JPH04301819A - 空間光変調素子 - Google Patents
空間光変調素子Info
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- JPH04301819A JPH04301819A JP3092719A JP9271991A JPH04301819A JP H04301819 A JPH04301819 A JP H04301819A JP 3092719 A JP3092719 A JP 3092719A JP 9271991 A JP9271991 A JP 9271991A JP H04301819 A JPH04301819 A JP H04301819A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/135—Liquid crystal cells structurally associated with a photoconducting or a ferro-electric layer, the properties of which can be optically or electrically varied
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
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- G02F1/1351—Light-absorbing or blocking layers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、情報を含む書込み光を
光導電層に入射して、書込み光の強度分布に対応する分
布の電界を光変調層に印加し、これによって光変調層に
入射した読出し光を変調する空間光変調素子(SLM)
にかかり、特に、読出し光強度が大きい場合にも好適な
空間光変調素子に関する。
光導電層に入射して、書込み光の強度分布に対応する分
布の電界を光変調層に印加し、これによって光変調層に
入射した読出し光を変調する空間光変調素子(SLM)
にかかり、特に、読出し光強度が大きい場合にも好適な
空間光変調素子に関する。
【0002】
【従来の技術】空間光変調素子は、インコヒーレント・
コヒーレント光変換、または、その逆の変換が可能で、
データの並列処理や画像の直接演算処理などに対する応
用が考えられている。また、光の強度増幅を行なうよう
にすれば、ビデオプロジェクタなどの表示システムに応
用することができる。
コヒーレント光変換、または、その逆の変換が可能で、
データの並列処理や画像の直接演算処理などに対する応
用が考えられている。また、光の強度増幅を行なうよう
にすれば、ビデオプロジェクタなどの表示システムに応
用することができる。
【0003】このような空間光変換素子としては、Ap
pl. Phys. Lett., Vol.22,
No.3, 1 February 1973, p9
0〜92や、第50回応用物理学会学術講演会予稿集,
1989,28p−ZD−5〜7などに開示されており
、たとえば第2図に示すような構成となっている。同図
において、変調材料として液晶が用いられた光変調層1
0の書込み光入射側には、誘電体ミラー12,不導体の
遮光膜14が各々順に積層して形成されている。そして
、この遮光膜14の更に書込み光入射側には、光導電層
16が積層されており、更にその外側には、透明電極1
8,ガラス基板20が各々積層されている。
pl. Phys. Lett., Vol.22,
No.3, 1 February 1973, p9
0〜92や、第50回応用物理学会学術講演会予稿集,
1989,28p−ZD−5〜7などに開示されており
、たとえば第2図に示すような構成となっている。同図
において、変調材料として液晶が用いられた光変調層1
0の書込み光入射側には、誘電体ミラー12,不導体の
遮光膜14が各々順に積層して形成されている。そして
、この遮光膜14の更に書込み光入射側には、光導電層
16が積層されており、更にその外側には、透明電極1
8,ガラス基板20が各々積層されている。
【0004】他方、光変調層10の読出し光入射側には
、透明電極22,ガラス基板24が各々積層されている
。そして、透明電極18、22間には、適宜の駆動用電
源26が接続されている。
、透明電極22,ガラス基板24が各々積層されている
。そして、透明電極18、22間には、適宜の駆動用電
源26が接続されている。
【0005】以上のような空間光変調素子の概略の作用
を説明すると、所望される情報を含んだ書込み光は、矢
印F1で示すように素子の光導電層16に入射する。光
導電層16では、書込み光の強度に応じて電子・ホール
対が生成され、更にそれらが分離されて書込み光の強度
分布に対応する電荷像が形成される。
を説明すると、所望される情報を含んだ書込み光は、矢
印F1で示すように素子の光導電層16に入射する。光
導電層16では、書込み光の強度に応じて電子・ホール
対が生成され、更にそれらが分離されて書込み光の強度
分布に対応する電荷像が形成される。
【0006】他方、光変調層10には、矢印F2で示す
ように読出し光が入射する。ところが、この光変調層1
0には、光導電層16に形成された電荷像による電界が
影響しており、この電界の程度、別言すれば書込み光の
強度に対応した光変調が行なわれることとなる。光変調
層10によって変調を受けた読出し光は、誘電体ミラー
12によって反射され、矢印F3で示すように出力され
ることとなる。
ように読出し光が入射する。ところが、この光変調層1
0には、光導電層16に形成された電荷像による電界が
影響しており、この電界の程度、別言すれば書込み光の
強度に対応した光変調が行なわれることとなる。光変調
層10によって変調を受けた読出し光は、誘電体ミラー
12によって反射され、矢印F3で示すように出力され
ることとなる。
【0007】遮光膜14は、誘電体ミラー12を突き抜
けた読出し光が光導電層16に達して電荷像を乱し、読
出し画像のコントラストの低下が起こらないようにする
ためのものである。
けた読出し光が光導電層16に達して電荷像を乱し、読
出し画像のコントラストの低下が起こらないようにする
ためのものである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、以上のよう
な空間光変調素子を表示システムに利用する場合、読出
し光の強度は他の場合と比較して相対的に大きくなる。 そして、読出し光が強いほど、遮光膜14の役割は重要
となってくる。遮光膜14は、抵抗が高く光吸収率が大
きくないと解像度が劣化する。このため、材料が限定さ
れ、たとえばCdTe膜が用いられている。ところが、
このCdTe膜では、良質のものが得られにくく、また
毒性が強いという問題もある。
な空間光変調素子を表示システムに利用する場合、読出
し光の強度は他の場合と比較して相対的に大きくなる。 そして、読出し光が強いほど、遮光膜14の役割は重要
となってくる。遮光膜14は、抵抗が高く光吸収率が大
きくないと解像度が劣化する。このため、材料が限定さ
れ、たとえばCdTe膜が用いられている。ところが、
このCdTe膜では、良質のものが得られにくく、また
毒性が強いという問題もある。
【0009】他の遮光膜14としては、光の干渉を利用
した多層型のものがある(第51回応用物理学会予稿集
,p751 26a−H−3参照)。しかし、このタイ
プの遮光膜では、垂直入射光のみの場合には効果的に遮
光が行われる。しかし、光変調層10が高分子液晶複合
体のような散乱タイプのときは、斜め入射光が多くなり
、遮光効果が半減するという不都合がある。また、この
多層型の遮光膜は、通常のTN型の液晶の場合において
も、干渉効果を利用するとともに波長の選択性も大きい
ことから、ブロードな光には効果が少ない。
した多層型のものがある(第51回応用物理学会予稿集
,p751 26a−H−3参照)。しかし、このタイ
プの遮光膜では、垂直入射光のみの場合には効果的に遮
光が行われる。しかし、光変調層10が高分子液晶複合
体のような散乱タイプのときは、斜め入射光が多くなり
、遮光効果が半減するという不都合がある。また、この
多層型の遮光膜は、通常のTN型の液晶の場合において
も、干渉効果を利用するとともに波長の選択性も大きい
ことから、ブロードな光には効果が少ない。
【0010】次に、空間光変調素子では、上述したよう
に、光導電層10における導電性の変化に対応する電界
強度分布に応じて光変調層10が駆動され、像が形成さ
れる。この場合において、反射層及び遮光層の抵抗が低
いと、電界が面に平行の方向(以下、単に「面方向」と
いう)に広がって解像度が劣化することになる。このた
め、反射層として誘電体ミラー12が用いられており、
遮光層としても高抵抗のものが必要となる。
に、光導電層10における導電性の変化に対応する電界
強度分布に応じて光変調層10が駆動され、像が形成さ
れる。この場合において、反射層及び遮光層の抵抗が低
いと、電界が面に平行の方向(以下、単に「面方向」と
いう)に広がって解像度が劣化することになる。このた
め、反射層として誘電体ミラー12が用いられており、
遮光層としても高抵抗のものが必要となる。
【0011】これらの層で特に解像度に影響するのは、
面方向の抵抗であり、面に対して垂直の方向に抵抗が高
いのみでは不十分である。たとえば、高抵抗材料と低抵
抗材料を積層して遮光膜14を構成しても、面方向の抵
抗が向上しないため効果がない。
面方向の抵抗であり、面に対して垂直の方向に抵抗が高
いのみでは不十分である。たとえば、高抵抗材料と低抵
抗材料を積層して遮光膜14を構成しても、面方向の抵
抗が向上しないため効果がない。
【0012】このような問題を解決する1つの手段とし
ては、遮光膜14となる金属をマスクを用いて島状に形
成するものがある(特開昭64−56419号公報参照
)。しかしながら、この方法では、島状金属層の1つの
ランドの大きさを画素の大きさ以下にしなければならず
、製造上の制約が大きい。また、遮光膜14に、金属粒
子と誘電体層とで構成したサーメット膜を用いる方法も
ある(特開昭54−17867号公報参照)。しかしな
がら、この方法では、金属の島状粒子どうしが接近また
は接触しないように分散を行わないと、インピーダンス
を高くすることができない。このため、膜厚が厚くなら
ないように作成することが困難である。
ては、遮光膜14となる金属をマスクを用いて島状に形
成するものがある(特開昭64−56419号公報参照
)。しかしながら、この方法では、島状金属層の1つの
ランドの大きさを画素の大きさ以下にしなければならず
、製造上の制約が大きい。また、遮光膜14に、金属粒
子と誘電体層とで構成したサーメット膜を用いる方法も
ある(特開昭54−17867号公報参照)。しかしな
がら、この方法では、金属の島状粒子どうしが接近また
は接触しないように分散を行わないと、インピーダンス
を高くすることができない。このため、膜厚が厚くなら
ないように作成することが困難である。
【0013】本発明は、この点に着目したもので、材料
や製造上の制約がなく、強い光に対しても解像度の低下
を招くことなく良好に読出し光の遮光や反射を行うこと
ができる空間光変調素子を提供することを、その目的と
する。
や製造上の制約がなく、強い光に対しても解像度の低下
を招くことなく良好に読出し光の遮光や反射を行うこと
ができる空間光変調素子を提供することを、その目的と
する。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は、書込み光の入
射によって情報が書き込まれる光導電層と、これに書き
込まれた情報に対応して読出し光を変調する光変調層と
を有する反射読出し型の空間光変調素子において、前記
光導電層と光変調層との間に絶縁材料と遮光材料との複
合膜を形成したことを特徴とする。
射によって情報が書き込まれる光導電層と、これに書き
込まれた情報に対応して読出し光を変調する光変調層と
を有する反射読出し型の空間光変調素子において、前記
光導電層と光変調層との間に絶縁材料と遮光材料との複
合膜を形成したことを特徴とする。
【0015】
【作用】本発明によれば、抵抗値が高く絶縁性には優れ
ているものの透明で遮光性が低い絶縁材料と、不透明で
遮光性はよいが抵抗が低い遮光材料とが複合化され、高
抵抗性と遮光性とを兼ね備えた層が、光導電層と光変調
層との間に形成される。この複合膜では、遮光材料が面
方向に不連続となるような構造をとるため、面方向の抵
抗値が増大する。
ているものの透明で遮光性が低い絶縁材料と、不透明で
遮光性はよいが抵抗が低い遮光材料とが複合化され、高
抵抗性と遮光性とを兼ね備えた層が、光導電層と光変調
層との間に形成される。この複合膜では、遮光材料が面
方向に不連続となるような構造をとるため、面方向の抵
抗値が増大する。
【0016】
【実施例】以下、本発明による空間光変調素子の実施例
について、添付図面を参照しながら説明する。なお、上
述した従来例と同様又は相当する構成部分については、
同一の符号を用いることとする。図1には、本発明の一
実施例が示されている。同図において、遮光膜30は、
抵抗は非常に高いものの透明で遮光性がない絶縁材料3
2と、抵抗は低いものの遮光性に優れている半導体など
の遮光材料34との複合体として形成されている。なお
、基本的な構造は図2の従来例と同様である。
について、添付図面を参照しながら説明する。なお、上
述した従来例と同様又は相当する構成部分については、
同一の符号を用いることとする。図1には、本発明の一
実施例が示されている。同図において、遮光膜30は、
抵抗は非常に高いものの透明で遮光性がない絶縁材料3
2と、抵抗は低いものの遮光性に優れている半導体など
の遮光材料34との複合体として形成されている。なお
、基本的な構造は図2の従来例と同様である。
【0017】それらの材料を、たとえば蒸着装置で同時
に光導電層16上に蒸着すると、互いに反応しない材料
の組み合わせであるならば、両者の混合膜となる。更に
、遮光材料34の比率が絶縁材料32よりも低い場合に
は、遮光材料34が絶縁材料32中に分散した構造をと
ることが可能である。また、両材料の構成比が1:1に
近い場合でも、各材料が柱状に成長する性質を利用して
遮光材料34が横方向に不連続となる膜を得ることが可
能である。このように、本実施例によれば、絶縁材料3
2によって面方向の抵抗値が高く保持されており、遮光
材料34によって読出し光の遮光が良好に行われるよう
になっている。
に光導電層16上に蒸着すると、互いに反応しない材料
の組み合わせであるならば、両者の混合膜となる。更に
、遮光材料34の比率が絶縁材料32よりも低い場合に
は、遮光材料34が絶縁材料32中に分散した構造をと
ることが可能である。また、両材料の構成比が1:1に
近い場合でも、各材料が柱状に成長する性質を利用して
遮光材料34が横方向に不連続となる膜を得ることが可
能である。このように、本実施例によれば、絶縁材料3
2によって面方向の抵抗値が高く保持されており、遮光
材料34によって読出し光の遮光が良好に行われるよう
になっている。
【0018】次に、本実施例に関する実験例について説
明する。 <サンプル1>サンプル1は、実施例にかかるものであ
る。ITO(透明電極18)付き基板20上に、CVD
法によりa−Si(アモルファスシリコン)膜(光導電
層16)を15μm形成する。次に、その表面上に、A
l2O3(絶縁材料32)とGe(遮光材料34)を別
々の蒸着源より同時に蒸着し、遮光膜30とする。Al
2O3の蒸着速度は50Å/s,Geの蒸着速度は20
Å/sで、全膜厚は1μmである。
明する。 <サンプル1>サンプル1は、実施例にかかるものであ
る。ITO(透明電極18)付き基板20上に、CVD
法によりa−Si(アモルファスシリコン)膜(光導電
層16)を15μm形成する。次に、その表面上に、A
l2O3(絶縁材料32)とGe(遮光材料34)を別
々の蒸着源より同時に蒸着し、遮光膜30とする。Al
2O3の蒸着速度は50Å/s,Geの蒸着速度は20
Å/sで、全膜厚は1μmである。
【0019】更にこの上に、SiO2とTiO2とを、
λ/4(λは読出し光波長で、たとえば600nm)の
膜厚で交互に5層づつ積層し、最後にSiO2をλ/2
形成して、誘電体ミラー12とする。以上の膜形成を行
った基板20と、もう一つのITO(透明電極22)付
基板24の間に、ネマチック液晶をポリマに分散させた
高分子液晶複合体による光変調層10を10μmの厚さ
になるように挟み込んで形成し、第2図に示す構造の空
間光変調素子を得た。
λ/4(λは読出し光波長で、たとえば600nm)の
膜厚で交互に5層づつ積層し、最後にSiO2をλ/2
形成して、誘電体ミラー12とする。以上の膜形成を行
った基板20と、もう一つのITO(透明電極22)付
基板24の間に、ネマチック液晶をポリマに分散させた
高分子液晶複合体による光変調層10を10μmの厚さ
になるように挟み込んで形成し、第2図に示す構造の空
間光変調素子を得た。
【0020】<サンプル2>サンプル2は、従来例にか
かるものである。前記サンプル1において、Al2O3
とGeの同時蒸着のかわりに、Geのみを10Å/sの
蒸着速度で0.3μmの厚さに形成して、遮光膜14と
した。その他は、サンプル1と同様である。
かるものである。前記サンプル1において、Al2O3
とGeの同時蒸着のかわりに、Geのみを10Å/sの
蒸着速度で0.3μmの厚さに形成して、遮光膜14と
した。その他は、サンプル1と同様である。
【0021】<サンプル3>サンプル3も、従来例にか
かるものである。サンプル2において、Geのかわりに
、Siを3Å/sの蒸着速度で1.6μmの厚さに形成
し、遮光膜14とした。このときの真空度は、1×10
−6Torr以下である。その他は、サンプル1と同様
である。
かるものである。サンプル2において、Geのかわりに
、Siを3Å/sの蒸着速度で1.6μmの厚さに形成
し、遮光膜14とした。このときの真空度は、1×10
−6Torr以下である。その他は、サンプル1と同様
である。
【0022】<サンプル4>サンプル4は、参考例であ
る。サンプル1において、遮光膜14を省略した構成と
した。以上の各サンプルにおける遮光膜の生成条件をま
とめると、次の表1のようになる。
る。サンプル1において、遮光膜14を省略した構成と
した。以上の各サンプルにおける遮光膜の生成条件をま
とめると、次の表1のようになる。
【0023】
【表1】
【0024】次に、以上の各サンプルにつき、書込み光
として650nmの単色光を用い、読出し光として中心
波長600nm,半値幅80nmの赤色光を用いて解像
度とコントラスト比を測定した。なお、読出し光と書込
み光の強度比を650nmにおいて1000:1とし、
空間光変調素子の駆動周波数(駆動用電源26の駆動周
波数)は5KHzとした。また、サンプル4については
、前記条件では読出し光の透過量が多すぎて像が得られ
ない。そこで、書込み光強度を1/100にして解像度
を測定した。測定結果は、次の表2に示す通りである。
として650nmの単色光を用い、読出し光として中心
波長600nm,半値幅80nmの赤色光を用いて解像
度とコントラスト比を測定した。なお、読出し光と書込
み光の強度比を650nmにおいて1000:1とし、
空間光変調素子の駆動周波数(駆動用電源26の駆動周
波数)は5KHzとした。また、サンプル4については
、前記条件では読出し光の透過量が多すぎて像が得られ
ない。そこで、書込み光強度を1/100にして解像度
を測定した。測定結果は、次の表2に示す通りである。
【0025】
【表2】
【0026】この表2を参照すると、まずサンプル4の
結果から明らかなように、遮光膜14を設けないと強い
読出し光の場合に全く像が得られなくなってしまう。次
に、解像度について比較すると、本実施例のサンプル1
は遮光膜のないサンプル4と同様の解像度であるのに対
し、従来例のサンプル2,3は解像度が大幅に劣化して
いる。また、コントラスト比を比較すると、サンプル1
は、他のサンプル以上又は同等のコントラスト比となっ
ている。すなわち、サンプル1では、解像度の劣化なし
にコントラスト比が改善されている。なお、光変調層1
0がTNタイプの液晶によって構成されている場合にお
いても、表1とほぼ同様の結果が得られている。
結果から明らかなように、遮光膜14を設けないと強い
読出し光の場合に全く像が得られなくなってしまう。次
に、解像度について比較すると、本実施例のサンプル1
は遮光膜のないサンプル4と同様の解像度であるのに対
し、従来例のサンプル2,3は解像度が大幅に劣化して
いる。また、コントラスト比を比較すると、サンプル1
は、他のサンプル以上又は同等のコントラスト比となっ
ている。すなわち、サンプル1では、解像度の劣化なし
にコントラスト比が改善されている。なお、光変調層1
0がTNタイプの液晶によって構成されている場合にお
いても、表1とほぼ同様の結果が得られている。
【0027】このように、本実施例によれば、遮光膜3
0の抵抗が高いために解像度の低下がほとんどみられず
、強い読出し光によってもコントラスト比が低下しない
良好な空間光変調素子を得ることができる。また、遮光
膜30は、絶縁材料32と遮光材料34との複合膜とし
て形成すればよいので、材料や製造上の制約が緩和され
る。
0の抵抗が高いために解像度の低下がほとんどみられず
、強い読出し光によってもコントラスト比が低下しない
良好な空間光変調素子を得ることができる。また、遮光
膜30は、絶縁材料32と遮光材料34との複合膜とし
て形成すればよいので、材料や製造上の制約が緩和され
る。
【0028】なお、本発明は、何ら上記実施例に限定さ
れるものではなく、たとえば上述した遮光膜に更に光反
射膜などを組み合わせるようにしてもよい。あるいは、
かかる遮光膜を誘電体ミラー12の高屈折層,又はその
一部として用いるようにしてもよい。このようにすれば
、読出し画像の解像度を劣化させることなく、光導電層
16への読出し光の透過によるコントラスト比の低下が
更に良好に防止される。その他、各部の形状,材料,製
法などについても、同様の作用を奏するように種々変更
可能であり、これらのものも本発明に含まれる。
れるものではなく、たとえば上述した遮光膜に更に光反
射膜などを組み合わせるようにしてもよい。あるいは、
かかる遮光膜を誘電体ミラー12の高屈折層,又はその
一部として用いるようにしてもよい。このようにすれば
、読出し画像の解像度を劣化させることなく、光導電層
16への読出し光の透過によるコントラスト比の低下が
更に良好に防止される。その他、各部の形状,材料,製
法などについても、同様の作用を奏するように種々変更
可能であり、これらのものも本発明に含まれる。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による空間
光変調素子によれば、光導電層と光変調層との間に絶縁
材料と遮光材料との複合膜を形成することとしたので、
材料や製造上の制約がなく、強い光に対しても解像度の
低下を招くことなく良好に読出し光の遮光や反射を行う
ことができるという効果がある。
光変調素子によれば、光導電層と光変調層との間に絶縁
材料と遮光材料との複合膜を形成することとしたので、
材料や製造上の制約がなく、強い光に対しても解像度の
低下を招くことなく良好に読出し光の遮光や反射を行う
ことができるという効果がある。
【図1】本発明による空間光変調素子の一実施例の主要
部を示す構成図である。
部を示す構成図である。
【図2】読出し光反射型の空間光変調素子の一例を示す
構成図である。
構成図である。
10…光変調層、12…誘電体ミラー、14…遮光膜、
16…光導電層、18,22…透明電極、20,24…
ガラス基板、26…駆動用電源、30…遮光膜(複合膜
)、32…絶縁材料、34…遮光材料、F1…書込み光
の入射方向、F2…読出し光の入射方向、F3…読出し
光の出力方向。
16…光導電層、18,22…透明電極、20,24…
ガラス基板、26…駆動用電源、30…遮光膜(複合膜
)、32…絶縁材料、34…遮光材料、F1…書込み光
の入射方向、F2…読出し光の入射方向、F3…読出し
光の出力方向。
Claims (1)
- 【請求項1】 書込み光の入射によって情報が書き込
まれる光導電層と、これに書き込まれた情報に対応して
読出し光を変調する光変調層とを有する反射読出し型の
空間光変調素子において、前記光導電層と光変調層との
間に絶縁材料と遮光材料との複合膜を形成したことを特
徴とする空間光変調素子。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3092719A JPH04301819A (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | 空間光変調素子 |
TW081100521A TW268105B (ja) | 1991-03-29 | 1992-01-25 | |
US07/857,741 US5268779A (en) | 1991-03-29 | 1992-03-26 | Spatial light modulator with composite film formed by vapor deposition of light blocking semiconductor material and insulation material |
KR1019920004891A KR950014322B1 (ko) | 1991-03-29 | 1992-03-26 | 공간 광 변조 소자 |
DE69211043T DE69211043T2 (de) | 1991-03-29 | 1992-03-27 | Räumlicher Lichtmodulator |
EP92302685A EP0506442B1 (en) | 1991-03-29 | 1992-03-27 | Spatial light modulator |
DE199292302685T DE506442T1 (de) | 1991-03-29 | 1992-03-27 | Raeumlicher lichtmodulator. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3092719A JPH04301819A (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | 空間光変調素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04301819A true JPH04301819A (ja) | 1992-10-26 |
Family
ID=14062263
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3092719A Pending JPH04301819A (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | 空間光変調素子 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5268779A (ja) |
EP (1) | EP0506442B1 (ja) |
JP (1) | JPH04301819A (ja) |
KR (1) | KR950014322B1 (ja) |
DE (2) | DE506442T1 (ja) |
TW (1) | TW268105B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5486936A (en) * | 1992-03-25 | 1996-01-23 | Tomoegawa Paper Co., Ltd. | Optically addressed spatial light modulator |
US5667880A (en) * | 1992-07-20 | 1997-09-16 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Electroconductive antireflection film |
JP4004908B2 (ja) * | 2002-09-26 | 2007-11-07 | 富士通株式会社 | 表示装置の駆動方法及び装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2329462A1 (de) * | 1972-06-12 | 1974-01-03 | Eastman Kodak Co | Bildspeichervorrichtung sowie verfahren zur herstellung derselben |
US4093357A (en) * | 1977-04-05 | 1978-06-06 | Hughes Aircraft Company | Cermet interface for electro-optical devices |
US4191454A (en) * | 1977-06-20 | 1980-03-04 | Hughes Aircraft Company | Continuous silicon MOS AC light valve substrate |
US4239347A (en) * | 1979-05-29 | 1980-12-16 | Hughes Aircraft Company | Semiconductor light valve having improved counterelectrode structure |
US5084777A (en) * | 1989-11-14 | 1992-01-28 | Greyhawk Systems, Inc. | Light addressed liquid crystal light valve incorporating electrically insulating light blocking material of a-SiGe:H |
WO1991007689A1 (en) * | 1989-11-14 | 1991-05-30 | Greyhawk Systems, Inc. | Improved light addressed liquid crystal light valve incorporating electrically insulating light blocking material |
US5148298A (en) * | 1990-03-27 | 1992-09-15 | Victor Company Of Japan | Spatial light modulator |
-
1991
- 1991-03-29 JP JP3092719A patent/JPH04301819A/ja active Pending
-
1992
- 1992-01-25 TW TW081100521A patent/TW268105B/zh active
- 1992-03-26 US US07/857,741 patent/US5268779A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-03-26 KR KR1019920004891A patent/KR950014322B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1992-03-27 EP EP92302685A patent/EP0506442B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-03-27 DE DE199292302685T patent/DE506442T1/de active Pending
- 1992-03-27 DE DE69211043T patent/DE69211043T2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE506442T1 (de) | 1993-07-22 |
EP0506442A3 (en) | 1993-01-20 |
DE69211043D1 (de) | 1996-07-04 |
DE69211043T2 (de) | 1996-10-02 |
KR920018990A (ko) | 1992-10-22 |
TW268105B (ja) | 1996-01-11 |
KR950014322B1 (ko) | 1995-11-24 |
EP0506442A2 (en) | 1992-09-30 |
US5268779A (en) | 1993-12-07 |
EP0506442B1 (en) | 1996-05-29 |
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