JPH04286952A - 碍子磁器部の欠陥検出方法 - Google Patents
碍子磁器部の欠陥検出方法Info
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- JPH04286952A JPH04286952A JP3076973A JP7697391A JPH04286952A JP H04286952 A JPH04286952 A JP H04286952A JP 3076973 A JP3076973 A JP 3076973A JP 7697391 A JP7697391 A JP 7697391A JP H04286952 A JPH04286952 A JP H04286952A
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- porcelain
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- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 title abstract 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/11—Analysing solids by measuring attenuation of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
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-
- G—PHYSICS
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- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は碍管を含む磁器製の碍子
の端部付近の内部欠陥を、現場において据え付け状態の
ままで正確に検出することができる碍子磁器部の欠陥検
出方法に関するものである。
の端部付近の内部欠陥を、現場において据え付け状態の
ままで正確に検出することができる碍子磁器部の欠陥検
出方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】碍子の磁器部に内在することがある微少
クラックの集合の検査方法として、超音波探傷法は従来
から広く知られている。ところが現場において碍子を据
え付けた状態のままで碍子の端部付近の内部欠陥を超音
波探傷しようとしても、端面エコーの強度は内部欠陥の
程度により変化するのみならず、碍子端面の面取り部の
形状の差、寸法誤差、探触子の当て方等の多くの原因に
よって大きく変化するため、正確に欠陥を検出すること
は容易ではなかった。
クラックの集合の検査方法として、超音波探傷法は従来
から広く知られている。ところが現場において碍子を据
え付けた状態のままで碍子の端部付近の内部欠陥を超音
波探傷しようとしても、端面エコーの強度は内部欠陥の
程度により変化するのみならず、碍子端面の面取り部の
形状の差、寸法誤差、探触子の当て方等の多くの原因に
よって大きく変化するため、正確に欠陥を検出すること
は容易ではなかった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記した従来
の問題点を解消して、磁器製の碍子の端部付近の内部欠
陥を据え付け状態のままで正確かつ簡便に検出すること
ができる碍子磁器部の欠陥検出方法を提供するために完
成されたものである。
の問題点を解消して、磁器製の碍子の端部付近の内部欠
陥を据え付け状態のままで正確かつ簡便に検出すること
ができる碍子磁器部の欠陥検出方法を提供するために完
成されたものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めになされた本発明は、碍子磁器部の側面に2周波探傷
子を接触させて磁器部端面に向けて周波数の異なる2種
類の超音波を入射し、周波数による端面エコーの強さの
差が内部欠陥により変化することを利用して碍子磁器部
の内部欠陥を検出することを特徴とするものである。
めになされた本発明は、碍子磁器部の側面に2周波探傷
子を接触させて磁器部端面に向けて周波数の異なる2種
類の超音波を入射し、周波数による端面エコーの強さの
差が内部欠陥により変化することを利用して碍子磁器部
の内部欠陥を検出することを特徴とするものである。
【0005】
【実施例】以下に本発明を図示の実施例によって更に詳
細に説明する。図1において、1は検査対象物である中
空の碍子磁器部、2はフランジ金具である。本発明にお
いては、碍子磁器部1の端部付近の側面に2周波探傷子
3を接触させる。一般に超音波探触子は周波数に応じて
専用のものが使用されているが、この2周波探傷子3は
2種類の周波数の超音波を発信及び受信することができ
るものである。ただしこのような2周波探傷子3自体は
公知のものであり、市販品を使用することができる。
細に説明する。図1において、1は検査対象物である中
空の碍子磁器部、2はフランジ金具である。本発明にお
いては、碍子磁器部1の端部付近の側面に2周波探傷子
3を接触させる。一般に超音波探触子は周波数に応じて
専用のものが使用されているが、この2周波探傷子3は
2種類の周波数の超音波を発信及び受信することができ
るものである。ただしこのような2周波探傷子3自体は
公知のものであり、市販品を使用することができる。
【0006】本発明においては、2周波探傷子3から周
波数の異なる2種類の超音波を碍子磁器部1に入射し、
磁器部端面から反射する端面エコーを受信する。このと
き周波数による端面エコーの強さの差は内部欠陥により
変化する。これを図2により説明すると、横軸に内部欠
陥(微細クラックの集合体)の程度を取り、縦軸に2種
類の周波数による端面エコーの強さの比を取った場合、
2.25MHzと1MHz の2種類の周波数の超音波
を使用した場合には、端面エコーの強さの比は上方の曲
線のように変化する。また5MHz と2.25MHz
の2種類の周波数の超音波を使用した場合には、端面
エコーの強さの比は下方の曲線のように変化する。そこ
でこのような減衰率の違いを利用し、碍子磁器部1の端
部付近の内部欠陥の程度を正確に知ることができる。
波数の異なる2種類の超音波を碍子磁器部1に入射し、
磁器部端面から反射する端面エコーを受信する。このと
き周波数による端面エコーの強さの差は内部欠陥により
変化する。これを図2により説明すると、横軸に内部欠
陥(微細クラックの集合体)の程度を取り、縦軸に2種
類の周波数による端面エコーの強さの比を取った場合、
2.25MHzと1MHz の2種類の周波数の超音波
を使用した場合には、端面エコーの強さの比は上方の曲
線のように変化する。また5MHz と2.25MHz
の2種類の周波数の超音波を使用した場合には、端面
エコーの強さの比は下方の曲線のように変化する。そこ
でこのような減衰率の違いを利用し、碍子磁器部1の端
部付近の内部欠陥の程度を正確に知ることができる。
【0007】また前述したように、端面エコーの強度は
内部欠陥の程度により変化するのみならず、碍子端面の
面取り部の形状の差、寸法誤差、探触子の当て方等の多
くの原因によって大きく変化する。しかし本発明におい
ては、同一の探触子を用いて超音波探傷を行うため、上
記したような外乱要因はいずれの周波数においても同様
に影響するので、これらの影響をキャンセルすることが
できる。従って本発明の方法によれば、これらの外的な
要因に影響されることなく、磁器製の碍子の端部付近の
内部欠陥を据え付け状態のままで正確かつ簡便に検出す
ることができることとなる。
内部欠陥の程度により変化するのみならず、碍子端面の
面取り部の形状の差、寸法誤差、探触子の当て方等の多
くの原因によって大きく変化する。しかし本発明におい
ては、同一の探触子を用いて超音波探傷を行うため、上
記したような外乱要因はいずれの周波数においても同様
に影響するので、これらの影響をキャンセルすることが
できる。従って本発明の方法によれば、これらの外的な
要因に影響されることなく、磁器製の碍子の端部付近の
内部欠陥を据え付け状態のままで正確かつ簡便に検出す
ることができることとなる。
【0008】
【発明の効果】本発明は以上に詳細に説明したように、
2周波探傷子を利用して周波数の異なる2種類の超音波
を入射し、周波数による端面エコーの強さの差に基づい
て碍子磁器部の内部欠陥を検出することができるもので
あり、碍子を据え付けた状態のままで内部欠陥を正確か
つ簡便に検出することができる。よって本発明は従来の
問題点を解決した碍子磁器部の欠陥検出方法として、産
業の発展に寄与するところは極めて大きいものである。
2周波探傷子を利用して周波数の異なる2種類の超音波
を入射し、周波数による端面エコーの強さの差に基づい
て碍子磁器部の内部欠陥を検出することができるもので
あり、碍子を据え付けた状態のままで内部欠陥を正確か
つ簡便に検出することができる。よって本発明は従来の
問題点を解決した碍子磁器部の欠陥検出方法として、産
業の発展に寄与するところは極めて大きいものである。
【図1】本発明の実施例を示す断面図である。
【図2】2種類の周波数の端面エコーの強度比と内部欠
陥の程度との関係を示すグラフである。
陥の程度との関係を示すグラフである。
1 碍子磁器部
2 フランジ金具
3 2周波探傷子
Claims (1)
- 【請求項1】 碍子磁器部の側面に2周波探傷子を接
触させて磁器部端面に向けて周波数の異なる2種類の超
音波を入射し、周波数による端面エコーの強さの差が内
部欠陥により変化することを利用して碍子磁器部の内部
欠陥を検出することを特徴とする碍子磁器部の欠陥検出
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3076973A JPH04286952A (ja) | 1991-03-16 | 1991-03-16 | 碍子磁器部の欠陥検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3076973A JPH04286952A (ja) | 1991-03-16 | 1991-03-16 | 碍子磁器部の欠陥検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04286952A true JPH04286952A (ja) | 1992-10-12 |
Family
ID=13620731
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3076973A Withdrawn JPH04286952A (ja) | 1991-03-16 | 1991-03-16 | 碍子磁器部の欠陥検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04286952A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0713090A1 (en) | 1994-11-18 | 1996-05-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Detecting method and a detecting device |
JP2005337890A (ja) * | 2004-05-27 | 2005-12-08 | Hitachi Ltd | 磁器絶縁物の検査方法および診断装置 |
-
1991
- 1991-03-16 JP JP3076973A patent/JPH04286952A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0713090A1 (en) | 1994-11-18 | 1996-05-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Detecting method and a detecting device |
US5942688A (en) * | 1994-11-18 | 1999-08-24 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for detecting a measurable quantity of an object |
JP2005337890A (ja) * | 2004-05-27 | 2005-12-08 | Hitachi Ltd | 磁器絶縁物の検査方法および診断装置 |
JP4546152B2 (ja) * | 2004-05-27 | 2010-09-15 | 株式会社日立製作所 | 磁器絶縁物の検査方法および診断装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |