JPH04253018A - 走査型顕微鏡 - Google Patents
走査型顕微鏡Info
- Publication number
- JPH04253018A JPH04253018A JP987091A JP987091A JPH04253018A JP H04253018 A JPH04253018 A JP H04253018A JP 987091 A JP987091 A JP 987091A JP 987091 A JP987091 A JP 987091A JP H04253018 A JPH04253018 A JP H04253018A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- signal
- scanning
- illumination light
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 28
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 37
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 abstract description 17
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 39
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 11
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 2
- 208000025174 PANDAS Diseases 0.000 description 1
- 208000021155 Paediatric autoimmune neuropsychiatric disorders associated with streptococcal infection Diseases 0.000 description 1
- 240000000220 Panda oleosa Species 0.000 description 1
- 235000016496 Panda oleosa Nutrition 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光学式の走査型顕微鏡に
関し、特に詳細には、試料が載置される試料台と、照明
光を試料に照射する光学系とを相対的に移動させて、照
明光を試料上において走査させるようにした走査型顕微
鏡に関するものである。
関し、特に詳細には、試料が載置される試料台と、照明
光を試料に照射する光学系とを相対的に移動させて、照
明光を試料上において走査させるようにした走査型顕微
鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、照明光を微小な光点に収束さ
せ、この光点を試料上において2次元的に走査させ、そ
の際該試料を透過した光あるいはそこで反射した光、さ
らには試料から生じた蛍光を光検出器で検出して、試料
の拡大像を担持する電気信号を得るようにした光学式走
査型顕微鏡が公知となっている。なお特開昭62−21
7218号公報には、この走査型顕微鏡の一例が示され
ている。
せ、この光点を試料上において2次元的に走査させ、そ
の際該試料を透過した光あるいはそこで反射した光、さ
らには試料から生じた蛍光を光検出器で検出して、試料
の拡大像を担持する電気信号を得るようにした光学式走
査型顕微鏡が公知となっている。なお特開昭62−21
7218号公報には、この走査型顕微鏡の一例が示され
ている。
【0003】従来の光学式走査型顕微鏡においては、上
記走査機構として、照明光ビームを光偏向器によって2
次元的に偏向させる機構が多く用いられていた。
記走査機構として、照明光ビームを光偏向器によって2
次元的に偏向させる機構が多く用いられていた。
【0004】しかしこの機構においては、ガルバノメー
タミラーやAOD(音響光学光偏向器)等の高価な光偏
向器が必要であるという難点が有る。またこの機構にお
いては、照明光ビームを光偏向器で振るようにしている
から、送光光学系の対物レンズにはこの光ビームが刻々
異なる角度で入射することになり、それによる収差を補
正するために対物レンズの設計が困難になるという問題
も認められている。特にAODを使用した場合には、対
物レンズ以外にもAODから射出した光束に非点収差が
生ずるため特殊な補正レンズが必要となり、光学系をよ
り複雑なものとしている。
タミラーやAOD(音響光学光偏向器)等の高価な光偏
向器が必要であるという難点が有る。またこの機構にお
いては、照明光ビームを光偏向器で振るようにしている
から、送光光学系の対物レンズにはこの光ビームが刻々
異なる角度で入射することになり、それによる収差を補
正するために対物レンズの設計が困難になるという問題
も認められている。特にAODを使用した場合には、対
物レンズ以外にもAODから射出した光束に非点収差が
生ずるため特殊な補正レンズが必要となり、光学系をよ
り複雑なものとしている。
【0005】上記の点に鑑み従来より、照明光ビームは
偏向させないで照明光光点の走査を行なうことが考えら
れている。例えば、本出願人による特願平1−2469
46号明細書には、送光光学系を移動台に搭載し、この
移動台を試料台に対して相対的に移動させることにより
、照明光光点の走査を行なうことが示されている。
偏向させないで照明光光点の走査を行なうことが考えら
れている。例えば、本出願人による特願平1−2469
46号明細書には、送光光学系を移動台に搭載し、この
移動台を試料台に対して相対的に移動させることにより
、照明光光点の走査を行なうことが示されている。
【0006】そして、このように光学系と試料台とを相
対的に移動させる具体的な機構の1つとして、本出願人
による特願平2−198550号明細書に示されるよう
に、光学系あるいは試料台を先端部に保持する音叉と、
この音叉に強さが周期的に変化する磁界を作用させて該
音叉を振動させる電磁石とから構成されたものが提案さ
れている。このような移動機構は、例えばピエゾ素子や
超音波振動子等を利用した移動機構に比べれば、光学系
の相対移動幅すなわち照明光走査幅(これは音叉の振幅
によって定まる)を大きく取れるので、走査型顕微鏡の
撮像範囲をより大きく確保する上で有利となっている。
対的に移動させる具体的な機構の1つとして、本出願人
による特願平2−198550号明細書に示されるよう
に、光学系あるいは試料台を先端部に保持する音叉と、
この音叉に強さが周期的に変化する磁界を作用させて該
音叉を振動させる電磁石とから構成されたものが提案さ
れている。このような移動機構は、例えばピエゾ素子や
超音波振動子等を利用した移動機構に比べれば、光学系
の相対移動幅すなわち照明光走査幅(これは音叉の振幅
によって定まる)を大きく取れるので、走査型顕微鏡の
撮像範囲をより大きく確保する上で有利となっている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで従来の走査型
顕微鏡の多くは、試料からの光を検出する光検出器の連
続出力を信号処理手段に入力し、そこでこの出力をサン
プリング、量子化して、1主走査ライン毎のデジタル画
像データを得るようにしている。
顕微鏡の多くは、試料からの光を検出する光検出器の連
続出力を信号処理手段に入力し、そこでこの出力をサン
プリング、量子化して、1主走査ライン毎のデジタル画
像データを得るようにしている。
【0008】しかしそのようにする場合、先に述べた音
叉と電磁石の組合せによる照明光走査機構を用いると、
例えば顕微鏡撮影像時にズーミング等のために音叉振幅
を変化させた際に、画像が全体的に照明光主走査方向に
ずれることがある。すなわち、上記電磁石に印加する駆
動電圧の位相と音叉の位相とは必ずしも一致するとは限
らず、音叉振幅を変えるために電磁石の駆動条件、つま
り電圧値やデューティ比等を変化させると音叉の位相が
変化してしまう。そこで、上述のように1主走査ライン
単位の画像データのサンプリング開始タイミングを、従
来なされているように電磁石の駆動電圧の位相に基づい
て規定している場合は、このサンプリング開始タイミン
グが電磁石の駆動条件に応じて変化して、画像が主走査
方向にずれてしまうのである。
叉と電磁石の組合せによる照明光走査機構を用いると、
例えば顕微鏡撮影像時にズーミング等のために音叉振幅
を変化させた際に、画像が全体的に照明光主走査方向に
ずれることがある。すなわち、上記電磁石に印加する駆
動電圧の位相と音叉の位相とは必ずしも一致するとは限
らず、音叉振幅を変えるために電磁石の駆動条件、つま
り電圧値やデューティ比等を変化させると音叉の位相が
変化してしまう。そこで、上述のように1主走査ライン
単位の画像データのサンプリング開始タイミングを、従
来なされているように電磁石の駆動電圧の位相に基づい
て規定している場合は、このサンプリング開始タイミン
グが電磁石の駆動条件に応じて変化して、画像が主走査
方向にずれてしまうのである。
【0009】以上、音叉と電磁石との組合せからなる照
明光走査機構を用いる場合の問題について説明したが、
このような問題は、上記以外の照明光走査機構を用いる
場合でも、走査機構を駆動する信号の位相と移動部の位
相とがずれやすくなっていると、同様に起こり得るもの
である。
明光走査機構を用いる場合の問題について説明したが、
このような問題は、上記以外の照明光走査機構を用いる
場合でも、走査機構を駆動する信号の位相と移動部の位
相とがずれやすくなっていると、同様に起こり得るもの
である。
【0010】そこで本発明は、試料台と光学系とを相対
的に移動させる走査機構を用いた場合に、上述したよう
な画像の主走査方向へのずれが生じることのない走査型
顕微鏡を提供することを目的とするものである。
的に移動させる走査機構を用いた場合に、上述したよう
な画像の主走査方向へのずれが生じることのない走査型
顕微鏡を提供することを目的とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明による走査型顕微
鏡は、試料が載置される試料台と、照明光を試料上に照
射する光学系とを相対的に移動させることにより、この
照明光を試料上において主、副走査させ、この照明光走
査を受けた試料の部分からの光を光検出器により検出し
て試料像を撮像する走査型顕微鏡において、◆前述した
ように光検出器の連続出力をサンプリングして、1主走
査ライン毎のデジタル画像データを得る信号処理手段を
備えた上で、◆光検出器の連続出力の周波数の最小値を
検出して、その検出時に上記信号処理手段にタイミング
信号を送る手段が設けられ、◆上記信号処理手段が、こ
のタイミング信号を受けたときに1主走査ライン毎のサ
ンプリングを開始するように構成されたことを特徴とす
るものである。
鏡は、試料が載置される試料台と、照明光を試料上に照
射する光学系とを相対的に移動させることにより、この
照明光を試料上において主、副走査させ、この照明光走
査を受けた試料の部分からの光を光検出器により検出し
て試料像を撮像する走査型顕微鏡において、◆前述した
ように光検出器の連続出力をサンプリングして、1主走
査ライン毎のデジタル画像データを得る信号処理手段を
備えた上で、◆光検出器の連続出力の周波数の最小値を
検出して、その検出時に上記信号処理手段にタイミング
信号を送る手段が設けられ、◆上記信号処理手段が、こ
のタイミング信号を受けたときに1主走査ライン毎のサ
ンプリングを開始するように構成されたことを特徴とす
るものである。
【0012】
【作用】図5に、前述した音叉と電磁石とからなる照明
光走査機構における、電磁石の駆動電流と音叉の位相等
の関係の一例を示す。図の(a)に示すのが駆動電圧V
d、(b)に示すのが音叉の位相x、そして(c)に示
すのは光検出器の連続出力S、(d)に示すのはこの出
力Sの周波数fを電圧Vに変換した電圧信号Svである
。光検出器の連続出力は、照明光が走査する試料の各部
の明るさ等に応じて刻々変化するが、その周波数fは、
照明光走査速度(光学系と試料台との相対速度)がゼロ
となる時点、すなわち音叉の位相xが最大あるいは最小
となった時点で必ず最小値をとる。したがって、この周
波数fが最小値をとった時点で1主走査ライン毎の画像
データのサンプリングを開始すれば、その画像データは
必ず、試料上を主走査する照明光が折り返す時点から、
あるいはそれより一定時間遅れた時点から取り込まれる
ものとなる。
光走査機構における、電磁石の駆動電流と音叉の位相等
の関係の一例を示す。図の(a)に示すのが駆動電圧V
d、(b)に示すのが音叉の位相x、そして(c)に示
すのは光検出器の連続出力S、(d)に示すのはこの出
力Sの周波数fを電圧Vに変換した電圧信号Svである
。光検出器の連続出力は、照明光が走査する試料の各部
の明るさ等に応じて刻々変化するが、その周波数fは、
照明光走査速度(光学系と試料台との相対速度)がゼロ
となる時点、すなわち音叉の位相xが最大あるいは最小
となった時点で必ず最小値をとる。したがって、この周
波数fが最小値をとった時点で1主走査ライン毎の画像
データのサンプリングを開始すれば、その画像データは
必ず、試料上を主走査する照明光が折り返す時点から、
あるいはそれより一定時間遅れた時点から取り込まれる
ものとなる。
【0013】
【発明の効果】こうしておけば、従来装置のように駆動
電圧Vdの位相に基づいて画像データのサンプリング開
始タイミングを規定する場合と異なって、この駆動電圧
Vdの位相と音叉の位相との関係が変動しても、前述し
たような画像のずれが起こることがない。
電圧Vdの位相に基づいて画像データのサンプリング開
始タイミングを規定する場合と異なって、この駆動電圧
Vdの位相と音叉の位相との関係が変動しても、前述し
たような画像のずれが起こることがない。
【0014】
【実施例】以下、図面に示す実施例に基づいて本発明を
詳細に説明する。
詳細に説明する。
【0015】図2は、本発明の一実施例によるモノクロ
反射型の共焦点走査型顕微鏡を示すものであり、また図
3は、その走査機構の平面形状を詳しく示している。図
2に示されるように単色光レーザ10からは、単一波長
の照明光11が射出される。直線偏光したこの照明光1
1は、P偏光状態で偏光ビームスプリッタ25の膜面2
5aに入射し、そこを透過する。偏光ビームスプリッタ
25を通過した照明光11は、偏波面調整用のλ/2板
12を通過し、入射用レンズ13で集光されて、偏波面
保存光ファイバー14内に入射せしめられる。
反射型の共焦点走査型顕微鏡を示すものであり、また図
3は、その走査機構の平面形状を詳しく示している。図
2に示されるように単色光レーザ10からは、単一波長
の照明光11が射出される。直線偏光したこの照明光1
1は、P偏光状態で偏光ビームスプリッタ25の膜面2
5aに入射し、そこを透過する。偏光ビームスプリッタ
25を通過した照明光11は、偏波面調整用のλ/2板
12を通過し、入射用レンズ13で集光されて、偏波面
保存光ファイバー14内に入射せしめられる。
【0016】この偏波面保存光ファイバー14としては
、図4に断面形状を示すように、クラッド14a内にコ
ア14bが配され、このコア14bの両側に応力付与部
14c、14cが形成されてなる、いわゆるPANDA
型のものが用いられている。そして直線偏光した照明光
11は、λ/2板12を適宜回転させることにより、偏
波面の向きが応力付与部14c、14cの並び方向、あ
るいはそれに直交する方向と揃う状態にして(本実施例
では後者の方向、すなわち図4の矢印U方向)、該光フ
ァイバー14内に入射せしめられる。
、図4に断面形状を示すように、クラッド14a内にコ
ア14bが配され、このコア14bの両側に応力付与部
14c、14cが形成されてなる、いわゆるPANDA
型のものが用いられている。そして直線偏光した照明光
11は、λ/2板12を適宜回転させることにより、偏
波面の向きが応力付与部14c、14cの並び方向、あ
るいはそれに直交する方向と揃う状態にして(本実施例
では後者の方向、すなわち図4の矢印U方向)、該光フ
ァイバー14内に入射せしめられる。
【0017】この光ファイバー14の一端はプローブ1
5に固定されており、該光ファイバー14内を伝搬した
照明光11はこの一端から出射する。この際光ファイバ
ー14の一端は、点光源状に照明光11を発することに
なる。プローブ15には、コリメーターレンズ16およ
び対物レンズ17からなる送光光学系(受光光学系を兼
ねる)18が固定されている。なお、コリメーターレン
ズ16と対物レンズ17との間には、λ/4板19が配
設されている。
5に固定されており、該光ファイバー14内を伝搬した
照明光11はこの一端から出射する。この際光ファイバ
ー14の一端は、点光源状に照明光11を発することに
なる。プローブ15には、コリメーターレンズ16およ
び対物レンズ17からなる送光光学系(受光光学系を兼
ねる)18が固定されている。なお、コリメーターレン
ズ16と対物レンズ17との間には、λ/4板19が配
設されている。
【0018】上記の照明光11はコリメーターレンズ1
6によって平行光とされ、λ/4板19を通過して円偏
光とされ、次に対物レンズ17によって集光されて、試
料台22に載置された試料23上で(表面あるいはその
内部で)微小な光点Pに結像する。試料23で反射した
反射光11”は旋回方向が逆向きの円偏光となり、λ/
4板19を通過して、偏波面の向きが照明光11のそれ
と直交する直線偏光とされる。この反射光11”の光束
は、コリメーターレンズ16によって集光されて、偏波
面保存光ファイバー14内に入射せしめられる。このと
きの反射光11”の偏波面の向きは、図4の矢印V方向
となる。光ファイバー14を伝搬した反射光11”はそ
の一端から出射し、レンズ13によって平行光とされる
。
6によって平行光とされ、λ/4板19を通過して円偏
光とされ、次に対物レンズ17によって集光されて、試
料台22に載置された試料23上で(表面あるいはその
内部で)微小な光点Pに結像する。試料23で反射した
反射光11”は旋回方向が逆向きの円偏光となり、λ/
4板19を通過して、偏波面の向きが照明光11のそれ
と直交する直線偏光とされる。この反射光11”の光束
は、コリメーターレンズ16によって集光されて、偏波
面保存光ファイバー14内に入射せしめられる。このと
きの反射光11”の偏波面の向きは、図4の矢印V方向
となる。光ファイバー14を伝搬した反射光11”はそ
の一端から出射し、レンズ13によって平行光とされる
。
【0019】この反射光11”はλ/2板12を通過後
、S偏光状態で偏光ビームスプリッタ25の膜面25a
に入射し、そこで反射する。この反射光11”は、集光
レンズ26で集光され、アパーチャピンホール27を通
して光検出器28によって検出される。この光検出器2
8は例えばフォトマルチプライヤ(光電子増倍管)等か
らなり、そこからは、試料23の照明光照射部の明るさ
を示す連続信号Sが出力される。
、S偏光状態で偏光ビームスプリッタ25の膜面25a
に入射し、そこで反射する。この反射光11”は、集光
レンズ26で集光され、アパーチャピンホール27を通
して光検出器28によって検出される。この光検出器2
8は例えばフォトマルチプライヤ(光電子増倍管)等か
らなり、そこからは、試料23の照明光照射部の明るさ
を示す連続信号Sが出力される。
【0020】上述のように、λ/4板19と偏光ビーム
スプリッタ25とから構成される光アイソレータを設け
たことにより、反射光11”がレーザ10側に戻ること
がなくなり、より大光量の反射光11”が光検出器28
に導かれるようになる。また、入射用レンズ13や光フ
ァイバー14の端面等で反射した照明光11が、光検出
器28に入射することも防止され、S/Nの高い信号S
が得られるようになる。
スプリッタ25とから構成される光アイソレータを設け
たことにより、反射光11”がレーザ10側に戻ること
がなくなり、より大光量の反射光11”が光検出器28
に導かれるようになる。また、入射用レンズ13や光フ
ァイバー14の端面等で反射した照明光11が、光検出
器28に入射することも防止され、S/Nの高い信号S
が得られるようになる。
【0021】次に、照明光11の光点Pの2次元走査に
ついて、図3を参照して説明する。プローブ15は、水
平に配された音叉30の一先端部に、光学系18の光軸
が垂直となる状態で固定されている。この音叉30は、
その基部30aが架台32に固定されて、所定の固有振
動数で振動可能となっている。そして音叉30の内側に
は、その両先端部とそれぞれ若干の間隔をおいて、電磁
石31が配設されている。この電磁石31は、取付部材
34を介して架台32に固定されている。
ついて、図3を参照して説明する。プローブ15は、水
平に配された音叉30の一先端部に、光学系18の光軸
が垂直となる状態で固定されている。この音叉30は、
その基部30aが架台32に固定されて、所定の固有振
動数で振動可能となっている。そして音叉30の内側に
は、その両先端部とそれぞれ若干の間隔をおいて、電磁
石31が配設されている。この電磁石31は、取付部材
34を介して架台32に固定されている。
【0022】上記電磁石31には、駆動回路33から、
音叉30の固有振動数と等しい周波数の矩形パルス電圧
Vdが印加される。こうして音叉30の両端部に断続的
に磁界が作用することにより、音叉30はその固有振動
数で振動する。そこで、この音叉30に固定されている
プローブ15は、図2、図3中のX方向(水平方向)に
高速で往復移動し、光点Pの主走査がなされる。
音叉30の固有振動数と等しい周波数の矩形パルス電圧
Vdが印加される。こうして音叉30の両端部に断続的
に磁界が作用することにより、音叉30はその固有振動
数で振動する。そこで、この音叉30に固定されている
プローブ15は、図2、図3中のX方向(水平方向)に
高速で往復移動し、光点Pの主走査がなされる。
【0023】また試料台22は架台32に対して、Z方
向(光学系18の光軸方向)に往復移動可能なZ移動ス
テージ24Z、およびX、Z両方向に対して直角なY方
向に往復移動可能なY移動ステージ24Yを介して取り
付けられている。そこで、上記のようにして光点Pの主
走査を行なうとき、同時にY移動ステージ24Yを往復
駆動させると、光点Pの副走査がなされる。
向(光学系18の光軸方向)に往復移動可能なZ移動ス
テージ24Z、およびX、Z両方向に対して直角なY方
向に往復移動可能なY移動ステージ24Yを介して取り
付けられている。そこで、上記のようにして光点Pの主
走査を行なうとき、同時にY移動ステージ24Yを往復
駆動させると、光点Pの副走査がなされる。
【0024】そして、光点Pの2次元走査を行なう毎に
、Z移動ステージ24Zを移動させることにより、試料
23をZ方向に移動させた範囲内で、全ての面に焦点が
合った画像を担う信号Sを得ることが可能となる。
、Z移動ステージ24Zを移動させることにより、試料
23をZ方向に移動させた範囲内で、全ての面に焦点が
合った画像を担う信号Sを得ることが可能となる。
【0025】なお本実施例では図3に示す通り、音叉3
0の他端部に、プローブ15と同じ構成のダミープロー
ブ15’が取り付けられている。それにより、音叉30
の一端部、他端部の機械的バランスを良好に保ち、理想
に近い共振系を構成できるようになる。 また本実施
例では、音叉30の内側に電磁石31を配して、音叉3
0の両端部にそれぞれ磁界を作用させるようにしている
ので、電磁石を音叉30の1つの端部の外側にのみ配す
る場合に比べれば、音叉30に作用する磁束密度、つま
りは作用する力を、より大きくすることができる。
0の他端部に、プローブ15と同じ構成のダミープロー
ブ15’が取り付けられている。それにより、音叉30
の一端部、他端部の機械的バランスを良好に保ち、理想
に近い共振系を構成できるようになる。 また本実施
例では、音叉30の内側に電磁石31を配して、音叉3
0の両端部にそれぞれ磁界を作用させるようにしている
ので、電磁石を音叉30の1つの端部の外側にのみ配す
る場合に比べれば、音叉30に作用する磁束密度、つま
りは作用する力を、より大きくすることができる。
【0026】次に図1を参照して、電気的な構成につい
て説明する。前述した光検出器28が出力する連続的な
アナログ信号Sは、アンプ40で増幅されてからA/D
変換器41に入力され、そこでサンプリング、量子化さ
れてデジタルの画像信号Sdに変換される。この画像信
号Sdは、画像処理装置42において例えば階調処理等
の画像処理を受けた後、CRT表示装置等の画像再生装
置43に入力される。この画像再生装置43においては
、画像信号Sdが担持する画像、すなわち試料23の顕
微鏡像が再生される。
て説明する。前述した光検出器28が出力する連続的な
アナログ信号Sは、アンプ40で増幅されてからA/D
変換器41に入力され、そこでサンプリング、量子化さ
れてデジタルの画像信号Sdに変換される。この画像信
号Sdは、画像処理装置42において例えば階調処理等
の画像処理を受けた後、CRT表示装置等の画像再生装
置43に入力される。この画像再生装置43においては
、画像信号Sdが担持する画像、すなわち試料23の顕
微鏡像が再生される。
【0027】上記画像再生装置43には、例えばパーソ
ナルコンピュータ等のコンピュータ44が接続され、画
像処理の指令や、走査型顕微鏡の基本的操作指令、つま
り視野探し用画像の撮像指令や観察用画像の撮像指令等
は、すべてこのコンピュータ44のキーボード等の入力
操作部を用いて与えられる。
ナルコンピュータ等のコンピュータ44が接続され、画
像処理の指令や、走査型顕微鏡の基本的操作指令、つま
り視野探し用画像の撮像指令や観察用画像の撮像指令等
は、すべてこのコンピュータ44のキーボード等の入力
操作部を用いて与えられる。
【0028】ここで画像再生装置43としては一般的な
ラスタ走査方式のものが用いられるので、上記の画像信
号Sdは、アナログ信号Sのサンプリング開始タイミン
グを主走査と同期を取って適正に設定して、1主走査ラ
イン毎のものとしなければならない。そのために、アン
プ40で増幅された信号Sはf/V変換器60にも入力
され、この信号Sの周波数fが電圧信号Svに変換され
る。この電圧信号Svは最小値検出回路61に入力され
る。最小値検出回路61はこの電圧信号Svの最小値を
検出し、それを検出したときにタイミング信号Stを出
力する。この信号Stは、ピクセルクロック発生回路6
2に入力される。なお本実施例においてこの信号Stは
、水平同期信号Hsとして画像処理装置42にも入力さ
れる。
ラスタ走査方式のものが用いられるので、上記の画像信
号Sdは、アナログ信号Sのサンプリング開始タイミン
グを主走査と同期を取って適正に設定して、1主走査ラ
イン毎のものとしなければならない。そのために、アン
プ40で増幅された信号Sはf/V変換器60にも入力
され、この信号Sの周波数fが電圧信号Svに変換され
る。この電圧信号Svは最小値検出回路61に入力され
る。最小値検出回路61はこの電圧信号Svの最小値を
検出し、それを検出したときにタイミング信号Stを出
力する。この信号Stは、ピクセルクロック発生回路6
2に入力される。なお本実施例においてこの信号Stは
、水平同期信号Hsとして画像処理装置42にも入力さ
れる。
【0029】ピクセルクロック発生回路62は、上記の
信号Stが入力された時点から所定周波数のピクセルク
ロックCpを前記A/D変換器41に送る。A/D変換
器41は、このピクセルクロックCpの周波数でアナロ
グ信号Sをサンプリングしてデジタル化するが、ピクセ
ルクロックCpの入力タイミングが上述のようになって
いるので、このサンプリングは必ず電圧信号Svが最小
値を取った時点、あるいはそれから一定時間遅れた時点
からなされることになる。
信号Stが入力された時点から所定周波数のピクセルク
ロックCpを前記A/D変換器41に送る。A/D変換
器41は、このピクセルクロックCpの周波数でアナロ
グ信号Sをサンプリングしてデジタル化するが、ピクセ
ルクロックCpの入力タイミングが上述のようになって
いるので、このサンプリングは必ず電圧信号Svが最小
値を取った時点、あるいはそれから一定時間遅れた時点
からなされることになる。
【0030】上記電圧信号Svと音叉30の位相xとの
関係は、先に説明した図5に示す通りとなっている。し
たがって1回の主走査毎の上記サンプリングは、必ず音
叉30が最大あるいは最小位相を取った時点(つまり試
料23上を主走査する照明光光点Pが折り返す時点)あ
るいはそれから一定時間遅れた時点で開始されることに
なる。 こうなっていれば、先に述べた通り、矩形パルス電圧V
dの位相と音叉30の位相との関係がいかに変化しても
、画像再生装置43で再生される顕微鏡像が主走査方向
にずれてしまうことはない。
関係は、先に説明した図5に示す通りとなっている。し
たがって1回の主走査毎の上記サンプリングは、必ず音
叉30が最大あるいは最小位相を取った時点(つまり試
料23上を主走査する照明光光点Pが折り返す時点)あ
るいはそれから一定時間遅れた時点で開始されることに
なる。 こうなっていれば、先に述べた通り、矩形パルス電圧V
dの位相と音叉30の位相との関係がいかに変化しても
、画像再生装置43で再生される顕微鏡像が主走査方向
にずれてしまうことはない。
【0031】なお前述したY移動ステージ24Yは、発
振器45から所定周波数の信号を受けるドライバ46に
より、該周波数で往復移動するように駆動される。また
Z移動ステージ24Zは、画像処理装置42から出力さ
れてD/A変換器47によりアナログ化されたZ軸コン
トロール信号Fsに基づいて、所定のZ位置上に来るよ
うにドライバ48により駆動される。そして発振器45
、D/A変換器47は各々、画像処理装置42から発せ
られる垂直同期信号Vs、フォーカス方向信号Fsに基
づいて作動制御され、ステージ24Y、24Zの移動の
同期が取られる。
振器45から所定周波数の信号を受けるドライバ46に
より、該周波数で往復移動するように駆動される。また
Z移動ステージ24Zは、画像処理装置42から出力さ
れてD/A変換器47によりアナログ化されたZ軸コン
トロール信号Fsに基づいて、所定のZ位置上に来るよ
うにドライバ48により駆動される。そして発振器45
、D/A変換器47は各々、画像処理装置42から発せ
られる垂直同期信号Vs、フォーカス方向信号Fsに基
づいて作動制御され、ステージ24Y、24Zの移動の
同期が取られる。
【0032】一方電磁石用駆動回路33は、パルス発生
器49と、その後段のドライバ50とから構成されてい
る。ドライバ50は、オープンコレクタバッファ51、
フォトカプラ52、パワーMOS−FET53、ダイオ
ード54、コンデンサ55等からなり、上記パルス発生
器49から入力される周波数信号Sfと同じ周波数の矩
形パルス電圧Vdを電磁石31に印加する。また発振器
49は上記の水平同期信号Hsに基づいて作動制御され
、ステージ24Yおよび24Zの移動と、プローブ15
の往復移動との同期が取られる。
器49と、その後段のドライバ50とから構成されてい
る。ドライバ50は、オープンコレクタバッファ51、
フォトカプラ52、パワーMOS−FET53、ダイオ
ード54、コンデンサ55等からなり、上記パルス発生
器49から入力される周波数信号Sfと同じ周波数の矩
形パルス電圧Vdを電磁石31に印加する。また発振器
49は上記の水平同期信号Hsに基づいて作動制御され
、ステージ24Yおよび24Zの移動と、プローブ15
の往復移動との同期が取られる。
【0033】以上、音叉30を電磁石31により振動さ
せて照明光光点Pを主走査させる機構を備えた走査型顕
微鏡に適用された実施例について説明したが、本発明は
その他の機構により照明光の走査を行なう走査型顕微鏡
に対しても適用可能であり、そして前述したような画像
のずれを防止する効果を同様に奏するものである。
せて照明光光点Pを主走査させる機構を備えた走査型顕
微鏡に適用された実施例について説明したが、本発明は
その他の機構により照明光の走査を行なう走査型顕微鏡
に対しても適用可能であり、そして前述したような画像
のずれを防止する効果を同様に奏するものである。
【0034】また、以上説明した実施例の走査型顕微鏡
はモノクロ反射型のものであるが、本発明はその他、カ
ラー画像を撮像する走査型顕微鏡や、透過型の走査型顕
微鏡、さらには走査型蛍光顕微鏡等にも適用可能である
。
はモノクロ反射型のものであるが、本発明はその他、カ
ラー画像を撮像する走査型顕微鏡や、透過型の走査型顕
微鏡、さらには走査型蛍光顕微鏡等にも適用可能である
。
【図1】本発明の一実施例による走査型顕微鏡の電気回
路図
路図
【図2】上記実施例の走査型顕微鏡を示す一部破断正面
図
図
【図3】上記実施例の走査型顕微鏡に用いられた照明光
走査機構の平面図
走査機構の平面図
【図4】上記実施例の走査型顕微鏡に用いられた偏波面
保存光ファイバーの断面図
保存光ファイバーの断面図
【図5】上記実施例の走査型顕微鏡における各種信号の
波形と、音叉の位相との関係を示すグラフ
波形と、音叉の位相との関係を示すグラフ
10 単色光レーザ
11 照明光
11” 反射光
14 偏波面保存光ファイバー
15 プローブ
16 コリメーターレンズ
17 対物レンズ
18 送光光学系
22 試料台
23 試料
26 集光レンズ
27 アパーチャピンホール
28 光検出器
30 音叉
31 電磁石
32 架台
33 駆動回路
41 A/D変換器
60 f/V変換器
61 最小値検出回路
Claims (1)
- 【請求項1】 試料が載置される試料台と、照明光を
試料上に照射する光学系とを相対的に移動させることに
より、この照明光を試料上において主、副走査させ、こ
の照明光走査を受けた試料の部分からの光を光検出器に
より検出して試料像を撮像する走査型顕微鏡において、
前記光検出器の連続出力をサンプリングして、1主走査
ライン毎のデジタル画像データを得る信号処理手段を備
えた上で、前記光検出器の連続出力の周波数の最小値を
検出して、その検出時に前記信号処理手段にタイミング
信号を送る手段が設けられ、前記信号処理手段が、この
タイミング信号を受けたときに1主走査ライン毎のサン
プリングを開始するように構成されていることを特徴と
する走査型顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP987091A JPH04253018A (ja) | 1991-01-30 | 1991-01-30 | 走査型顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP987091A JPH04253018A (ja) | 1991-01-30 | 1991-01-30 | 走査型顕微鏡 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04253018A true JPH04253018A (ja) | 1992-09-08 |
Family
ID=11732180
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP987091A Withdrawn JPH04253018A (ja) | 1991-01-30 | 1991-01-30 | 走査型顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04253018A (ja) |
-
1991
- 1991-01-30 JP JP987091A patent/JPH04253018A/ja not_active Withdrawn
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0418928B1 (en) | Scanning microscope and scanning mechanism for the same | |
US5084612A (en) | Imaging method for scanning microscopes, and confocal scanning microscope | |
US5218195A (en) | Scanning microscope, scanning width detecting device, and magnification indicating apparatus | |
JPH06300974A (ja) | レーザー走査型光学顕微鏡 | |
US5214279A (en) | Scanning microscope and tuning fork scanning mechanism for varying the width over which a sample is scanned | |
EP0283256A2 (en) | Scanning optical microscope | |
US5179276A (en) | Optical scanning type image pickup apparatus and optical scanning type microscope | |
JPWO2016151633A1 (ja) | 光走査装置の走査軌跡測定方法、走査軌跡測定装置及び画像キャリブレーション方法 | |
US5162648A (en) | Confocal scanning interference microscope using reference beam | |
JP2663195B2 (ja) | 共焦点走査型顕微鏡 | |
EP0666487A2 (en) | Scanning microscope and scanning mechanism for the same | |
JP2631779B2 (ja) | 走査型顕微鏡 | |
JP2631774B2 (ja) | 走査型顕微鏡 | |
JPH04253018A (ja) | 走査型顕微鏡 | |
JPH05224127A (ja) | 共焦点走査型微分干渉顕微鏡 | |
JP2660612B2 (ja) | 走査幅検出装置および走査型顕微鏡の倍率表示装置 | |
JPH03172815A (ja) | 共焦点走査型顕微鏡 | |
JPH04338911A (ja) | 走査型顕微鏡 | |
JPH04296811A (ja) | 走査型顕微鏡 | |
JPH05313087A (ja) | 走査始点検出装置 | |
JPH03209415A (ja) | 顕微鏡像出力方法および走査型顕微鏡 | |
JP2005043459A (ja) | 光偏向器およびこの光偏向器を用いた走査型光学顕微鏡 | |
JPH03134609A (ja) | レーザ走査型顕微鏡 | |
JPH05127089A (ja) | 走査型顕微鏡 | |
JP2663194B2 (ja) | 共焦点走査型顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |