JPH04316166A - Lsiにおけるタイミング情報算出装置 - Google Patents

Lsiにおけるタイミング情報算出装置

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JPH04316166A
JPH04316166A JP3109825A JP10982591A JPH04316166A JP H04316166 A JPH04316166 A JP H04316166A JP 3109825 A JP3109825 A JP 3109825A JP 10982591 A JP10982591 A JP 10982591A JP H04316166 A JPH04316166 A JP H04316166A
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JP
Japan
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circuit
information
timing
lsi
timing information
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JP3109825A
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English (en)
Inventor
Yasuo Jinbo
神保 安男
Takahiro Shimizu
隆広 清水
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Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はLSIにおけるタイミン
グ情報算出装置、特に、LSIのマスクパターンに基づ
いて、所定の測定対象に関するタイミング情報を自動的
に求める装置に関する。
【0002】
【従来の技術】LSIの設計において、このLSIを構
成する同期式論理回路(たとえば、フリップフロップ)
のタイミング情報を考慮することは非常に重要である。 このタイミング情報とは、セットアップタイム、ホール
ドタイム、クロックの最小パルス幅といった同期式論理
回路の動作タイミングを左右する時間に関する情報であ
る。論理的には正常に動作するよう設計されたLSIで
あっても、これを構成する各回路の動作に遅延時間が生
じるため、実際には期待した論理動作が得られないとい
う事態が生じる。このような事態を避けるため、設計者
は、予め同期式論理回路のタイミングを考慮した設計を
行う必要がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ようなタイミングを考慮した設計を行うと、各回路の動
作タイミングを合わすために時間的余裕を十分にとった
設計を行う必要があり、回路規模や動作速度という点に
おいて非効率的な設計をせざるを得なくなる。このため
、最近では、自由に設計を行った後に、各セルごとに回
路シミュレーションを行ってタイミングが合っているか
を検証し、不都合が生じないかをチェックする方法が採
られている。
【0004】ところが、このような回路シミュレーショ
ンやタイミング情報の算出は、設計者の手作業により行
っているため、多大な労力と時間を必要としていた。ま
た、このような手作業によって得られたタイミング情報
に関する情報は、データとして残すことができないため
、後の設計で有効に利用できる設計資産を構築すること
ができないという問題もある。
【0005】そこで本発明は、設計されたLSIについ
てのタイミング情報を自動的に求めることができ、これ
をデータの形で設計資産として残すことのできるLSI
におけるタイミング情報算出装置を提供することを目的
とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明はLSIにおける
タイミング情報算出装置において、LSIのマスクパタ
ーンから、回路内の接続関係を示す回路接続情報と、回
路の各構成要素のサイズに関連して定まる回路特性情報
と、を抽出する回路接続特性情報抽出装置と、回路の各
構成要素の電気的特性を決定する回路パラメータ情報を
入力し、この回路パラメータ情報と回路接続情報および
回路特性情報とに基づいて、回路シミュレーションに必
要な回路シミュレーション入力情報を作成する回路シミ
ュレーション入力情報作成装置と、回路シミュレーショ
ン入力情報に基づいて、回路シミュレーションを行い、
その結果を回路シミュレーション出力情報として出力す
る回路シミュレータ装置と、回路シミュレーション出力
情報に基づいて、LSI内の測定対象に関するタイミン
グ情報を求めるタイミング情報演算装置と、を設けたも
のである。
【0007】
【作  用】本発明によるタイミング情報算出装置によ
れば、設計したLSIのマスクパターンから、回路接続
情報と回路特性情報とが自動的に抽出される。回路シミ
ュレータは、これらの情報と、回路パラメータ情報とに
基づいて、回路シミュレーションを自動的に行う。タイ
ミング情報演算装置は、この回路シミュレータの出力に
基づいて、自動的にタイミング情報の演算を行う。こう
して、設計されたLSIについてのタイミング情報を自
動的に求めることができ、また、これをデータの形で設
計資産として残すことができるようになる。
【0008】
【実施例】以下、本発明を図示する実施例に基づいて説
明する。図1は本発明の一実施例に係るタイミング情報
算出装置の基本構成を示すブロック図である。この装置
は、設計されたLSIのマスクパターンPに基づいて、
このLSIを構成する各同期式論理回路についてのタイ
ミング情報を自動的に算出する機能を有する。この装置
の主たる構成要素は、マスクパターンPから、回路接続
情報Aと回路特性情報Bとを抽出する回路接続特性情報
抽出装置1と、これら各情報A,Bと、回路パラメータ
情報Cを入力し、回路シミュレーションに必要な回路シ
ミュレーション入力情報Dを作成する回路シミュレーシ
ョン入力情報作成装置2と、この回路シミュレーション
入力情報Dに基づいて、回路シミュレーションを行い、
その結果を回路シミュレーション出力情報Eとして出力
する回路シミュレータ装置3と、この回路シミュレーシ
ョン出力情報Eに基づいてタイミング情報Fを演算して
出力するタイミング情報演算装置4と、である。これら
の各構成要素には、ディスプレイ装置5と入力装置6が
接続されている。また、タイミング情報演算装置4には
、タイミング情報Fを出力するために、プリンタ7、磁
気ディスク8、磁気テープ9が接続されている。以下、
これらの各構成要素を、その動作を説明しながら詳述す
る。
【0009】この実施例の装置は、LSIを構成する同
期式論理回路ごとのタイミング情報を算出する機能を有
する。したがって設計者は、まず、タイミング情報を算
出する対象となる同期式論理回路についてのマスクパタ
ーンPを用意し、これを回路接続特性情報抽出装置1に
与える。回路接続特性情報抽出装置1は、このマスクパ
ターンPに基づいて、回路接続情報Aと回路特性情報B
とを抽出する。ここで、回路接続情報Aは回路内の接続
関係を示す情報であり、回路特性情報Bは回路の各構成
要素のサイズに関連して定まる情報である。マスクパタ
ーンPは、図形データとして用意されているので、回路
接続特性情報抽出装置1は、この図形のパターンから回
路接続情報Aと回路特性情報Bとを抽出する。たとえば
、図2(a) に示すように、拡散層とポリシリコン層
とに対応する2つの図形パターンが与えられた場合に回
路接続情報Aを抽出するには、まず、図形パターン同士
の論理演算によって素子を認識する作業を行う。すなわ
ち、両者の図形演算の論理積をとった領域をゲート、そ
の両側の拡散層領域をソースおよびドレインと認識する
ことにより、これをMOSトランジスタと認識すること
ができる。これに位相演算を施すことにより、図2(b
) に示すような回路接続情報Aが得られる。同様に、
図3(a) に示すように、配線層A,Bに対応する図
形パターンと、これに重なる配線層Cに対応する図形パ
ターンと、コンタクトに対応する図形パターンと、が与
えられた場合、図3(b) に示すような回路接続情報
Aが得られる。一方、回路特性情報Bは、各構成要素の
サイズに関連して定まる情報であり、各素子のサイズや
、配線についての寄生容量などの情報となる。たとえば
、図4(a) に示すような図形パターンが与えられた
場合、これらの図形のサイズが抽出されるとともに、端
点Xから端点Yまでの配線についての寄生容量CXYが
抽出される。すなわち、図4(b) に示すように、寄
生容量CXYは、配線層の面積Sに単位面積あたりの容
量C0を乗じて得られる。なお、以上のような回路接続
情報Aおよび回路特性情報Bの抽出方法は公知であるた
め、具体的な手法についての詳細な説明は本明細書では
省略する。
【0010】こうして、回路接続特性情報抽出装置1に
よって抽出された回路接続情報Aおよび回路特性情報B
は、回路シミュレーション入力情報作成装置2に与えら
れる。このとき、オペレータは入力装置6から、回路パ
ラメータ情報Cの入力を行う。この回路パラメータ情報
Cは、回路の各構成要素の電気的特性を決定する情報で
あり、具体的には、酸化膜の厚み、拡散層における不純
物濃度値、などの数値である。本実施例の装置では、入
力装置6としてキーボードを用いており、オペレータは
、このキーボードから実際にこのLSIを製造するとき
のプロセス値を、回路パラメータ情報Cとして入力する
。こうして、回路シミュレーション入力情報作成装置2
には、回路シミュレーションを行うために必要な、回路
接続情報A、回路特性情報B、回路パラメータ情報C、
の各情報が与えられることになる。回路シミュレーショ
ン入力情報作成装置2は、これらの情報に基づいて、回
路シミュレータ装置3に与えるための回路シミュレーシ
ョン入力情報Dを作成する機能を有する。本実施例の装
置では、回路シミュレータ装置3としてSPICE(米
国カルフォルニア大学で開発された電子回路シミュレー
タ)を用いているので、回路シミュレーション入力情報
作成装置2では、このSPICEのフォーマットで記述
された回路シミュレーション入力情報が作成される。
【0011】図5に、この回路シミュレーションの概念
図を示す。一般に、測定対象となる回路についてのタイ
ミング情報は、その後段に接続される負荷回路によって
異なる。そこで、本実施例の装置では、回路シミュレー
ション入力情報作成装置2において、測定対象となる回
路10の後段に負荷回路11を接続した状態の回路シミ
ュレーション入力情報を作成するようにしている。回路
シミュレーションは、負荷回路11が接続された状態の
回路10に、所定の入力信号Iを与えることにより、ど
のような出力信号Oが得られるかをコンピュータによっ
て模擬的に求める作業に他ならない。測定対象となる回
路10は、同期式論理回路であればどのような回路でも
かまわないが、ここでは、代表的なフリップフロップを
測定対象となる回路10とした場合に、どのような回路
シミュレーションを行えばよいかを説明する。たとえば
、図6に示すように、D型フリップフロップが測定対象
となる回路10として与えられ、後段には、容量素子1
2,13、およびインバータ14〜17が負荷回路11
として接続されている場合を考える。D型フリップフロ
ップでは、入力信号C(クロック入力:以下clock
 と記す)と入力信号D(データ入力:以下dataと
記す)との2つの入力信号が与えられ、出力信号Qと出
力信号QN(Qの論理反転出力)との2つの出力信号が
出力される。このD型フリップフロップ10に、たとえ
ば、図7に示すような入力信号の組Iを与えれば、同図
に示すような出力信号の組Oが出力されることになる。 ここで、clock が立ち上がった時刻t0において
、dataを同期して立ち上げ、同じ時刻t0において
出力QおよびQNが確定するという動作が実現できれば
、理想的な論理動作となるのであるが、実際の回路では
、回路内を電気信号が伝播時間するのに物理的に時間が
かかるため、すべてが時刻t0に同期した動作は行うこ
とができない。実際には、clock が立ち上がる時
刻t0において、既にdataは確定していなければな
らないため、dataを立ち上げる時刻は時刻t0より
時間taだけ先行させねばならない。また、出力信号Q
およびQNが立ち上がる時刻には、それぞれ時間tbお
よびtcだけ遅延時間が生じる。回路シミュレーション
入力情報Dは、回路接続情報A,回路特性情報B,回路
パラメータ情報Cによって定まる回路10および負荷回
路11自身の情報と、clock ,dataといった
入力信号の組Iと、によって構成される情報であり、回
路シミュレータ装置3は、この入力情報Dに基づいて回
路シミュレーションを実行し、出力信号Q,QNといっ
た出力信号の組Oを、回路シミュレーション出力情報E
として出力する。
【0012】本装置の目的は、測定対象となる回路10
についてのタイミング情報Fを得ることである。ここで
タイミング情報Fとは、セットアップタイム、ホールド
タイム、クロックの最小パルス幅といった同期式論理回
路の動作タイミングを左右する時間に関する情報である
。ここでは、図6に示すD型フリップフロップ10に関
してのセットアップタイムを求める処理を例にとって以
下の説明を行う。セットアップタイムとは、クロック信
号に対してデータ信号を先行させねばならない時間差の
限界値に相当するものである。たとえば、図7に示す入
力信号の組Iでは、clock の立ち上がり時点に対
して、dataの立ち上がり時点を時間差taだけ先行
させている。この時間差taを徐々に短くしていったと
すると、ある限界を越えると、それ以後はこのD型フリ
ップフロップ10は正常な動作をしなくなる。別言すれ
ば、出力信号の組Oが正しい論理値を示さなくなる。こ
れは、前述したように、時刻t0でclock が立ち
上がった時点において、dataは既に所定の電圧レベ
ルに安定している必要があるからである。この限界値が
セットアップタイムと呼ばれている時間であり、各同期
式論理回路ごとにこのセットアップタイムがどの程度か
を知ることは非常に重要である。そこで、本発明では、
図8に示すような入力信号の組をn組用意しておき、n
とおりの回路シミュレーションを実行する。このnとお
りの入力信号の組は、それぞれ時間差が少しずつ異なっ
ている。すなわち、組I1では、clock とdat
aとの立ち上がり時点の時間差はt1であるのに対し、
組I2における時間差はt2とやや減少し、以下、組I
3,I4,…と徐々に減少してゆき、最後の組Inでは
時間差は最小値tnとなっている。したがって、回路シ
ミュレーション入力情報Dは、このnとおりの入力信号
の組を含むものとなる。
【0013】こうして作成された回路シミュレーション
入力情報Dは、回路シミュレータ装置3に与えられる。 前述のように、本実施例の装置では、回路シミュレータ
装置3としてSPICEを用い、回路シミュレーション
入力情報DはこのSPICEのフォーマットで記述され
たものとなっている。このため、回路シミュレータ装置
3はこの入力情報Dに基づいて直ちに回路シミュレーシ
ョンを行うことができる。この実施例では、図6に示す
回路に対して、図8に示すようなnとおりの入力信号の
組を与えたnとおりの回路シミュレーションが行われる
ことになる。なお、負荷回路11としてmとおりの回路
を用意しておき、接続する負荷回路を変えて合計でm×
nとおりの回路シミュレーションを行うようにしてもよ
い。この場合は、各負荷回路ごとに異なるmとおりのセ
ットアップタイムが得られることになる。
【0014】さて、図8に示すようなnとおりの入力信
号の組I1〜Inを与えて回路シミュレーションを行う
と、回路シミュレータ3は、それぞれに対応した出力信
号の組O1〜Onを出力することになる。これが回路シ
ミュレーション出力情報Eである。タイミング情報演算
装置4は、この回路シミュレーション出力情報Eに基づ
いて、タイミング情報Fを求める処理を行う。上述の例
では、セットアップタイムがタイミング情報Fとして求
まることになる。このセットアップタイムは、回路シミ
ュレーション出力情報Eに基づいて容易に求まる。すな
わち、正しい出力信号の組が得られる限界を判断すれば
よい。たとえば、出力信号の組を調べた結果、第1の組
O1〜第i番目の組Oiまでは正しい論理値を示してい
るが、その後の第(i+1)番目の組O(i+1)〜第
n番目の組Onまでは、出力信号QまたはQNの少なく
とも一方が誤った論理値を示していたという結果が得ら
れた場合、第i番目の入力信号の組Iiにおけるclo
ck とdataとの時間差tiがセットアップタイム
ということになる。このように、タイミング情報演算装
置4の行う処理は、非常に単純な演算となる。こうして
求まったセットアップタイムは、タイミング情報Fとし
て、ディスプレイ装置5に表示されるとともに、プリン
タ7にも出力され、磁気ディスク8あるいは磁気テープ
9として保存することができる。こうして、以前に行っ
た設計情報をデータの形で設計資産として残すことがで
き、将来の設計に生かすことが可能になる。
【0015】以上、セットアップタイムを求める処理を
説明したが、他のタイミング情報を求める処理について
も全く同様に行うことができる。たとえば、ホールドタ
イムは、フリップフロップからデータを読み出す動作の
ときのclock とdataとの時間差の限界である
。図9に示すように、clock が立ち上がる時点t
0においてフリップフロップのデータを読み出す場合、
dataの論理値は時点t0から更に時間tdが経過す
るまで安定に保持しておかねば、正しい論理値の読出し
ができない。この時間tdを徐々に短くしてゆくと、や
がて正しい論理値の読出しができないことになる。その
限界値がホールドタイムである。また、クロックの最小
幅もタイミング情報のひとつである。すなわち、図10
に示すように、クロックclockの幅teを徐々に短
くしてゆくと、やがてフリップフロップが正しい動作を
しなくなることになる。その限界値がクロックの最小幅
である。上述したセットアップタイムを求める処理と同
様の処理により、ホールドタイムやクロックの最小幅と
いった他のタイミング情報を求めることができることが
理解できよう。
【0016】以上、本発明を図示する一実施例に基づい
て説明したが、本発明はこの実施例のみに限定されるも
のではなく、この他にも種々の態様で実施可能である。 たとえば、第1図に示す4つのブロック1〜4は、単一
のコンピュータによって実現することも可能であるし、
複数のコンピュータにより別々の装置として実現するこ
とも可能である。また、上述の実施例では、回路シミュ
レータ装置3としてSPICEを用いた例を示したが、
この他どのような回路シミュレータ装置を用いてもかま
わない。要するに、本発明では、回路シミュレーション
入力情報作成装置2によって、回路シミュレータ装置3
のフォーマットに適した回路シミュレーション入力情報
Dを作成するようにすればよい。
【0017】
【発明の効果】以上のように、本発明によるタイミング
情報算出装置によれば、設計したLSIのマスクパター
ンから、回路接続情報と回路特性情報とを自動抽出し、
これらの情報と回路パラメータ情報とに基づいて、回路
シミュレータに回路シミュレーションを自動的に行わせ
、その結果から自動的にタイミング情報の演算を行うよ
うにしたため、設計されたLSIについてのタイミング
情報を自動的に算出することができ、これをデータの形
で設計資産として残すことができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係るタイミング情報算出装
置の基本構成を示すブロック図である。
【図2】図1に示す装置における回路接続情報Aの抽出
作業を説明する図である。
【図3】図1に示す装置における回路接続情報Aの抽出
作業を説明する別な図である。
【図4】図1に示す装置における回路特性情報Bの抽出
作業を説明する図である。
【図5】図1に示す装置における回路シミュレーション
の概念図である。
【図6】回路シミュレーションの対象となる具体的な回
路の一例を示す回路図である。
【図7】図6に示す回路についての入力信号と出力信号
の一例を示す波形図である。
【図8】図6に示す回路に与えるべきnとおりの入力信
号の組を示す波形図である。
【図9】ホールドタイムを説明するための波形図である
【図10】クロックの最小幅を説明するための波形図で
ある。
【符号の説明】
1…回路接続特性情報抽出装置 2…回路シミュレーション入力情報作成装置3…回路シ
ミュレータ装置 4…タイミング情報演算装置 5…ディスプレイ装置 6…入力装置 7…プリンタ 8…磁気ディスク 9…磁気テープ 10…測定対象となる回路 11…負荷回路 12,13…容量素子 14〜17…インバータ A…回路接続情報 B…回路特性情報 C…回路シミュレーション入力情報 D…回路パラメータ情報 E…回路シミュレーション出力情報 F…タイミング情報

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  LSIのマスクパターンから、回路内
    の接続関係を示す回路接続情報と、回路の各構成要素の
    サイズに関連して定まる回路特性情報と、を抽出する回
    路接続特性情報抽出装置と、回路の各構成要素の電気的
    特性を決定する回路パラメータ情報を入力し、この回路
    パラメータ情報と前記回路接続情報および前記回路特性
    情報とに基づいて、回路シミュレーションに必要な回路
    シミュレーション入力情報を作成する回路シミュレーシ
    ョン入力情報作成装置と、前記回路シミュレーション入
    力情報に基づいて、回路シミュレーションを行い、その
    結果を回路シミュレーション出力情報として出力する回
    路シミュレータ装置と、前記回路シミュレーション出力
    情報に基づいて、前記LSI内の測定対象に関するタイ
    ミング情報を求めるタイミング情報演算装置と、を備え
    ることを特徴とするLSIにおけるタイミング情報算出
    装置
JP3109825A 1991-04-15 1991-04-15 Lsiにおけるタイミング情報算出装置 Pending JPH04316166A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6557150B1 (en) 1997-08-20 2003-04-29 Hitachi, Ltd. Method of extracting timing characteristics of transistor circuits, storage medium storing timing characteristic library, LSI designing method, and gate extraction method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6557150B1 (en) 1997-08-20 2003-04-29 Hitachi, Ltd. Method of extracting timing characteristics of transistor circuits, storage medium storing timing characteristic library, LSI designing method, and gate extraction method

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