JPH04251402A - 磁気記録再生方法および磁気記録再生装置 - Google Patents
磁気記録再生方法および磁気記録再生装置Info
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- JPH04251402A JPH04251402A JP41874090A JP41874090A JPH04251402A JP H04251402 A JPH04251402 A JP H04251402A JP 41874090 A JP41874090 A JP 41874090A JP 41874090 A JP41874090 A JP 41874090A JP H04251402 A JPH04251402 A JP H04251402A
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Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Supporting Of Heads In Record-Carrier Devices (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】 本発明は、剛性基板上に強磁
性金属薄膜の垂直磁化膜を有する、いわゆるハードタイ
プの磁気ディスクを回転させ、この磁気ディスク上に垂
直磁気記録用の浮上型磁気ヘッドを浮上させて記録再生
を行なう磁気記録再生方法と、磁気記録再生装置とに関
する。
性金属薄膜の垂直磁化膜を有する、いわゆるハードタイ
プの磁気ディスクを回転させ、この磁気ディスク上に垂
直磁気記録用の浮上型磁気ヘッドを浮上させて記録再生
を行なう磁気記録再生方法と、磁気記録再生装置とに関
する。
【0002】
【従来の技術】計算機等に用いられる磁気ディスク記録
再生装置では、剛性基板上に磁性層を設層したハードタ
イプの磁気ディスクと浮上型磁気ヘッドとが用いられて
いる。
再生装置では、剛性基板上に磁性層を設層したハードタ
イプの磁気ディスクと浮上型磁気ヘッドとが用いられて
いる。
【0003】ハードタイプの磁気ディスクには、通常、
γ−Fe2O3等の面内磁化膜が用いられている。
γ−Fe2O3等の面内磁化膜が用いられている。
【0004】一方、面内磁化膜の記録密度の限界を乗り
越えるために、Co−Cr合金等の強磁性金属から構成
される垂直磁化膜が提案されている。
越えるために、Co−Cr合金等の強磁性金属から構成
される垂直磁化膜が提案されている。
【0005】垂直磁化膜は、原理的に記録密度を飛躍的
に向上させることが可能であるが、高密度記録を行なう
ためには、低浮上量にて安定して使用できることが必要
である。
に向上させることが可能であるが、高密度記録を行なう
ためには、低浮上量にて安定して使用できることが必要
である。
【0006】このような硬度が低い強磁性金属薄膜の垂
直磁化膜を有する磁気ディスクと、垂直磁気記録用の浮
上型磁気ヘッドとを用いる磁気記録再生装置では、CS
S(コンタクト・スタート・ストップ)時に浮上型磁気
ヘッドの浮揚面(スライダの磁気ディスク側表面)と磁
気ディスクとが接触し、垂直磁化膜に傷が生じやすい。
直磁化膜を有する磁気ディスクと、垂直磁気記録用の浮
上型磁気ヘッドとを用いる磁気記録再生装置では、CS
S(コンタクト・スタート・ストップ)時に浮上型磁気
ヘッドの浮揚面(スライダの磁気ディスク側表面)と磁
気ディスクとが接触し、垂直磁化膜に傷が生じやすい。
【0007】特に、近年、高密度記録を可能とするため
に磁気ヘッドを磁気ディスクへ近づけ、浮上量を極めて
小さく設定する方向にあるので、CSS時に垂直磁化膜
が受ける衝撃はより大きくなり、ヘッドクラッシュの発
生が大きな問題となっている。
に磁気ヘッドを磁気ディスクへ近づけ、浮上量を極めて
小さく設定する方向にあるので、CSS時に垂直磁化膜
が受ける衝撃はより大きくなり、ヘッドクラッシュの発
生が大きな問題となっている。
【0008】特開昭62−88132号公報には、面内
記録用の磁気ディスクについてであるが、膜厚50〜5
00Aのカーボン保護層を形成し、CSS時の傷の発生
を防止する旨が記載されている。
記録用の磁気ディスクについてであるが、膜厚50〜5
00Aのカーボン保護層を形成し、CSS時の傷の発生
を防止する旨が記載されている。
【0009】しかし、CSS方式にて、磁気ヘッドの浮
上量を従来の0.2μm程度に設定した場合、カーボン
保護層の膜厚が前記範囲の上限付近であれば問題はない
が、下限付近では傷の発生等の問題が生じることがある
。そして、さらに低浮上量領域に進むと、垂直磁化膜や
保護層の膜強度が弱いため、CSS時の衝撃をカバーで
きず、耐久性が低下し、ヘッドクラッシュが発生する。
上量を従来の0.2μm程度に設定した場合、カーボン
保護層の膜厚が前記範囲の上限付近であれば問題はない
が、下限付近では傷の発生等の問題が生じることがある
。そして、さらに低浮上量領域に進むと、垂直磁化膜や
保護層の膜強度が弱いため、CSS時の衝撃をカバーで
きず、耐久性が低下し、ヘッドクラッシュが発生する。
【0010】このように強磁性金属薄膜の垂直磁化膜を
有する磁気ディスクの場合、従来のCSS方式では、特
に低浮上量領域での耐久性、信頼性が不十分である。
有する磁気ディスクの場合、従来のCSS方式では、特
に低浮上量領域での耐久性、信頼性が不十分である。
【0011】このような事情から、CSSを行なわない
磁気記録再生方法、すなわち浮上型磁気ヘッドを磁気デ
ィスクと非接触状態で起動、停止する方法、より具体的
には例えば、磁気ディスクの回転中に浮上型磁気ヘッド
を磁気ディスクに接近させて、ディスク上に浮上させ、
例えば磁気ヘッドを磁気ディスクから退避させた後、磁
気ディスクの回転を停止する、いわゆるダイナミックロ
ーディング方式を用いて、前記の問題点の解決を図ろう
という試みがなされつつある。ダイナミックローディン
グ方式は、特開昭61−16079号公報、同63−2
47981号公報等により提案されている。
磁気記録再生方法、すなわち浮上型磁気ヘッドを磁気デ
ィスクと非接触状態で起動、停止する方法、より具体的
には例えば、磁気ディスクの回転中に浮上型磁気ヘッド
を磁気ディスクに接近させて、ディスク上に浮上させ、
例えば磁気ヘッドを磁気ディスクから退避させた後、磁
気ディスクの回転を停止する、いわゆるダイナミックロ
ーディング方式を用いて、前記の問題点の解決を図ろう
という試みがなされつつある。ダイナミックローディン
グ方式は、特開昭61−16079号公報、同63−2
47981号公報等により提案されている。
【0012】しかし、強磁性金属薄膜や保護層の機械的
強度は弱いので、前記公報等により開示されているダイ
ナミックローディング方式でも、磁気ヘッドを磁気ディ
スク上に浮上させる際、磁気ヘッドが磁気ディスクに衝
突ないし接触し、垂直磁化膜に傷が入ったり、場合によ
ってはヘッドクラッシュを発生することがある。
強度は弱いので、前記公報等により開示されているダイ
ナミックローディング方式でも、磁気ヘッドを磁気ディ
スク上に浮上させる際、磁気ヘッドが磁気ディスクに衝
突ないし接触し、垂直磁化膜に傷が入ったり、場合によ
ってはヘッドクラッシュを発生することがある。
【0013】そして、磁気ヘッドの低浮上量化がさらに
進み、ディスク最内周での浮上量が0.10μm以下の
場合には、前記の強磁性金属薄膜を用いる際の問題は、
より一層顕著にあらわれる。
進み、ディスク最内周での浮上量が0.10μm以下の
場合には、前記の強磁性金属薄膜を用いる際の問題は、
より一層顕著にあらわれる。
【0014】また、磁気ヘッドと磁気ディスクとの衝突
等のため、ダイナミックローディングにより浮上させた
磁気ヘッドの姿勢や位置がすぐには安定せず、このため
アクセス時間が長く、記録再生毎にディスクの回転の始
動と停止とを繰り返す磁気記録再生装置では、前記のロ
スは非常に問題となる。アクセス時間を短縮するために
は、磁気ディスクへの磁気ヘッドの接近速度を増せばよ
いが、この場合、磁気ディスクと磁気ヘッドとの衝突す
る確率が増加し、しかも衝突時の衝撃がさらに大きくな
り問題となる。
等のため、ダイナミックローディングにより浮上させた
磁気ヘッドの姿勢や位置がすぐには安定せず、このため
アクセス時間が長く、記録再生毎にディスクの回転の始
動と停止とを繰り返す磁気記録再生装置では、前記のロ
スは非常に問題となる。アクセス時間を短縮するために
は、磁気ディスクへの磁気ヘッドの接近速度を増せばよ
いが、この場合、磁気ディスクと磁気ヘッドとの衝突す
る確率が増加し、しかも衝突時の衝撃がさらに大きくな
り問題となる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、低浮
上量にて高記録密度の垂直磁気記録・再生を行なう際、
磁気ディスクの垂直磁化膜への傷の発生を防止して高い
耐久性を実現し、しかもアクセス時間を短縮できるダイ
ナミックローディングによる磁気記録再生方法と、磁気
記録再生装置とを提供することにある。
上量にて高記録密度の垂直磁気記録・再生を行なう際、
磁気ディスクの垂直磁化膜への傷の発生を防止して高い
耐久性を実現し、しかもアクセス時間を短縮できるダイ
ナミックローディングによる磁気記録再生方法と、磁気
記録再生装置とを提供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】このような目的は、下記
(1)〜(6)の本発明により達成される。
(1)〜(6)の本発明により達成される。
【0017】(1)剛性のディスク基板上に垂直磁化膜
を有する磁気ディスクを回転させ、この磁気ディスク上
に垂直磁気記録用の浮上型の磁気ヘッドを浮上させて記
録再生を行なう磁気記録再生方法であって、前記垂直磁
化膜が強磁性金属薄膜であり、前記磁気ディスクの垂直
磁化膜側の表面粗さRmaxが300A以下であり、前
記磁気ヘッドのディスク最内周での浮上量が0.10μ
m以下であり、前記磁気ヘッドと前記磁気ディスクの表
面とが、非接触状態で起動、停止を行なうことを特徴と
する磁気記録再生方法。
を有する磁気ディスクを回転させ、この磁気ディスク上
に垂直磁気記録用の浮上型の磁気ヘッドを浮上させて記
録再生を行なう磁気記録再生方法であって、前記垂直磁
化膜が強磁性金属薄膜であり、前記磁気ディスクの垂直
磁化膜側の表面粗さRmaxが300A以下であり、前
記磁気ヘッドのディスク最内周での浮上量が0.10μ
m以下であり、前記磁気ヘッドと前記磁気ディスクの表
面とが、非接触状態で起動、停止を行なうことを特徴と
する磁気記録再生方法。
【0018】(2)前記磁気ヘッドのスライダのディス
ク対向面の全投影面積が2mm2以下である上記(1)
に記載の磁気記録再生方法。
ク対向面の全投影面積が2mm2以下である上記(1)
に記載の磁気記録再生方法。
【0019】(3)前記磁気ディスクが、前記垂直磁化
膜上に厚さ100A以下の保護層を有するか、または保
護層を有しない上記(1)または(2)に記載の磁気記
録再生方法。
膜上に厚さ100A以下の保護層を有するか、または保
護層を有しない上記(1)または(2)に記載の磁気記
録再生方法。
【0020】(4)剛性のディスク基板上に垂直磁化膜
を有する磁気ディスクと、垂直磁気記録用の浮上型の磁
気ヘッドと、この磁気ヘッドの位置を制御するヘッド位
置制御手段とを有し、前記垂直磁化膜が強磁性金属薄膜
であり、前記磁気ディスクの垂直磁化膜側の表面粗さR
maxが300A以下であり、前記磁気ディスクが回転
し、この磁気ディスク上に前記磁気ヘッドが、ディスク
最内周での浮上量が0.10μm以下となるように浮上
して記録再生を行ない、前記磁気ヘッドと前記磁気ディ
スクの表面とが、非接触状態で起動、停止を行なうよう
に構成したことを特徴とする磁気記録再生装置。
を有する磁気ディスクと、垂直磁気記録用の浮上型の磁
気ヘッドと、この磁気ヘッドの位置を制御するヘッド位
置制御手段とを有し、前記垂直磁化膜が強磁性金属薄膜
であり、前記磁気ディスクの垂直磁化膜側の表面粗さR
maxが300A以下であり、前記磁気ディスクが回転
し、この磁気ディスク上に前記磁気ヘッドが、ディスク
最内周での浮上量が0.10μm以下となるように浮上
して記録再生を行ない、前記磁気ヘッドと前記磁気ディ
スクの表面とが、非接触状態で起動、停止を行なうよう
に構成したことを特徴とする磁気記録再生装置。
【0021】(5)前記磁気ヘッドのスライダのディス
ク対向面の全投影面積が2mm2以下である上記(4)
に記載の磁気記録再生装置。
ク対向面の全投影面積が2mm2以下である上記(4)
に記載の磁気記録再生装置。
【0022】(6)前記磁気ディスクが、前記垂直磁化
膜上に厚さ100A以下の保護層を有するか、または保
護層を有しない上記(4)または(5)に記載の磁気記
録再生装置。
膜上に厚さ100A以下の保護層を有するか、または保
護層を有しない上記(4)または(5)に記載の磁気記
録再生装置。
【0023】
【作用】本発明の垂直磁気記録用の磁気記録再生装置に
は、垂直磁化膜の表面粗さRmaxが300A以下の磁
気ディスクを用いる。
は、垂直磁化膜の表面粗さRmaxが300A以下の磁
気ディスクを用いる。
【0024】そして、ダイナミックローディングにより
浮上型磁気ヘッドを接近させ、浮上量が0.10μm以
下となるようにディスク上に浮上させて磁気記録再生を
行なう。
浮上型磁気ヘッドを接近させ、浮上量が0.10μm以
下となるようにディスク上に浮上させて磁気記録再生を
行なう。
【0025】このように表面粗さRmaxが300A以
下の磁気ディスクを用いることにより、浮上型磁気ヘッ
ドを回転中の磁気ディスクの表面に接近させて、ディス
ク上に浮上させる際、磁気ヘッドと、磁気ディスクとが
衝突ないし接触する確率が格段と低下する。
下の磁気ディスクを用いることにより、浮上型磁気ヘッ
ドを回転中の磁気ディスクの表面に接近させて、ディス
ク上に浮上させる際、磁気ヘッドと、磁気ディスクとが
衝突ないし接触する確率が格段と低下する。
【0026】このため、垂直磁化膜上に保護層を形成し
ない場合でも十分な耐久信頼性が得られ、保護層を形成
する場合、保護層の厚さを従来より薄くでき、スペーシ
ングロスの点で有利であり、より一層高密度記録に対応
できるようになる。
ない場合でも十分な耐久信頼性が得られ、保護層を形成
する場合、保護層の厚さを従来より薄くでき、スペーシ
ングロスの点で有利であり、より一層高密度記録に対応
できるようになる。
【0027】そして、磁気ディスクの垂直磁化膜への傷
の発生やヘッドクラッシュを防止でき、耐久性の高い磁
気記録再生装置が実現する。
の発生やヘッドクラッシュを防止でき、耐久性の高い磁
気記録再生装置が実現する。
【0028】また、浮上型磁気ヘッドをディスク上に浮
上させる際、磁気ヘッドの姿勢や位置がすぐに安定する
ため、アクセス時間が短い。
上させる際、磁気ヘッドの姿勢や位置がすぐに安定する
ため、アクセス時間が短い。
【0029】しかも、磁気ディスクへの磁気ヘッドの接
近速度を多少速くしても、磁気ディスクと磁気ヘッドと
が衝突する確率は、従来のダイナミックローディングに
よる磁気記録再生方法に比べて格段と低いため、より一
層アクセス時間を短縮できる。
近速度を多少速くしても、磁気ディスクと磁気ヘッドと
が衝突する確率は、従来のダイナミックローディングに
よる磁気記録再生方法に比べて格段と低いため、より一
層アクセス時間を短縮できる。
【0030】
【具体的構成】以下、本発明の具体的構成について詳細
に説明する。
に説明する。
【0031】磁気ディスク1は、図6に示されように、
剛性のディスク基板12上に、強磁性金属薄膜の垂直磁
化膜14を有し、必要に応じてディスク基板12と垂直
磁化膜14間に軟磁性膜13を設ける。
剛性のディスク基板12上に、強磁性金属薄膜の垂直磁
化膜14を有し、必要に応じてディスク基板12と垂直
磁化膜14間に軟磁性膜13を設ける。
【0032】そして、垂直磁化膜14上に、固体保護層
15と、必要に応じて潤滑膜16とを、この順で設ける
。または、垂直磁化膜14上に、固体保護層15を設層
せず、必要に応じて潤滑膜16を設ける。
15と、必要に応じて潤滑膜16とを、この順で設ける
。または、垂直磁化膜14上に、固体保護層15を設層
せず、必要に応じて潤滑膜16を設ける。
【0033】この場合、磁気ディスク1は、図示のよう
にディスク基板12の両側に垂直磁化膜14を設層した
両面記録型の磁気ディスクであってもよく、ディスク基
板12の一方の側だけに垂直磁化膜14を設層した片面
記録型の磁気ディスクであってもよい。
にディスク基板12の両側に垂直磁化膜14を設層した
両面記録型の磁気ディスクであってもよく、ディスク基
板12の一方の側だけに垂直磁化膜14を設層した片面
記録型の磁気ディスクであってもよい。
【0034】ディスク基板12の材質には特に制限がな
く、各種の金属、ガラス、セラミック、樹脂等磁気ディ
スクの剛性基板として従来用いられている材質を用いれ
ばよいが、研磨が容易で表面粗さの制御が簡単であるこ
となどから、ガラスを用いることが好ましい。ガラス基
板は他のものに比べ固いため、平坦度が得られやすく高
速回転時の偏心、面ぶれがなく、特に低浮上量用として
適している。
く、各種の金属、ガラス、セラミック、樹脂等磁気ディ
スクの剛性基板として従来用いられている材質を用いれ
ばよいが、研磨が容易で表面粗さの制御が簡単であるこ
となどから、ガラスを用いることが好ましい。ガラス基
板は他のものに比べ固いため、平坦度が得られやすく高
速回転時の偏心、面ぶれがなく、特に低浮上量用として
適している。
【0035】ガラスとしては、強化ガラス、特に、化学
強化法による表面強化ガラスを用いることが好ましい。 表面強化ガラスについては、特開昭62−43819号
公報、同63−175219号公報に記載されている。 なお、前記公報に記載されている範囲以外でも、強化層
についてはガラス基板の品質改良がすすみ、より薄層化
しても対処出来るようになってきている。
強化法による表面強化ガラスを用いることが好ましい。 表面強化ガラスについては、特開昭62−43819号
公報、同63−175219号公報に記載されている。 なお、前記公報に記載されている範囲以外でも、強化層
についてはガラス基板の品質改良がすすみ、より薄層化
しても対処出来るようになってきている。
【0036】ディスク基板12の表面は、完成した磁気
ディスク1の表面粗さRmaxが300A以下の所望の
値となるような表面粗さであれば特に制限がないが、デ
ィスク基板12の表面粗さRmaxは、200A以下、
より好ましくは100A以下に設定することが好ましい
。また、Rmaxは小さい程好ましいが、現実的なRm
axの下限は10A程度である。なお、Rmaxは、J
IS B 0601に従い測定すればよい。
ディスク1の表面粗さRmaxが300A以下の所望の
値となるような表面粗さであれば特に制限がないが、デ
ィスク基板12の表面粗さRmaxは、200A以下、
より好ましくは100A以下に設定することが好ましい
。また、Rmaxは小さい程好ましいが、現実的なRm
axの下限は10A程度である。なお、Rmaxは、J
IS B 0601に従い測定すればよい。
【0037】このような表面粗さは、例えば、特開昭6
2−43819号公報、同63−175219号公報に
記載されているようなメカノケミカルポリッシング、従
来のガラス研磨などにより得ることができる。
2−43819号公報、同63−175219号公報に
記載されているようなメカノケミカルポリッシング、従
来のガラス研磨などにより得ることができる。
【0038】ディスク基板12は、ディスク状とし、そ
の寸法は、目的や用途等に応じて適宜選択すればよいが
、通常、外径25〜300mm程度、厚さ0.3〜5m
m程度である。
の寸法は、目的や用途等に応じて適宜選択すればよいが
、通常、外径25〜300mm程度、厚さ0.3〜5m
m程度である。
【0039】ディスク基板12上には、再生出力の向上
のため、軟磁性膜13を設けることが好ましい。
のため、軟磁性膜13を設けることが好ましい。
【0040】軟磁性膜13の構成材質としては、Ni−
Fe系合金が好ましい。
Fe系合金が好ましい。
【0041】Ni−Fe系合金としては、Ni−Fe合
金(パーマロイ)、Ni−Fe−Mo合金、Ni−Fe
−Cr合金、Ni−Fe−Nb合金、Ni−Fe−Mn
−Cu合金、Ni−Fe−Mo−Nb合金、Ni−Fe
−Mo−Cu合金、Ni−Fe−Si−Al合金等を好
ましく用いることができる。
金(パーマロイ)、Ni−Fe−Mo合金、Ni−Fe
−Cr合金、Ni−Fe−Nb合金、Ni−Fe−Mn
−Cu合金、Ni−Fe−Mo−Nb合金、Ni−Fe
−Mo−Cu合金、Ni−Fe−Si−Al合金等を好
ましく用いることができる。
【0042】また、Ni−Fe系合金の他、Fe−Co
−V系合金も好ましく用いることができる。
−V系合金も好ましく用いることができる。
【0043】なお、これら合金には、必要に応じ、Ti
、Al、Si、Mn、Cu、Ta、C、O、N、Ar、
Ca、Cr等が含有されていてもよい。
、Al、Si、Mn、Cu、Ta、C、O、N、Ar、
Ca、Cr等が含有されていてもよい。
【0044】軟磁性膜13の面内方向の保磁力は、6〜
20 Oeであることが好ましい。保磁力がこの範囲
内であると、高い再生出力が得られるが、保磁力が上記
範囲未満となると再生出力は向上するがモジュレーショ
ンが大きくなり、上記範囲を超えるとモジュレーション
は小さくなるが再生出力が低下してしまう。
20 Oeであることが好ましい。保磁力がこの範囲
内であると、高い再生出力が得られるが、保磁力が上記
範囲未満となると再生出力は向上するがモジュレーショ
ンが大きくなり、上記範囲を超えるとモジュレーション
は小さくなるが再生出力が低下してしまう。
【0045】軟磁性膜13の膜厚は1000〜5000
Aであることが好ましい。膜厚がこの範囲未満であると
生産性は向上するが十分な再生出力が得られず、この範
囲を超えると再生出力は高くなるが、成膜に時間を要し
生産性が低下する。
Aであることが好ましい。膜厚がこの範囲未満であると
生産性は向上するが十分な再生出力が得られず、この範
囲を超えると再生出力は高くなるが、成膜に時間を要し
生産性が低下する。
【0046】なお、軟磁性膜13は、気相成長法により
形成される。気相成長法としては、スパッタ法を用いる
ことが好ましい。
形成される。気相成長法としては、スパッタ法を用いる
ことが好ましい。
【0047】なお、軟磁性膜13と基板12との間には
、下地層を設けてもよい。下地層は、Cr、Ti、W、
Ni−Fe系合金あるいはNi−Pめっき膜等から構成
すればよい。
、下地層を設けてもよい。下地層は、Cr、Ti、W、
Ni−Fe系合金あるいはNi−Pめっき膜等から構成
すればよい。
【0048】軟磁性膜13上には、膜面と垂直方向に磁
化容易軸を有する垂直磁化膜14が設けられる。
化容易軸を有する垂直磁化膜14が設けられる。
【0049】垂直磁化膜14は、強磁性金属薄膜で構成
されていれば特に制限がなく、例えば、Fe、Coおよ
びNiから選ばれる1種以上を含有する連続薄膜、特に
Co系の連続薄膜で構成すればよい。
されていれば特に制限がなく、例えば、Fe、Coおよ
びNiから選ばれる1種以上を含有する連続薄膜、特に
Co系の連続薄膜で構成すればよい。
【0050】この場合、Co系合金としては、Co−C
r系合金が好ましい。そして、Co−Cr系合金として
は、Co−Cr合金、Co−Cr−B合金、Co−Cr
−Mn合金、Co−Cr−Mn−B合金、Co−Cr−
Ta合金、Co−Cr−Si−Al合金等が好ましい。
r系合金が好ましい。そして、Co−Cr系合金として
は、Co−Cr合金、Co−Cr−B合金、Co−Cr
−Mn合金、Co−Cr−Mn−B合金、Co−Cr−
Ta合金、Co−Cr−Si−Al合金等が好ましい。
【0051】なお、Co−Cr系合金中のCr含有率は
、16〜23at%程度であることが好ましい。
、16〜23at%程度であることが好ましい。
【0052】また、Co−Cr系合金の他、Co−V系
合金も好ましく用いることができる。
合金も好ましく用いることができる。
【0053】なお、これら合金には、必要に応じ、O、
N、Si、Al、Mn、Ar等が含有されていてもよい
。
N、Si、Al、Mn、Ar等が含有されていてもよい
。
【0054】垂直磁化膜14の垂直方向保磁力は400
Oe以上であることが好ましい。垂直方向保磁力が
この範囲未満であると、再生出力が不十分である。なお
、垂直方向保磁力の上限は特にないが、通常1500
Oe程度まで容易に製造することができる。
Oe以上であることが好ましい。垂直方向保磁力が
この範囲未満であると、再生出力が不十分である。なお
、垂直方向保磁力の上限は特にないが、通常1500
Oe程度まで容易に製造することができる。
【0055】垂直磁化膜14の厚さは200〜2000
Aであることが好ましい。厚さがこの範囲未満であると
再生出力が低下し、S/Nが低下する。また、この範囲
を超えると記録密度が低下し、例えば記録密度(D50
)が100KFRPIに達しない。
Aであることが好ましい。厚さがこの範囲未満であると
再生出力が低下し、S/Nが低下する。また、この範囲
を超えると記録密度が低下し、例えば記録密度(D50
)が100KFRPIに達しない。
【0056】垂直磁化膜14は、気相成長法により形成
される。気相成長法としては、スパッタ法を用いること
が好ましい。
される。気相成長法としては、スパッタ法を用いること
が好ましい。
【0057】なお、スパッタ法にて成膜する場合、スパ
ッタの方式、装置等には特に制限がなく、また諸条件も
スパッタ方式等に応じて適宜決定すればよい。例えばD
C−マグネトロンスパッタの場合、動作圧力は、0.1
〜10Pa程度とし、Ar等の不活性ガス雰囲気下で行
なえばよい。
ッタの方式、装置等には特に制限がなく、また諸条件も
スパッタ方式等に応じて適宜決定すればよい。例えばD
C−マグネトロンスパッタの場合、動作圧力は、0.1
〜10Pa程度とし、Ar等の不活性ガス雰囲気下で行
なえばよい。
【0058】垂直磁化膜14上には、厚さ100A以下
の固体保護層15を設層するか、または固体保護層15
を設層しないことが好ましい。
の固体保護層15を設層するか、または固体保護層15
を設層しないことが好ましい。
【0059】固体保護層15を設けることにより、垂直
磁化膜14への傷の発生を有効に防止でき、磁気ディス
ク1の耐久性がより一層向上する。また、Co−Cr系
合金自体は錆に強いので、固体保護層5を設層しなくて
も耐食性に関しては何ら問題がなく、固体保護層15を
設けないことにより、スペーシングロスが低下し、記録
再生出力が向上する。
磁化膜14への傷の発生を有効に防止でき、磁気ディス
ク1の耐久性がより一層向上する。また、Co−Cr系
合金自体は錆に強いので、固体保護層5を設層しなくて
も耐食性に関しては何ら問題がなく、固体保護層15を
設けないことにより、スペーシングロスが低下し、記録
再生出力が向上する。
【0060】固体保護層15は、従来、固体保護層とし
て公知のSi、Al、OおよびNを含むいわゆるサイア
ロン、酸化物、窒化物、炭化物、炭素、ケイ化物等や、
これらの混合物など、各種無機保護膜で構成すればよい
。
て公知のSi、Al、OおよびNを含むいわゆるサイア
ロン、酸化物、窒化物、炭化物、炭素、ケイ化物等や、
これらの混合物など、各種無機保護膜で構成すればよい
。
【0061】本発明では、ディスクの表面粗さRmax
を所定値に規制し、後述するダイナミックローディング
により記録再生を行なうため、保護層15を薄層化して
もまたは保護層15を設層しなくても十分な傷防止能が
得られ、しかも薄層化または設層しないことによりスペ
ーシングロスが低下し、記録再生出力が格段と向上する
。
を所定値に規制し、後述するダイナミックローディング
により記録再生を行なうため、保護層15を薄層化して
もまたは保護層15を設層しなくても十分な傷防止能が
得られ、しかも薄層化または設層しないことによりスペ
ーシングロスが低下し、記録再生出力が格段と向上する
。
【0062】固体保護層15を設層する場合には、記録
密度向上の点で保護層15の厚さは、100A以下、特
に80A以下、さらには50A以下、とりわけ20A以
下が好ましい。
密度向上の点で保護層15の厚さは、100A以下、特
に80A以下、さらには50A以下、とりわけ20A以
下が好ましい。
【0063】ただし、保護層15の厚さが薄すぎると、
酸化防止を含め保護層としての効果が不十分であるため
、厚さの下限は10Aが好ましい。
酸化防止を含め保護層としての効果が不十分であるため
、厚さの下限は10Aが好ましい。
【0064】なお、固体保護層15の設層には、スパッ
タリング等の各種気相成膜法を用いればよい。
タリング等の各種気相成膜法を用いればよい。
【0065】垂直磁化膜14上、固体保護層15を設層
する場合は、固体保護層15上には、好ましくは潤滑膜
16が設けられる。
する場合は、固体保護層15上には、好ましくは潤滑膜
16が設けられる。
【0066】潤滑膜16は有機化合物を含有することが
好ましい。用いる有機化合物に特に制限はなく、また、
液体であっても固体であってもよく、フッ素系有機化合
物、例えば欧州特許公開第0165650号およびその
対応日本出願である特開昭61−4727号公報、欧州
特許公開第0165649号およびその対応日本出願で
ある特開昭61−155345号公報等に記載されてい
るようなパーフルオロポリエーテル、あるいは公知の各
種脂肪酸、各種エステル、各種アルコール等から適当な
ものを選択すればよい。
好ましい。用いる有機化合物に特に制限はなく、また、
液体であっても固体であってもよく、フッ素系有機化合
物、例えば欧州特許公開第0165650号およびその
対応日本出願である特開昭61−4727号公報、欧州
特許公開第0165649号およびその対応日本出願で
ある特開昭61−155345号公報等に記載されてい
るようなパーフルオロポリエーテル、あるいは公知の各
種脂肪酸、各種エステル、各種アルコール等から適当な
ものを選択すればよい。
【0067】潤滑膜16の成膜方法に特に制限はなく、
塗布法等を用いればよい。
塗布法等を用いればよい。
【0068】潤滑膜16の膜厚は5〜50A、特に10
〜40Aであることが好ましい。膜厚がこの範囲未満で
あると潤滑効果が不十分であり、この範囲を超えるとか
えって摩擦を増加させてしまい、しかもスペーシングロ
スのため記録再生出力が低下してしまう。
〜40Aであることが好ましい。膜厚がこの範囲未満で
あると潤滑効果が不十分であり、この範囲を超えるとか
えって摩擦を増加させてしまい、しかもスペーシングロ
スのため記録再生出力が低下してしまう。
【0069】本発明では、磁気ディスク1の垂直磁化膜
14側の表面粗さRmaxを300A以下、好ましくは
200A以下、より好ましくは100A以下とする。
14側の表面粗さRmaxを300A以下、好ましくは
200A以下、より好ましくは100A以下とする。
【0070】なお、潤滑膜16は極めて薄いため、ディ
スク表面のRmaxは、垂直磁化膜14表面のRmax
、固体保護層15を設層する場合は固体保護層15表面
のRmaxと同等である。
スク表面のRmaxは、垂直磁化膜14表面のRmax
、固体保護層15を設層する場合は固体保護層15表面
のRmaxと同等である。
【0071】磁気ヘッドのディスク最内周での磁気ヘッ
ドの浮上量を0.10μm以下に規制する場合、後述す
るダイナミックローディングにより浮上型磁気ヘッドを
浮上させる際、磁気ヘッドが磁気ディスク1の表面に衝
突したり、接触したりするので、垂直磁化膜14側のR
maxが前記範囲を超えると、垂直磁化膜14に傷が発
生し、ディスクの耐久性が低下する。しかもアクセス時
間が長くなる。
ドの浮上量を0.10μm以下に規制する場合、後述す
るダイナミックローディングにより浮上型磁気ヘッドを
浮上させる際、磁気ヘッドが磁気ディスク1の表面に衝
突したり、接触したりするので、垂直磁化膜14側のR
maxが前記範囲を超えると、垂直磁化膜14に傷が発
生し、ディスクの耐久性が低下する。しかもアクセス時
間が長くなる。
【0072】また、ダイナミックローディングでは、C
SSの場合のような磁気ヘッドと磁気ディスクとの吸着
の問題がないため、垂直磁化膜14側のRmaxは小さ
い程好ましい。このためRmaxの下限には特に制限が
ないが、現実的なRmaxの下限は10A程度である。
SSの場合のような磁気ヘッドと磁気ディスクとの吸着
の問題がないため、垂直磁化膜14側のRmaxは小さ
い程好ましい。このためRmaxの下限には特に制限が
ないが、現実的なRmaxの下限は10A程度である。
【0073】本発明の磁気記録再生装置の浮上型磁気ヘ
ッドは、垂直磁気記録用の浮上型磁気ヘッドであれば特
に制限がなく、例えば、従来公知の磁気ヘッドは何れも
用いることができるが、薄膜型の磁気ヘッド、特に軟磁
性材料からなるリターンパス部を有し、主磁極およびコ
イルが薄膜で構成されている薄膜型の主磁極励磁型単磁
極ヘッドが好ましい。このような浮上型磁気ヘッドを用
いることにより、0.10μm以下の浮上量が安定に実
現する。
ッドは、垂直磁気記録用の浮上型磁気ヘッドであれば特
に制限がなく、例えば、従来公知の磁気ヘッドは何れも
用いることができるが、薄膜型の磁気ヘッド、特に軟磁
性材料からなるリターンパス部を有し、主磁極およびコ
イルが薄膜で構成されている薄膜型の主磁極励磁型単磁
極ヘッドが好ましい。このような浮上型磁気ヘッドを用
いることにより、0.10μm以下の浮上量が安定に実
現する。
【0074】図7に、このような垂直磁気記録用の浮上
型ヘッドの好適例の部分断面図を示す。
型ヘッドの好適例の部分断面図を示す。
【0075】図7において、浮上型磁気ヘッド2は、基
体21上に、絶縁層25で被覆された第1磁性層22、
第2磁性層23およびコイル層24を有し、第1磁性層
22および第2磁性層23が主磁極を構成している。絶
縁層25上には、接着剤層27により磁性体29が接着
され、リターンパス部を構成している。
体21上に、絶縁層25で被覆された第1磁性層22、
第2磁性層23およびコイル層24を有し、第1磁性層
22および第2磁性層23が主磁極を構成している。絶
縁層25上には、接着剤層27により磁性体29が接着
され、リターンパス部を構成している。
【0076】このような浮上型の磁気ヘッド2の少なく
ともフロント面側(図中左側)、すなわち浮揚面側には
、必要に応じ、前記と同様の潤滑膜を設けることもでき
る。
ともフロント面側(図中左側)、すなわち浮揚面側には
、必要に応じ、前記と同様の潤滑膜を設けることもでき
る。
【0077】なお、本発明では、浮上型磁気ヘッド2の
フロント面のRmaxは、200A以下、特に50〜1
50Aであることが好ましい。このようなRmaxを有
する垂直磁気ヘッドと上記したRmaxを有する磁気デ
ィスクとを組み合わせて使用することにより、本発明の
効果はより一層向上する。
フロント面のRmaxは、200A以下、特に50〜1
50Aであることが好ましい。このようなRmaxを有
する垂直磁気ヘッドと上記したRmaxを有する磁気デ
ィスクとを組み合わせて使用することにより、本発明の
効果はより一層向上する。
【0078】基体21は、スライダとしてはたらくもの
であり、Al2O3−TiCを主成分とするセラミッス
ク等の各種セラミックスなど公知の基体材料で構成すれ
ばよい。
であり、Al2O3−TiCを主成分とするセラミッス
ク等の各種セラミックスなど公知の基体材料で構成すれ
ばよい。
【0079】第1磁性層22および第2磁性層23の材
料としては、従来公知のものはいずれも使用可能であり
、例えばパーマロイ、センダスト、Co系非晶質磁性合
金等を用いることができる。
料としては、従来公知のものはいずれも使用可能であり
、例えばパーマロイ、センダスト、Co系非晶質磁性合
金等を用いることができる。
【0080】コイル層24の材質に特に制限はなく、通
常用いられるAl、Cu等の金属を用いればよい。
常用いられるAl、Cu等の金属を用いればよい。
【0081】コイル層24の巻回パターンや巻回密度に
ついても制限はなく、公知のものを適宜選択使用すれば
よい。例えば巻回パターンについては図示のスパイラル
型の他、積層型、ジグザグ型等いずれであってもよい。
ついても制限はなく、公知のものを適宜選択使用すれば
よい。例えば巻回パターンについては図示のスパイラル
型の他、積層型、ジグザグ型等いずれであってもよい。
【0082】絶縁層25の材料としては従来公知のもの
はいずれも使用可能であり、例えば、絶縁層25の形成
をスパッタ法により行なうときには、SiO2、ガラス
、Al2O3等を用いることができるが、耐摩耗性を向
上させるために、ビッカース硬度800以上のAl2O
3を用いることが好ましい。
はいずれも使用可能であり、例えば、絶縁層25の形成
をスパッタ法により行なうときには、SiO2、ガラス
、Al2O3等を用いることができるが、耐摩耗性を向
上させるために、ビッカース硬度800以上のAl2O
3を用いることが好ましい。
【0083】磁性体29は、図示のように、磁気ディス
ク1側の端面をフロント面より後退させることが好まし
い。このように構成することにより、ドロップインエラ
ーが防止でき、また、接着剤層27がにじみ出たり、接
着剤層27にゴミが付着した場合でも、フロント面への
悪影響がなく、走行性やヘッドタッチを悪化させること
がない。
ク1側の端面をフロント面より後退させることが好まし
い。このように構成することにより、ドロップインエラ
ーが防止でき、また、接着剤層27がにじみ出たり、接
着剤層27にゴミが付着した場合でも、フロント面への
悪影響がなく、走行性やヘッドタッチを悪化させること
がない。
【0084】なお、接着剤層27は必ずしも設ける必要
はなく、磁性体29と絶縁層25とを機械的な手段によ
り結合してもよい。
はなく、磁性体29と絶縁層25とを機械的な手段によ
り結合してもよい。
【0085】磁性体29を構成する軟磁性材料には、M
n−Zn系フェライト、Ni−Zn系フェライト、パー
マロイ等を用いればよい。
n−Zn系フェライト、Ni−Zn系フェライト、パー
マロイ等を用いればよい。
【0086】このような薄膜型の浮上型磁気ヘッドの製
造工程は、通常、薄膜作成とパターン形成とから構成さ
れる。
造工程は、通常、薄膜作成とパターン形成とから構成さ
れる。
【0087】第1磁性層22、第2磁性層23、コイル
層24および絶縁層25を構成する薄膜の作成には、従
来公知の気相被着法、例えば真空蒸着法、スパッタ法、
あるいはメッキ法等を用いればよい。
層24および絶縁層25を構成する薄膜の作成には、従
来公知の気相被着法、例えば真空蒸着法、スパッタ法、
あるいはメッキ法等を用いればよい。
【0088】これら各層のパターン形成は、従来公知の
選択エッチングあるいは選択デポジションにより行なう
ことができる。エッチングとしてはウェットエッチング
やドライエッチングを用いることができる。
選択エッチングあるいは選択デポジションにより行なう
ことができる。エッチングとしてはウェットエッチング
やドライエッチングを用いることができる。
【0089】浮上型磁気ヘッド2のスライダのディスク
対向面の全投影面積は、2mm2以下、より好ましくは
1.5mm2以下、特に好ましくは1.0mm2以下が
好ましい。
対向面の全投影面積は、2mm2以下、より好ましくは
1.5mm2以下、特に好ましくは1.0mm2以下が
好ましい。
【0090】面積が前記範囲をこえると、磁気ディスク
への衝撃が増大し、媒体表面にスジ傷が入る傾向にある
。この他、小型化するので、基板材ウエハより、多数個
のヘッドが得られ、コストが低減でき、またドライブに
組込んだとき、従来のヘッドより、最内周や最外周部に
シリンダを増設でき、ディスク面あたりの容量を増大す
ることができる。
への衝撃が増大し、媒体表面にスジ傷が入る傾向にある
。この他、小型化するので、基板材ウエハより、多数個
のヘッドが得られ、コストが低減でき、またドライブに
組込んだとき、従来のヘッドより、最内周や最外周部に
シリンダを増設でき、ディスク面あたりの容量を増大す
ることができる。
【0091】低浮上領域0.1μm以下において、この
ような寸法の浮上型磁気ヘッド2を用いることにより、
前記のように、浮上型磁気ヘッド2が、表面粗さRma
xが300A以下の磁気ディスク1と接触ないし衝突し
た際のディスクの垂直磁化膜の受ける衝撃等を減少させ
ることができ、強磁性金属薄膜の垂直磁化膜の弱さをカ
バーでき、高耐久信頼性を有する磁気記録再生装置が新
技術として実現する。
ような寸法の浮上型磁気ヘッド2を用いることにより、
前記のように、浮上型磁気ヘッド2が、表面粗さRma
xが300A以下の磁気ディスク1と接触ないし衝突し
た際のディスクの垂直磁化膜の受ける衝撃等を減少させ
ることができ、強磁性金属薄膜の垂直磁化膜の弱さをカ
バーでき、高耐久信頼性を有する磁気記録再生装置が新
技術として実現する。
【0092】このような浮上型磁気ヘッド2は、図1に
示されるように、ヘッド支持部4、例えばアーム等の従
来公知のアセンブリー等と組み合わせて使用される。
示されるように、ヘッド支持部4、例えばアーム等の従
来公知のアセンブリー等と組み合わせて使用される。
【0093】本発明の磁気記録再生方法では、浮上型磁
気ヘッド2と、磁気ディスク1の表面とが、非接触状態
で起動、停止を行ない、回転している磁気ディスク1上
に浮上型磁気ヘッド2、特に薄膜型の浮上型磁気ヘッド
2を浮上させて記録再生を行なう。
気ヘッド2と、磁気ディスク1の表面とが、非接触状態
で起動、停止を行ない、回転している磁気ディスク1上
に浮上型磁気ヘッド2、特に薄膜型の浮上型磁気ヘッド
2を浮上させて記録再生を行なう。
【0094】図1〜図5に本発明の磁気記録再生装置の
好適例を示し、以下図示例に従って説明する。
好適例を示し、以下図示例に従って説明する。
【0095】図1および図2に示される本発明の磁気記
録再生装置は、ダイナミックローディング方式の1つで
あるリフター駆動の場合の好適実施例であり、磁気ディ
スク1と、浮上型磁気ヘッド2と、浮上型磁気ヘッド2
の位置を制御するためのヘッド位置制御手段であるリフ
ター61およびリフター駆動装置65とを有する。そし
て、磁気ディスク1は、図示しないモータに連結してい
るスピンドル5に固定される。また、ヘッド支持部4に
とりつけられた浮上型磁気ヘッド2は、リフター61お
よびリフター駆動装置65により制御される。
録再生装置は、ダイナミックローディング方式の1つで
あるリフター駆動の場合の好適実施例であり、磁気ディ
スク1と、浮上型磁気ヘッド2と、浮上型磁気ヘッド2
の位置を制御するためのヘッド位置制御手段であるリフ
ター61およびリフター駆動装置65とを有する。そし
て、磁気ディスク1は、図示しないモータに連結してい
るスピンドル5に固定される。また、ヘッド支持部4に
とりつけられた浮上型磁気ヘッド2は、リフター61お
よびリフター駆動装置65により制御される。
【0096】停止中は、リフター61の支持によって、
浮上型磁気ヘッド2はディスク面から引き上げられてお
り、起動時には、磁気ディスク1が回転し、所望の回転
数に達したとき、リフター駆動装置65によってリフタ
ー61の支持が解除される。このとき、浮上型磁気ヘッ
ド2は下降して、0.10μm以下の低浮上量領域にな
るように回転中の磁気ディスク1上に浮上し、所望のシ
リンダ位置にて記録、再生が行なわれる。
浮上型磁気ヘッド2はディスク面から引き上げられてお
り、起動時には、磁気ディスク1が回転し、所望の回転
数に達したとき、リフター駆動装置65によってリフタ
ー61の支持が解除される。このとき、浮上型磁気ヘッ
ド2は下降して、0.10μm以下の低浮上量領域にな
るように回転中の磁気ディスク1上に浮上し、所望のシ
リンダ位置にて記録、再生が行なわれる。
【0097】この場合、リフター61の支持が解除され
てヘッド2が下降し、安定浮上する過程においては、ヘ
ッド2を図2矢印a方向に機械的に移動して下降させる
が、浮上量はサブミクロン台にて制御されるため、ヘッ
ド2は、ディスク1の外周側で、ディスク2と瞬時衝撃
ないし接触し、その後安定浮上する。
てヘッド2が下降し、安定浮上する過程においては、ヘ
ッド2を図2矢印a方向に機械的に移動して下降させる
が、浮上量はサブミクロン台にて制御されるため、ヘッ
ド2は、ディスク1の外周側で、ディスク2と瞬時衝撃
ないし接触し、その後安定浮上する。
【0098】停止時は、ヘッド2を、浮上中にソフトコ
ントロール制御により、ディスク1の外周側へ移動し、
リフター61によりヘッド2を持ち上げた状態でディス
ク1の回転を停止する。
ントロール制御により、ディスク1の外周側へ移動し、
リフター61によりヘッド2を持ち上げた状態でディス
ク1の回転を停止する。
【0099】本発明の磁気記録再生方法では、磁気ディ
スク1の回転数は1000〜6000rpm、特に10
00〜4000rpm程度が好ましい。
スク1の回転数は1000〜6000rpm、特に10
00〜4000rpm程度が好ましい。
【0100】また、浮上型磁気ヘッド2の接近速度の磁
気ディスク1主面と垂直方向の速度成分は、5mm/秒
以下が好ましい。
気ディスク1主面と垂直方向の速度成分は、5mm/秒
以下が好ましい。
【0101】また、高密度記録等の点から、ディスク最
内周での浮上量(磁気ディスク1の表面と浮上型磁気ヘ
ッド2の浮揚面との距離)は、0.10μm以下、好ま
しくは0.08μm以下、さらに好ましくは0.05μ
m以下とする。
内周での浮上量(磁気ディスク1の表面と浮上型磁気ヘ
ッド2の浮揚面との距離)は、0.10μm以下、好ま
しくは0.08μm以下、さらに好ましくは0.05μ
m以下とする。
【0102】浮上量の調整は、磁気ヘッド2のスライダ
の媒体対向面積、ブレンディングやチャンファーやクラ
ウンや磁気ヘッドへの荷重を変えることなどによって行
なう。
の媒体対向面積、ブレンディングやチャンファーやクラ
ウンや磁気ヘッドへの荷重を変えることなどによって行
なう。
【0103】図3〜図5には、ダイナミックローディン
グ方式と同様、ないしそれに属する方式であるランプ方
式の本発明の磁気記録再生装置の好適実施例が示される
。
グ方式と同様、ないしそれに属する方式であるランプ方
式の本発明の磁気記録再生装置の好適実施例が示される
。
【0104】図3および図5に示されるように、停止中
は、磁気ヘッド2は、ヘッド位置制御手段としてのラン
プロード台63上に載置されている。
は、磁気ヘッド2は、ヘッド位置制御手段としてのラン
プロード台63上に載置されている。
【0105】図4は、図3中のA−A線での断面図であ
り、図示されるようにランプロード台63には傾斜が付
けられている。
り、図示されるようにランプロード台63には傾斜が付
けられている。
【0106】起動時には、磁気ディスク1が回転すると
、磁気ヘッド2は、ランプロード台63の傾斜に沿って
移動し、回転中の磁気ディスク1上に浮上する。停止時
には、起動時と同様に磁気ヘッド2は、ランプロード台
63の傾斜面を昇りランプロード台63上に載置固定さ
れる。
、磁気ヘッド2は、ランプロード台63の傾斜に沿って
移動し、回転中の磁気ディスク1上に浮上する。停止時
には、起動時と同様に磁気ヘッド2は、ランプロード台
63の傾斜面を昇りランプロード台63上に載置固定さ
れる。
【0107】このように本発明の磁気記録再生装置のダ
イナミックローディングないしランプローディングの機
構には特に制眼がなく、従来公知の何れのものであって
もよい。
イナミックローディングないしランプローディングの機
構には特に制眼がなく、従来公知の何れのものであって
もよい。
【0108】
【実施例】以下、本発明を実施例によって具体的に説明
する。
する。
【0109】実施例1
外径65mm、厚さ0.635mmのディスク状のアル
ミノケイ酸ガラス基板を研磨し、さらに化学強化処理を
施した。化学強化処理は、450℃の溶融硝酸カリウム
に10時間浸漬することにより行なった。
ミノケイ酸ガラス基板を研磨し、さらに化学強化処理を
施した。化学強化処理は、450℃の溶融硝酸カリウム
に10時間浸漬することにより行なった。
【0110】次いで、このガラス基板表面をメカノケミ
カルポリッシングにより平滑化した。メカノケミカルポ
リッシングには、コロイダルシリカを含む研磨液を用い
た。
カルポリッシングにより平滑化した。メカノケミカルポ
リッシングには、コロイダルシリカを含む研磨液を用い
た。
【0111】研磨後の表面粗さ(Rmax)は20Aで
あった。
あった。
【0112】ガラス基板を洗浄後、ガラス基板上に、下
記に示される軟磁性膜、垂直磁化膜、保護層および潤滑
膜を順次形成し、磁気ディスクを得た。
記に示される軟磁性膜、垂直磁化膜、保護層および潤滑
膜を順次形成し、磁気ディスクを得た。
【0113】<軟磁性膜>2%O2を含む2×10−1
PaのAr雰囲気中にてDCマグネトロンスパッタ法に
より80at%Ni−Fe合金を厚さ2000Aに成膜
して形成した。軟磁性膜の面内方向の保磁力は、9
Oeであった。
PaのAr雰囲気中にてDCマグネトロンスパッタ法に
より80at%Ni−Fe合金を厚さ2000Aに成膜
して形成した。軟磁性膜の面内方向の保磁力は、9
Oeであった。
【0114】<垂直磁化膜>DCマグネトロンスパッタ
法により20at%Cr−Co合金を厚さ1500Aに
成膜して形成した。成膜時の雰囲気は、軟磁性膜形成の
際と同様とした。垂直磁化膜の垂直方向の保磁力は、7
20 Oeであった。
法により20at%Cr−Co合金を厚さ1500Aに
成膜して形成した。成膜時の雰囲気は、軟磁性膜形成の
際と同様とした。垂直磁化膜の垂直方向の保磁力は、7
20 Oeであった。
【0115】<保護層>DCマグネトロンスパッタ法に
より膜厚70Aのカーボン薄膜を成膜した。
より膜厚70Aのカーボン薄膜を成膜した。
【0116】<潤滑膜>分子量2000の下記式で表わ
される化合物の0.1wt%溶液を用いて、スピンコー
ト法により厚さ20Aに成膜して形成した。
される化合物の0.1wt%溶液を用いて、スピンコー
ト法により厚さ20Aに成膜して形成した。
【0117】
(式)F(CF2CF2CF2O)nCF2CF3
得られた磁気ディスクの表面粗さRmaxは50Aであ
った。
得られた磁気ディスクの表面粗さRmaxは50Aであ
った。
【0118】また、このほか表面粗さRmaxを100
A、150A、250A、500Aとしたサンプルや保
護層の膜厚を100A、80A、50A、20Aとした
サンプルを作製した。なお、試料No.9のディスクの
みは、ガラス基板のRmaxを30Aとした。
A、150A、250A、500Aとしたサンプルや保
護層の膜厚を100A、80A、50A、20Aとした
サンプルを作製した。なお、試料No.9のディスクの
みは、ガラス基板のRmaxを30Aとした。
【0119】次いで、垂直磁気記録用の浮上型磁気ヘッ
ドとして、図7に示されるような薄膜型の主磁極励磁型
単磁極ヘッドを得た。
ドとして、図7に示されるような薄膜型の主磁極励磁型
単磁極ヘッドを得た。
【0120】基体にはビッカース硬度2000Kgf/
mm2のAl2O3−TiCを用い、この基体上に薄膜
磁気ヘッド素子を形成した後、磁気ヘッド形状に加工し
、支持バネ(ジンバル)に取りつけ、空気ベアリング型
の浮上型磁気ヘッドとした。
mm2のAl2O3−TiCを用い、この基体上に薄膜
磁気ヘッド素子を形成した後、磁気ヘッド形状に加工し
、支持バネ(ジンバル)に取りつけ、空気ベアリング型
の浮上型磁気ヘッドとした。
【0121】主磁極は、厚さ0.5μm、幅50μmと
した。また、浮揚面のRmaxは100Aであった。
した。また、浮揚面のRmaxは100Aであった。
【0122】この場合、スライダのディスク対向面の全
投影面積が、1.4mm2および0.8mm2の磁気ヘ
ッドを作製した。
投影面積が、1.4mm2および0.8mm2の磁気ヘ
ッドを作製した。
【0123】そして、前記の磁気ヘッドと、磁気ディス
クと、ヘッド位置制御手段とをそれぞれ組み合わせて、
ダイナミックローディング方式の磁気記録再生装置とし
、ディスク最内周での浮上量が0.08μm、0.04
μmおよび0.03μmとなるように調整し、ディスク
の回転数2500rpmにて、下記の評価を行なった。
クと、ヘッド位置制御手段とをそれぞれ組み合わせて、
ダイナミックローディング方式の磁気記録再生装置とし
、ディスク最内周での浮上量が0.08μm、0.04
μmおよび0.03μmとなるように調整し、ディスク
の回転数2500rpmにて、下記の評価を行なった。
【0124】(1)耐久性
20℃、60%RHにてダイナミックローディングによ
り、磁気ヘッドの起動、停止を10万回繰り返し行なっ
て、耐久信頼性を行ない、磁気ディスクの垂直磁化膜に
傷が発生する程度を調べ、1〜5(数が大きい程良好)
の5段階で評価した。
り、磁気ヘッドの起動、停止を10万回繰り返し行なっ
て、耐久信頼性を行ない、磁気ディスクの垂直磁化膜に
傷が発生する程度を調べ、1〜5(数が大きい程良好)
の5段階で評価した。
【0125】評価基準
5…傷ごく微小
4…傷微小
3…傷小
2…傷中
1…傷大
なお、1は使用不能であり、2以上は使用可能である。
【0126】(2)AE出力
起動、停止を10万回(試料No.4のみ1000回)
繰り返し行なった後、アコースティック・エミッション
(AE)センサにて、ダイナミックローディングにより
、磁気ヘッドをディスク上に浮上させる際の磁気ヘッド
と、磁気ディスクとの衝突音を検出し1〜5(数が大き
い程良好)の5段階で評価した。
繰り返し行なった後、アコースティック・エミッション
(AE)センサにて、ダイナミックローディングにより
、磁気ヘッドをディスク上に浮上させる際の磁気ヘッド
と、磁気ディスクとの衝突音を検出し1〜5(数が大き
い程良好)の5段階で評価した。
【0127】評価基準
5…衝突音微小
4…衝突音小
3…衝突音小〜中
2…衝突音中
1…衝突音大
なお、1は使用不能、2はやや問題があるが使用可能で
あり、3以上は使用可能である。
あり、3以上は使用可能である。
【0128】(3)D70
再生出力が70%になる記録密度D70を求め、試
料No.3において、カーボン保護層の膜厚を200A
としたときのD70を100としたときの相対値(%)
を算出した。
料No.3において、カーボン保護層の膜厚を200A
としたときのD70を100としたときの相対値(%)
を算出した。
【0129】結果は表1に示されるとおりである。
【0130】
【表1】
【0131】
表1に示される結果から本発明の効果が明らかである。
【0132】より詳細には、磁気ディスクの表面粗さR
maxが500Aの比較用の試料No.4は、浮上量0
.08μmのとき、2000回でヘッドクラッシュが発
生している。
maxが500Aの比較用の試料No.4は、浮上量0
.08μmのとき、2000回でヘッドクラッシュが発
生している。
【0133】これに対し、ディスクのRmaxが300
A以下の本発明の試料No.1〜3、5〜9は、10万
回パスしてもヘッドクラッシュが発生しなかった。
A以下の本発明の試料No.1〜3、5〜9は、10万
回パスしてもヘッドクラッシュが発生しなかった。
【0134】また、ディスクのRmaxのみを50、1
50、250AとしたNo.1〜3を対比すると、10
万回パス後の垂直磁化膜の傷およびAE出力は、Rma
xが小さい程良好であることがわかる。
50、250AとしたNo.1〜3を対比すると、10
万回パス後の垂直磁化膜の傷およびAE出力は、Rma
xが小さい程良好であることがわかる。
【0135】また、カーボン保護層の膜厚を100A以
下とすることにより、膜厚200Aのものに比べD70
が向上し、さらにカーボン保護層の膜厚のみを100、
80、50、20AとしたNo.5〜8を対比すると、
カーボン保護層の膜厚が薄い程D70が大きいことがわ
かる。
下とすることにより、膜厚200Aのものに比べD70
が向上し、さらにカーボン保護層の膜厚のみを100、
80、50、20AとしたNo.5〜8を対比すると、
カーボン保護層の膜厚が薄い程D70が大きいことがわ
かる。
【0136】この場合、最も薄い膜厚20Aの保護層を
有するNo.8でも、耐久性およびAE出力が良好であ
ることもわかる。
有するNo.8でも、耐久性およびAE出力が良好であ
ることもわかる。
【0137】なお、本発明の試料はアクセス時間も短か
った。
った。
【0138】実施例2
実施例1の試料No.1〜3、5および9において、磁
気ディスクにカーボン保護層を設層しないほかは同様に
して、実施例1と同じ評価を行なったところ、耐久性に
ついては5万回パス時までは実施例1と同等であり、D
70が向上した。
気ディスクにカーボン保護層を設層しないほかは同様に
して、実施例1と同じ評価を行なったところ、耐久性に
ついては5万回パス時までは実施例1と同等であり、D
70が向上した。
【0139】また、Co−Cr合金自体錆に強いので、
耐食性に関しても問題がなかった。
耐食性に関しても問題がなかった。
【0140】
【発明の効果】メタル媒体は膜強度が弱いため、低浮上
量での磁気記録再生が困難であったが、本発明の磁気記
録再生方法によれば、低浮上量での磁気ディスクの垂直
磁化膜への傷の発生やヘッドクラッシュ等を防止でき耐
久信頼性が格段と向上し、良好に高密度記録を行なうこ
とかできる。
量での磁気記録再生が困難であったが、本発明の磁気記
録再生方法によれば、低浮上量での磁気ディスクの垂直
磁化膜への傷の発生やヘッドクラッシュ等を防止でき耐
久信頼性が格段と向上し、良好に高密度記録を行なうこ
とかできる。
【0141】また、前記実施例からも明らかなように、
例えば保護層の膜厚が20A程度であり、膜強度が弱い
にもかかわらず、低浮上量での十分な耐久信頼性を確保
できるため、保護層の薄層化によって記録密度をより一
層向上できる。また、保護層を設層しない場合でも、低
浮上量での十分な耐久信頼性が得られるため、保護層を
形成しないことにより、さらに記録密度を向上できる。
例えば保護層の膜厚が20A程度であり、膜強度が弱い
にもかかわらず、低浮上量での十分な耐久信頼性を確保
できるため、保護層の薄層化によって記録密度をより一
層向上できる。また、保護層を設層しない場合でも、低
浮上量での十分な耐久信頼性が得られるため、保護層を
形成しないことにより、さらに記録密度を向上できる。
【0142】このように本発明では、非接触状態で起動
、停止を行なう、いわゆるダイナミックローディング方
式やランプローディング方式と組み合わせることにより
、耐久信頼性が高く、しかも高記録密度の画期的な磁気
記録再生システムが実現できる。また、本発明によりア
クセス時間を短縮できる。
、停止を行なう、いわゆるダイナミックローディング方
式やランプローディング方式と組み合わせることにより
、耐久信頼性が高く、しかも高記録密度の画期的な磁気
記録再生システムが実現できる。また、本発明によりア
クセス時間を短縮できる。
【図1】本発明の磁気記録再生装置の1例が示される部
分正面図である。
分正面図である。
【図2】図1に示す本発明の磁気記録再生装置の部分平
面図である。
面図である。
【図3】本発明の磁気記録再生装置の他の例が示される
部分正面図である。
部分正面図である。
【図4】図3中のA−A線での断面図である。
【図5】図3に示す本発明の磁気記録再生装置の部分平
面図である。
面図である。
【図6】本発明の磁気記録再生装置の磁気ディスクの1
例が示される部分断面図である。
例が示される部分断面図である。
【図7】本発明の磁気記録再生装置の浮上型薄膜磁気ヘ
ッドの1例が示される部分断面図である。
ッドの1例が示される部分断面図である。
1 磁気ディスク
12 ディスク基板
13 軟磁性膜
14 垂直磁化膜
15 保護層
16 潤滑膜
2 浮上型磁気ヘッド
21 基体
22 第1磁性層
23 第2磁性層
24 コイル層
25 絶縁層
27 接着剤層
29 磁性体
4 ヘッド支持部
5 スピンドル
61 リフター
63 ランプロード台
65 リフター駆動装置
Claims (6)
- 【請求項1】 剛性のディスク基板上に垂直磁化膜を
有する磁気ディスクを回転させ、この磁気ディスク上に
垂直磁気記録用の浮上型の磁気ヘッドを浮上させて記録
再生を行なう磁気記録再生方法であって、前記垂直磁化
膜が強磁性金属薄膜であり、前記磁気ディスクの垂直磁
化膜側の表面粗さRmaxが300A以下であり、前記
磁気ヘッドのディスク最内周での浮上量が0.10μm
以下であり、前記磁気ヘッドと前記磁気ディスクの表面
とが、非接触状態で起動、停止を行なうことを特徴とす
る磁気記録再生方法。 - 【請求項2】 前記磁気ヘッドのスライダのディスク
対向面の全投影面積が2mm2以下である請求項1に記
載の磁気記録再生方法。 - 【請求項3】 前記磁気ディスクが、前記垂直磁化膜
上に厚さ100A以下の保護層を有するか、または保護
層を有しない請求項1または2に記載の磁気記録再生方
法。 - 【請求項4】 剛性のディスク基板上に垂直磁化膜を
有する磁気ディスクと、垂直磁気記録用の浮上型の磁気
ヘッドと、この磁気ヘッドの位置を制御するヘッド位置
制御手段とを有し、前記垂直磁化膜が強磁性金属薄膜で
あり、前記磁気ディスクの垂直磁化膜側の表面粗さRm
axが300A以下であり、前記磁気ディスクが回転し
、この磁気ディスク上に前記磁気ヘッドが、ディスク最
内周での浮上量が0.10μm以下となるように浮上し
て記録再生を行ない、前記磁気ヘッドと前記磁気ディス
クの表面とが、非接触状態で起動、停止を行なうように
構成したことを特徴とする磁気記録再生装置。 - 【請求項5】 前記磁気ヘッドのスライダのディスク
対向面の全投影面積が2mm2以下である請求項4に記
載の磁気記録再生装置。 - 【請求項6】 前記磁気ディスクが、前記垂直磁化膜
上に厚さ100A以下の保護層を有するか、または保護
層を有しない請求項4または5に記載の磁気記録再生装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP41874090A JPH04251402A (ja) | 1990-12-28 | 1990-12-28 | 磁気記録再生方法および磁気記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP41874090A JPH04251402A (ja) | 1990-12-28 | 1990-12-28 | 磁気記録再生方法および磁気記録再生装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04251402A true JPH04251402A (ja) | 1992-09-07 |
Family
ID=18526529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP41874090A Pending JPH04251402A (ja) | 1990-12-28 | 1990-12-28 | 磁気記録再生方法および磁気記録再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04251402A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08293177A (ja) * | 1995-02-22 | 1996-11-05 | Integral Peripherals Inc | 表面をスーパー仕上げ処理したディスクを備えたダイナミックヘッドローディングディスクドライブ及びその製造方法及び運転方法 |
JP2010218677A (ja) * | 2009-02-23 | 2010-09-30 | Hoya Corp | 片面垂直磁気記録媒体 |
-
1990
- 1990-12-28 JP JP41874090A patent/JPH04251402A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08293177A (ja) * | 1995-02-22 | 1996-11-05 | Integral Peripherals Inc | 表面をスーパー仕上げ処理したディスクを備えたダイナミックヘッドローディングディスクドライブ及びその製造方法及び運転方法 |
JP2010218677A (ja) * | 2009-02-23 | 2010-09-30 | Hoya Corp | 片面垂直磁気記録媒体 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000620 |