JPH04301740A - 調芯機構付き材料試験機 - Google Patents
調芯機構付き材料試験機Info
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- JPH04301740A JPH04301740A JP9174291A JP9174291A JPH04301740A JP H04301740 A JPH04301740 A JP H04301740A JP 9174291 A JP9174291 A JP 9174291A JP 9174291 A JP9174291 A JP 9174291A JP H04301740 A JPH04301740 A JP H04301740A
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- Japan
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- testing machine
- test
- test piece
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- material testing
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 73
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000009864 tensile test Methods 0.000 description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
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- 230000008018 melting Effects 0.000 description 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
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- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試験片を負荷軸に芯出
しするための調芯機構を備えた材料試験機に関する。
しするための調芯機構を備えた材料試験機に関する。
【０００２】
【従来の技術】一対のつかみ具に試験片の両端を把持さ
せて引張試験を行う場合、上下つかみ具の芯がずれると
試験片に曲げ荷重が働き、正確な試験結果が得られない
という問題がある。特に、例えばファインセラミックス
のような弾性率が高く非常に脆い脆性材料から成る試験
片の場合には、上記曲げ荷重により試験結果が大きく異
なる。
せて引張試験を行う場合、上下つかみ具の芯がずれると
試験片に曲げ荷重が働き、正確な試験結果が得られない
という問題がある。特に、例えばファインセラミックス
のような弾性率が高く非常に脆い脆性材料から成る試験
片の場合には、上記曲げ荷重により試験結果が大きく異
なる。
【０００３】そこで従来、例えば図６に示すように、試
験機本体の固定軸６１に連結されるロッド５１と、この
ロッド５１に係合されるハウジング５２とからなる調芯
装置５０を備え、この調芯装置５０を介して固定側つか
み具６２を固定軸６１に連結するようにしたものが提案
されている（実開昭６３−１２８４４４号公報）。ここ
で、ロッド５１とハウジング５２との間の隙間Ｇには低
溶融点合金Ｍが挿入され、これが蒸気等により加熱され
溶融される。このときハウジング５２は隙間の分だけ自
由に動けるので、ハウジング５２に連結された試験片Ｔ
Ｐの芯ずれが吸収できる。その後、低溶融点合金Ｍを冷
却して固めれば、試験片ＴＰが負荷軸に対して芯出しさ
れた状態で取付けられる。
験機本体の固定軸６１に連結されるロッド５１と、この
ロッド５１に係合されるハウジング５２とからなる調芯
装置５０を備え、この調芯装置５０を介して固定側つか
み具６２を固定軸６１に連結するようにしたものが提案
されている（実開昭６３−１２８４４４号公報）。ここ
で、ロッド５１とハウジング５２との間の隙間Ｇには低
溶融点合金Ｍが挿入され、これが蒸気等により加熱され
溶融される。このときハウジング５２は隙間の分だけ自
由に動けるので、ハウジング５２に連結された試験片Ｔ
Ｐの芯ずれが吸収できる。その後、低溶融点合金Ｍを冷
却して固めれば、試験片ＴＰが負荷軸に対して芯出しさ
れた状態で取付けられる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
方法では、低溶融点合金を溶融したり固めたりするのに
手間がかかり、また低溶融点合金を熱したり冷したりす
る大がかりな機構が必要であるため、構成が複雑である
とともにコストアップとなる。
方法では、低溶融点合金を溶融したり固めたりするのに
手間がかかり、また低溶融点合金を熱したり冷したりす
る大がかりな機構が必要であるため、構成が複雑である
とともにコストアップとなる。
【０００５】本発明の目的は、簡単な構成で手間をかけ
ずに、かつ廉価なコストで試験片の調芯が可能な調芯機
構付き材料試験機を提供することにある。
ずに、かつ廉価なコストで試験片の調芯が可能な調芯機
構付き材料試験機を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】一実施例を示す図１に対
応付けて説明すると、本発明は、自在継ぎ手５を介して
試験機本体３に連結される上部試験治具６と、この上部
試験治具６と対向して試験機本体１に取付けられる下部
試験治具２とを備え、上下試験治具６，２に試験片ＴＰ
の両端部をそれぞれ把持させた後、いずれかのつかみ具
を駆動して試験片ＴＰに引張荷重を与える材料試験機に
適用される。そして、下部試験治具２と材料試験機本体
１との間に設けられ、外部操作に応じて下部試験治具２
の角度を調節する角度調節手段２０を備え、これにより
上記問題点を解決する。
応付けて説明すると、本発明は、自在継ぎ手５を介して
試験機本体３に連結される上部試験治具６と、この上部
試験治具６と対向して試験機本体１に取付けられる下部
試験治具２とを備え、上下試験治具６，２に試験片ＴＰ
の両端部をそれぞれ把持させた後、いずれかのつかみ具
を駆動して試験片ＴＰに引張荷重を与える材料試験機に
適用される。そして、下部試験治具２と材料試験機本体
１との間に設けられ、外部操作に応じて下部試験治具２
の角度を調節する角度調節手段２０を備え、これにより
上記問題点を解決する。
【０００７】
【作用】例えば、ダミーの試験片ＴＰｄの周面に複数の
ストレインゲージ３１ａ〜３１ｂを取付け、その試験片
ＴＰｄの両端を上下試験治具６，２にそれぞれ把持させ
て引張荷重を与える。この状態で外部操作に応じて角度
調節手段２０により、各ストレインゲージ３１ａ〜３１
ｂの出力が等しくなるように下部試験治具２の角度を調
節する。その後、ダミーの試験片ＴＰｄを取外して実際
に試験を行う試験片ＴＰを取付ければ、試験片ＴＰは負
荷軸Ｌに対して芯出しされた状態で保持される。このよ
うな構成の調節手段２０を用いたので、従来のような大
がかりな装置は不要となり、簡単な構成で手間をかけず
に、かつ廉価なコストで試験片の調芯が可能となる。
ストレインゲージ３１ａ〜３１ｂを取付け、その試験片
ＴＰｄの両端を上下試験治具６，２にそれぞれ把持させ
て引張荷重を与える。この状態で外部操作に応じて角度
調節手段２０により、各ストレインゲージ３１ａ〜３１
ｂの出力が等しくなるように下部試験治具２の角度を調
節する。その後、ダミーの試験片ＴＰｄを取外して実際
に試験を行う試験片ＴＰを取付ければ、試験片ＴＰは負
荷軸Ｌに対して芯出しされた状態で保持される。このよ
うな構成の調節手段２０を用いたので、従来のような大
がかりな装置は不要となり、簡単な構成で手間をかけず
に、かつ廉価なコストで試験片の調芯が可能となる。
【０００８】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段と作用の項では、本発明を分かり易
くするために実施例の図を用いたが、これにより本発明
が実施例に限定されるものではない。
解決するための手段と作用の項では、本発明を分かり易
くするために実施例の図を用いたが、これにより本発明
が実施例に限定されるものではない。
【０００９】
【実施例】図１〜図３により本発明の一実施例を説明す
る。図１は本発明に係る調芯機構付き材料試験機の構成
を示す正面図であり、試験機本体を構成するテーブル１
上には調芯装置２０を介して下部つかみ具２が取付けら
れている。３はテーブル１に対して上下動可能に支持さ
れたクロスヘッドであり、このクロスヘッド３の下面に
は、荷重検出用のロードセル４およびユニバーサルジョ
イント（自在継ぎ手）６を介して上部つかみ具６が下部
つかみ具２と対向して連結されている。これらのつかみ
具２，６に試験片ＴＰｄまたはＴＰ（図３）の両端が把
持される。
る。図１は本発明に係る調芯機構付き材料試験機の構成
を示す正面図であり、試験機本体を構成するテーブル１
上には調芯装置２０を介して下部つかみ具２が取付けら
れている。３はテーブル１に対して上下動可能に支持さ
れたクロスヘッドであり、このクロスヘッド３の下面に
は、荷重検出用のロードセル４およびユニバーサルジョ
イント（自在継ぎ手）６を介して上部つかみ具６が下部
つかみ具２と対向して連結されている。これらのつかみ
具２，６に試験片ＴＰｄまたはＴＰ（図３）の両端が把
持される。
【００１０】ここで、ＴＰは引張試験に供される試験片
、ＴＰｄは後述する調芯作業を行うときに使用するダミ
ーの試験片であり、ダミーの試験片ＴＰｄの周面には、
図２に示すように、等間隔で４つのストレインゲージ３
１ａ〜３１ｄが取付けられる。各ストレインゲージ３１
ａ〜３１ｄの出力はそれぞれ静歪測定器３２に入力され
、試験片の歪量として表示される。
、ＴＰｄは後述する調芯作業を行うときに使用するダミ
ーの試験片であり、ダミーの試験片ＴＰｄの周面には、
図２に示すように、等間隔で４つのストレインゲージ３
１ａ〜３１ｄが取付けられる。各ストレインゲージ３１
ａ〜３１ｄの出力はそれぞれ静歪測定器３２に入力され
、試験片の歪量として表示される。
【００１１】上記調芯装置２０は、図３にその詳細を示
すように、センタピン２１を介してテーブル１上に位置
決めされる下部円板２２と、その上部に載置される上部
円板２３とを有し、下部円板２２は、上部円板２３の孔
部２３ａを貫通する複数の取付用ボルト２４によりテー
ブル１に螺着固定される。ここで、図示の如く上記取付
用ボルト２４の頭部と上部円板２３の孔部２３ａ壁面と
の間には隙間が設けられている。また上部円板２３の中
心部には下部つかみ具２の取付部が嵌入され固定されて
いる。
すように、センタピン２１を介してテーブル１上に位置
決めされる下部円板２２と、その上部に載置される上部
円板２３とを有し、下部円板２２は、上部円板２３の孔
部２３ａを貫通する複数の取付用ボルト２４によりテー
ブル１に螺着固定される。ここで、図示の如く上記取付
用ボルト２４の頭部と上部円板２３の孔部２３ａ壁面と
の間には隙間が設けられている。また上部円板２３の中
心部には下部つかみ具２の取付部が嵌入され固定されて
いる。
【００１２】さらに、上部円板２３と下部円板２２との
間には複数箇所にばね２５が介装され、これらのばね２
５により上部円板２３は常に上方に付勢されている。２
６は、上部円板２３を摺動可能に貫通しかつ先端が下部
円板２３に螺合された調芯用ボルトであり、この調芯用
ボルト２６の頭部下面により上部円板２３の上方への移
動が阻止されている。このような調芯用ボルト２６は、
円板の周方向に複数設けられている。
間には複数箇所にばね２５が介装され、これらのばね２
５により上部円板２３は常に上方に付勢されている。２
６は、上部円板２３を摺動可能に貫通しかつ先端が下部
円板２３に螺合された調芯用ボルトであり、この調芯用
ボルト２６の頭部下面により上部円板２３の上方への移
動が阻止されている。このような調芯用ボルト２６は、
円板の周方向に複数設けられている。
【００１３】次に、実施例の動作を説明する。試験片Ｔ
Ｐの引張試験に先立ち、まず調芯装置２０の調芯用ボル
ト２６を完全に締めた状態で、４つのストレインゲージ
３１ａ〜３１ｄが取付けられたダミーの試験片ＴＰｄの
両端を上下つかみ具２，６にそれぞれ把持させる。この
状態でクロスヘッド３、すなわち上部つかみ具６を上昇
させてダミーの試験片ＴＰｄに引張荷重を与える。この
とき、試験片ＴＰｄの軸心が負荷軸Ｌから偏心していな
ければ、各ストレインゲージ３１ａ〜３１ｄの検出結果
は全て等しくなるが、偏心している場合には、その偏心
量に応じて各ストレインゲージ３１ａ〜３１ｄの検出結
果は異なる。そこで、歪測定器３２の出力を見ながら、
調芯装置２０の複数の調芯用ボルト２６を螺進，螺退さ
せて下部つかみ具２の傾きを調節する。
Ｐの引張試験に先立ち、まず調芯装置２０の調芯用ボル
ト２６を完全に締めた状態で、４つのストレインゲージ
３１ａ〜３１ｄが取付けられたダミーの試験片ＴＰｄの
両端を上下つかみ具２，６にそれぞれ把持させる。この
状態でクロスヘッド３、すなわち上部つかみ具６を上昇
させてダミーの試験片ＴＰｄに引張荷重を与える。この
とき、試験片ＴＰｄの軸心が負荷軸Ｌから偏心していな
ければ、各ストレインゲージ３１ａ〜３１ｄの検出結果
は全て等しくなるが、偏心している場合には、その偏心
量に応じて各ストレインゲージ３１ａ〜３１ｄの検出結
果は異なる。そこで、歪測定器３２の出力を見ながら、
調芯装置２０の複数の調芯用ボルト２６を螺進，螺退さ
せて下部つかみ具２の傾きを調節する。
【００１４】すなわち、上述したように取付用ボルト２
４の頭部と上部円板２３の孔部２３ａ壁面との間には隙
間が設けられているので、調芯用ボルト２６を緩めると
、これに応じて上部円板２３の一端側がばね２５の付勢
力によりボルト２６の周面を摺動して若干上昇する。 これにより上部つかみ具２の傾きが調節されて試験片Ｔ
Ｐｄの負荷軸Ｌに対する傾きが調整される。ここで、調
整可能な最大傾き量は、上記ボルト２４頭部と孔部２３
ａ壁面との隙間の大きさによる。
４の頭部と上部円板２３の孔部２３ａ壁面との間には隙
間が設けられているので、調芯用ボルト２６を緩めると
、これに応じて上部円板２３の一端側がばね２５の付勢
力によりボルト２６の周面を摺動して若干上昇する。 これにより上部つかみ具２の傾きが調節されて試験片Ｔ
Ｐｄの負荷軸Ｌに対する傾きが調整される。ここで、調
整可能な最大傾き量は、上記ボルト２４頭部と孔部２３
ａ壁面との隙間の大きさによる。
【００１５】以上の動作により各ストレインゲージ３１
ａ〜３１ｄの検出結果が全て等しくなるように調整を行
い、等しくなったら、ダミーの試験片ＴＰｄつかみ具２
，６から取外し、次に試験を行うべき試験片ＴＰを同様
に上下つかみ具２，６に把持させる。そして、クロスヘ
ッド３、すなわち上部つかみ具６を上昇させて試験片Ｔ
Ｐに引張荷重を与える。このとき、上述の作業により下
部つかみ具２の傾きが調整されているので、試験片ＴＰ
は負荷軸Ｌに対して芯出しされており、したがって引張
試験時に曲げ荷重等の偏心荷重が作用することはない。
ａ〜３１ｄの検出結果が全て等しくなるように調整を行
い、等しくなったら、ダミーの試験片ＴＰｄつかみ具２
，６から取外し、次に試験を行うべき試験片ＴＰを同様
に上下つかみ具２，６に把持させる。そして、クロスヘ
ッド３、すなわち上部つかみ具６を上昇させて試験片Ｔ
Ｐに引張荷重を与える。このとき、上述の作業により下
部つかみ具２の傾きが調整されているので、試験片ＴＰ
は負荷軸Ｌに対して芯出しされており、したがって引張
試験時に曲げ荷重等の偏心荷重が作用することはない。
【００１６】ここで、例えば上記調芯装置２０を用いず
に下部つかみ具２を上部つかみ具６と同様にユニバーサ
ルジョイントを介してテーブル１に接続すれば、引張試
験時に試験片ＴＰを芯出しできるが、この場合は、ある
程度の引張荷重が試験片ＴＰに与えられて初めて芯出し
されるので、それまでは、偏心荷重が作用することにな
る。一方、上記調芯装置２０を用いた場合には、試験当
初から試験片ＴＰが芯出しされているので、偏心荷重は
全く作用せず、常に正確な試験結果が得られる。
に下部つかみ具２を上部つかみ具６と同様にユニバーサ
ルジョイントを介してテーブル１に接続すれば、引張試
験時に試験片ＴＰを芯出しできるが、この場合は、ある
程度の引張荷重が試験片ＴＰに与えられて初めて芯出し
されるので、それまでは、偏心荷重が作用することにな
る。一方、上記調芯装置２０を用いた場合には、試験当
初から試験片ＴＰが芯出しされているので、偏心荷重は
全く作用せず、常に正確な試験結果が得られる。
【００１７】以上の実施例の構成において、上部つかみ
具６が上部試験治具を、下部つかみ具２が下部試験治具
を、調芯装置２０が角度調節手段をそれぞれ構成する。
具６が上部試験治具を、下部つかみ具２が下部試験治具
を、調芯装置２０が角度調節手段をそれぞれ構成する。
【００１８】また図４および図５は別実施例を示してい
る。この実施例は、下部つかみ具２の角度を上記ばね２
５と調芯用ボルト２６に代えて電歪素子で調節するもの
であり、図１と同様な箇所には同一の符号を付して説明
する。図４に示すように、調芯装置２０’を構成する上
下円板２２，２３の間には、所定半径上に等間隔に例え
ば４つの電歪素子５１ａ〜５１ｄが設けられ、上部円板
２３は不図示のボルトとばねにより常時下部円板２２側
に付勢されている。電歪素子５１ａ〜５１ｄは図５に示
す制御回路６０によって駆動され、試験片ＴＰの軸方向
に伸縮して上部円板２３の傾きを調節する。
る。この実施例は、下部つかみ具２の角度を上記ばね２
５と調芯用ボルト２６に代えて電歪素子で調節するもの
であり、図１と同様な箇所には同一の符号を付して説明
する。図４に示すように、調芯装置２０’を構成する上
下円板２２，２３の間には、所定半径上に等間隔に例え
ば４つの電歪素子５１ａ〜５１ｄが設けられ、上部円板
２３は不図示のボルトとばねにより常時下部円板２２側
に付勢されている。電歪素子５１ａ〜５１ｄは図５に示
す制御回路６０によって駆動され、試験片ＴＰの軸方向
に伸縮して上部円板２３の傾きを調節する。
【００１９】第５図において、ダミーの試験片ＴＰｄに
取付けられた４つのストレインゲージ３１ａ〜３１ｄの
出力はアンプ６１ａ〜６１ｄを通って加算器６２に入力
され、それぞれ加算される。加算器６２の出力は割算器
６３に入力されて４で除されて平均値が求められる。こ
の割算器６３の出力は、偏差器６４ａ〜６４ｄにそれぞ
れ入力され、各アンプ６１ａ〜６１ｄの出力と割算器６
３の出力との間の偏差がとられる。各偏差器６４ａ〜６
４ｄの出力は、それぞれ電源６５ａ〜６５ｄの制御端子
に入力され、各電源６５ａ〜６５ｄは、印加されている
電源電圧＋Ｖを制御端子に入力されている信号に応じた
電圧に調節して各電歪素子５１ａ〜５１ｄに印加する。 これにより、各電歪素子５１ａ〜５１ｄは印加される電
圧に相応して伸縮し、各ストレインゲージ３１ａ〜３１
ｄの出力が等しくなる状態で各電歪素子５１ａ〜５１ｄ
の伸縮量が保持され、これにより下部つかみ具２の傾き
が調節され、試験片ＴＰｄが自動的に芯出しされる。
取付けられた４つのストレインゲージ３１ａ〜３１ｄの
出力はアンプ６１ａ〜６１ｄを通って加算器６２に入力
され、それぞれ加算される。加算器６２の出力は割算器
６３に入力されて４で除されて平均値が求められる。こ
の割算器６３の出力は、偏差器６４ａ〜６４ｄにそれぞ
れ入力され、各アンプ６１ａ〜６１ｄの出力と割算器６
３の出力との間の偏差がとられる。各偏差器６４ａ〜６
４ｄの出力は、それぞれ電源６５ａ〜６５ｄの制御端子
に入力され、各電源６５ａ〜６５ｄは、印加されている
電源電圧＋Ｖを制御端子に入力されている信号に応じた
電圧に調節して各電歪素子５１ａ〜５１ｄに印加する。 これにより、各電歪素子５１ａ〜５１ｄは印加される電
圧に相応して伸縮し、各ストレインゲージ３１ａ〜３１
ｄの出力が等しくなる状態で各電歪素子５１ａ〜５１ｄ
の伸縮量が保持され、これにより下部つかみ具２の傾き
が調節され、試験片ＴＰｄが自動的に芯出しされる。
【００２０】なお、電歪素子５１ａ〜５１ｄの数は４に
限定されない。また、上下円板２２，２３により調芯装
置を構成したが、下部円板２２はなくてもよい。さらに
、試験時にクロスヘッド３を上昇させるようにしたが、
テーブル１を下降させて引張荷重を与えるようにしても
よい。
限定されない。また、上下円板２２，２３により調芯装
置を構成したが、下部円板２２はなくてもよい。さらに
、試験時にクロスヘッド３を上昇させるようにしたが、
テーブル１を下降させて引張荷重を与えるようにしても
よい。
【００２１】
【発明の効果】本発明によれば、下部試験治具と材料試
験機本体との間に角度調節手段を設け、外部操作により
下部試験治具の角度を調節するようにしたので、従来の
ような大がかりな装置は不要となり、簡単な構成で手間
をかけずに、かつ廉価なコストで試験片の調芯が可能と
なる。
験機本体との間に角度調節手段を設け、外部操作により
下部試験治具の角度を調節するようにしたので、従来の
ような大がかりな装置は不要となり、簡単な構成で手間
をかけずに、かつ廉価なコストで試験片の調芯が可能と
なる。
【図１】本発明の一実施例に係る調芯機構付き材料試験
機の概略正面図である。
機の概略正面図である。
【図２】そのＡ−Ａ線断面図である。
【図３】調芯装置の構成を示す断面図である。
【図４】別実施例の調芯装置を示す断面図である。
【図５】制御系のブロック図である。
【図６】従来の調芯機構付き材料試験機を示す断面図で
ある。
ある。
１ テーブル
２ 下部つかみ具
３ クロスヘッド
５ ユニバーサルジョイント
６ 上部つかみ具
２０ 調芯装置
２２ 下部円板
２３ 上部円板
２５ ばね
２６ 調芯用ボルト
３１ ストレインゲージ
３２ 静歪測定器
５１ａ〜５１ｄ 電歪素子
６０ 制御回路
Claims (1)
- 【請求項１】 自在継ぎ手を介して試験機本体に連結
される上部試験治具と、この上部試験治具と対向して試
験機本体に取付けられる下部試験治具とを備え、上下試
験治具に試験片の両端部をそれぞれ把持させた後、いず
れかの試験治具を駆動して試験片に引張荷重を与える材
料試験機において、前記下部試験治具と材料試験機本体
との間に介装され、外部操作に応じて下部試験治具の角
度を調節する角度調節手段を備えたことを特徴とする調
芯機構付き材料試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9174291A JPH04301740A (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | 調芯機構付き材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9174291A JPH04301740A (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | 調芯機構付き材料試験機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04301740A true JPH04301740A (ja) | 1992-10-26 |
Family
ID=14034983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9174291A Pending JPH04301740A (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | 調芯機構付き材料試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04301740A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5661482A (en) * | 1994-09-30 | 1997-08-26 | Yozan Inc. | Interface circuit having a plurality of thresholding circuits |
| JP2007285703A (ja) * | 2006-04-12 | 2007-11-01 | Nippon Steel Corp | 高温引張試験用冶具 |
| CN104236999A (zh) * | 2014-09-12 | 2014-12-24 | 苏州石丸英合精密机械有限公司 | 皮带测试机的带微调座测试开关 |
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