JPH04301905A - 歪発生回路 - Google Patents
歪発生回路Info
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- JPH04301905A JPH04301905A JP6464591A JP6464591A JPH04301905A JP H04301905 A JPH04301905 A JP H04301905A JP 6464591 A JP6464591 A JP 6464591A JP 6464591 A JP6464591 A JP 6464591A JP H04301905 A JPH04301905 A JP H04301905A
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- linear
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 27
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 25
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 4
- DTSCLFDGIVWOGR-UHFFFAOYSA-N 1,3-dimethyl-5h-pyrido[2,3]pyrrolo[2,4-b]pyrimidine-2,4-dione Chemical compound C12=NC=CC=C2NC2=C1N(C)C(=O)N(C)C2=O DTSCLFDGIVWOGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Microwave Amplifiers (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Cable Transmission Systems, Equalization Of Radio And Reduction Of Echo (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はマイクロ波・ミリ波帯
を含む高周波帯の高出力増幅器の非線形性により生じる
信号歪を補償する歪補償回路において逆相で加えられる
歪を発生させる歪発生回路に関するものである。
を含む高周波帯の高出力増幅器の非線形性により生じる
信号歪を補償する歪補償回路において逆相で加えられる
歪を発生させる歪発生回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図5は、例えば1990年電子情報通信
学会春季全国大会予稿集2−486ページに示された従
来の歪補償回路を示す構成図である。図において、1は
入力端子、2は出力端子、5は歪発生回路、10は歪補
償回路、25は歪を補償すべき高出力増幅器である。ま
た、歪補償回路10において、11〜16は90°ハイ
ブリッド、20は歪発生用増幅器、21は線形増幅器、
31〜34は可変減衰器、40は無反射終端である。な
お、90°ハイブリッド11〜16にはランゲカップラ
などが用いられる。また、歪発生用増幅器20と線形増
幅器21は同一種類の内部整合形FET(電界効果トラ
ンジスタ)増幅器が用いられている。
学会春季全国大会予稿集2−486ページに示された従
来の歪補償回路を示す構成図である。図において、1は
入力端子、2は出力端子、5は歪発生回路、10は歪補
償回路、25は歪を補償すべき高出力増幅器である。ま
た、歪補償回路10において、11〜16は90°ハイ
ブリッド、20は歪発生用増幅器、21は線形増幅器、
31〜34は可変減衰器、40は無反射終端である。な
お、90°ハイブリッド11〜16にはランゲカップラ
などが用いられる。また、歪発生用増幅器20と線形増
幅器21は同一種類の内部整合形FET(電界効果トラ
ンジスタ)増幅器が用いられている。
【0003】次に動作について説明する。入力端子1に
入力した信号は分配器として機能する90°ハイブリッ
ド11で90°位相差で2分配される。なお、無反射終
端40は、90°ハイブリッド11のアイソレーション
出力に接続されている。
入力した信号は分配器として機能する90°ハイブリッ
ド11で90°位相差で2分配される。なお、無反射終
端40は、90°ハイブリッド11のアイソレーション
出力に接続されている。
【0004】90°ハイブリッド11の第1の分配出力
は、歪発生用増幅器20に導入される。歪発生用増幅器
20によって歪成分を含んで増幅された信号は、可変減
衰器31を通して90°ハイブリッド12で2分配され
る。90°ハイブリッド12の第1の分配出力は90°
ハイブリッド14に、また、第2の分配出力は無反射終
端40に導入される。90°ハイブリッド11の第2の
分配出力は、可変減衰器32を通して線形増幅器21で
歪成分を含まずに信号だけが増幅される。
は、歪発生用増幅器20に導入される。歪発生用増幅器
20によって歪成分を含んで増幅された信号は、可変減
衰器31を通して90°ハイブリッド12で2分配され
る。90°ハイブリッド12の第1の分配出力は90°
ハイブリッド14に、また、第2の分配出力は無反射終
端40に導入される。90°ハイブリッド11の第2の
分配出力は、可変減衰器32を通して線形増幅器21で
歪成分を含まずに信号だけが増幅される。
【0005】線形増幅器21の出力は、90°ハイブリ
ッド13で2分配され、第1の分配出力は、90°ハイ
ブリッド14に導入され、第2の分配出力は、一方の分
配出力が無反射終端40に接続されている90°ハイブ
リッド15に導入される。
ッド13で2分配され、第1の分配出力は、90°ハイ
ブリッド14に導入され、第2の分配出力は、一方の分
配出力が無反射終端40に接続されている90°ハイブ
リッド15に導入される。
【0006】合成器として機能する90°ハイブリッド
14では、歪発生用増幅器20の歪成分を含んだ出力と
、線形増幅器21の歪を含まない出力とを、90°位相
差で合成する。この際、すでに、両者の間に90°ハイ
ブリッド11で90°の位相差が生じているので、信号
は逆相で合成され、相殺されることにより、歪発生用増
幅器20の出力の歪成分のみが出力される。
14では、歪発生用増幅器20の歪成分を含んだ出力と
、線形増幅器21の歪を含まない出力とを、90°位相
差で合成する。この際、すでに、両者の間に90°ハイ
ブリッド11で90°の位相差が生じているので、信号
は逆相で合成され、相殺されることにより、歪発生用増
幅器20の出力の歪成分のみが出力される。
【0007】なお、90°ハイブリッド12は、線形増
幅器21の出力が90°ハイブリッド13を通過する際
に生じる位相遅れと同じだけ、歪発生用増幅器20の出
力の位相を遅らせるためのものである。
幅器21の出力が90°ハイブリッド13を通過する際
に生じる位相遅れと同じだけ、歪発生用増幅器20の出
力の位相を遅らせるためのものである。
【0008】また、歪を抽出する際、合成する信号成分
の振幅が等しくなるように、可変減衰器31、32の減
衰量は設定される。本来は、可変減衰器31、32の減
衰量は等しいものであるが、歪発生用増幅器20と線形
増幅器21の利得にはばらつきがあるため、このばらつ
きを補償している。この90°ハイブリッド14の出力
が、すなわち歪発生回路5の出力となる。
の振幅が等しくなるように、可変減衰器31、32の減
衰量は設定される。本来は、可変減衰器31、32の減
衰量は等しいものであるが、歪発生用増幅器20と線形
増幅器21の利得にはばらつきがあるため、このばらつ
きを補償している。この90°ハイブリッド14の出力
が、すなわち歪発生回路5の出力となる。
【0009】歪発生回路5の出力、および、90°ハイ
ブリッド15の出力は、それぞれ可変減衰器33、34
を通じて90°ハイブリッド16に導入され、90°位
相差で合成される。したがって、90°ハイブリッド1
6の出力中の信号と歪との位相関係は逆相となっている
。
ブリッド15の出力は、それぞれ可変減衰器33、34
を通じて90°ハイブリッド16に導入され、90°位
相差で合成される。したがって、90°ハイブリッド1
6の出力中の信号と歪との位相関係は逆相となっている
。
【0010】この歪補償回路10の出力は、歪を補償す
べき高出力増幅器25に入力する。高出力増幅器25で
発生する歪に対して、歪補償回路10で加えられた歪は
逆相となっているので互いに打ち消し、出力端子2には
増幅された信号だけが出力される。なお、歪を完全に打
ち消すには、歪補償回路10で加えられ、高出力増幅器
25で増幅された歪の振幅と、高出力増幅器25で発生
する歪の振幅とが等しくなければならず、歪補償回路1
0で加えられる歪の量は可変減衰器33、34によって
、調整される。
べき高出力増幅器25に入力する。高出力増幅器25で
発生する歪に対して、歪補償回路10で加えられた歪は
逆相となっているので互いに打ち消し、出力端子2には
増幅された信号だけが出力される。なお、歪を完全に打
ち消すには、歪補償回路10で加えられ、高出力増幅器
25で増幅された歪の振幅と、高出力増幅器25で発生
する歪の振幅とが等しくなければならず、歪補償回路1
0で加えられる歪の量は可変減衰器33、34によって
、調整される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】従来の歪発生回路は以
上のように構成されているので、歪発生回路内の歪発生
用増幅器と線形増幅器の通過位相が等しくないと、90
°ハイブリッド14において、歪発生用増幅器の出力中
の信号成分と線形増幅器の出力中の信号成分との位相関
係が逆相でなくなってしまい、信号成分が相殺されない
ために、通過位相の等しい1対のFET増幅器を選別し
て使用しなければならないという問題点があった。
上のように構成されているので、歪発生回路内の歪発生
用増幅器と線形増幅器の通過位相が等しくないと、90
°ハイブリッド14において、歪発生用増幅器の出力中
の信号成分と線形増幅器の出力中の信号成分との位相関
係が逆相でなくなってしまい、信号成分が相殺されない
ために、通過位相の等しい1対のFET増幅器を選別し
て使用しなければならないという問題点があった。
【0012】また、歪発生用増幅器と線形増幅器の利得
のばらつきがあるために、歪発生用増幅器の出力および
線形増幅器の入力にある可変減衰器31、32を調整す
る必要があるという問題点があった。
のばらつきがあるために、歪発生用増幅器の出力および
線形増幅器の入力にある可変減衰器31、32を調整す
る必要があるという問題点があった。
【0013】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、歪発生回路内の歪発生用増幅器
と線形増幅器に用いるFET増幅器を選別する必要がな
い、また、可変減衰器31、32を調整する必要がない
歪発生回路を得ることを目的とする。
ためになされたもので、歪発生回路内の歪発生用増幅器
と線形増幅器に用いるFET増幅器を選別する必要がな
い、また、可変減衰器31、32を調整する必要がない
歪発生回路を得ることを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】この発明に係る歪発生回
路は、歪補償回路内の歪発生用増幅器と線形増幅器とを
1枚の半導体基板上にモノリシックに作成したものであ
る。すなわち、この発明に係る歪発生回路は、入力信号
を分配する分配器と、上記分配器の第1の出力を非線形
領域で増幅する歪発生用増幅器と、上記分配器の第2の
出力を線形領域で増幅する線形増幅器と、上記歪発生用
増幅器の出力と線形増幅器の出力を逆相で合成する合成
器からなる歪発生回路において、少なくとも歪発生用増
幅器と線形増幅器の所定の特性を決定する部分は同一の
半導体基板上にモノリシック集積回路として構成されて
いることを特徴とする歪発生回路である。
路は、歪補償回路内の歪発生用増幅器と線形増幅器とを
1枚の半導体基板上にモノリシックに作成したものであ
る。すなわち、この発明に係る歪発生回路は、入力信号
を分配する分配器と、上記分配器の第1の出力を非線形
領域で増幅する歪発生用増幅器と、上記分配器の第2の
出力を線形領域で増幅する線形増幅器と、上記歪発生用
増幅器の出力と線形増幅器の出力を逆相で合成する合成
器からなる歪発生回路において、少なくとも歪発生用増
幅器と線形増幅器の所定の特性を決定する部分は同一の
半導体基板上にモノリシック集積回路として構成されて
いることを特徴とする歪発生回路である。
【0015】
【作用】この発明においては、歪補償回路内の歪発生用
増幅器と線形増幅器の位相特性に影響する部分、あるい
は、増幅利得に影響する部分を1枚の半導体基板上にモ
ノリシックに作成することにより、両者の通過位相のば
らつきや増幅器間の利得のばらつきを抑えることができ
る。
増幅器と線形増幅器の位相特性に影響する部分、あるい
は、増幅利得に影響する部分を1枚の半導体基板上にモ
ノリシックに作成することにより、両者の通過位相のば
らつきや増幅器間の利得のばらつきを抑えることができ
る。
【0016】
【実施例】実施例1.図1はこの発明の一実施例を示す
構成図であり、1は入力端子、2は出力端子、5は歪発
生回路、10は歪補償回路、25は歪を補償すべき高出
力増幅器である。また、歪補償回路10において、11
〜16は90°ハイブリッド、20は歪発生用増幅器、
21は線形増幅器、33、34は可変減衰器、36、3
7は固定減衰器、40は無反射終端、50は歪発生用増
幅器20と線形増幅器21が形成されている半導体基板
である。
構成図であり、1は入力端子、2は出力端子、5は歪発
生回路、10は歪補償回路、25は歪を補償すべき高出
力増幅器である。また、歪補償回路10において、11
〜16は90°ハイブリッド、20は歪発生用増幅器、
21は線形増幅器、33、34は可変減衰器、36、3
7は固定減衰器、40は無反射終端、50は歪発生用増
幅器20と線形増幅器21が形成されている半導体基板
である。
【0017】図2は半導体基板50の平面図であり、図
において、60a、60bはFET、61a、61b、
62a、62bは整合回路、20は歪発生用増幅器、2
1は線形増幅器である。
において、60a、60bはFET、61a、61b、
62a、62bは整合回路、20は歪発生用増幅器、2
1は線形増幅器である。
【0018】歪発生用増幅器20と線形増幅器21は、
それぞれの用途に応じて異なる構成にしても良いが、こ
の例では、FET60aと60bは同一構成であり、ま
た、整合回路61aと61bも同一構成であり、さらに
、整合回路62aと62bも同一構成である場合を示し
ている。
それぞれの用途に応じて異なる構成にしても良いが、こ
の例では、FET60aと60bは同一構成であり、ま
た、整合回路61aと61bも同一構成であり、さらに
、整合回路62aと62bも同一構成である場合を示し
ている。
【0019】また、入力側の整合回路61aと61bが
、それぞれFET60aと60bに接続され、さらに、
出力側の整合回路62aと62bに接続され、接続順序
が同一である場合を示している。
、それぞれFET60aと60bに接続され、さらに、
出力側の整合回路62aと62bに接続され、接続順序
が同一である場合を示している。
【0020】そして、また、これらの入力側の整合回路
とFETと出力側の整合回路は平行に配置され、しかも
、できるだけ近距離に配置されている場合を示している
。図1の図面上においては、歪発生用増幅器20と線形
増幅器21は、離れた位置に示されているが、図1は、
物理的配置を示したものではなく、実際は図2に示すよ
うにできるだけ隣接して配置するのが望ましい。これは
、半導体基板の特性が同じになること、熱による影響が
同じになること、ノイズによる影響が同じになること等
の諸条件が同じになることを利用して、歪発生用増幅器
20と線形増幅器21の特性ばらつきがすくなくなるた
めである。
とFETと出力側の整合回路は平行に配置され、しかも
、できるだけ近距離に配置されている場合を示している
。図1の図面上においては、歪発生用増幅器20と線形
増幅器21は、離れた位置に示されているが、図1は、
物理的配置を示したものではなく、実際は図2に示すよ
うにできるだけ隣接して配置するのが望ましい。これは
、半導体基板の特性が同じになること、熱による影響が
同じになること、ノイズによる影響が同じになること等
の諸条件が同じになることを利用して、歪発生用増幅器
20と線形増幅器21の特性ばらつきがすくなくなるた
めである。
【0021】このように、それぞれの増幅器20、21
の構成部分を同一構成にしたり、それぞれの増幅器20
、21の構成部分を同一順序に接続したり、あるいは、
近距離に配置することにより、増幅利得特性や通過位相
特性にばらつきが少ない増幅器20、21を得ることが
できる。
の構成部分を同一構成にしたり、それぞれの増幅器20
、21の構成部分を同一順序に接続したり、あるいは、
近距離に配置することにより、増幅利得特性や通過位相
特性にばらつきが少ない増幅器20、21を得ることが
できる。
【0022】前記のように構成された歪発生回路におい
ては、図2に示すように、歪発生用増幅器20のFET
60aと、線形増幅器21のFET60bは、同一チッ
プ上に形成されているので、FET素子特性にばらつき
は少ない。
ては、図2に示すように、歪発生用増幅器20のFET
60aと、線形増幅器21のFET60bは、同一チッ
プ上に形成されているので、FET素子特性にばらつき
は少ない。
【0023】また、従来の内部整合FET増幅器におい
ては、FETチップと整合回路の形成されている誘電体
基板は別々であり、これらをアセンブリする際に生じる
取り付け位置のばらつきにより、増幅器の利得や通過位
相のばらつきが生じることがある。ところが、本実施例
においては、整合回路61a、61bはFET60a、
60bと同一チップ上にモノリシックに形成されている
ために、アセンブリによる特性のばらつきは生じない。
ては、FETチップと整合回路の形成されている誘電体
基板は別々であり、これらをアセンブリする際に生じる
取り付け位置のばらつきにより、増幅器の利得や通過位
相のばらつきが生じることがある。ところが、本実施例
においては、整合回路61a、61bはFET60a、
60bと同一チップ上にモノリシックに形成されている
ために、アセンブリによる特性のばらつきは生じない。
【0024】上記のように、FET60a、60bと整
合回路61a、61bが同一チップ上にモノリシックに
形成されているために、FET素子特性のばらつきが少
なく、また、アセンブリによる特性のばらつきが生じな
い。したがって、歪発生用増幅器20と線形増幅器21
の利得と通過位相のばらつきは少ない。
合回路61a、61bが同一チップ上にモノリシックに
形成されているために、FET素子特性のばらつきが少
なく、また、アセンブリによる特性のばらつきが生じな
い。したがって、歪発生用増幅器20と線形増幅器21
の利得と通過位相のばらつきは少ない。
【0025】利得のばらつきが少ないために、歪発生用
増幅器20の出力および線形増幅器21の入力に挿入さ
れている減衰器36、37は固定減衰器でよい。また、
通過位相のばらつきが少ないために、通過位相のそろっ
たFET増幅器を選別する必要がない。
増幅器20の出力および線形増幅器21の入力に挿入さ
れている減衰器36、37は固定減衰器でよい。また、
通過位相のばらつきが少ないために、通過位相のそろっ
たFET増幅器を選別する必要がない。
【0026】実施例2.上記実施例1においては、半導
体基板50上にFET60a、60bのほかに、整合回
路61a、61b、62a、62bも作成されているが
、歪発生用増幅器20と線形増幅器21の特性のばらつ
きが、主にFETの素子特性による場合は、FET60
a、60bだけを半導体基板50上に作成しても同様の
効果を奏する。
体基板50上にFET60a、60bのほかに、整合回
路61a、61b、62a、62bも作成されているが
、歪発生用増幅器20と線形増幅器21の特性のばらつ
きが、主にFETの素子特性による場合は、FET60
a、60bだけを半導体基板50上に作成しても同様の
効果を奏する。
【0027】実施例3.上記実施例1においては、半導
体基板50上にFET60a、60bと整合回路61a
、61b、62a、62bが作成されているが、FET
のバイアス回路も同一半導体基板に作成してもよい。
体基板50上にFET60a、60bと整合回路61a
、61b、62a、62bが作成されているが、FET
のバイアス回路も同一半導体基板に作成してもよい。
【0028】実施例4.上記実施例3では、固定減衰器
36、37は、FET60a、60bの作成されている
半導体基板50と異なる誘電体基板上に構成されている
が、固定減衰器36、37をFET60a、60bと同
一の半導体基板上に作成してもよい。
36、37は、FET60a、60bの作成されている
半導体基板50と異なる誘電体基板上に構成されている
が、固定減衰器36、37をFET60a、60bと同
一の半導体基板上に作成してもよい。
【0029】実施例5.上記実施例4では、FET60
a、60bの他に固定減衰器36、37を半導体基板5
0上に作成したが、歪発生回路5全体を1つの半導体基
板上に作成してもよい。
a、60bの他に固定減衰器36、37を半導体基板5
0上に作成したが、歪発生回路5全体を1つの半導体基
板上に作成してもよい。
【0030】実施例6.また、歪補償回路10の一部ま
たは全体をFET60a、60bと同一半導体基板上に
作成してもよい。図3は、歪補償回路の一部を半導体基
板上に構成した一例を示したものである。
たは全体をFET60a、60bと同一半導体基板上に
作成してもよい。図3は、歪補償回路の一部を半導体基
板上に構成した一例を示したものである。
【0031】実施例7.上記実施例1〜5においては、
1個の歪発生用増幅器、1個の線形増幅器、2つの減衰
器、4つの90°ハイブリッドとからなる歪発生回路に
ついて説明したが、歪発生用増幅器と線形増幅器を用い
る歪発生回路であれば、他の回路構成においても同様な
効果を奏する。
1個の歪発生用増幅器、1個の線形増幅器、2つの減衰
器、4つの90°ハイブリッドとからなる歪発生回路に
ついて説明したが、歪発生用増幅器と線形増幅器を用い
る歪発生回路であれば、他の回路構成においても同様な
効果を奏する。
【0032】図4は、他の回路構成の歪発生回路に適用
させた例を示したものである。図において、17は分割
器、18は合同器である。図4に示した歪発生回路5の
回路構成は、図1の歪発生回路の構成に比べて、線形増
幅器21の出力の一部を歪発生回路の外部に取り出す9
0°ハイブリッドが省かれている。高出力増幅器25の
入力信号の一部を分割器17で取り出し、歪発生回路5
で歪を抽出する。この歪発生回路5で発生した歪は、高
出力増幅器25の出力に合同器18を介して合成される
。この際、高出力増幅器25で発生している歪と同振幅
、逆相で、歪発生回路5で発生した歪を合成することに
より、歪を相殺することができる。
させた例を示したものである。図において、17は分割
器、18は合同器である。図4に示した歪発生回路5の
回路構成は、図1の歪発生回路の構成に比べて、線形増
幅器21の出力の一部を歪発生回路の外部に取り出す9
0°ハイブリッドが省かれている。高出力増幅器25の
入力信号の一部を分割器17で取り出し、歪発生回路5
で歪を抽出する。この歪発生回路5で発生した歪は、高
出力増幅器25の出力に合同器18を介して合成される
。この際、高出力増幅器25で発生している歪と同振幅
、逆相で、歪発生回路5で発生した歪を合成することに
より、歪を相殺することができる。
【0033】なお、本実施例では、歪発生回路5全体を
1つの半導体基板上に作成した状態をしめしている。
1つの半導体基板上に作成した状態をしめしている。
【0034】実施例8.上記実施例1〜6では、歪発生
回路において分配器、合成器として90°ハイブリッド
を用いた場合について示したが、歪発生用増幅器20と
線形増幅器21の出力を合成する際の通過位相が逆相で
あれば良いのであって、90°ハイブリッドの代わりに
ラットレースやウイルキンソン電力分配器と遅延線路を
用いても同様の効果を奏する。
回路において分配器、合成器として90°ハイブリッド
を用いた場合について示したが、歪発生用増幅器20と
線形増幅器21の出力を合成する際の通過位相が逆相で
あれば良いのであって、90°ハイブリッドの代わりに
ラットレースやウイルキンソン電力分配器と遅延線路を
用いても同様の効果を奏する。
【0035】実施例9.上記実施例では、半導体基板5
0上に、歪発生用増幅器20と線形増幅器21のFET
60a、60bや整合回路61a、61b、62a、6
2bを作成する場合を示したが、これらは、歪補償回路
内の歪発生用増幅器20と線形増幅器21の位相特性に
影響する部分、あるいは、増幅利得に影響する部分の一
例であって、このほかに位相特性に影響する部分、ある
いは、増幅利得に影響する部分があればを、これらを1
枚の半導体基板上にモノリシックに作成することにより
、両者の通過位相のばらつきや、増幅器間の利得のばら
つきを、抑えることができる。
0上に、歪発生用増幅器20と線形増幅器21のFET
60a、60bや整合回路61a、61b、62a、6
2bを作成する場合を示したが、これらは、歪補償回路
内の歪発生用増幅器20と線形増幅器21の位相特性に
影響する部分、あるいは、増幅利得に影響する部分の一
例であって、このほかに位相特性に影響する部分、ある
いは、増幅利得に影響する部分があればを、これらを1
枚の半導体基板上にモノリシックに作成することにより
、両者の通過位相のばらつきや、増幅器間の利得のばら
つきを、抑えることができる。
【0036】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、歪発生
回路内の歪発生用増幅器と線形増幅器の所定の部分を同
一の半導体基板上にモノリシックに構成することにより
、歪発生用増幅器の出力および線形増幅器の入力に挿入
する減衰器を固定減衰器とすることができるとともに、
通過位相の等しい増幅器を選別する必要がないという効
果がある。
回路内の歪発生用増幅器と線形増幅器の所定の部分を同
一の半導体基板上にモノリシックに構成することにより
、歪発生用増幅器の出力および線形増幅器の入力に挿入
する減衰器を固定減衰器とすることができるとともに、
通過位相の等しい増幅器を選別する必要がないという効
果がある。
【図1】この発明の実施例1による歪発生回路の構成図
である。
である。
【図2】この発明の実施例1における歪発生用増幅器と
線形増幅器が構成されている半導体基板の平面図である
。
線形増幅器が構成されている半導体基板の平面図である
。
【図3】この発明の実施例6による歪発生回路の構成図
である。
である。
【図4】この発明の実施例7による歪発生回路の構成図
である。
である。
【図5】従来の歪発生回路の構成図である。
1 入力端子
2 出力端子
10 歪補償回路
11〜16 90°ハイブリッド
17 分割器
18 合同器
20 歪発生用増幅器
21 線形増幅器
25 歪を補償すべき高出力増幅器
31〜34 可変減衰器
40 無反射終端
50 半導体基板
60a〜60b FET
61a〜61b 整合回路
62a〜62b 整合回路
Claims (1)
- 【請求項1】 入力信号を分配する分配器と、上記分
配器の第1の出力を非線形領域で増幅する歪発生用増幅
器と、上記分配器の第2の出力を線形領域で増幅する線
形増幅器と、上記歪発生用増幅器の出力と線形増幅器の
出力を逆相で合成する合成器とを有する歪発生回路にお
いて、少なくとも歪発生用増幅器と線形増幅器の所定の
特性を決定する部分は、同一の半導体基板上にモノリシ
ック集積回路として構成されていることを特徴とする歪
発生回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6464591A JPH04301905A (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | 歪発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6464591A JPH04301905A (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | 歪発生回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04301905A true JPH04301905A (ja) | 1992-10-26 |
Family
ID=13264200
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6464591A Pending JPH04301905A (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | 歪発生回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04301905A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6239656B1 (en) | 2000-01-31 | 2001-05-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Power amplifier |
WO2013021961A1 (ja) * | 2011-08-05 | 2013-02-14 | ディー・クルー・テクノロジーズ株式会社 | 高周波電力増幅装置及びその高周波電力増幅装置を搭載した通信機能を有する電子機器 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6165612A (ja) * | 1984-09-07 | 1986-04-04 | Nec Corp | 非線形補償回路 |
JPS6351708A (ja) * | 1986-08-21 | 1988-03-04 | Fujitsu Ltd | フイ−ドフオワ−ド増幅器 |
-
1991
- 1991-03-28 JP JP6464591A patent/JPH04301905A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6165612A (ja) * | 1984-09-07 | 1986-04-04 | Nec Corp | 非線形補償回路 |
JPS6351708A (ja) * | 1986-08-21 | 1988-03-04 | Fujitsu Ltd | フイ−ドフオワ−ド増幅器 |
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US6239656B1 (en) | 2000-01-31 | 2001-05-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Power amplifier |
EP1126595A1 (en) * | 2000-01-31 | 2001-08-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Power amplifier |
WO2013021961A1 (ja) * | 2011-08-05 | 2013-02-14 | ディー・クルー・テクノロジーズ株式会社 | 高周波電力増幅装置及びその高周波電力増幅装置を搭載した通信機能を有する電子機器 |
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