JPH04263455A - 半導体パッケージのレーザマーク消去方法及びその装置 - Google Patents

半導体パッケージのレーザマーク消去方法及びその装置

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JPH04263455A
JPH04263455A JP4622291A JP4622291A JPH04263455A JP H04263455 A JPH04263455 A JP H04263455A JP 4622291 A JP4622291 A JP 4622291A JP 4622291 A JP4622291 A JP 4622291A JP H04263455 A JPH04263455 A JP H04263455A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor package
erasing
laser mark
laser
head
Prior art date
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Pending
Application number
JP4622291A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuichi Shirouchi
城内 雄一
Noriki Iwasaki
岩崎 範樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
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Publication of JPH04263455A publication Critical patent/JPH04263455A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体パッケージの表
面に形成されたレーザマークを消去する方法とそれを行
う装置とに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体パッケージの表面には、その品種
を示すマークが形成されている。かかるマークには、イ
ンクを使用するインクマーキング方式と、レーザビーム
を半導体パッケージの表面に照射してマークを形成する
レーザマーキング方式とがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】半導体パッケージに形
成すべきマークを誤って形成した場合には、マークの消
去が必要になる。インクマーキング方式の場合は、溶剤
でマークを除去することが可能であるが、レーザマーキ
ング方式の場合は、半導体パッケージの表面を約10μ
m 程度掘ってマークを形成しているため、溶剤では消
去できない。このため、レーザマーキング方式によるマ
ークは消去することが不可能であり、レーザマーキング
方式の導入の1つの大きな障害になっている。
【0004】本発明は上記事情に鑑みて創案されたもの
で、半導体パッケージの表面にレーザマーキング方式で
形成されたマークを消去することが可能な半導体パッケ
ージのレーザマーク消去方法及びその装置を提供するこ
とを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体パッ
ケージのレーザマーク消去方法は、半導体パッケージの
表面に形成されたレーザマークに切削材を接触させつつ
往復移動させ、半導体パッケージの表面を10μm 前
後切削する。また、本発明に係る半導体パッケージのレ
ーザマーク消去装置は、半導体パッケージを固定する固
定ステージと、この固定ステージを半導体パッケージの
交換作業を行う取出位置と半導体パッケージの表面に形
成されたレーザマークの消去作業を行う消去位置との間
で移動させるステージ移動部と、前記レーザマークを消
去することができる切削材が設けられた消去ヘッドと、
前記消去位置において切削材をレーザマークに接触させ
た状態で消去ヘッドを往復移動させる消去ヘッド移動部
とを備えている。
【0006】
【実施例】図1は本発明の一実施例に係る半導体パッケ
ージのレーザマーク消去装置の概略的斜視図、図2はこ
の半導体パッケージのレーザマーク消去装置の側面図、
図3はこの半導体パッケージのレーザマーク消去装置の
正面図、図4はこの半導体パッケージのレーザマーク消
去装置の平面図、図5は他の実施例に係る半導体パッケ
ージのレーザマーク消去装置の概略的斜視図である。
【0007】本実施例に係る半導体パッケージのレーザ
マーク消去装置は、半導体パッケージ800 を固定す
る固定ステージ100 と、この固定ステージ100 
を半導体パッケージ800 の交換作業を行う取出位置
Aと半導体パッケージ800 の表面に形成されたレー
ザマーク (図示省略) の消去作業を行う消去位置B
との間で移動させるステージ移動部200 と、前記レ
ーザマークを消去することができる切削材310が設け
られた消去ヘッド300 と、前記消去位置Bにおいて
切削材310 をレーザマークに接触させた状態で消去
ヘッド300 を往復移動させる消去ヘッド移動部40
0 とを備えている。
【0008】前記固定ステージ100 は、半導体パッ
ケージを固定するものであって、上面に半導体パッケー
ジ800 が嵌まり込む凹部110 が形成されている
。この凹部110 の4隅には、位置決め爪120 が
設けられており、嵌め込まれた半導体パッケージ800
 が不用意に動かないようになっている。
【0009】前記固定ステージ100 は、ステージ移
動部200 によって取出位置Aと消去位置Bとの間で
移動可能になっている。消去位置Bとは半導体パッケー
ジ800 のレーザマークの消去作業を行う位置をいい
、具体的には後述する消去ヘッド300 の真下であっ
て、図2及び図4において一点鎖線で示す位置である。 また、取出位置Aとは、レーザマークの消去が終了した
半導体パッケージ800 を消去していない半導体パッ
ケージ800 と交換する位置をいい、図1における固
定ステージ100 の位置である。
【0010】かかるステージ移動部200 は、固定ス
テージ100 を上面に取付固定するスライドブロック
210 と、このスライドブロック210 を貫通した
2本のガイド220 と、前記スライドブロック210
 を移動させるシリンダ230 とを有している。前記
ガイド220 は、両端をガイド台221 によってベ
ース板500 の上に取り付けられている。 さらに、シリンダ230 は、2本のガイド220の間
にガイド220 に沿ってベース板500 の上に設け
られており、シリンダジョイント231 によって前記
スライドブロック210 の底面に連結されている。
【0011】消去ヘッド300 には、砂入り硬質ゴム
等からなる切削材310 と、この切削材310 によ
って半導体パッケージ800 から削り取られた切削滓
を半導体パッケージ800 から除去するブラシ320
 と、このブラシ320 を回転駆動させるブラシ用モ
ータ330 と、前記切削滓を吸い込む吸引部340 
とを有している。
【0012】前記切削材310 は、消去ヘッド300
 の底面から一部を突出させて交換可能に取り付けられ
ている。 ブラシ320 も消去ヘッド300 の底面から一部を
突出させて軸321 によって回転可能に取り付けられ
ている。また、ブラシ用モータ330 は、消去ヘッド
300 の上面に設けられたモータ取付部301 に取
り付けられており、プーリ331 及びベルト332 
を介して前記ブラシ320 を回転させる。
【0013】上述したような消去ヘッド300 を移動
させる消去ヘッド移動部400 は、消去ヘッド300
 を上下方向に移動させるZ方向移動部410 と、消
去ヘッド300 を前記ガイド220 に沿った方向に
移動させるX方向移動部420 と、消去ヘッド300
 を前記ガイド220 とは直交する方向に移動させる
Y方向移動部430を有している。
【0014】前記Y方向移動部430 は、ベース板5
00 の上に設けられたガイド部431 と、このガイ
ド部431 にガイドされてY方向に移動するY方向移
動台432 と、このY方向移動台432 の貫通孔 
(図示省略) を貫通したボールネジ433 と、この
ボールネジ433 を回転させるY方向用モータ434
 とを有している。
【0015】また、前記X方向移動部420 は、前記
Y方向移動台432 の上に設けられたガイド部421
 と、このガイド部421 にガイドされてY方向に移
動するX方向移動台422 と、このX方向移動台42
2 の貫通孔 (図示省略) を貫通したボールネジ4
23 と、このボールネジ423 を回転させるX方向
用モータ424とを有している。
【0016】さらに、前記Z方向移動部410 は、前
記X方向移動台422 の上に設けられたガイド部41
1 と、このガイド部411にガイドされて上下方向、
すなわちZ方向に移動するZ方向移動台412 と、こ
のZ方向移動台412 の貫通孔 (図示省略) を貫
通したボールネジ (図示省略) と、このボールネジ
を回転させるZ方向用モータ414 とを有している。
【0017】前記消去ヘッド300 は、Z方向移動台
412 に取り付けられているから、消去ヘッド移動部
400 はX方向移動部420 、Y方向移動部430
 及びZ方向移動部410 を作動させることよって消
去ヘッド300 をX方向、Y方向及びZ方向に移動さ
せることができる。
【0018】なお、図面中600 は操作部を示し、7
00 はステージ移動部200 及び消去ヘッド移動部
400 を制御する制御部を示している。
【0019】次に、上述した構成の半導体パッケージの
レーザマーク消去装置の動作について説明する。取出位
置Aにある固定ステージ100 の凹部110 に誤っ
たレーザマークが施された半導体パッケージ800 を
嵌め込む。そして、当該固定ステージ100 をステー
ジ移動部200 によって消去位置まで移動させる。な
お、半導体パッケージ800 の凹部110 に対する
嵌め込みは、オペレータによる手作業であってもよいし
、図外のロボットハンド等で行ってもよい。
【0020】消去ヘッド移動部400 のうちZ方向移
動部410 によって、切削材310 が半導体パッケ
ージ800 の表面のレーザマークに接触させられる。 この際の接触圧は、半導体パッケージ800 や切削材
310 の材質等に応じて設定される。
【0021】この状態で、X方向移動部420 及びY
方向移動部430 を作動させることにより、半導体パ
ッケージ800 のレーザマークの上を切削材310 
を往復移動させる。移動させる回数やスピード等は、半
導体パッケージ800 の表面を約10μm 前後切削
することができるような値に設定される。回数やスピー
ド等の値は、半導体パッケージ800 や切削材310
 の材質のみならず、切削材310 の摩耗具合等も考
慮されて設定される。
【0022】レーザマークの消去が完了したならば、消
去ヘッド移動部400 の作動を停止させ、ステージ移
動部200 によって固定ステージ100 を消去位置
Bから取出位置Aに移動させて次の半導体パッケージ8
00 と交換する。
【0023】上述した半導体パッケージのレーザマーク
消去装置は、消去ヘッド移動部400 で切削材310
 を動かしたが、図5に示すようなものであってもよい
。すなわち、固定ステージ100 のみで、オペレータ
が切削材310 を手に持って消しゴムのようにしてレ
ーザマークを消去するのである。
【0024】
【発明の効果】本発明に係る半導体パッケージのレーザ
マーク消去方法は、今まで消去不能であった半導体パッ
ケージのレーザマークを消去することが可能であるので
、レーザマーキング方式の導入を促進することができる
。また、半導体パッケージのレーザマーク消去装置は、
熟練者でなくとも容易にレーザマークを消去することが
可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る半導体パッケージのレ
ーザマーク消去装置の概略的斜視図である。
【図2】この半導体パッケージのレーザマーク消去装置
の側面図である。
【図3】この半導体パッケージのレーザマーク消去装置
の正面図である。
【図4】この半導体パッケージのレーザマーク消去装置
の平面図である。
【図5】他の実施例に係る半導体パッケージのレーザマ
ーク消去装置の概略的斜視図である。
【符号の説明】
100   固定ステージ 200   ステージ移動部 300   消去ヘッド 310   切削材 400   消去ヘッド移動部 800   半導体パッケージ A    取出位置 B    消去位置

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  半導体パッケージの表面に形成された
    レーザマークに切削材を接触させつつ往復移動させ、半
    導体パッケージの表面を10μm 前後切削することを
    特徴とする半導体パッケージのレーザマーク消去方法。
  2. 【請求項2】  半導体パッケージを固定する固定ステ
    ージと、この固定ステージを半導体パッケージの交換作
    業を行う取出位置と半導体パッケージの表面に形成され
    たレーザマークの消去作業を行う消去位置との間で移動
    させるステージ移動部と、前記レーザマークを消去する
    ことができる切削材が設けられた消去ヘッドと、前記消
    去位置において切削材をレーザマークに接触させた状態
    で消去ヘッドを往復移動させる消去ヘッド移動部とを具
    備したことを特徴とする半導体パッケージのレーザマー
    ク消去装置。
JP4622291A 1991-02-18 1991-02-18 半導体パッケージのレーザマーク消去方法及びその装置 Pending JPH04263455A (ja)

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JP4622291A JPH04263455A (ja) 1991-02-18 1991-02-18 半導体パッケージのレーザマーク消去方法及びその装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1779286A2 (en) * 2004-06-30 2007-05-02 GSI Lumonics Corporation Laser-based method and system for processing targeted surface material and article produced thereby

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1779286A2 (en) * 2004-06-30 2007-05-02 GSI Lumonics Corporation Laser-based method and system for processing targeted surface material and article produced thereby
EP1779286B1 (en) * 2004-06-30 2012-03-21 GSI Lumonics Corporation Laser-based method and system for processing targeted surface material and article produced thereby

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