造をなし、前記リム
が回動軸にほぼ平行に延在し、各リムがそれぞれ放射感
知検出器を支持し、２個の検出器が互いに対向するよう
に配置されていることを特徴とする。この実施例は、測
定中に、一方の検出器が物体の一方の側に位置し他方の
検出器が反対側に位置するので、物体の反射特性及び透
過特性を同時に測定する場合に極めて好適である。測定
すべき物体をホルダのリム間に位置させる前に、各検出
器を放射源と対向するように位置決めし、ホルダを回動
させることによりキャリブレーションを行なうことがで
きる。従って、キャリブレーション操作も簡単になる。 キャリブレーションの後、測定すべき物体を検出器間に
配置し、その後所望の測定を行なう。
【０００７】実際的な実施例は、ホルダが放射源に対し
て少なくとも １８０°に亘って回動し得ることを特徴
とする。
て少なくとも １８０°に亘って回動し得ることを特徴
とする。
【０００８】本装置は、ディスク状の物体、特にＬＶデ
ィスク、ＣＤディスク、ＤＯＲディスク又は例えば層構
造が形成されているポリカーボネート基板のような半製
品化状態の光ディスクのような光ディスクの反射特性及
び／又は透過特性を測定するのに極めて好適である。測
定した反射及び／又は透過値は試験した物体の品質を表
示することができる。ディスク状物体の反射及び／又は
透過特性を測定する場合、本発明による装置は、前記支
持部材が、前記回動軸と直交する方向に延在する回転軸
を中心にして回転子可能なターンテーブルを有すること
を特徴とする。このように構成することにより、ディス
ク状物体の所定の半径位置において測定を行なうことが
できる。
ィスク、ＣＤディスク、ＤＯＲディスク又は例えば層構
造が形成されているポリカーボネート基板のような半製
品化状態の光ディスクのような光ディスクの反射特性及
び／又は透過特性を測定するのに極めて好適である。測
定した反射及び／又は透過値は試験した物体の品質を表
示することができる。ディスク状物体の反射及び／又は
透過特性を測定する場合、本発明による装置は、前記支
持部材が、前記回動軸と直交する方向に延在する回転軸
を中心にして回転子可能なターンテーブルを有すること
を特徴とする。このように構成することにより、ディス
ク状物体の所定の半径位置において測定を行なうことが
できる。
【０００９】本発明による装置の構造的に簡単化した実
施例は、前記ホルダがフレームに支持され、前記ターン
テーブルがスライダ上に配置されていることを特徴とす
る。
施例は、前記ホルダがフレームに支持され、前記ターン
テーブルがスライダ上に配置されていることを特徴とす
る。
【００１０】本発明による装置は操作性に優れキャリブ
レーションを容易に行なうことができるように設計され
、従って測定を高精度に行なうことができる。さらに、
本装置の操作は、放射源から放出される放射の波長とは
無関係に行なうことができる。
レーションを容易に行なうことができるように設計され
、従って測定を高精度に行なうことができる。さらに、
本装置の操作は、放射源から放出される放射の波長とは
無関係に行なうことができる。
【００１１】以下、図面に基き本発明を詳細に説明する
。
。
【００１２】
【実施例】図示の本発明による反射及び／又は透過測定
装置は、フレーム１を具え、このフレームはスライダ５
用の直線移動案内手段３を有している。スライダ５は矢
印Ａ方向に移動可能であり、例えば伝達機構を有するリ
ニアモータやロータリモータのような電気ユニットによ
り駆動される。スライダ５は回転軸７ａを中心にして回
転可能なターンテーブル７を支持し、このターンテーブ
ルはロータリモータ９により駆動されディスク状の物体
１１用の支持部材として作用する。本例では、物体１１
は両側に情報面を有する１２インチのＤＯＲディスクと
する。
装置は、フレーム１を具え、このフレームはスライダ５
用の直線移動案内手段３を有している。スライダ５は矢
印Ａ方向に移動可能であり、例えば伝達機構を有するリ
ニアモータやロータリモータのような電気ユニットによ
り駆動される。スライダ５は回転軸７ａを中心にして回
転可能なターンテーブル７を支持し、このターンテーブ
ルはロータリモータ９により駆動されディスク状の物体
１１用の支持部材として作用する。本例では、物体１１
は両側に情報面を有する１２インチのＤＯＲディスクと
する。
【００１３】図示の装置はフォーク状ホルダ１３をさら
に具える。このホルダはスライダ５の移動方向と平行に
延在する回動軸１３ａ を中心にして回動可能であり、
この回動軸に平行に延在する２個のリム１３Ａ及び１３
Ｂを有する。ホルダ１３はベアリング手段１４によりフ
レーム１に支持され、図示しない電気モータにより回動
方向Ｔに沿って駆動される。
に具える。このホルダはスライダ５の移動方向と平行に
延在する回動軸１３ａ を中心にして回動可能であり、
この回動軸に平行に延在する２個のリム１３Ａ及び１３
Ｂを有する。ホルダ１３はベアリング手段１４によりフ
レーム１に支持され、図示しない電気モータにより回動
方向Ｔに沿って駆動される。
【００１４】この装置はさらに放射源特にレーザ光源１
５と、検出器ユニットとを具える。この検出器ユニット
は、本例では、２個の放射感知センサすなわち検出器１
７Ａ及び１７Ｂで構成され、ホルダ１３の各リム１３Ａ
及び１３Ｂ上に配置したレンズを設けることもできる。 放射源１５及びホルダ１３は、ローディングスロット２
１を有するハウジング９内に収納する。
５と、検出器ユニットとを具える。この検出器ユニット
は、本例では、２個の放射感知センサすなわち検出器１
７Ａ及び１７Ｂで構成され、ホルダ１３の各リム１３Ａ
及び１３Ｂ上に配置したレンズを設けることもできる。 放射源１５及びホルダ１３は、ローディングスロット２
１を有するハウジング９内に収納する。
【００１５】放射源１５は例えば ７８０ｎｍの波長の
平行放射ビームを放出することができ、このビームを用
いて装置のキャリブレーションを行なうと共に光ディス
ク１１の反射率及び透過率を測定する。キャリブレーシ
ョン中ターンテーブル７は図示の位置にあり、放射ビー
ム２３はリム１３Ａの検出器１７Ａに入射する。放射源
、及び検出器１７Ａにおいてキャリブレーションを行な
った後、ホルダ１３を １８０°回転させリム１３Ｂに
位置し検出器１７Ａと対向する検出器１７Ｂ を放射ビ
ーム２３の光路中に位置させる。放射源１５と検出器１
５Ｂとのキャリブレーションの後、測定を実行するため
スライダ１５をハウジング１９に向けて直線的に移動さ
せ光ディスク１１を検出器１７Ａと１７Ｂとの間に挿入
し、ディスク１１に回転Ｒを与える。光ディスク１１に
よる放射の反射量及び透過量は検出器１７Ａ及び１７Ｂ
により１又はそれ以上の半径位置においてそれぞれ測定
される。測定が終了した後、光ディスク１１をスライダ
５をスロット２１に沿って移動させることによりハウジ
ング１９から取り除く。
平行放射ビームを放出することができ、このビームを用
いて装置のキャリブレーションを行なうと共に光ディス
ク１１の反射率及び透過率を測定する。キャリブレーシ
ョン中ターンテーブル７は図示の位置にあり、放射ビー
ム２３はリム１３Ａの検出器１７Ａに入射する。放射源
、及び検出器１７Ａにおいてキャリブレーションを行な
った後、ホルダ１３を １８０°回転させリム１３Ｂに
位置し検出器１７Ａと対向する検出器１７Ｂ を放射ビ
ーム２３の光路中に位置させる。放射源１５と検出器１
５Ｂとのキャリブレーションの後、測定を実行するため
スライダ１５をハウジング１９に向けて直線的に移動さ
せ光ディスク１１を検出器１７Ａと１７Ｂとの間に挿入
し、ディスク１１に回転Ｒを与える。光ディスク１１に
よる放射の反射量及び透過量は検出器１７Ａ及び１７Ｂ
により１又はそれ以上の半径位置においてそれぞれ測定
される。測定が終了した後、光ディスク１１をスライダ
５をスロット２１に沿って移動させることによりハウジ
ング１９から取り除く。
【００１６】本発明による図示の装置は、測定した反射
値及び反射を処理する適切なソフトウェアを有するパー
ソナルコンピュータ、モニタ及びプリンタを具える測定
ユニットの一部を構成する。このようにして行なわれた
測定値は、試験されたディスク状物体の光学特性を指示
する。
値及び反射を処理する適切なソフトウェアを有するパー
ソナルコンピュータ、モニタ及びプリンタを具える測定
ユニットの一部を構成する。このようにして行なわれた
測定値は、試験されたディスク状物体の光学特性を指示
する。
【００１７】本発明は図面に表示した装置だけに限定さ
れないこと明らかである。例えば、ターンテーブルをフ
レーム中に支持しフォーク状ホルダをスライダ上に配置
することもできる。さらに、直線的に移動可能なスライ
ダの代りに回動アームを用いることも可能である。この
場合、例えば回動アーム上に支持部材を配置することが
できる。
れないこと明らかである。例えば、ターンテーブルをフ
レーム中に支持しフォーク状ホルダをスライダ上に配置
することもできる。さらに、直線的に移動可能なスライ
ダの代りに回動アームを用いることも可能である。この
場合、例えば回動アーム上に支持部材を配置することが
できる。
【図１】図１は本発明による装置の一例の構成を示す線
図である。
図である。
１ フレーム
３ 案内手段
５ スライダ
７ ターンテーブル
１１ ディスク状物体
１３ ホルダ
１５ 放射源
１７Ａ， １７Ｂ 検出器
１９ ハウジング
Claims (8)
- 【請求項１】 フレームと、物体用の支持部材と、放
射源と、検出器ユニットとを具える物体の反射及び／又
は透過特性を測定する装置において、前記検出器ユニッ
ト及び支持部材が回動軸に対して相互に回動可能であり
、前記支持部材及び検出器ユニットを回動軸を含む面内
で相互に近づくように及び遠ざかるように移動させる手
段が設けられていることを特徴とする物体の反射及び／
又は透過特性を測定する装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の装置において、前記
検出器ユニットを、前記回動軸を中心にして回動可能な
ホルダに配置したことを特徴とする装置。 - 【請求項３】 請求項１又は２に記載の装置において
、前記手段が、前記回動軸に平行に移動可能なスライダ
を有することを特徴とする装置。 - 【請求項４】 請求項２に記載の装置において、前記
ホルダが２個のリムを有するフォーク状構造をなし、前
記リムが回動軸にほぼ平行に延在し、各リムがそれぞれ
放射感知検出器を支持し、２個の検出器が互いに対向す
るように配置されていることを特徴とする装置。 - 【請求項５】 請求項２又は４に記載の装置において
、前記ホルダが放射源に対して少なくとも １８０°に
亘って回動可能であることを特徴とする装置。 - 【請求項６】 請求項１，２，３，４又は５に記載の
装置において、前記支持部材が、前記回動軸と直交する
方向に延在する回転軸を中心にして回転可能なターンテ
ーブルを有することを特徴とする装置。 - 【請求項７】 請求項２，４又は５に記載の装置にお
いて、前記ホルダがフレームに支持され、前記ターンテ
ーブルがスライダ上に配置されていることを特徴とする
装置。 - 【請求項８】 請求項２，４，５又は６に記載の装置
において、前記放射源及びホルダが、前記支持部材と対
向するローディングスロットを有するハウジング内に収
納されていることを特徴とする装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL9100248A NL9100248A (nl) | 1991-02-13 | 1991-02-13 | Inrichting voor het meten van de reflectie en/of transmissie van een voorwerp. |
| NL9100248 | 1991-02-13 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04319646A true JPH04319646A (ja) | 1992-11-10 |
Family
ID=19858870
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4025276A Pending JPH04319646A (ja) | 1991-02-13 | 1992-02-12 | 物体の反射及び／又は透過特性を測定する装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5268748A (ja) |
| EP (1) | EP0499312B1 (ja) |
| JP (1) | JPH04319646A (ja) |
| DE (1) | DE69213501T2 (ja) |
| NL (1) | NL9100248A (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5815254A (en) * | 1996-10-08 | 1998-09-29 | Spectronic Instruments, Inc. | Transmittance and reflectance measuring spectrophotometer having dual use light channels |
| US6798513B2 (en) | 2002-04-11 | 2004-09-28 | Nanophotonics Ab | Measuring module |
| EP1625388A1 (de) | 2003-05-19 | 2006-02-15 | Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG | Verfahren und vorrichtung zur optischen qualitätsprüfung von objekten mit vor-zugsweise kreisförmig umlaufendem rand |
| DE102004058126A1 (de) * | 2004-12-02 | 2006-06-08 | Leica Microsystems Jena Gmbh | Vorrichtung zur Inspektion der Vorder- und Rückseite eines scheibenförmigen Objekts |
| DE102007024334A1 (de) | 2007-05-24 | 2008-11-27 | Oliver Feddersen-Clausen | Optische Messvorrichtung, insbesondere zur Transmissions-, Reflexions- und Absorptionsmessung |
| CN104267015B (zh) * | 2014-07-09 | 2017-01-18 | 香港应用科技研究院有限公司 | 用于生理检测的光信号检测装置及分析样本成分的方法 |
| US9992477B2 (en) | 2015-09-24 | 2018-06-05 | Ouster, Inc. | Optical system for collecting distance information within a field |
| CN108603834A (zh) * | 2015-12-11 | 2018-09-28 | 帝斯曼知识产权资产管理有限公司 | 在透明片材上用于光学测量的系统和方法 |
| US9989406B2 (en) | 2016-01-29 | 2018-06-05 | Ouster, Inc. | Systems and methods for calibrating an optical distance sensor |
| US11714004B2 (en) | 2018-11-15 | 2023-08-01 | Ams Sensors Singapore Pte. Ltd. | Measurements using systems having multiple spectrometers |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4433380A (en) * | 1975-11-25 | 1984-02-21 | Philips Medical Systems, Inc. | Tomographic scanner |
| US4298801A (en) * | 1980-01-17 | 1981-11-03 | General Electric Company | L-U Arm handle assembly |
| US4297587A (en) * | 1980-03-07 | 1981-10-27 | Intec Corporation | Absolute DC system for a laser inspection system |
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