JPH04268217A - 光学式ピックアップ装置 - Google Patents

光学式ピックアップ装置

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Publication number
JPH04268217A
JPH04268217A JP3050622A JP5062291A JPH04268217A JP H04268217 A JPH04268217 A JP H04268217A JP 3050622 A JP3050622 A JP 3050622A JP 5062291 A JP5062291 A JP 5062291A JP H04268217 A JPH04268217 A JP H04268217A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
photodetector
light beams
divided
beams
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP3050622A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Sato
佐藤 政司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP3050622A priority Critical patent/JPH04268217A/ja
Publication of JPH04268217A publication Critical patent/JPH04268217A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスク装置に
用いて好適な光学式ピックアップ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】本出願人は、特開昭63−127436
号公報として光磁気ディスク装置に用いられる光学式ピ
ックアップ装置を先に提案した。この先の提案に於いて
は、光磁気ディスクにより反射された光ビームをウォー
ラストンプリズムを用いて、P偏光成分と、S偏光成分
と、P偏光成分およびS偏光成分の合成成分の3本の光
ビームに分割している。そして図4に示すように、P偏
光成分を例えば光検出器5の領域Iに於いて検出し、S
偏光成分を領域Jに於いて検出し、残りのP偏光成分と
S偏光成分の合成成分を領域A乃至Dに4分割された領
域で受光するようにしている。これにより、領域IとJ
の出力の差から記録信号に対応した信号を得ることがで
き、領域AとCの出力の和と領域BとDの出力の和の差
から、いわゆる非点収差法に基づくフォーカスエラー信
号を得ることができる。光磁気ディスクがトラッキング
の為のウォブルドピットを有している場合、領域A乃至
Dの出力の和を2つウォブルドピットに対応するタイミ
ングでサンプルホールドし、その差からトラッキングエ
ラー信号を得ることができる。
【0003】しかしながら、光磁気ディスクがトラッキ
ング用のウォブルドピットを有しておらず、プリグルー
ブを有している場合に於いては、このサンプリングホー
ルドによるトラッキングエラー信号の生成は不可能とな
る。そこで、この場合に於いてはいわゆる3ビーム(ス
ポット)法によるトラッキング制御が考えられる。先の
提案にこの3スポット法を適用しようとすると、例えば
回折格子(グレーティング)を用いて光ビームをウォー
ラストンプリズムによる分割方向とは垂直な方向にさら
に3本のビームに分割する必要がある。このように分割
した光ビームの2本をそれぞれ領域EとFまたはGとH
に分割された光検出器で受光することによりトラッキン
グエラー信号を生成することができる。このトラッキン
グエラー信号Teは次式で求めることができる。   Te=((A+D)−(B+C))−K((E−F
)+(G−H))
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに記録信号再生のためとフォーカスエラー信号生成の
ために光ビームを3本に分割するとともに、トラッキン
グサーボのために光ビームをさらに垂直な方向に3本に
分割すると、合計9本の光ビームに分割されることにな
るが(図4)、このうち実際に光検出器5(領域A乃至
D、領域I、領域J、領域EとF、領域GとH)で受光
することができる光ビームは5本である。4つの角に位
置する残りの4本のビーム1乃至4は、記録信号の再生
はもとより、フォーカスエラー信号及びトラッキングエ
ラー信号生成の為に用いられていない。従って、その分
だけ光エネルギーを有効に用いていないことになる。そ
の結果S/Nが劣化し、安定したトッキングサーボある
いはフォーカシングサーボを実現することが困難になる
課題があった。
【0005】本発明は、このような状況に鑑みてなされ
たものであり、光ビームをより有効に利用することがで
きるようにし、もってS/Nを向上させ、トラッキング
サーボあるいはフォーカシングサーボを安定して動作さ
せることができるようにするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の光学式ピックア
ップ装置は、1本の光ビームを第1の方向に少なくとも
3分割し、かつ、第1の方向と交叉する第2の方向に少
なくとも3分割して、少なくとも合計9本の光ビームに
分割する光ビーム分割手段と、光ビーム分割手段により
分割された光ビームを検出する光検出手段とを備え、光
検出手段は、9本の光ビームのうち、一方の側の3本の
光ビームを検出する第1の部分と、他方の側の3本の光
ビームを検出する第2の部分と、一方の側と他方の側に
挟まった中央の3本の光ビームを検出する第3の部分と
からなることを特徴とする。
【0007】
【作用】上記構成の光学式ピックアップ装置に於いては
、光検出手段が一方の側の3本の光ビームを検出する第
1の部分と、他方の側の3本の光ビームを検出する第2
の部分と、中央の3本の光ビームを検出する第3の部分
とにより構成される。従って、9本の光ビーム全てを検
出することができ、光エネルギーが有効に活用される。
【0008】
【実施例】図2は本発明の光学式ピックアップ装置の一
実施例の構成を示す図である。半導体レーザ11より出
力されたレーザビームはコリメータレンズ12により平
行光とされ、回折格子13に入力される。回折格子13
により少なくとも3本に分割された光ビームはビームス
プリッタ14の反射面14aで反射され、面14bを透
過して、対物レンズ15に入射される。対物レンズ15
は入射された3本のビームを光磁気ディスク16上に収
束、照射する。3本のビームのうち、中央の1本は光磁
気ディスク16上のトラックの中央を照射する。また残
りの2本の光ビームはトラックのエッジを照射する。ト
ラックの中央を照射する光ビームはトラック上の垂直磁
化膜の磁化パターンに対応してその偏光面が回転される
。また、トラックのエッジに照射されている光ビームは
エッジに対応する変調を受ける。
【0009】光磁気ディスク16により反射された3本
の光ビームは対物レンズ15を介してビームスプリッタ
14に入射され、その面14bにおいて反射され、ウォ
ーラストンプリズム19に入射される。ウォーラストン
プリズム19は入射された3本の光ビームを回折格子1
3による分割方向と交叉する方向(例えば垂直な方向)
にさらに3本に分割する。これによりウォーラストンプ
リズム19から合計9本の光ビーム(図1参照)が出力
されることになる。この9本の光ビームは受光レンズ2
0により収束され、シリンドリカルレンズ21を介して
光検出器22上に入射される。
【0010】ビームスプリッタ14の面14aにより反
射され、光磁気ディスク16に向かう光ビームの一部は
面14bにより反射され、光検出器17により検出され
る。APC回路18は光検出器17の出力をモニタし、
その出力が一定になるように半導体レーザ11を駆動す
る。
【0011】光検出器22は図1に示すように構成され
ている。すなわち、ほぼ正方形状に配列された9本の光
ビームの内、中央の光ビームL1は領域A乃至Dに4分
割された光検出器により受光される。ウォーラストンプ
リズムにより分割された、例えばP偏光成分からなる光
ビームL2は領域Iからなる光検出器により受光される
。また、S偏光成分からなる光ビームL3は領域Jから
なる光検出器により受光される。これら中央に位置する
3本の光ビームに対し、その左側に位置する3本のビー
ムL1L、L2L、L3Lはともに領域EとFに分割さ
れた光検出器により受光される。また、右側の3本の光
ビームL1R、L2R、L3Rは領域GとHに分割され
た光検出器により受光される。これらの各領域A乃至H
の出力は演算回路31に供給されている。演算回路31
は光磁気ディスク16上に記録されている記録信号に対
応した信号Siと、フォーカスエラー信号Sfと、トラ
ッキングエラー信号Stをそれぞれ次式より算出する。 Si=I−J Sf=(A+C)−(B+D) St=((A+D)−(B+C))−K((E−F)+
(G−H))
【0012】すなわち、フォーカスエラー信号はいわゆ
る非点収差法の原理に基づくものであり、トラッキング
エラー信号は差動プッシュプル方式の原理によるもので
ある。
【0013】このように、図1の実施例による場合、9
本の光ビームがいずれも、光検出器22に入射されるた
め、光エネルギーを有効に活用することができる。
【0014】図3は光検出器22の他の実施例を示して
いる。この実施例に於いては光検出器22の左右に配列
された部分が、それぞれ単独で構成されており2分割さ
れていない。即ちトラッキングエラー信号の生成を差動
プッシュプル法によらず、単なる3スポット法による場
合に於いては、左右に配列された光検出器EとGを、そ
れぞれ単独にすればよい。この場合に於いては、トラッ
キングエラー信号Stは次式により求められる。 St=E−G
【0015】記録信号に対応した信号Si及びフォーカ
スエラー信号Sfは、図1の実施例における場合と同様
に求められる。
【0016】この実施例においても9本の光ビーム全て
を光検出器22により検出することができ、光ビームの
エネルギーを有効に利用することができる。
【0017】
【発明の効果】以上のように本発明の光学式ピックアッ
プ装置によれば、9本に分割された光ビームの全てを検
出するように光検出器を構成するようにしたので、光ビ
ームのエネルギーを有効に活用することができ、S/N
を向上させ、安定したトラッキングサーボあるいはフォ
ーカシングサーボを実現することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図2の実施例に於ける光検出器の一実施例の構
成を示す図である。
【図2】本発明の光学式ピックアップ装置の一実施例の
構成を示す図である。
【図3】図2の実施例に於ける光検出器の他の実施例の
構成を示す図である。
【図4】従来の光学式ピックアップ装置に於ける光検出
器の構成を示す図である。
【符号の説明】
11  半導体レーザ 14  ビームスプリッタ 15  対物レンズ 16  光磁気ディスク 13  回折格子 19  ウォーラストンプリズム 21  シリンドリカルレンズ 22  光検出器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  1本の光ビームを第1の方向に少なく
    とも3分割し、かつ、前記第1の方向と交叉する第2の
    方向に少なくとも3分割して、少なくとも合計9本の光
    ビームに分割する光ビーム分割手段と、前記光ビーム分
    割手段により分割された光ビームを検出する光検出手段
    とを備え、前記光検出手段は、前記9本の光ビームのう
    ち、一方の側の3本の光ビームを検出する第1の部分と
    、他方の側の3本の光ビームを検出する第2の部分と、
    前記一方の側と他方の側に挟まった中央の3本の光ビー
    ムを検出する第3の部分とからなることを特徴とする光
    学式ピックアップ装置。
JP3050622A 1991-02-22 1991-02-22 光学式ピックアップ装置 Withdrawn JPH04268217A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3050622A JPH04268217A (ja) 1991-02-22 1991-02-22 光学式ピックアップ装置

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JP3050622A JPH04268217A (ja) 1991-02-22 1991-02-22 光学式ピックアップ装置

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JPH04268217A true JPH04268217A (ja) 1992-09-24

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ID=12864080

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3050622A Withdrawn JPH04268217A (ja) 1991-02-22 1991-02-22 光学式ピックアップ装置

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JP (1) JPH04268217A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06203422A (ja) * 1993-01-06 1994-07-22 Nec Corp 光ヘッド
DE19513273B4 (de) * 1994-04-07 2006-02-16 Pentax Corp. Opto-magnetische Kopfanordnung

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06203422A (ja) * 1993-01-06 1994-07-22 Nec Corp 光ヘッド
DE19513273B4 (de) * 1994-04-07 2006-02-16 Pentax Corp. Opto-magnetische Kopfanordnung

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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19980514