JPH04266168A - 論理検証方式 - Google Patents

論理検証方式

Info

Publication number
JPH04266168A
JPH04266168A JP3027035A JP2703591A JPH04266168A JP H04266168 A JPH04266168 A JP H04266168A JP 3027035 A JP3027035 A JP 3027035A JP 2703591 A JP2703591 A JP 2703591A JP H04266168 A JPH04266168 A JP H04266168A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
level
circuit
logical connection
signal
connection level
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3027035A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoshi Tobinaga
飛永 聡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Solution Innovators Ltd
Original Assignee
NEC Software Hokuriku Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Software Hokuriku Ltd filed Critical NEC Software Hokuriku Ltd
Priority to JP3027035A priority Critical patent/JPH04266168A/ja
Publication of JPH04266168A publication Critical patent/JPH04266168A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は論理検証方式に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の論理検証方式は、機能レベルと論
理接続レベルの回路についてシミュレーション結果を比
較して、比較端のシミュレーション結果を表示し、結果
が一致か不一致かの表示を行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の論理検
証方式は、比較端においてシミュレーション結果に不一
致が存在した場合、シミュレーション結果より機能レベ
ルあるいは論理接続レベルの回路を解析して回路の論理
ミスを検出していたため、解析に多大な時間を費やすこ
とになり、開発期間が増大していたという欠点がある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の論理検証方式は
、機能レベルの回路をシミュレーションし、論理接続レ
ベルの回路をシミュレーションし、機能レベルと論理接
続レベルのシミュレーション結果を比較し、機能レベル
の回路についてファンイントレースし、機能レベルの信
号と対応する論理接続レベルの信号を求め、機能レベル
と論理接続レベルの信号の状態値を比較し、比較した信
号と状態値を出力する手段とを含んで構成される。
【0005】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例を示すフローチャートであ
る。
【0006】ステップS1では、機能レベルの回路につ
いて入力端子に入力パターンを設定してシミュレーショ
ン(1)を行う。ステップS2では、論理接続レベルの
回路について入力端子にシミュレーション部1で設定し
た入力パターンを設定してシミュレーション(2)を行
う。ステップS3では、機能レベルと論理接続レベルの
比較端のシミュレーション結果を比較して、結果に不一
致が発生している比較端の信号名を出力する。ステップ
S4では、結果比較部3で出力された信号名より機能レ
ベルの回路をファンイントレースし、不一致が発生して
いる比較端に影響を与える全ての信号を求める。ステッ
プS5では、トレース部4で求める機能レベルの信号名
より対応する論理接続レベルの信号名を求める。
【0007】ステップS6では、トレース部4で求めた
機能レベルの信号の状態値をシミュレーション部1でシ
ミュレーションした結果より取り出し、信号抽出部5で
求めた論理接続レベルの信号の状態値をシミュレーショ
ン部2でシミュレーションした結果より取り出し、状態
値を比較する。ステップS5,ステップS6の処理を比
較端である出力信号より入力端子に至るまでの内部信号
について行い、状態値の結果が一致した場合に以降の処
理を行う。ステップS7では、状態値の結果が一致した
機能レベルの信号名とこれに対応する論理接続レベルの
信号名、それに状態値を出力する。また、出力した機能
レベルの信号のファンアウト先の信号名とこの信号に対
応する論理接続レベルの信号名、それにそれの状態値を
出力する。
【0008】図2および図3は、図1に示す論理検証方
式の一使用例を示す模式図である。図2は機能レベルの
回路M1を示し、図3は論理接続レベルの回路M2を示
す。
【0009】機能レベルの回路M1の入力端子に入力パ
ターンを設定して、シミュレーションを行う論理接続レ
ベルの回路M2の入力端子に機能レベルのシミュレーシ
ョンに使用した入力パターンを設定して、シミュレーシ
ョンを行う。そして、回路M1と回路M2の出力端子の
シミュレーション結果を比較し、その結果、回路M1の
出力端子ZとZに対応する回路M2の出力端子Z+00
のシミュレーション結果に不一致が検出されたとする。 回路M1の出力端子Zよりファンイントレースを行い、
出力端子Zに影響を与える信号D,C,A,Bを求める
【0010】まず、ファンイントレースによって求めた
機能レベルの信号Dについて、対応する論理接続レベル
の信号D+00を求める。そして、回路M1のシミュレ
ーション結果よりDの状態値を取り出し、回路M2のシ
ミュレーション結果よりD+00の状態値を取り出して
状態値の比較を行う。比較した結果不一致だったとする
と、ファンイントレースした信号よりDのファンインで
あるCについて同様の処理を行い、Cに対応する論理接
続レベルの信号C+00を求めCの状態値とC+00の
状態値を比較する。
【0011】CとC+00を比較した結果状態値が一致
していたとすると、信号名CとC+00,それに状態値
を出力し、また、Cのファンアウト先の信号であるDと
Dに対応する論理接続レベルの信号D+00,それにD
とD+00の状態値を出力する。この結果、設計者は機
能レベルの回路M1のCからD,あるいは論理接続レベ
ルの回路M2のC+00からD+00の間に論理ミスが
あることが容易に発見でき、その時の状態値も出力され
ているので、解析も容易に行える。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、一度の論
理検証を行うことにより、機能レベルと論理接続レベル
の回路において、検証結果に不一致が発生する原因とな
る回路の箇所を検出することができるので、容易に回路
の解析を行うことが可能となり、開発期間の工数を大幅
に削減することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すフローチャートである
【図2】図1に示す論理検証方式の一使用例を示す模式
図である。
【図3】図1に示す論理検証方式の一使用例を示す模式
図である。
【符号の説明】
M1    機能レベルの回路 M2    論理接続レベルの回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  機能レベルの回路をシミュレーション
    し、論理接続レベルの回路をシミュレーションし、機能
    レベルと論理接続レベルのシミュレーション結果を比較
    し、機能レベルの回路についてファンイントレースし、
    機能レベルの信号と対応する論理接続レベルの信号を求
    め、機能レベルと論理接続レベルの信号の状態値を比較
    し、比較した信号と状態値を出力する手段を含むことを
    特徴とする論理検証方式。
JP3027035A 1991-02-21 1991-02-21 論理検証方式 Pending JPH04266168A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3027035A JPH04266168A (ja) 1991-02-21 1991-02-21 論理検証方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3027035A JPH04266168A (ja) 1991-02-21 1991-02-21 論理検証方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04266168A true JPH04266168A (ja) 1992-09-22

Family

ID=12209814

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3027035A Pending JPH04266168A (ja) 1991-02-21 1991-02-21 論理検証方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04266168A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6370675B1 (en) Semiconductor integrated circuit design and evaluation system using cycle base timing
US6249891B1 (en) High speed test pattern evaluation apparatus
JPH04266168A (ja) 論理検証方式
JPH07121576A (ja) 故障シミュレーション装置
JPH09153073A (ja) シミュレーション装置およびその方法
JP3098507B2 (ja) 論理検証方式及びその方法
JP2943161B2 (ja) 故障シミュレーション方法
JP2749749B2 (ja) 論理回路の遅延検証方法
JP3171236B2 (ja) 入力端子競合パターン検出システム
JP2830579B2 (ja) 論理シミュレーション装置
JPS61187047A (ja) 論理回路シミユレ−シヨン方式
JP2606654B2 (ja) 論理シミュレーション方法
CN117370168A (zh) 设置逻辑系统设计的仿真还原点的方法及相关设备
JP2797955B2 (ja) 期待値照合装置および方法
JPH0540151A (ja) スキヤン経路故障診断法
JPS6375576A (ja) 集積回路の故障検出装置
JPH0561935A (ja) 論理シミユレーシヨン方式
JPH1183945A (ja) 論理回路の故障診断方式
JPH09231255A (ja) ハードウエア/ソフトウエア協調検証方式
JPH05120369A (ja) 回路シミユレータ用ライブラリーの動作検証方法
JPH04153776A (ja) 論理回路検証方式
JPH04370775A (ja) Lsi試験システム
JPH04318678A (ja) 論理設計検証システム
JPH02297080A (ja) 集積回路マスクパターン検証方法
JPH10227842A (ja) テストパターン生成装置