JPH0430295B2 - - Google Patents

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JPH0430295B2
JPH0430295B2 JP59242279A JP24227984A JPH0430295B2 JP H0430295 B2 JPH0430295 B2 JP H0430295B2 JP 59242279 A JP59242279 A JP 59242279A JP 24227984 A JP24227984 A JP 24227984A JP H0430295 B2 JPH0430295 B2 JP H0430295B2
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circuit
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pressure
fluid
deformation
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、空気等の流体により被検眼角膜に変
形を与え、その変形を示す物理量と流体の流圧に
対応する対応圧力とを検出して、これら角膜の変
形を示す物理量と対応圧力との相関関数曲線を求
めて、眼圧値を計測するようにした非接触式眼圧
計に関するものである。
従来技術 従来から、非接触式眼圧計としては、例えば、
特公昭54−38437号公報に開示するものが知られ
ている。この特公昭54−38437号公報のものは、
被検眼角膜に変形を与えるための流体を生成する
流体創生手段としての流体パルス発生器と、被検
眼角膜に向かつて検出光を射出する射出光学系
と、その射出光学系から射出されて被検眼角膜を
経由する検出光を受光する受光光学系とを備えて
おり、この従来のものは、被検眼角膜に向かつて
流体を流すと、その流体の流圧の増加に伴なつて
被検眼角膜が凸面状態から平面状態を経て凹面状
態に変形し、かつ、その流体の流圧を減少させる
と、それに伴なつて被検眼角膜が凹面状態から平
面状態を経て凸面状態に復元するという現象を利
用しており、射出光学系と受光光学系とは、被検
眼角膜が平面状態となつているときにその受光光
学系の受光量が最大となるようにセツトされてい
る。流体パルス発生器は、第12図に符号Aで示
すような時間tをパラメータとする予め定められ
た流圧特性曲線を描く流体を創生するようにされ
ており、この流体を受けたときの被検眼角膜の変
形・復帰時間が眼圧と相関関係を有していて、そ
の時間tをパラメータとして眼圧を測定できるこ
とから、特公昭54−38437号公報に開示のもので
は、被検眼角膜に向かつて流圧特性曲線Aに従う
流体を流し始めてから凸面状態にある被検眼角膜
が平面状態に変形するまでの時間t1を、受光光学
系により被検眼角膜から反射される検出光の検出
光量が最大となるまでの時間として測定して、そ
の時間t1を眼圧に換算している。すなわち、時間
t1における流体の流圧Peを特性曲線Aから求め
て、その流圧Peを眼圧に換算するのと同意味を
有する処理をしているのである。この従来のもの
では、被検眼角膜が凸面状態から平面状態を経て
凹面状態に変形しその凹面状態から平面状態に復
元するときの両平面状態形成の時間の間隔を測定
し、これに基づいて眼圧を求めることもできる。
なお、この第12図において、符号Bは受光光学
系の受光量特性曲線を示し、符号Pmaxは、流体
の最大流圧を示している。
発明が解決しようとする問題点 ところで、この従来の特公昭54−38437号公報
に開示の非接触式眼圧計は、 時間に対する流体の流圧が第12図の流圧特性
曲線Aに従うことを必須の条件としており、測定
毎に流体の流圧特性曲線Aが異なるものである
と、眼圧の測定誤差を直接的に招来する、という
不具合を有しており、従来の非接触式眼圧計で
は、眼圧の測定精度の向上を図り難いという問題
点を有している。
発明の目的 本発明は上記従来技術が有する問題点に鑑みて
なされたもので、その目的とするところは、眼圧
の測定精度の向上をより一層図ることのできる非
接触式眼圧計を提供することにある。
発明の構成 本発明は、流体の流圧と眼圧との間には、直接
的な相関関係があることに着目してなされたもの
で、本発明の構成上の特徴は、被検眼角膜に変形
を与えるべく、この被検眼角膜に対して流体を放
出するための流体放出手段と、その被検眼角膜の
変形を示す物理量を光電的に検出する角膜変形検
出手段と、眼圧と相関関係を有する流体の流圧と
対応する対応圧力を検出する対応圧力検出手段
と、角膜変形検出手段と対応圧力検出手段とから
の情報に基づいて被検眼角膜の変形を示す物理量
と対応圧力との相関関数曲線を確立し、被検眼角
膜の変形を示す物理量の予め設定される値に対応
する対応圧力の値を、この相関関数曲線から割り
出し、その割り出した対応圧力の値を眼圧値に換
算する眼圧換算手段とを備えているところにあ
る。
実施例 第1図は、本発明に係る非接触式眼圧計の第1
の実施例を示すもので、この第1図において、1
は流体放出手段、2は被検眼角膜、3は射出光学
系、4は検出光学系である。流体放出手段1は、
被検眼角膜(以下、角膜という。)2に変形を与
えるべく、この角膜2に対して流体を放出するた
めのものである。この流体放出手段1は、ロータ
リソレノイド5とシリンダ6とロータリソレノイ
ド駆動回路7とから大略構成されており、8はロ
ータリソレノイド5のドラムである。シリンダ6
は、シリンダ筒部9とノズル筒部10とセンシン
グ筒部11とを有している。シリンダ筒部9に
は、ピストン12が往復動可能に設けられてお
り、ピストン12はピストンロツド13を介して
ロータリソレノイド5のドラム8に連結されてい
る。ノズル筒部10は角膜2に向かつて真直ぐ延
びるようにされるもので、流体はピストン12の
往復動により、このノズル筒部10から放出され
るようになつている。ロータリソレノイド駆動回
路7のオン・オフ条件については後述する。セン
シング筒部11はシリンダ筒部9の周壁から延出
しており、このセンシング筒部11には後述する
圧力センサ素子が装着されている。
角膜2は、流体の流圧に基づいて変形を受ける
もので、流体の流圧の増大に伴なつて凸面状態か
ら平面状態を経て凹面状態に変形するものであ
り、符号Cは、角膜2が変形を受けた状態を示し
ている。符号mはその変形量を示すもので、この
変形量mは、角膜2の中心線01上に存在して変形
を受ける前の角膜2の頂点を02、角膜2の中心線
01上に存在して変形を受けたときの角膜Cの頂点
を03とするとき、頂点02と頂点03との距離を指す
ものである。
射出光学系3と検出光学系4とは角膜2の変形
量mを光電的に検出する角膜変形を示す物理量角
膜反射光量検出手段を構成するものである。射出
光学系3は、光源14と集光レンズ15と絞り1
6と投光レンズ17とから構成されており、04
は、この射出光学系3の光軸である。絞り16は
レンズ17の焦点位置に存するように設けられて
いて、光源14の射出光は集光レンズ15、絞り
16及び投光レンズ17を通して平行光束からな
る検出光となつて角膜2に射出されるようになつ
ている。検出光学系4は、結像レンズ18と絞り
19と光電変換回路20とから構成されており、
光電変換回路20は受光素子21と増幅回路22
とから構成されている。射出光学系3から射出さ
れて角膜2を経由する検出光は、結像レンズ18
及び絞り19を介して受光素子21によつて受光
され、かつ光電変換され、増幅回路22を通し
て、角膜2の変形量mに対応する角膜変形量対応
信号となつて出力されるようになつている。
23は対応圧力検出手段としての対応圧力検出
回路であり、この対応圧力検出回路23は圧力セ
ンサ素子23aと増幅回路25とから構成されて
いる。圧力センサ素子23aは前述したようにシ
リンダ6のセンシング筒部11に装着されている
もので、この圧力センサ素子23aはノズル筒部
10に案内され放出される流体の流圧と対応する
センシング筒部11に案内される流体の流圧を検
出するものであり、その検出信号は増幅回路25
を通して対応圧力検出信号として出力されるよう
になつている。
24は眼圧値換算手段としての計測回路であつ
て、この計測回路24は、光電変換回路20と対
応圧力検出回路23とから出力される検出信号の
有する情報に基づいて角膜2の変形量mに対応す
る検出光の光量と流体の対応圧力との相関関数曲
線を確立し、角膜2の変形量mの予め設定される
値に対応する対応圧力の値を、この相関関数曲線
から割り出し、その割り出した対応圧力の値を眼
圧値に換算する機能を有するもので、その回路構
成を第2図に基づいて説明する。
この第2図に示すように、計測回路24は、中
央処理回路(以下、CPUと略記する。)25とメ
モリ回路26と切換スイツチ回路27とを有して
いる。CPU25は、この計測回路24の中枢を
なすもので、その機能については、他の回路構成
要素との関連において説明する。切換スイツチ回
路27は、この第2図においては有接点スイツチ
と見たてて概念的に示されており、ここでは3個
の切換スイツチ28,29,30を備え、各切換
スイツチ28,29,30は、2つの切換接点
A,Bを有することとされている。
計測回路24は、この他、相関関数曲線を確立
するためのデータをサンプリングする2系統のサ
ンプリング回路系を備えている。一方のサンプリ
ング回路系は、サンプル・アンド・ホールド回路
31と加算回路32と基準電圧発生回路33と比
較回路34とパルス発生回路35とアドレスカウ
ンタ回路36とオア回路37とから構成されるも
のである。サンプル・アンド・ホールド回路31
には対応圧力検出回路23からの対応圧力検出信
号が入力されており、このサンプル・アンド・ホ
ールド回路31は制御端子を有して、この制御端
子にパルス信号が入力されると、その時点の対応
圧力検出電圧の電圧値をサンプリングして次に制
御端子にパルス信号が入力されるまでこの電圧値
をホールドするものである。加算回路32は、こ
のサンプル・アンド・ホールド回路31と基準電
圧発生回路33との電圧値を加算し、その加算電
圧値の電圧を出力するものである。比較回路34
には、そのプラス端子に加算回路32の出力電圧
が入力され、マイナス端子に対応圧力検出電圧が
入力されており、この比較回路34は、対応圧力
検出電圧が加算回路32の出力電圧よりも大とな
ると、その出力がハイレベルとなるものとされて
いる。この比較回路34の出力がハイレベルとな
るとパルス発生回路35から単発のパルス信号が
出力されるようになつており、このパルス発生回
路35は、例えば単安定マルチバイブレータによ
り構成されるものである。アドレスカウンタ回路
36は、このパルス発生回路35のパルス信号を
カウントして、そのカウント値である番地情報を
切換スイツチ30を通じてメモリ回路26に伝送
するようにされている。パルス発生回路35のパ
ルス信号はオア回路37を通してサンプル・アン
ド・ホールド回路31の制御端子にも入力される
ようになつており、このオア回路37にはCPU
25からパルス信号を入力されるようになつてい
る。すなわち、このサンプリング回路系は、対応
圧力の増大過程において、所定圧力のステツプお
きにアドレスカウンタ回路36をインクリメント
して、その出力が対応圧力データに対応し、かつ
番地情報として得られるものである。他方のサン
プリング回路系は、サンプル・アンド・ホールド
回路38とアナログ・デジタル変換回路39とか
ら構成されている。サンプル・アンド・ホールド
回路38には光電変換回路20からの角膜変形量
に対応した角膜反射光検出信号が入力されてお
り、このサンプル・アンド・ホールド回路38は
制御端子を有して、この制御端子にパルス信号が
入力されると、その時点の角膜反射光量検出信号
の電圧値をサンプリングし、次に制御端子にパル
ス信号が入力されるまでこの電圧値をホールドす
るものである。このサンプル・アンド・ホールド
回路38のホールドしている電圧値はアナログ・
デイジタル変換回路39によつてデイジタル量に
変換され、切換スイツチ29を介してメモリ回路
26に入力されるようになつている。サンプル・
アンド・ホールド回路38の制御端子へのパルス
信号の入力はオア回路37からなされるようにさ
れている。したがつて、このサンプリング回路系
においては、対応圧力データが更新されると同時
に、その対応圧力データに対応した光量データが
サンプリングされるようになつている。
計測回路24は更にロータリソレノイド5を停
止させるための回路系を備えている。この回路系
は比較回路40と基準電圧発生回路41とパルス
発生器42とから構成されている。比較回路40
には、そのプラス端子に基準電圧発生回路41か
らの出力電圧が入力され、マイナス端子に光電変
換回路20からの角膜反射光量検出信号が入力さ
れている。基準電圧発生回路41の出力電圧は角
膜2の変形量mが最大となる少し手前の時の光電
変換回路20からの角膜反射光量検出信号の電圧
に設定されており、比較回路40は、角膜反射光
量検出信号の電圧が基準電圧発生回路41の出力
電圧以上になるとハイレベル出力するものとされ
ている。この比較回路40の出力がハイレベルか
らローレベルになるとパルス発生回路42から単
発のパルス信号が出力されるもので、このパルス
信号はロータリソレノイド駆動回路7に入力され
るようになつており、ロータリソレノイド駆動回
路7は、このパルス信号を受けるとロータリソレ
ノイド5を停止させるものである。
ところで、CPU25には図示しないパワース
イツチとスタートスイツチ43と表示器44とが
接続されている。まず、パワースイツチをオンさ
せると、このCPU25から切換スイツチ回路2
7に向けて切換スイツチ制御信号が出力され、切
換スイツチ28,29,30がB接点側へ設定さ
れて、メモリ回路26がイニシヤライズされる。
と同時に、CPU25からアドレスカウンタ36
に向けてリセツト信号が入力され、このアドレス
カウンタ36はリセツトされたままとなる。この
後CPU25から再び、切換スイツチ回路27に
向けて切換スイツチ制御信号が出力され、切換ス
イツチ28,23,30はA接点側に設定される
ものである。
この状態で、スタートスイツチ43がオンされ
た或いはオンされていて、CPU25にスイツチ
入力があつたとすると、このCPU25は、これ
を読み込み次の処理を行なう。まず、オア回路3
7に向けてパルス信号を出力し、サンプル・アン
ド・ホールド回路31,38に現時点での対応圧
力検出信号の電圧および角膜反射光量検出信号の
電圧をサンプリングさせ、かつホールドさせる。
それと同時に現在の圧力データと光量データとを
メモリ回路26に格納する。なお現時点では流体
は放出されてなく、これに伴ない角膜2は変形を
受けていないので、両電圧共0Vであり、比較回
路34には、そのマイナス端子に0Vが加わり、
プラス端子にはパワースイツチのオンと同時に基
準電圧発生回路33が作動するためその出力電圧
が加わつているので、比較回路34の出力はロー
レベルとなつている。この後、アドレスカウンタ
36のリセツトを解除し、ロータリソレノイド駆
動回路7に駆動制御信号を入力して、ロータリソ
レノイド5の作動を開始させるものである。
ロータリソレノイド5の作動が開始された後
は、2系統のサンプリング回路系によつて所定圧
力のステツプで得られる対応圧力データに対する
角膜変形量に相当する光量データがサンプリング
され、そのサンプリングデータがメモリ回路26
内にサンプリング毎に逐次格納される。
この過程において、比較回路40の出力がハイ
レベルからローレベルになるとロータリソレノイ
ド5が停止され、流体の流圧の増加が止まる。こ
れに伴なつて対応圧力検出信号の電圧の増加が止
まるため、その後は比較回路34の出力がローレ
ベルのままとなるので、データのサンプリングが
行なわれなくなる。
その後、CPU25のタイマによる予め定めら
れた時間経過後、このCPU25から切換スイツ
チ回路27に向けて切換スイツチ制御信号が入力
され、切換スイツチ28,29,30はB接点側
に設定される。そして、CPU25はメモリ回路
26内のサンプリングデータを読み込み、このサ
ンプリングデータに基づいて第3図に示すような
対応圧力Pと角膜変形量mに相当する検出光の光
量Lとの相関関数を確立する。なお、この第3図
中、Pmaxは対応圧力の最大値、Lmaxは光量の
最大値である。
CPU25は、この相関関数を確立したら予め
設定される角膜変形量に相当する光量に対応した
対応圧力を、この相関関数から割り出し、その割
り出した対応圧力値を眼圧値に換算する。ここで
は、光量Lの最大値Lmaxにおける対応圧力値
Pl,Phを眼圧値に換算するようにされている。
なお、第3図では、実線による曲線Hiと破線に
よる曲線Loとが示されているが、これらの曲線
Hi,Loは各々別途の角膜のものである。勿論、
曲線Hiに係る角膜の方が曲線Loに係る角膜より
も眼圧値が大なることは言うまでもない。CPU
25は眼圧値を求めると、その眼圧値を表示器4
4に表示させるものとなつている。
ところで、第4図に示すように、この実施例の
シリンダ6に流体逃し筒部45を設け、この流体
逃し筒部45に電磁弁46を設けると共に、パル
ス発生回路42のパルス信号を受けると電磁弁4
6を開く電磁弁駆動回路47を設けて、角膜2に
加わる流圧の緩和を早めるようにすることもでき
る。なお、この流圧緩和の早期化は、ロータリソ
レノイド駆動回路7によつて、これがパルス発生
回路42からパルス信号を受けた時、ピストン1
2が前進行程にある場合には、このピストン12
を後退させるようにロータリソレノイド5を駆動
させることによつてもなすことが可能である。
また、光電変換回路20と対応圧力検出回路2
3とを入れ改め、光電変換回路20をサンプル・
アンド・ホールド回路31側の回路系に接続し、
対応圧力検出回路23をサンプル・アンド・ホー
ルド回路38側の回路系に接続する構成としても
良い。この場合には、第5図に示すようなかたち
で相関関数が確立されるものである。
次に、本発明に係る非接触式眼圧計の第2の実
施例を第6図に基づいて説明する。なお、この第
2の実施例は、第1の実施例と同一の構成要素を
有しているため、ここでは、その同一構成要素に
ついて第1の実施例のものと同一符号を付して、
その詳細なる説明は省略する。
第6図において、流体放出手段1のシリンダ6
は、略T字形状とされており、このシリンダ6は
シリンダ筒部9の他、ノズル筒部48,49を有
している。ノズル筒部48は角膜2に向かつて真
直ぐに延びており、ノズル筒部49はノズル筒部
48と反対方向に延びている。ノズル筒部49の
開口端部に圧力センサ素子24は装着されてい
る。ピストン12の往復動によりシリンダ6内で
流動する流体は、ノズル筒部48とノズル筒部4
9とに案内されるものであり、ノズル筒部48か
ら流体が角膜2に向かつて放出されるものであ
る。
射出光学系3は、投光レンズ50と赤外発光ダ
イオード51とを備えており、投光レンズ50の
光軸04が、被検眼角膜2の中心線軸01と平行とな
るようにして、投光レンズ50は設けられてい
る。赤外発光ダイオード51は、その発光中心が
投光レンズ50の焦点位置に存するようにして設
けられており、投光レンズ50は、絞りA′を通
して平行光束からなるスポツト光を検出光として
角膜2に向かつて射出するものである。検出光学
系4は、結像レンズ52と光電変換器53とを備
えており、検出光学系4は、射出光学系3から射
出されて角膜2を経由する検出光を受光し、その
検出光を光電変換して被検眼角膜変形量に対応す
る被検眼角膜変形対応信号を出力する機能を有し
ている。結像レンズ52は、その光軸05が光軸04
と交差するようにして設けられており、光電変換
器53は結像レンズ52の焦点位置に設けられて
おり、角膜2によつて反射された検出光が光電変
換器53において結像するようにされている。光
電変換器53には、ここでは、一次元構成の
CCDリニアセンサアレイが使用されている。
第6図において、符号P1は変形を受ける前の
被検眼角膜2によつて反射された検出光を示して
おり、符号P2は変形量mだけ変形を受けたとき
の被検眼角膜Cによつて反射された検出光を示し
ており、ここでは、検出光P1が光電変換器53
の構成素子54のr1番目に結像されている状態が
示されており、検出光P2が構成素子54のr2番目
に結像されている状態が示されている。光電変換
器53からの時系列の出力信号は、検出回路55
に入力されており、この検出回路55は、各構成
素子54の番地情報に相当する電圧を出力する機
能を有している。この検出回路55の出力は計測
回路24のサンプル・アンド・ホールド回路38
と比較回路40とに入力されるように構成されて
いる。
角膜2が変形量mだけ変形すると、検出光の結
像位置は△rだけ変化するものであり、この結像
位置の変化△rと変形量mとは対応関係にある。
この結像位置の変化△rは電圧の差として把握さ
れるものとなる。
すなわち、検出回路55の出力電圧に基づいて
角膜変形量データがサンプリングされるものであ
る。
この実施例では、射出光学系として、微小のス
ポツト光を利用する構成としたが、円形パター
ン、格子状パターンを角膜に投影し、その変形量
を検出する構成とすることもできる。
この実施例では、検出光学系としては、結像位
置の一次元的変化を利用する構成となつている
が、円形パターンの面積変化を検出する二次元的
な構成とすることもできる。
さらに、被検者が角膜性乱視眼である場合に
は、角膜経線方向に沿つて反射スポツト光の位
置、変位量が異なるので、その場合には、角膜経
線方向に沿つて、例えば、60度毎に変形検出光学
系を配置するとよい。
次に本発明に係る非接触式眼圧計の第3の実施
例を第7図ないし第9図に基づいて説明する。
この実施例では、流体放出手段1及び計測回路
24は前記第1の実施例と同一構成のため、その
図示は省略する。射出光学系3は、光源56と集
光レンズ57とスリツト板58と投影レンズ59
とから大略構成されている。光源56には、白熱
電球が使用されており、光源56は集光レンズ5
7の焦点位置に設けられており、スリツト板58
は集光レンズ57と投影レンズ59との間に設け
られており、スリツト板58には細長いスリツト
60が設けられており、このスリツト60を通過
する検出光がスリツト投影光61として投影レン
ズ59によつて被検眼角膜2に向かつて投影され
る。被検眼角膜2は、このスリツト投影光61に
より切断される。
検出光学系4は、観察顕微鏡構成とされてお
り、対物レンズ62と左眼光学系63と右眼光学
系64とから大略構成されている。左眼光学系6
3は、変倍光学系65と結像レンズ66と正立光
学系67と焦点板68と接眼レンズ69とを有し
ており、右眼光学系64は、変倍光学系70と結
像レンズ71と正立光学系72と焦点板73と接
眼レンズ74とを有しており、角膜2のスリツト
状断面が測定者に観察されるものとなつている。
右眼光学系64には、変倍光学系70と結像レン
ズ71との間に、ハーフミラー75がその右眼光
学系64の光軸に対して斜めに設けられている。
角膜2によつて反射されたスリツト投影光の一部
は、このハーフミラー75によつて反射されるも
ので、反射方向先方には、結像レンズ76とエリ
アセンサ77とが設けられている。この結像レン
ズ76とエリアセンサ77とは、スリツト投影光
束に対してシヤインプルフの原理を満足するよう
にして配置されている。エリアセンサ77には、
面積型CCDが使用されており、このエリアセン
サ77は少なくとも3本の走査線を有している。
対物レンズ62と左眼光学系63と右眼光学系6
4とには、従来のスリツトランプを使用でき、ハ
ーフミラー75と結像レンズ76とエリアセンサ
77とはケース78に収納して、オプシヨン構成
とすることができる。角膜2の断面位置は、左眼
光学系63と右眼光学系64とを使用して、測定
者により所定の位置に調節される。角膜2から反
射されるスリツト投影光は、結像レンズ76によ
り角膜断面像としてエリアセンサ77に結像され
る。第8図は、この角膜断面像を示すもので、符
号C1は角膜2が変形を受ける前の角膜断面像を
示しており、符号C2は角膜2が変形量△だけ変
形を受けたときの角膜断面像を示し、L1,L2
L3は走査線を示しており、スタートスイツチを
押すと、少なくとも3本の走査線によつてエリア
センサ77の構成素子が走査されるもので、この
走査によつて、どの構成素子に角膜断面像が結像
されているかという意味での結像位置が求められ
るものである。ここでは、3個の結像位置S1
S2,S3が求められ、これが結像位置信号として検
出回路79に入力され、この検出回路79により
変形前の結像位置信号として素子の番地情報に相
当する電圧が計測回路24のサンプル・アンド・
ホールド回路38に入力されるものである。この
走査は、高速で行なわれるもので、結像位置は、
角膜2が変形を受けている過程においては、時々
刻々と変化するものであり、その変形過程におけ
る結像位置信号が検出回路79に時々刻々と入力
されるものであり、その検出回路79からの出力
電圧がサンプル・アンド・ホールド回路38に入
力されるものである。すなわち、この検出回路7
9の出力電圧が角膜変形量データとしてサンプリ
ングされるものとなつている。なお、第8図中、
符号S1′,S2′,S3′は、角膜2が変形量△だけ変
形したときの結像位置である。
ところで、被検眼角膜2の眼圧測定法として、
角膜自身が有する弾性力、涙液の眼圧測定への影
響を除去するために、被検眼角膜2を直径が3.06
mmの円形平面になるように圧平する圧平眼圧測定
法があるが、この圧平眼圧測定法を利用する場合
には、結像位置S1″,S2″,S3″が第9図に示すよ
うに直線上に並んだときを角膜所定変形位置とし
て、そのときの流体の流圧をもとに眼圧値を求め
ることができる。
次に非接触式眼圧計の第4の実施例を第10図
に基づいて説明する。
この実施例は、第2の実施例の変形例を示すも
のであつて、変形前の角膜2の頂点02からノズル
筒部48の先端までの距離D1と等しい距離D2
けノズル筒部49の先端から圧力センサ素子23
aを離間させて設け、角膜2が受ける流圧に極力
近づけて流体の流圧に対応する対応圧力を検出す
る構成としたものであり、その他の構成は第2実
施例と同一であるのでその説明は省略する。
第11図は、本発明に係る非接触式眼圧計の第
5の実施例を示すもので、この実施例では、流体
放出手段1、エアボンベ80とバルブ81とバル
ブコントローラ82と放流管83とから大略構成
されており、バルブコントローラ82はバルブ8
1の開口量を調節する機能を有している。放流管
83は、平行に延びるノズル筒部84,85を有
しており、ノズル筒部84は角膜2に向かつて延
びており、ノズル筒部85は基準板86に向かつ
て延びており、ノズル筒部85の先端から基準板
86までの距離D3とノズル筒部84の先端から
角膜2の頂点02までの距離D4とは等しく設定さ
れている。ノズル筒部84,85には分岐通路8
7,88が設けられ、その分岐通路87,88の
下流端には電子式圧力発振器89が設けられてい
る。この電子式圧力発振器89は、分岐通路8
7,88の差圧に基づく信号を出力するもので、
この電子式圧力発振器89は、圧力センサ素子2
3aとして機能するものである。ノズル筒部85
には、調整バルブ90が設けられており、この調
整バルブ90は、角膜2が変形を受ける前の状態
にあるときに、電子式圧力発振器89の出力が零
となるように調節する機能を有している。
次にこの第5の実施例の作用について説明す
る。
バルブ81を開くと、エアボンベ80からの空
気が放流管83に向かつて流出し、被検眼角膜変
形用の流体としてノズル筒部84,85に案内さ
れる。角膜2が変形を受ける前にあつては、ノズ
ル筒部84から放出される放出状態とノズル筒部
85から放出される放出状態との関係に変化がな
いから、調整バルブ90の調整によつて電子式圧
力発振器89の出力は零とされている。バルブ8
1の開度を増大させると、角膜2が流体の流圧に
より変形して、ノズル筒部84から放出される放
出状態とノズル筒部85から放出される放出状態
との関係に変化を生ずる。
すなわち、角膜2が変形を生じ始めると、その
角膜2の変形に伴なつて分岐通路87内の圧力が
低下するが、基準板86がそのままの状態を維持
するので、分岐通路88の圧力はそのままの状態
が維持され、電子式圧力発振器89は、平衝が崩
れて出力が増大する。この電子式圧力発振器89
の出力がサンプル・アンド・ホールド回路31に
入力され、対応圧力データがサンプリングされる
ようになつている。
発明の効果 本発明は、以上説明したような構成としたの
で、時間をパラメータとして眼圧を測定するもの
に較べて、時間測定に起因する測定誤差を排除で
きるので、その分眼圧測定精度の向上を図ること
ができる。
また、従来のものでは、時間に対する流体の流
圧が流圧特性曲線Aに従うことを必須の条件とし
ており、測定毎に流体の流圧特性曲線Aが異なる
ものであると測定誤差を生じるために、流体放出
手段の設計、製作、品質管理に厳格なるものが要
求されていたが、本発明によれば、その設計、製
作、品質管理の不具合による誤差が眼圧の測定精
度に直接には寄与しないので、流体放出手段の設
計、製作、品質管理の容易化を図ることができ
る。また、温度変化による流体の密度変化による
流圧特性変化があつても、本発明は直接対応圧力
を測定しているためその影響がない。
特に現に測定される被検眼角膜の変形過程を圧
力と角膜変形量との相関関数曲線として求めてそ
れによつて眼圧値を求めるようにしたから、従来
に較べてより一層の精度の向上を図ることができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例を示す全体構成
図、第2図は第1図に示す実施例の眼圧値換算手
段である計測回路のブロツク図、第3図は第1図
に示す計測回路により確立される相関関数のグラ
フ、第4図は第1図に示す流体放出手段に変形を
加えた例を示す断面図、第5図は第2図に示す計
測回路に変形を加えたものによる相関関数のグラ
フ、第6図は本発明の第2実施例を示す要部構成
図、第7図は本発明の第3実施例を示す要部構成
図、第8図、第9図は第7図に示す実施例を説明
するための説明図、第10図は本発明の第4実施
例を示す要部構成図、第11図は本発明の第5実
施例を示す要部構成図、第12図は従来例の不具
合を説明するための特性曲線図である。 1……流体放出手段、2……角膜、{3……射
出光学系、4……検出光学系}(角膜変形量検出
手段)、23……対応圧力検出回路(対応圧力検
出手段)、24……計測回路(眼圧値換算手段)。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被検眼角膜に変形を与えるべく該被検眼角膜
    に対して流体を放出するための流体放出手段と、 前記被検眼角膜の変形を示す物理量を検出する
    角膜変形検出手段と、 眼圧と相関関係を有する前記流体の流圧と対応
    する対応圧力を検出する対応圧力検出手段と、 前記角膜変形検出手段と前記対応圧力検出手段
    とからの情報に基づいて前記物理量と前記対応圧
    力との相関関数曲線を確立し、前記物理量の予め
    設定される値に対応する前記対応圧力の値を該相
    関関数曲線から割り出し、その割り出した対応圧
    力の値を眼圧値に換算する眼圧値換算手段とから
    構成されていることを特徴とする非接触式眼圧
    計。
JP59242279A 1984-06-12 1984-11-19 非接触式眼圧計 Granted JPS61122839A (ja)

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JP59242279A JPS61122839A (ja) 1984-11-19 1984-11-19 非接触式眼圧計
EP85107196A EP0164730B1 (en) 1984-06-12 1985-06-11 Non-contact type tonometer
DE8585107196T DE3586572T2 (de) 1984-06-12 1985-06-11 Beruehrungsloses tonometer.
DE198585107196T DE164730T1 (de) 1984-06-12 1985-06-11 Beruehrungsloses tonometer.
US07/313,299 US5002056A (en) 1984-06-12 1989-02-21 Non-contact type tonometer

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JP5076799A Division JPH08108B2 (ja) 1993-04-02 1993-04-02 非接触式眼圧計
JP5076800A Division JPH08109B2 (ja) 1993-04-02 1993-04-02 非接触式眼圧計
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Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61122839A JPS61122839A (ja) 1986-06-10
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GB8626601D0 (en) * 1986-11-07 1986-12-10 Pa Consulting Services Testing apparatus
JPS63212325A (ja) * 1987-02-28 1988-09-05 キヤノン株式会社 非接触型眼圧計
JP2642397B2 (ja) * 1988-04-21 1997-08-20 株式会社トプコン 非接触式眼圧計
JPH05128A (ja) * 1991-11-19 1993-01-08 Topcon Corp 非接触式眼圧計

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