JPH04303969A - 電力用半導体装置 - Google Patents

電力用半導体装置

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Publication number
JPH04303969A
JPH04303969A JP9324391A JP9324391A JPH04303969A JP H04303969 A JPH04303969 A JP H04303969A JP 9324391 A JP9324391 A JP 9324391A JP 9324391 A JP9324391 A JP 9324391A JP H04303969 A JPH04303969 A JP H04303969A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thermal buffer
power semiconductor
semiconductor device
semiconductor substrate
positional deviation
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP9324391A
Other languages
English (en)
Inventor
Chihiro Ishibashi
石橋 千尋
Susumu Matsuoka
進 松岡
Kazuaki Kato
和昭 加藤
Tsutomu Kondo
力 近藤
Takehisa Ogura
小倉 武久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NICHIGAI CERAMICS KK
NGK Insulators Ltd
Original Assignee
NICHIGAI CERAMICS KK
NGK Insulators Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NICHIGAI CERAMICS KK, NGK Insulators Ltd filed Critical NICHIGAI CERAMICS KK
Priority to JP9324391A priority Critical patent/JPH04303969A/ja
Publication of JPH04303969A publication Critical patent/JPH04303969A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は高電圧の制御に用いられ
る電力用半導体装置の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】サイリスタ、トランジスタ等の電力用半
導体装置には高耐電圧化のニーズがあり、これに対応す
るためには基本的には半導体基体を厚くし抵抗率を高く
すればよい。しかしこのような構成の電力用半導体装置
は電流を流したときの熱損失が大きくなり、極めて大型
の放熱板等を必要とするようになる。そこで本発明者等
は先に、一つのパッケージ内に半導体基体を熱緩衝部お
よび電極部とともに多段に積層し放熱特性を向上させた
電力用半導体装置を発明し、すでに特願平2−2735
7号として出願済みである。
【0003】このような多段積層型の電力用半導体装置
は、積層方向に圧力を加えて各層を密着させたものであ
るが、製造時に各層の半導体基体の上下に配置された熱
緩衝部と各層間に配置された電極部との間が相対的に回
転し易く、特にサイリスタ、トランジスタ等の3端子素
子を用いた場合には側面から取り出したゲート端子等の
位置がずれ易く、その固定に手数がかかる欠点があった
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記した従来
の問題点を解消して、多段に積層された各段間の相対的
な回転を防止した電力用半導体装置を提供するために完
成されたものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めになされた本発明は、半導体基体を熱緩衝部および電
極部とともに多段に積層した電力用半導体装置であって
、前記熱緩衝部と電極部との間に回転防止用のピンを設
けたことを特徴とするものである。
【0006】
【実施例】以下に本発明をサイリスタ素子を4段に積層
した図示の実施例によって更に詳細に説明する。図1〜
図3は本発明の第1の実施例を示すもので、1はサイリ
スタ素子である半導体基体、2はその上側(負極側)の
熱緩衝部、3はその下側(正極側)の熱緩衝部である。 これらの熱緩衝部2、3はいずれもモリブデン製のもの
であり、半導体基体1の上下各面に固定されている。
【0007】4は各段間に設けられた銅製の電極部であ
る。前記したモリブデン製の熱緩衝部2の上面は周囲が
高いカップ状に成形してあり、各電極部4の下面はこの
熱緩衝部2の上面に嵌合されている。一方、各電極部4
の上面には図2に拡大して示したような穴5が形成され
ており、これに対応する熱緩衝部3の下面には回転防止
用のピン6を設けてある。ピン6は実施例では銅製であ
り、図2に示すように穴5をピン6の長さよりもやや深
くして積層方向に圧力を加えたときに各層間に電気的お
よび熱的特性を阻害する原因となる偏荷重が作用しない
ように配慮してある。これにより均等な応力分布と均等
な電気的及び熱的特性が確保される。このような穴5と
ピン6により、本発明の電力用半導体装置では上側の段
の電極部4と下側の段の熱緩衝部3との相対的な位置は
正確に決定されることとなる。なお実施例では穴5とピ
ン6の位置は各段ともに一定であるが、図3に示す第2
の実施例のようにこれらの位置を1段ごとにずらること
により、更に偏荷重が作用しなくなるようにすることが
できる。
【0008】実施例ではこのように半導体基体1を熱緩
衝部2、3と電極部4とともに4段に積層し、その全体
をセラミック製のパッケージ7に収納してあるが、積層
の段数は適宜増減することができる。なお8、9は接合
用合金であり、図示のように湾曲させることにより、取
付けの際に上下方向に圧力が加えられても変形できるよ
うな構造となっている。
【0009】またパッケージ7には端子取り出し口10
が形成されており、ゲート端子11や電極端子12を取
り出している。実施例ではゲート端子11の先端は超音
波溶接等により半導体基体1に溶接されている。実施例
ではパッケージ7の内部はN2 ガスを封入してあるが
、He、Arのような絶縁性の不活性ガス、SF6 ガ
ス等を封入してもよい。
【0010】図4、図5に示す第3の実施例では、パッ
ケージ7にヒートパイプ13が接続してある。この実施
例ではヒートパイプ13内のパーフロロカーボン等の絶
縁性冷媒が直接パッケージ7内の半導体基体1、熱緩衝
部2、3、電極部4等を浸漬する直接浸漬冷却沸騰方式
が採用されている。ヒートパイプ13の先方部には放熱
板14が設けられ、放熱性を高めている。このようにヒ
ートパイプ13を接続することにより半導体基体1から
発生する熱を効率良く放熱させ、通電容量を向上させる
ことができる。なおこの実施例でも実施例1と同一の穴
5とピン6による位置決めがなされている。
【0011】
【作用】このように構成された本発明の電力用半導体装
置は、各段が負担する電圧が小さくなることを利用して
高電圧の電力制御に使用されるものであるが、各段の熱
緩衝部3とその下側の電極部4との間に回転防止用のピ
ン6を設けたので、製造工程等において各段間が相対的
に回転して位置ずれを生ずることがなく、組立も容易で
ある。このため、サイリスタ、トランジスタのような3
端子素子を用いた場合にもその端子の固定が容易となり
、また輸送中の振動等による位置ずれを生ずることもな
い。更に各段間に位置ずれのおそれがないので使用時に
上下面間をクランプする際にも応力分布が均一となり、
接触性も良好であるので電気的、熱的特性を安定化させ
ることができる。しかもピンを用いたので削り出しによ
って位置決め用の凹凸を作るよりも加工が容易となる。
【0012】
【発明の効果】本発明は以上に説明したように、半導体
基体にろう付けされた熱緩衝部と電極部との間に回転防
止用のピンを設けることにより、多段に積層された各段
間の相対的な回転を防止したものであり、位置ずれに起
因するリード線の端子の位置ずれ、応力分布の不均一、
電気的特性の不安定等のトラブルを解消することができ
る。よって本発明は従来の問題点を解消した電力用半導
体装置として、産業の発展に寄与するところは極めて大
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す断面図である。
【図2】第1の実施例の要部を拡大して示す断面図であ
る。
【図3】第2の実施例における各段のピンの位置を示す
平面図である。
【図4】第3の実施例を示す断面図である。
【図5】第3の実施例の放熱板の取付状態を示す正面図
である。
【符号の説明】
1  半導体基体 2  熱緩衝部 3  熱緩衝部 4  電極部 5  穴 6  回転防止用のピン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  半導体基体を熱緩衝部および電極部と
    ともに多段に積層した電力用半導体装置であって、前記
    熱緩衝部と電極部との間に回転防止用のピンを設けたこ
    とを特徴とする電力用半導体装置。
JP9324391A 1991-03-29 1991-03-29 電力用半導体装置 Withdrawn JPH04303969A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9324391A JPH04303969A (ja) 1991-03-29 1991-03-29 電力用半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP9324391A JPH04303969A (ja) 1991-03-29 1991-03-29 電力用半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04303969A true JPH04303969A (ja) 1992-10-27

Family

ID=14077076

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9324391A Withdrawn JPH04303969A (ja) 1991-03-29 1991-03-29 電力用半導体装置

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JP (1) JPH04303969A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5861666A (en) * 1995-08-30 1999-01-19 Tessera, Inc. Stacked chip assembly
KR100584003B1 (ko) * 1999-12-02 2006-05-29 삼성전자주식회사 적층 칩 패키지의 제조 방법

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5861666A (en) * 1995-08-30 1999-01-19 Tessera, Inc. Stacked chip assembly
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19980514