JPH04282850A - 試料保持装置 - Google Patents

試料保持装置

Info

Publication number
JPH04282850A
JPH04282850A JP3072501A JP7250191A JPH04282850A JP H04282850 A JPH04282850 A JP H04282850A JP 3072501 A JP3072501 A JP 3072501A JP 7250191 A JP7250191 A JP 7250191A JP H04282850 A JPH04282850 A JP H04282850A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
sample
holder
wafer
holding device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3072501A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Inoue
雅司 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority to JP3072501A priority Critical patent/JPH04282850A/ja
Publication of JPH04282850A publication Critical patent/JPH04282850A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体ウエハ等の板状
の試料を、該試料へのガスの吹き付けにより非接触にて
保持する試料保持装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体の製造においては、ウエハを各工
程間にて搬送することが必要であり、その際、その表面
に損傷を与えることなくウエハを保持、搬送し得る試料
保持装置が求められている。図6は従来の試料保持装置
を示す縦断面図であり、図中2は円板状の保持体である
。この試料保持装置は、保持体2を、その一面が保持対
象となるウエハWの表面に近接,対向するように位置決
めし、保持体2中央部の厚み方向に設けたガス噴出路2
1の噴出口20からN2 ガス,空気等のガスをウエハ
Wの表面に吹き付け、ウエハWを保持体2に接触するこ
となく保持するものである。このときウエハWの周縁側
には保持体2とウエハWとの間のガスの通流に伴うベル
ヌーイ効果により、裏面側より圧力が低い負圧部分が安
定的に生じ、ウエハWは保持体2に向けて押圧される。 一方、ガス噴出口20近傍にはガスがウエハWの表面に
衝突するときの動圧による反発力が生じ、この反発力と
ウエハWの自重との合力がウエハWに働く押圧力と釣り
合ったときにウエハWは、保持体2との間に所定の隙間
を維持して保持されるのである。
【0003】前記反発力が大きい場合は、ウエハWの周
縁側に生じる押圧力が打ち消されてウエハWを安定して
保持することが困難になる。そこで特開昭61−229
750号公報及び特開昭62−105831号公報等に
開示されている発明は、ガス噴出口20の口径を十分に
大きくしてガスの流速を下げてガスがウエハWの表面に
衝突するときの動圧による反発力を緩和するようにして
いる。ところがこの場合、十分な保持力を得るために多
くのガスの供給を必要とする難点があり、またウエハW
を水平方向に拘束しないのでウエハWを搬送するときに
不安定であるという問題もあった。
【0004】そこで本発明者らは、特願平2−1181
09号の発明をなした。図7は、この発明に係る試料保
持装置を示す縦断面図である。この装置は円板状をなす
保持体2のウエハWとの対向面に対して所定角度θ(4
0°≦θ<90°)だけ傾斜し、口径が5mm以下であ
るガス噴出路21とこれに連なるガス導入路11とを備
えると共に、保持体2のウエハWとの対向面の外周近傍
に周設された環状溝3内にガス噴出口20からの導入ガ
スが向かう側に開口する吸引孔4を備えてなる。保持体
2の径はウエハWの径より小さく、保持体2の外周下側
にはウエハWの外周相当位置より外側に突出し、先端が
垂下したピン状のウエハガイド12,12,…が設けら
れている。
【0005】而して、ガス導入路11及びガス噴出路2
1を経てガス噴出口20から噴出するガスは、保持体2
に対向するウエハWの表面に斜めに吹き付けられる結果
、該ウエハWは、その面方向の一方向への移動力を付与
され、保持体2の周縁に突設されたウエハガイド12,
12,…のいずれかに当接した状態で拘束される。 従ってウエハWは保持体2に安定に保持された状態で搬
送され得る。また、ガス噴出口20の口径を5mm以下
にし、ウエハWへのガスの吹き付け位置近傍に生じる澱
み部分の滞留ガスを高速の流れにて主流中に強制的に排
出せしめ、この排出により前記澱み部分に生じる極めて
大きい負圧部分を保持力として利用するので、ガス噴出
路21からウエハWに吹き付けるガスは少量でよい。そ
して保持体2とウエハWとの間を流れるガスが前述の如
き位置に開口する吸引孔4に吸入されることにより、ウ
エハWの周方向におけるガスの流れ状態が最終的に均一
化され、ウエハWに付与される保持力が周方向に均一化
されて安定した保持がなされ得る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】図8は図7の試料保持
装置にガスを導入したときの状態を示す縦断面図である
。ウエハW表面に対し斜めにガスが導入されるので、ウ
エハWは鉛直上方向の力と同時に水平方向の力を吸着以
前から受けることになり、吸着の過程で矢符に示した如
く斜め上方向の力が働き、斜めに傾いて上昇する。保持
体2の径がウエハWの径より小さいのでこのときウエハ
Wの表面が保持体2の対向面の角と接触し、疵が発生す
ることがあった。
【0007】本発明は斯かる事情に鑑みなされたもので
あり、ガスを導入するガス導入路をガス噴出路にその中
心がガス噴出路に対し偏心するようにして連通させるこ
とにより、保持体と接触して疵が生じることなく、試料
を吹き込んだガスが向かう方向へ寄せ、またガスを吸引
する溝及びこれに連通させた吸引孔を設けることにより
ガスを全て回収し、保持体の周方向におけるガスの流れ
状態を最終的に均一化して試料を保持体に安定して保持
することができる試料保持装置を提供することを目的と
する。
【0008】
【課題を解決するための手段】第1発明の試料保持装置
は、平板状の試料の表面に保持体を対向させ、該保持体
の前記試料との対向面に開口するガス噴出路からガスを
前記試料に吹き付け、該試料をその表裏面間に生じる圧
力差により保持する試料保持装置において、前記ガス噴
出路には前記ガスを該ガス噴出路へ導入するガス導入路
がその中心を前記ガス噴出路の中心に対して偏心させて
連通されていることを特徴とする。第2発明の試料保持
装置は、前記保持体の前記試料との対向面の外周近傍に
溝を周設し、前記試料に吹きつけたガスを吸引する吸引
孔を前記溝に連通させてあることを特徴とする。
【0009】
【作用】図9は本発明に係る試料保持装置のガス吹き込
み部の縦断面図であり、図中2は保持体である。保持体
2の略中央には、ガスを導入するガス導入路11とガス
を試料Wに向けて噴出させるガス噴出路21とが保持体
2の幅方向の略中央部で中心を互いに偏心させて連通さ
れている。試料Wは保持体2のガス噴出路21側の面に
対向されており、初めは試料Wと保持体2との間隔を略
2mmにして対向されている。ガス導入路11から導入
されるガスはガス噴出路21を通って試料Wに向かって
流れ、試料Wはその表裏面間の圧力差によって略垂直に
吸い上げられる。その後試料Wと保持体2との間隔が0
.2mm程に近づくとこの間隔の狭まりに伴い、ガスは
図10に示した矢符の如くガス噴出路21のガス導入路
11中心からのずれと反対方向に多少偏るので、試料W
は図9に示した白抜き矢符の如く保持体2の面に平行に
ガスの流れ方向に動き、その端部が保持体2の端部に設
けられたフックに当接する。このとき試料Wと保持体2
との間にはこれらの間隔に影響を及ぼす程の圧力差は生
じない。以上のようにしてウエハWは図8に示した如く
傾くことなく、保持体2に吸着される。
【0010】また本発明においては、保持体の試料との
対向面の外周近傍に溝を周設し、この溝に外部の吸引装
置に連なる吸引孔を連通させて試料に吹きつけたガスを
吸引し、全て回収するので、試料の周方向におけるガス
の流れ状態が最終的に均一化され、試料に付与される保
持力が周方向に均一化されて安定した保持がなされ得る
【0011】
【実施例】以下、本発明をその実施例を示す図面に基づ
き具体的に説明する。図1は本発明に係る試料保持装置
を示す縦断面図であり、図中2は円板状をなす保持体で
ある。保持体2の略中央には幅方向にガス噴出路21が
設けられており、ガス噴出路21は試料としてのウエハ
Wが対向すべき面に開口(20)している。ガス噴出路
21の上側には図示しないガス供給源に連なるガス導入
路11が連通されており、ガス導入路11にガスを導入
し、ガス噴出路21内を通流させて噴出口20からウエ
ハWに吹き付けるようになっている。ガス導入路11は
ガス噴出路21の上側にその中心を平行に偏心させて連
通されている。ガス導入路11とガス噴出路21との中
心のずれはこれらにガスを通流させたときに、保持体2
に吸着されるべき試料としてのウエハWがガスの流れに
よって斜めにならない程度にする。ガス噴出路21の径
はガス導入路11の径より小である。
【0012】ガス導入路11の径及び長さ、ガス噴出路
21の径及び長さは、ガス流量、ウエハWの重さ、ガス
導入路11とガス噴出路21との接続部の口径(ガス噴
出路21の径に対する大きさ)、接続部の位置等により
適宜定める。ガス噴出路21の長さが短い場合、ガスは
ガス噴出路21のガス導入路11中心からのずれの方向
に流れ、特願平2−118109号と同一の問題が生じ
、所期の目的を達成できない。
【0013】保持体2におけるウエハWとの対向面の外
周近傍には環状溝3が周設されており、環状溝3の上側
にはガス噴出路21のガス導入路11中心からのずれと
反対の位置に、ガスを図示しないガス吸引装置により吸
引する吸引孔4が設けられている。吸引孔4は複数個設
けてもよく、その場合は複数の吸引孔4を上述の位置を
中心にして略対称に設けるのが望ましい。保持体2周縁
の下側には、ウエハWの外周相当位置より外側に突出し
、先端が垂下したピン状のウエハガイド12,12,…
が設けられており、ウエハWを当接させるようになって
いる。
【0014】以上の如く構成された装置を使用して、ガ
スをガス導入路11及びガス噴出路21を経て噴出口2
0からウエハWの表面に吹き付けると、ウエハWは、矢
符に示した如くガス噴出路21のガス導入路11の中心
からのずれの方向と逆の方向への移動力を付与され、ウ
エハガイド12,12,…に当接した状態で拘束される
。またこのとき、保持体2とウエハWとの間を流れるガ
スが前述の如き位置に開口する吸込孔4に吸入されるこ
とにより、ウエハWの周方向におけるガスの流れ状態が
均一化され、ウエハWに付与される保持力が周方向に均
一化されて安定した保持がなされ得る。
【0015】図2及び図3は本発明に係る他の試料保持
装置のガス吹き込み部の縦断面図である。これらの装置
ではガス導入路11とガス噴出路21とが連続しておら
ず、小径の接続孔31により接続されている。図2の装
置では、ガス噴出路21をガス導入路11の下側に収ま
る構成にしている。図3の装置では、接続孔31をガス
噴出路21のガス導入路11中心からのずれの方向に傾
斜させている。
【0016】図4は本発明に係る他の試料保持装置を示
す縦断面図である。この装置の保持体2の径はウエハW
の径より大きくしてあり、保持体2周縁の下側にはウエ
ハガイド12,12,…が垂設されている。以上の如く
装置を構成することにより、ウエハWがこれに対向する
保持体2の面の角に接触することが構造上なくなる。ま
たウエハWと保持体2との間に存在するガスの量が多い
ので、ウエハW吸着時にウエハWが保持体2側へ慣性に
よって圧せられることを抑制するバッファー効果が大き
い。
【0017】次に本発明を具体的な数値を挙げて説明す
る。使用した試料保持装置は図1に示した装置であり、
保持体2の吸着面の径は154mm、ウエハWの径は6
インチである。ガス導入路11は径4mm、ガス噴出路
21は径2mm、長さ10mmであり、ガス導入路11
とガス噴出路21との中心軸の偏心量は2mmである。 吸引孔4は3個設けられており、吸引孔4,4,4は、
ガスが向かう位置、該位置に対し時計方向120°及び
反時計方向120°の位置に夫々設けられている。以上
の如く構成された試料保持装置を使用して、流量40l
/minでN2 ガスを導入し、ウエハWを吸着させた
。 そして同一の条件で従来の試料保持装置を使用してウエ
ハWを吸着させることも行った。
【0018】図5は従来装置及び本発明装置により吸着
した後のウエハWを示す平面図であり、(a)は従来装
置を使用した場合、(b)は本発明装置を使用した場合
である。図5より従来装置を使用した場合はウエハWが
保持体2の外縁に当たってその周方向に複数個疵が発生
したのに対し、本発明装置を使用した場合は疵が発生し
ないことが判る。
【0019】
【発明の効果】以上の如く本発明においては、ガスを導
入するガス導入路をガス噴出路にその中心がガス噴出路
に対し偏心するようにして連通させているので、保持体
と接触して疵が生じることがなく、試料を吹き込んだガ
スが向かう方向へ寄せることができる。またガスを吸引
する溝及びこれに連通させた吸引孔を設けているので、
保持体の周方向におけるガスの流れ状態を均一化して試
料を保持体に安定して保持することができ、かつガスを
全て回収するため外部へパーティクルが飛散する虞もな
い。従って半導体製造等の現場において損傷を与えるこ
となく安定した状態で搬送することができる等、本発明
は優れた効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る試料保持装置を示す縦断面図であ
る。
【図2】本発明に係る他の試料保持装置のガス吹き込み
部の縦断面図である。
【図3】本発明に係る他の試料保持装置のガス吹き込み
部の縦断面図である。
【図4】本発明に係る他の試料保持装置を示す縦断面図
である。
【図5】従来装置及び本発明装置により吸着した後のウ
エハを示す平面図である。
【図6】従来の試料保持装置を示す縦断面図である。
【図7】特願平2−118109号の試料保持装置を示
す縦断面図である。
【図8】特願平2−118109号の試料保持装置にガ
スを導入したときの状態を示す縦断面図である。
【図9】本発明に係る試料保持装置のガス吹き込み部の
縦断面図である。
【符号の説明】
2  保持体 3  環状溝 4  吸引孔 11  ガス導入路 12  ウエハガイド 21  ガス噴出路 W  ウエハ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  平板状の試料の表面に保持体を対向さ
    せ、該保持体の前記試料との対向面に開口するガス噴出
    路からガスを前記試料に吹き付け、該試料をその表裏面
    間に生じる圧力差により保持する試料保持装置において
    、前記ガス噴出路には前記ガスを該ガス噴出路へ導入す
    るガス導入路がその中心を前記ガス噴出路の中心に対し
    て偏心させて連通されていることを特徴とする試料保持
    装置。
  2. 【請求項2】  前記保持体の前記試料との対向面の外
    周近傍に溝を周設し、前記試料に吹き付けたガスを吸引
    する吸引孔を前記溝に連通させてあることを特徴とする
    請求項1記載の試料保持装置。
JP3072501A 1991-03-11 1991-03-11 試料保持装置 Pending JPH04282850A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3072501A JPH04282850A (ja) 1991-03-11 1991-03-11 試料保持装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3072501A JPH04282850A (ja) 1991-03-11 1991-03-11 試料保持装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04282850A true JPH04282850A (ja) 1992-10-07

Family

ID=13491150

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3072501A Pending JPH04282850A (ja) 1991-03-11 1991-03-11 試料保持装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04282850A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06239495A (ja) * 1993-02-15 1994-08-30 Matsushita Electric Works Ltd シート材の位置決め装置
JP2011210297A (ja) * 2010-03-29 2011-10-20 International Manufacturing & Engineering Services Co Ltd チップマウンタの吸着ノズル
JP2016131188A (ja) * 2015-01-13 2016-07-21 株式会社ディスコ 搬送装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06239495A (ja) * 1993-02-15 1994-08-30 Matsushita Electric Works Ltd シート材の位置決め装置
JP2011210297A (ja) * 2010-03-29 2011-10-20 International Manufacturing & Engineering Services Co Ltd チップマウンタの吸着ノズル
JP2016131188A (ja) * 2015-01-13 2016-07-21 株式会社ディスコ 搬送装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3981241B2 (ja) 旋回流形成体および非接触搬送装置
KR100675408B1 (ko) 들기 장치
JP4669252B2 (ja) 旋回流形成体および非接触搬送装置
JPH10181879A (ja) 搬送装置
TWI675423B (zh) 異物除去裝置
JPH098095A (ja) 積層半導体ウエハの分離装置およびその分離方法
JPH04282850A (ja) 試料保持装置
JP3383739B2 (ja) ワーク保持装置
JP6814009B2 (ja) 搬送パッド及びウエーハの搬送方法
JP2012096294A (ja) ノンコンタクト搬送パッド
JPWO2002047155A1 (ja) 保持具
JP3994372B2 (ja) 空気保持装置
TWI543918B (zh) 用來運送平板構件之輸送載具
JP3292639B2 (ja) 回転保持装置及び方法
JP2003245885A (ja) 搬送装置
JP3443375B2 (ja) 搬送装置
JPH05299492A (ja) ウエハの位置決め装置
KR101261313B1 (ko) 평판 이송물 정렬픽업 이송장치
JPH02305740A (ja) 基板搬送装置
JPH0533534U (ja) 試料保持装置
JP2599100B2 (ja) Di缶セパレータ装置
JPH03238245A (ja) 試料保持装置
JPH01127538A (ja) 板状物受け渡し装置
JP2002280439A (ja) 搬送装置
JP2002043400A (ja) 回転支持装置