JP2874663B2 - 光ヘッドのフォーカスエラー検出方式 - Google Patents
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- Focusing (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光を用いて情報の記
録再生を行う光ディスク装置に使用される光ヘッドに関
し、特に光ディスクに対して集光する光のフォーカスエ
ラー検出方式に関するものである。
録再生を行う光ディスク装置に使用される光ヘッドに関
し、特に光ディスクに対して集光する光のフォーカスエ
ラー検出方式に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光ヘッドにおいては、レーザ光源からの
光を集光して微小スポットとし、この微小スポットを光
ディスクに照射させるためにスポットの焦点ずれ（フォ
ーカスエラー）を検出する必要がある。フォーカスエラ
ー検出の方法として、フーコー法またはダブルナイフエ
ッジ法と呼ばれるような方法が知られている。図６に示
すフーコー法では、レーザ光源１からの出射光をコリメ
ートレンズ２、集光レンズ４を介して微小スポットとし
て光ディスク５に集光し、反射光をビームスプリッタ３
で分離してフォーカスエラー検出系に導いている。この
フォーカスエラー検出系では、ビームスプリッタ３から
の光を収束レンズ６を透過させた後、くさびプリズム７
によりビームを２つのビームに分割し、各ビームを２分
割光検出器８の各受光部８１，８２で受光する。これら
２つの受光部は、それぞれ受光面が２分割されており、
前記各ビームはその分割線上で受光される。そして、各
分割受光面で検出される受光量信号は、減算器９、加算
器１０によってその差信号と和信号がとられ、和信号に
基づいて利得調整回路１１の利得を制御することで、利
得制御された差信号をフォーカスエラー信号として出力
される。
光を集光して微小スポットとし、この微小スポットを光
ディスクに照射させるためにスポットの焦点ずれ（フォ
ーカスエラー）を検出する必要がある。フォーカスエラ
ー検出の方法として、フーコー法またはダブルナイフエ
ッジ法と呼ばれるような方法が知られている。図６に示
すフーコー法では、レーザ光源１からの出射光をコリメ
ートレンズ２、集光レンズ４を介して微小スポットとし
て光ディスク５に集光し、反射光をビームスプリッタ３
で分離してフォーカスエラー検出系に導いている。この
フォーカスエラー検出系では、ビームスプリッタ３から
の光を収束レンズ６を透過させた後、くさびプリズム７
によりビームを２つのビームに分割し、各ビームを２分
割光検出器８の各受光部８１，８２で受光する。これら
２つの受光部は、それぞれ受光面が２分割されており、
前記各ビームはその分割線上で受光される。そして、各
分割受光面で検出される受光量信号は、減算器９、加算
器１０によってその差信号と和信号がとられ、和信号に
基づいて利得調整回路１１の利得を制御することで、利
得制御された差信号をフォーカスエラー信号として出力
される。
【０００３】すなわち、この方式では、光ディスク上の
スポットの焦点がずれると、それぞれの分割受光面での
受光量の差が変化する。それぞれの分割受光面の差信号
を作ると、図７（ａ）に示すようなＳ字特性が得られ
る。２つの受光面では極性が反転するので、図６に示し
たように受光部の各受光面の出力を対称状態、この例の
場合には同図の上下反対に結線し、差分をとると合成し
たフォーカスエラー信号が得られる。なお、前記利得調
整回路１１での利得調整は、光ディスクの反射率の変化
等に対応するために、利得調整により規格化した信号を
出力するために利用される。
スポットの焦点がずれると、それぞれの分割受光面での
受光量の差が変化する。それぞれの分割受光面の差信号
を作ると、図７（ａ）に示すようなＳ字特性が得られ
る。２つの受光面では極性が反転するので、図６に示し
たように受光部の各受光面の出力を対称状態、この例の
場合には同図の上下反対に結線し、差分をとると合成し
たフォーカスエラー信号が得られる。なお、前記利得調
整回路１１での利得調整は、光ディスクの反射率の変化
等に対応するために、利得調整により規格化した信号を
出力するために利用される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このように、フォーカ
スエラー検出系においてビームを２つに分割し、分割さ
れた２つのビームから得られる差信号に基づいてＳ字特
性を検出すると、光検出器（受光部）の位置ずれ等で図
７（ｂ）に示すようにそれぞれのＳ字特性にオフセット
が生じた場合も、オフセットは同一極性で生じるため合
成によりキャンセルすることが可能となる。しかし、２
つの受光部８１，８２の感度に違いがあったり、分割さ
れた２つにビームの光量が均等でない場合には、図７
（ｂ）に示したオフセット量がそれぞれ異なるため、こ
れらを合成してもキャンセルすることはできず、結果と
して図７（ｃ）に示すように、合成後のフォーカスエラ
ー信号出力にオフセットが残ってしまう。このようなオ
フセットが生じると、当然に焦点位置の差信号が０とな
らなくなり、正確かつ高精度のフォーカスエラー信号を
得ることができず、高精度のフォーカス制御が困難にな
るという問題が生じる。
スエラー検出系においてビームを２つに分割し、分割さ
れた２つのビームから得られる差信号に基づいてＳ字特
性を検出すると、光検出器（受光部）の位置ずれ等で図
７（ｂ）に示すようにそれぞれのＳ字特性にオフセット
が生じた場合も、オフセットは同一極性で生じるため合
成によりキャンセルすることが可能となる。しかし、２
つの受光部８１，８２の感度に違いがあったり、分割さ
れた２つにビームの光量が均等でない場合には、図７
（ｂ）に示したオフセット量がそれぞれ異なるため、こ
れらを合成してもキャンセルすることはできず、結果と
して図７（ｃ）に示すように、合成後のフォーカスエラ
ー信号出力にオフセットが残ってしまう。このようなオ
フセットが生じると、当然に焦点位置の差信号が０とな
らなくなり、正確かつ高精度のフォーカスエラー信号を
得ることができず、高精度のフォーカス制御が困難にな
るという問題が生じる。
【０００５】本発明の目的は、このような問題を解消
し、高精度なフォーカスエラー信号を得ることが可能な
光ヘッドのフォーカスエラー検出方式を提供することに
ある。
し、高精度なフォーカスエラー信号を得ることが可能な
光ヘッドのフォーカスエラー検出方式を提供することに
ある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、光記録媒体か
らの反射光を分割してそれぞれ少なくとも２つの受光部
において受光し、この受光部の出力に基づいてフォーカ
スエラー信号を生成する光ヘッド装置において、各受光
部は受光面が少なくとも２つに分割されるとともに、各
受光部にはそれぞれの分割された受光面の差信号と和信
号をとる手段と、前記各受光部の前記差信号をそれぞれ
の和信号出力によりレベルを均等化する手段と、前記均
等化された各受光部の差信号を合成して前記各差信号に
それぞれ生じるオフセットを相殺したフォーカスエラー
信号を生成する手段とを備えることを特徴とする。ここ
で、受光部の受光面は分割線によって２つに分離されて
おり、前記分割線上に反射光が集光される構成とされ
る。また、受光部の受光面が略平行な分割線によって３
つの分離されており、前記３分割された受光面のうち外
側の２つは電気的に短絡され、中央の分割受光面と、前
記短絡された外側の分割受光面の差信号と和信号により
フォーカスエラー信号を得る構成とされる。この場合、
３つの分離された分割受光面にわたって反射光が集光さ
れ、かつ各受光部はその反射光の焦点の前方位置と後方
位置にそれぞれ設置される構成とされる。
らの反射光を分割してそれぞれ少なくとも２つの受光部
において受光し、この受光部の出力に基づいてフォーカ
スエラー信号を生成する光ヘッド装置において、各受光
部は受光面が少なくとも２つに分割されるとともに、各
受光部にはそれぞれの分割された受光面の差信号と和信
号をとる手段と、前記各受光部の前記差信号をそれぞれ
の和信号出力によりレベルを均等化する手段と、前記均
等化された各受光部の差信号を合成して前記各差信号に
それぞれ生じるオフセットを相殺したフォーカスエラー
信号を生成する手段とを備えることを特徴とする。ここ
で、受光部の受光面は分割線によって２つに分離されて
おり、前記分割線上に反射光が集光される構成とされ
る。また、受光部の受光面が略平行な分割線によって３
つの分離されており、前記３分割された受光面のうち外
側の２つは電気的に短絡され、中央の分割受光面と、前
記短絡された外側の分割受光面の差信号と和信号により
フォーカスエラー信号を得る構成とされる。この場合、
３つの分離された分割受光面にわたって反射光が集光さ
れ、かつ各受光部はその反射光の焦点の前方位置と後方
位置にそれぞれ設置される構成とされる。
【０００７】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。図１は本発明をフーコー法に
適用した第１の実施形態のブロック構成図である。レー
ザ光源１からの出射光をコリメートレンズ２で平行光と
し、集光レンズ４を介して微小スポットとして光ディス
ク５に集光する。また、光ディスク５からの反射光をビ
ームスプリッタ３で分離してフォーカスエラー検出系に
導く。このフォーカスエラー検出系では、前記分離され
たビームを収束レンズ６で収束させた上で、くさびプリ
ズム７によりビームを２つのビームＢ１，Ｂ２に分割
し、２つの受光部８１，８２を有する光検出器８の各受
光部に集光させる。
図面を参照して説明する。図１は本発明をフーコー法に
適用した第１の実施形態のブロック構成図である。レー
ザ光源１からの出射光をコリメートレンズ２で平行光と
し、集光レンズ４を介して微小スポットとして光ディス
ク５に集光する。また、光ディスク５からの反射光をビ
ームスプリッタ３で分離してフォーカスエラー検出系に
導く。このフォーカスエラー検出系では、前記分離され
たビームを収束レンズ６で収束させた上で、くさびプリ
ズム７によりビームを２つのビームＢ１，Ｂ２に分割
し、２つの受光部８１，８２を有する光検出器８の各受
光部に集光させる。
【０００８】前記光検出器８の各受光部８１，８２は、
図２のように、分割線が互いに平行に向けられて２分割
された各２つの分割受光面８１ａ，８１ｂと８２ａ，８
２ｂで構成される。そして、各分割受光面８１ａ，８１
ｂ，８２ａ，８２ｂにおいて反射光を受光して得られる
受光信号は、それぞれ減算器９Ａ，９Ｂと加算器１０
Ａ，１０Ｂにより差信号と和信号が生成される。そし
て、各差信号はそれぞれ利得調整回路１１Ａ，１１Ｂに
入力され、ここで各和信号に基づいてその利得が調整さ
れることで、両差信号のレベルを一致すべく規格化が行
われる。そして、それぞれ規格化された両差信号を合成
器１２により合成し、これがフォーカスエラー信号とし
て出力される。
図２のように、分割線が互いに平行に向けられて２分割
された各２つの分割受光面８１ａ，８１ｂと８２ａ，８
２ｂで構成される。そして、各分割受光面８１ａ，８１
ｂ，８２ａ，８２ｂにおいて反射光を受光して得られる
受光信号は、それぞれ減算器９Ａ，９Ｂと加算器１０
Ａ，１０Ｂにより差信号と和信号が生成される。そし
て、各差信号はそれぞれ利得調整回路１１Ａ，１１Ｂに
入力され、ここで各和信号に基づいてその利得が調整さ
れることで、両差信号のレベルを一致すべく規格化が行
われる。そして、それぞれ規格化された両差信号を合成
器１２により合成し、これがフォーカスエラー信号とし
て出力される。
【０００９】したがって、くさびプリズムにおいてビー
ムを分割した際に両ビームＢ１，Ｂ２の光量が均等でな
い場合、あるいは２つの受光部８１，８２の感度にバラ
ツキが生じているような場合に、各受光部８１，８２か
ら得られる差信号の振幅が図７（ｃ）のように互いにア
ンバランスな状態とされていてモ、各差信号の利得を個
々に調整することで、図７（ｂ）のようにほぼ振幅のそ
ろったＳ字特性とすることができる。その後、両差信号
の合成をすることで、オフセットをキャンセルしたフォ
ーカスエラー信号を検出することができる。
ムを分割した際に両ビームＢ１，Ｂ２の光量が均等でな
い場合、あるいは２つの受光部８１，８２の感度にバラ
ツキが生じているような場合に、各受光部８１，８２か
ら得られる差信号の振幅が図７（ｃ）のように互いにア
ンバランスな状態とされていてモ、各差信号の利得を個
々に調整することで、図７（ｂ）のようにほぼ振幅のそ
ろったＳ字特性とすることができる。その後、両差信号
の合成をすることで、オフセットをキャンセルしたフォ
ーカスエラー信号を検出することができる。
【００１０】ここで、利得調整回路は２つの受光部の差
信号のうちの一方の差信号に対してのみに設け、２つの
和信号出力の比に基づいてその利得を他方の差信号に合
わせて調整しても、両差信号の振幅の均等化が実現でき
る。なお、前記実施形態において、集光光学系は前記し
たようなコリメート系でもよいし、有限系の集光レンズ
を用いてもよい。また、光ディスク反射光の分離に偏光
ビームスプリッタと１／４波長板によるアイソレータ構
成を用いてもよい。
信号のうちの一方の差信号に対してのみに設け、２つの
和信号出力の比に基づいてその利得を他方の差信号に合
わせて調整しても、両差信号の振幅の均等化が実現でき
る。なお、前記実施形態において、集光光学系は前記し
たようなコリメート系でもよいし、有限系の集光レンズ
を用いてもよい。また、光ディスク反射光の分離に偏光
ビームスプリッタと１／４波長板によるアイソレータ構
成を用いてもよい。
【００１１】また、光ディスクの反射光を分割するビー
ムの分割用のプリズム７は、図３（ａ）のように分割線
と平行方向に屈折するくさびプリズム７Ａでもよい。こ
の場合は、図３（ｂ）のように、各受光部８１Ａ，８２
Ａにおける受光面の分割線が同一直線上に位置された配
置の光検出器８Ａを用いることになる。なお、このよう
なビーム分割に用いるプリズムは、プラスチックモール
ド技術等で容易に製作可能であり、迷光が発生しにくい
利点がある。あるいは、単純な２分割だけでなく、図３
（ｃ）に示すビーム分割素子１３のように、ビームを４
分割する構成とし、分割したビームのうち２つのビーム
を利用する構成としてもよい。
ムの分割用のプリズム７は、図３（ａ）のように分割線
と平行方向に屈折するくさびプリズム７Ａでもよい。こ
の場合は、図３（ｂ）のように、各受光部８１Ａ，８２
Ａにおける受光面の分割線が同一直線上に位置された配
置の光検出器８Ａを用いることになる。なお、このよう
なビーム分割に用いるプリズムは、プラスチックモール
ド技術等で容易に製作可能であり、迷光が発生しにくい
利点がある。あるいは、単純な２分割だけでなく、図３
（ｃ）に示すビーム分割素子１３のように、ビームを４
分割する構成とし、分割したビームのうち２つのビーム
を利用する構成としてもよい。
【００１２】図４は本発明の第２の実施形態を示す図で
あり、特にフォーカスエラー検出系のみを図示したもの
である。この実施形態では、ビーム分割の機能をビーム
の回折動作を行うホログラム光学素子で構成したもので
ある。同図において、光ディスク５の反射光は収束レン
ズ６で収束された上でホログラム光学素子１４で回折さ
れ、その透過光は光検出器１５で検出されて再生用信号
として用いられ、±１次回折光が光検出器８の各受光部
８１，８２において検出されてフォーカスエラー信号と
して用いられる。この実施形態では、ホログラム光学素
子１４の厚さが薄いため、小型の光学系を構成し易い利
点がある。
あり、特にフォーカスエラー検出系のみを図示したもの
である。この実施形態では、ビーム分割の機能をビーム
の回折動作を行うホログラム光学素子で構成したもので
ある。同図において、光ディスク５の反射光は収束レン
ズ６で収束された上でホログラム光学素子１４で回折さ
れ、その透過光は光検出器１５で検出されて再生用信号
として用いられ、±１次回折光が光検出器８の各受光部
８１，８２において検出されてフォーカスエラー信号と
して用いられる。この実施形態では、ホログラム光学素
子１４の厚さが薄いため、小型の光学系を構成し易い利
点がある。
【００１３】図５（ａ）は本発明の第３の実施形態を示
すブロック図であり、ここでは本発明をスポットサイズ
法に適用した例を示している。図示を省略したレーザ光
源からのレーザ光が光ディスク５で反射され、その反射
光は、収束レンズ６とホログラム光学素子１４により、
光検出器８Ｂの２つの受光部８１Ｂ，８２Ｂの各受光面
に対して前方と後方に焦点を持つ２つのビームに分けら
れる。図５（ｂ）のように、２つの受光部８１Ｂ，８２
Ｂの各受光面はそれぞれ２つの平行な分割線により３つ
の分割受光面８１ｃ〜８１ｅ，８２ｃ〜８２ｅに分けら
れており、外側の２つの分割受光面８１ｄ，８１ｅと８
２ｄ，８２ｅは電気的に接続されており、内側の分割受
光面８１ｃ，８２ｃと、これら外側の分割受光面の２分
割型として機能する。焦点ずれ量が変化すると、各受光
部８１Ｂ，８２Ｂの受光面の出力の差信号よりＳ字特性
が得られる。Ｓ字はフーコー法同様に逆極性となるの
で、各受光部の受光面の和信号で利得調整回路１１Ａ，
１１Ｂを制御して規格化を行い、合成器１２により合成
することで、オフセットの少ない良好なフォーカスエラ
ー信号を得ることができる。この実施形態においても、
ビームの分割としてプリズムを用いることも可能であ
る。
すブロック図であり、ここでは本発明をスポットサイズ
法に適用した例を示している。図示を省略したレーザ光
源からのレーザ光が光ディスク５で反射され、その反射
光は、収束レンズ６とホログラム光学素子１４により、
光検出器８Ｂの２つの受光部８１Ｂ，８２Ｂの各受光面
に対して前方と後方に焦点を持つ２つのビームに分けら
れる。図５（ｂ）のように、２つの受光部８１Ｂ，８２
Ｂの各受光面はそれぞれ２つの平行な分割線により３つ
の分割受光面８１ｃ〜８１ｅ，８２ｃ〜８２ｅに分けら
れており、外側の２つの分割受光面８１ｄ，８１ｅと８
２ｄ，８２ｅは電気的に接続されており、内側の分割受
光面８１ｃ，８２ｃと、これら外側の分割受光面の２分
割型として機能する。焦点ずれ量が変化すると、各受光
部８１Ｂ，８２Ｂの受光面の出力の差信号よりＳ字特性
が得られる。Ｓ字はフーコー法同様に逆極性となるの
で、各受光部の受光面の和信号で利得調整回路１１Ａ，
１１Ｂを制御して規格化を行い、合成器１２により合成
することで、オフセットの少ない良好なフォーカスエラ
ー信号を得ることができる。この実施形態においても、
ビームの分割としてプリズムを用いることも可能であ
る。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、光記録媒
体からの反射光を分割してそれぞれを受光部において受
光してフォーカスエラー信号を得るに際し、受光面が少
なくとも２つに分割されている各受光部において、分割
された受光面の差信号と和信号をとり、かつこの差信号
をそれぞれの和信号出力によりレベルを均等化した上
で、各差信号を合成して各差信号にそれぞれ生じるオフ
セットを相殺したフォーカスエラー信号を生成している
ので、反射光を分割した際の両分割光の光量のアンバラ
ンスや、分割光をそれぞれ受光する受光部での受光感度
の変化等に影響されることがなくなり、オフセットがキ
ャンセルされたフォーカスエラー信号を得ることがで
き、高精度のフォーカス制御が実現できる効果がある。
体からの反射光を分割してそれぞれを受光部において受
光してフォーカスエラー信号を得るに際し、受光面が少
なくとも２つに分割されている各受光部において、分割
された受光面の差信号と和信号をとり、かつこの差信号
をそれぞれの和信号出力によりレベルを均等化した上
で、各差信号を合成して各差信号にそれぞれ生じるオフ
セットを相殺したフォーカスエラー信号を生成している
ので、反射光を分割した際の両分割光の光量のアンバラ
ンスや、分割光をそれぞれ受光する受光部での受光感度
の変化等に影響されることがなくなり、オフセットがキ
ャンセルされたフォーカスエラー信号を得ることがで
き、高精度のフォーカス制御が実現できる効果がある。
【図１】本発明の第１の実施形態の構成図である。
【図２】第１の実施形態における光検出器の配置図であ
る。
る。
【図３】ビーム分割素子や光検出器の変形例を示す図で
ある。
ある。
【図４】本発明の第２の実施形態の要部の構成図であ
る。
る。
【図５】本発明の第３の実施形態の構成図とその光検出
器の配置図である。
器の配置図である。
【図６】従来の光ヘッドの一例を示す構成図である。
【図７】フォーカスエラー信号の形態を示す図である。
１ レーザ光源 ２ コリメートレンズ ３ ビームスプリッタ ４ 集光レンズ ５ 光ディスク ６ 収束レンズ ７ くさびプリズム ８ 光検出器 ９Ａ，９Ｂ 減算器 １０Ａ，１０Ｂ 加算器 １１Ａ，１１Ｂ 利得調整回路 １２ 合成器 １３ ビーム分割素子 １４ ホログラム光学素子 ８１，８２ 受光部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G11B 7/09 - 7/095 G02B 7/11 G03B 3/00
Claims (6)
- 【請求項１】 レーザ光源の出射光を微小スポットとし
て光記録媒体に集光し、この集光点からの反射光を分割
してそれぞれ少なくとも２つの受光部において受光し、
この受光部の出力に基づいてフォーカスエラー信号を生
成する光ヘッド装置において、前記各受光部は受光面が
少なくとも２つに分割されるとともに、各受光部にはそ
れぞれの分割された受光面の差信号と和信号をとる手段
と、前記各受光部の前記差信号をそれぞれの和信号出力
によりレベルを均等化する手段と、前記均等化された各
受光部の差信号を合成して前記各差信号にそれぞれ生じ
るオフセットを相殺したフォーカスエラー信号を生成す
る手段とを備えることを特徴とする光ヘッドのフォーカ
スエラー検出方式。 - 【請求項２】 前記受光部の受光面は分割線によって２
つに分離されており、前記分割線上に反射光が集光され
る請求項１に記載の光ヘッドのフォーカスエラー検出方
式。 - 【請求項３】 前記受光部の受光面が略平行な分割線に
よって３つの分離されており、前記３分割された受光面
のうち外側の２つは電気的に短絡され、中央の分割受光
面と、前記短絡された外側の分割受光面の差信号と和信
号に基づいて前記フォーカスエラー信号を得る請求項１
に記載の光ヘッドのフォーカスエラー検出方式。 - 【請求項４】 前記３つの分離された分割受光面にわた
って反射光が集光され、かつ各受光部はその反射光の焦
点の前方位置と後方位置にそれぞれ設置されてなる請求
項３に記載の光ヘッドのフォーカスエラー検出方式。 - 【請求項５】 前記反射光を分割する素子として、プリ
ズム素子を有する請求項１ないし４のいずれかに記載の
光ヘッドのフォーカスエラー検出方式。 - 【請求項６】 前記反射光を分離する素子として、ホロ
グラム光学素子を有する請求項１ないし４のいずれかに
記載の光ヘッドフォーカスエラー検出方式。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8236950A JP2874663B2 (ja) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | 光ヘッドのフォーカスエラー検出方式 |
| EP97115455A EP0829857A3 (en) | 1996-09-06 | 1997-09-05 | Focus error detection system for an optical head |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8236950A JP2874663B2 (ja) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | 光ヘッドのフォーカスエラー検出方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1083541A JPH1083541A (ja) | 1998-03-31 |
| JP2874663B2 true JP2874663B2 (ja) | 1999-03-24 |
Family
ID=17008168
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8236950A Expired - Fee Related JP2874663B2 (ja) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | 光ヘッドのフォーカスエラー検出方式 |
Country Status (2)
| Country | Link |
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| JP (1) | JP2874663B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6996038B2 (en) | 2003-01-14 | 2006-02-07 | Funai Electric Co., Ltd. | Optical disc apparatus |
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| NL8403034A (nl) * | 1984-10-05 | 1986-05-01 | Philips Nv | Opto-elektronisch fokusfout-detektiestelsel. |
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| US5249116A (en) * | 1991-02-28 | 1993-09-28 | U.S. Philips Corporation | Digital control system and a sub-circuit to be used in the control system |
| WO1997023871A1 (en) * | 1995-12-21 | 1997-07-03 | Philips Electronics N.V. | Optical scanning device |
-
1996
- 1996-09-06 JP JP8236950A patent/JP2874663B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-09-05 EP EP97115455A patent/EP0829857A3/en not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6996038B2 (en) | 2003-01-14 | 2006-02-07 | Funai Electric Co., Ltd. | Optical disc apparatus |
Also Published As
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|---|---|
| EP0829857A2 (en) | 1998-03-18 |
| JPH1083541A (ja) | 1998-03-31 |
| EP0829857A3 (en) | 2000-01-12 |
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