JPH04298838A - 光磁気記録再生装置 - Google Patents

光磁気記録再生装置

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Publication number
JPH04298838A
JPH04298838A JP8574591A JP8574591A JPH04298838A JP H04298838 A JPH04298838 A JP H04298838A JP 8574591 A JP8574591 A JP 8574591A JP 8574591 A JP8574591 A JP 8574591A JP H04298838 A JPH04298838 A JP H04298838A
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JP
Japan
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magnetic field
magneto
temperature
magnetization
recording
Prior art date
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Pending
Application number
JP8574591A
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English (en)
Inventor
Yasuyuki Miyaoka
康之 宮岡
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ビームの照射及び変
調磁界の印加によって、光磁気記録媒体に情報を記録ま
たは情報の再生を行う磁界変調方式の光磁気記録再生装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】図6は従来例の光磁気記録再生装置を示
した構成図である。図において、1はガラス或いはプラ
スチックを素材とした基板2に垂直磁化膜3を被着し、
さらにその表面に保護膜4を形成した光磁気記録媒体で
あるところの光磁気ディスクである。この光磁気ディス
ク1はマグネットチャッキング等で回転自在にスピンド
ルモータに支持され、中心軸を中心として回転する構造
である。6〜20は光ヘッドを構成する部品であり、6
は集光レンズ8を駆動するアクチュエータ、7は半導体
レーザ、9はビームスピリッタ、10はビーム整形レン
ズである。半導体レーザ7から出射されたレーザ光は、
ビーム整形レンズ10、ビームスピリッタ9、集光レン
ズ8を通り、光磁気ディスク1へ照射される。このとき
、集光レンズ8は後述するAF・AT制御回路14の制
御動作により、アクチュエータ6が集光レンズ8をトラ
ッキング方向及びフォーカシング方向に駆動し、レーザ
光は垂直磁化膜3上に焦点を結んだ状態で情報トラック
上を走査するように制御される。11〜13はそのトラ
ッキング制御やフォーカシング制御のための制御光学系
であって、11はビームスプリッタ、12はセンサレン
ズ、13はセンサである。光磁気ディスク1で反射され
たレーザ光は、前述した集光レンズ8、ビームスピリッ
タ9を経てビームスプリッタ11に入射し、2つに分割
される。そしてこの分割された一方の光がセンサレンズ
12を介してセンサ13に入射し、AT・AF制御回路
14はセンサ13の検出信号に基づいて前述のようなト
ラッキングやフォーカシング制御する。
【0003】また、15〜20は情報を再生するための
再生光学系であって、15はλ/2板、16は変更ビー
ムスプリッタ、17、19はセンサレンズ、18、20
はセンサレンズである。前述したビームスピリッタ11
で分割されたもう一方の光はλ/2板15を通って偏光
ビームスピリッタ16に入射する。偏光ビームスプリッ
タ16では、入射光を偏光特性により反射または透過し
、反射光はセンサレンズ19へ、透過光はセンサレンズ
17へ導く。そして、センサレンズ19を介した光はセ
ンサ20で、センサレンズ17を介した光はセンサ18
でそれぞれ受光される。これらの出力信号は、加算器2
1、減算器22へ出力され、加算器21では各センサの
出力信号を加算し、また減算器22ではその差を演算す
る。加算出力及び差出力は、和信号、差信号(光磁気信
号)として図示しない再生回路へ出力され、元の情報に
再生される。
【0004】一方、光磁気ディスク1の上面には、光ヘ
ッドと相対向して浮上ヘッド23が配設されている。浮
上ヘッド23は光磁気ディスク1の表面よりわずかに浮
上し光ヘッドと連動して光磁気ディスク1の半径方向へ
移動できる構造である。また浮上ヘッド23には光ヘッ
ドの集光レンズ8と対峙した位置に電磁石24が具備さ
れている。電磁石24は、磁界変調回路25からの駆動
信号により、記録信号に応じた変調磁界を発生する。
【0005】情報を記録する場合は、半導体レーザ7か
ら出射したレーザ光が光磁気ディスク1の垂直磁化膜3
上に微小光スポットとして集光される。レーザ光の光パ
ワーは記録時と再生時で異なり、記録時では図7(c)
に示すように再生時よりも高い記録パワーPwのレーザ
光が出射される。光パワーの制御はレーザ点灯回路26
で行われ、またこのときはAT・AF制御回路14の制
御により、前述のようなトラッキングやフォーカシング
制御がかけられている。垂直磁化膜3はレーザ光の照射
により、キュリー点温度近傍またはそれ以上の温度に昇
温し、この昇温部位に電磁石24から図7(b)に示す
ようなバイアス磁界が印加される。バイアス磁界は図7
(a)に示す記録信号に応じて変調されており、記録信
号が1のときは+Hの磁界、記録信号が0のときは−H
の磁界であり、磁界強度は記録を行うのに充分な強度で
ある。このバイアス磁界の印加により垂直磁化膜3の磁
化方向がバイアス磁界の方向に向き、図7(d)に示す
ような磁区が形成される。図7(d)の記録パターンで
は、白抜きで示す磁区aが記録信号1に対応した記録磁
区、斜線で示す磁区bが記録信号が0に対応した記録磁
区である。このように磁界変調方式では、前の記録情報
を消去することなく、その上に重ね書き(オーバライト
)することが可能である。また、情報を再生する場合は
、半導体レーザ7の光パワーが再生パワーに下げられ、
情報トラック上に再生用光スポットが走査される。 そして、その反射光は前述したように再生光学系で検出
され、またその検出信号を加算器21、減算器22およ
び図示しない再生回路で処理することによって、元の記
録情報が再生される。
【0006】
【発明が解決しようとしている課題】しかしながら、上
記従来の光磁気記録再生装置では、情報を記録する場合
、バイアス磁界の極性を切換えているために、その切換
え時間、即ち磁界の立上り時間や立下り時間においては
、磁界強度が低下し、垂直磁化膜の磁化の向きが不安定
となる。図7(d)にはこの不安定領域をCとして示し
ており、磁化方向が異なる磁区の間に不安定領域Cが存
在する。従って、このような不安定領域Cを再生すると
、光磁気信号のノイズ成分が増加したり、あるいはジッ
ターが増加するという問題があった。
【0007】本発明は、このような問題点を解消するた
めになされたもので、その目的は磁化方向の不安定領域
をなくし、光磁気信号のノイズやジッターを低減した光
磁気記録再生装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明のこのような目的
は、光磁気記録媒体に所定強度の光ビームを照射して媒
体温度をキューリー点温度近傍またはそれ以上に上昇さ
せ、かつこの昇温部位に記録信号に応じて変調された磁
界を印加することで、前記媒体上に情報を記録する光磁
気記録再生装置において、前記変調磁界がそれぞれ正負
の極性に所定強度に立上ったときに、前記光磁気記録媒
体の温度が所定の温度以上となるように前記光ビームの
光強度を所定時間高めることを特徴とする光磁気記録再
生装置によって達成される。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例について、図面を参照
して詳細に説明する。図1は本発明の光磁気記録再生装
置の一実施例を示した構成図である。なお、図1では図
6に示した従来装置と同一機能を有するものについては
同一符号を付し、本実施例ではその説明を省略する。
【0010】図1において、28はアークチュエータ6
に取付けられた温度センサである。温度センサ28は集
光レンズ8と共に光磁気ディスク1の半径方向に移動す
るため、常時光磁気ディスク1の情報記録位置の温度を
検出し、温度情報をパルス点灯タイミング回路27へ送
る。パルス点灯タイミング回路27は、情報記録時にお
いて半導体レーザ7の光強度、照射時間およびタイミン
グを決定する回路である。レーザ変調駆動回路30はパ
ルス点灯タイミング回路27の指示に基づいて半導体レ
ーザ7を駆動するドライバである。システムコントロー
ラ29は、本実施例の光磁気記録再生装置の全体動作を
制御する制御部であり、パルス点灯タイミング回路27
へ光磁気ディスク1の角速度や記録アドレス情報を出力
する。これらの情報は、詳しく後述するようにパルス点
灯タイミング回路27でレーザ光の光強度や照射タイミ
ングを決定するのに使用される。なお、その他の構成は
図6の従来装置と同じである。
【0011】次に、本実施例の動作について、図2を用
いて説明する。同図(a)は記録信号、同図(b)は記
録信号に応じて変調されたバイアス磁界である。このバ
イアス磁界は、前述の如く浮上ヘッド23に具備された
電磁石24で発生し、光磁気ディスク1に印加される。 同図(c)は半導体レーザから出射されるレーザー光強
度であり、パルス点灯タイミング回路27で決定された
強度とタイミングである。同図(c)においては、DC
点灯された光強度Pw1 のレーザ光に、光強度Pw2
 のレーザ光をパルス状に重畳して照射されている。こ
こで、光強度Pw1 は記録を行うのに充分な強度であ
る。 また、パルス状の光強度Pw2 のレーザ光は正負各々
の極性のバイアス磁界が立上ったときに照射されている
。 このパルス状レーザ光は、詳しく後述するようにバイア
ス磁界の極性反転時における垂直磁化膜の磁化方向の不
安定性を解消するよう作用するものである。
【0012】図3(a)は、半導体レーザ7を光強度P
w1 でDC点灯させた場合の垂直磁化膜3上の温度分
布を示した図である。これに対し、図3(b)は、図2
(c)に示したように強度Pw1 のレーザ光にパルス
状に強度Pw2 のレーザ光を重畳した場合の垂直磁化
膜3上の温度分布を示した図である。同図(b)の温度
分布はパルス状に強度Pw2 のレーザ光を重畳してい
るため、同図(a)に比べキューリー点温度到達プロフ
ァイルが広範囲で、円形に近い形となる。図4はレーザ
光の照射と垂直磁化膜3のキューリー点温度到達プロフ
ァイルのタイミングを示した図である。時刻t1 での
キューリー点温度到達プロファイルを破線で示し、時刻
t2でのキューリー点温度到達プロファイルを実線で示
す。図4から明らかなように、時刻t2 においてはレ
ーザ光強度が大きくなるために、時刻t1 に比べラン
ド上のキューリー点温度範囲が広くなることがわかる。 この温度上昇部位には前述のように電磁石24からバイ
アス磁界が印加され、バイアス磁界の切換時には磁界強
度の絶対値がさがることになる。この点において、本実
施例ではバイアス磁界が立上った時刻t2 には、磁化
方向が不安定であった領域までキューリー点温度範囲が
広がるため、バイアス磁界強度が低下しても磁化方向は
確実に磁界極性に対応した方向に向く。従って、記録さ
れるパターンは図2(d)に示すように、磁化方向が上
向きの磁区aと下向きの磁区bとの二つの磁区が形成さ
れた安定したパターンとなり、従来磁区aとbの境界に
見られた磁化方向の不安定領域を消去することができる
。また、本実施例にあっては、レーザ光の照射による垂
直磁化膜のキューリー点温度プロファイルが円形状に近
づくため、矢羽根状の磁区形状を改善することができ、
これによって、記録ノイズを低減することができる。こ
こで、レーザ光の光磁気ディスク1に対する速度、即ち
光磁気ディスク1の角速度と半径位置から算出される線
速度により、垂直磁化膜3の単位面積当りに受けるレー
ザ光エネルギーが異なり、これに応じてキューリー点温
度プロファイルも異なってくる。従って、パルス点灯タ
イミング回路27では、前記線速度に応じて常に温度プ
ロファイルが等しくなるように、レーザ光強度Pw1 
及びレーザ光強度Pw2 とその照射時間、タイミング
を制御する。 光磁気ディスク1の角速度及び記録半径位置は、システ
ムコントローラ29で管理される角速度及び記録アドレ
スによって算出される。また、光磁気ディスク1の温度
が変化した場合、キューリー点温度プロファイルも異な
るため、パルス点灯タイミング回路27は温度センサ2
8の検出値に応じてレーザ光強度Pw1 及びレーザ光
強度Pw2 の照射時間とタイミングを制御する。温度
センサ28は、前述のようにアクチュエータ6に取付け
られ、温度センサ28で検出される温度は常時記録位置
近傍の温度であるため、パルス点灯タイミング回路27
では常に記録位置の温度に応じてレーザ光の制御を行う
【0013】次に、本発明の他の実施例について図5を
参照して説明する。図5(c)は、パルス点灯タイミン
グ回路27の制御によるレーザ光強度である。また、同
図(a)は記録信号、同図(b)は変調磁界である。本
実施例では、同図(c)に示すように変調磁界が正から
負に、また、負から正に切換わる磁界反転時間に同期し
てレーザ光強度がDC点灯時の光強度Pw1 からPw
0 に下げられている。即ち、磁界反転時の磁界強度が
低下する間は、レーザ光強度が強制的に下げられ、垂直
磁化膜の温度が低下するように制御されている。また、
正負の磁界がそれぞれ立上ったタイミングで、図1の実
施例と同様にDC点灯時の光強度Pw1 に光強度Pw
2 のレーザ光がパルス状に重畳されている。
【0014】本実施例にあっては、変調磁界が立上った
ときにレーザ光の光強度が所定時間Pw2 に高められ
るので、図3および図4で説明したように垂直磁化膜の
キューリー点温度範囲を広範囲に広げることができる。 従って、前記実施例と同様に磁区の磁化方向が安定し、
図5(d)に示す如く磁化方向の不安定領域を消去する
ことができる。また、本実施例では磁界が反転している
間はレーザ光強度を下げ垂直磁化膜の温度を低下させて
いるために、磁界反転時の磁界強度が低下しても磁化方
向を初期の状態に保持することができる。即ち、磁界反
転時にレーザ光強度を低下することによって、温度をキ
ューリー点温度以下に下げ、磁化方向が変化しないよう
に垂直磁化膜を強制冷却することにより、磁界反転時の
磁化方向の変化を防止するものである。このように本実
施例では、磁界立上り時にレーザ光の光強度を高め、し
かも磁界反転時に光強度を低下しているため、更に確実
に磁化方向の不安定領域を消去することができ、前記実
施例に比べてより効果的に安定した磁区を記録すること
ができる。
【0015】なお、本実施例においては、レーザ光の照
射は前記実施例と同様にパルス点灯タイミング回路27
により、システムコントローラ29から送られる光磁気
ディスクの角速度と記録アドレス、及び温度センサ8の
温度情報に基づいて制御されている。従って、温度や記
録位置などによらず、常に垂直磁化膜上の温度プロファ
イルが一定となるよう制御されている。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、変
調磁界の反転時に磁界強度の低下によって生じる磁化方
向の不安定領域を有効に消去し、また矢羽根状磁区の形
状も改善することによって、再生した光磁気信号のノイ
ズやジッターを大幅に低減できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光磁気記録再生装置の一実施例を示し
た構成図である。
【図2】図1の実施例の動作を示したタイムチャートで
ある。
【図3】レーザ光のDC点灯時と磁界立上り時にパルス
状に光強度を高めたときの垂直磁化膜上のキューリー点
温度プロファイルを比較して示す説明図である。
【図4】磁界立上り時におけるパルス状レーザ光の重畳
前と重畳後のキューリー点温度到達範囲を比較して示す
説明図である。
【図5】他の実施例のレーザ光の照射状態と記録信号、
変調磁界及び記録パターンを示したタイムチャートであ
る。
【図6】従来例の光磁気記録再生装置を示した構成図で
ある。
【図7】図6の従来装置の動作を示したタイムチャート
である。
【符号の説明】
1    光磁気ディスク 3    垂直磁化膜 7    半導体レーザ 8    集光レンズ 14    AT・AF制御回路 23    浮上ヘッド 24    電磁石 25    磁界変調回路 27    パルス点灯タイミング回路28    温
度センサ 29    システムコントローラ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  光磁気記録媒体に所定強度の光ビーム
    を照射して媒体温度をキューリー点温度近傍またはそれ
    以上に上昇させ、かつこの昇温部位に記録信号に応じて
    変調された磁界を印加することで、前記媒体上に情報を
    記録する光磁気記録再生装置において、前記変調磁界が
    それぞれ正負の極性に所定強度に立上がったときに、前
    記光磁気記録媒体の温度が所定の温度以上になるように
    、前記光ビームの光強度を所定時間高めることを特徴と
    する光磁気記録再生装置。
  2. 【請求項2】  前記変調磁界の極性反転時は、光ビー
    ムの光強度を前記媒体の磁化膜の磁化方向が変化しない
    温度に低下させることを特徴とする請求項1の光磁気記
    録再生装置。
  3. 【請求項3】  光ビームの照射は、前記記録媒体の線
    速度及び雰囲気温度に応じ磁気膜上の温度プロファイル
    が所定の温度プロファイルとなるよう制御されることを
    特徴とする請求項1の光磁気記録再生装置。
JP8574591A 1991-03-27 1991-03-27 光磁気記録再生装置 Pending JPH04298838A (ja)

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JP8574591A JPH04298838A (ja) 1991-03-27 1991-03-27 光磁気記録再生装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005038471A1 (en) * 2003-10-07 2005-04-28 Northrop Grumman Corporation Current monitoring/control circuit

Cited By (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005038471A1 (en) * 2003-10-07 2005-04-28 Northrop Grumman Corporation Current monitoring/control circuit

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