JPH04240813A - 焦点検出装置 - Google Patents

焦点検出装置

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Publication number
JPH04240813A
JPH04240813A JP7223591A JP7223591A JPH04240813A JP H04240813 A JPH04240813 A JP H04240813A JP 7223591 A JP7223591 A JP 7223591A JP 7223591 A JP7223591 A JP 7223591A JP H04240813 A JPH04240813 A JP H04240813A
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JP
Japan
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focus detection
light
detection system
liquid crystal
optical path
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Withdrawn
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JP7223591A
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Inventor
Hisashi Goto
尚志 後藤
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、焦点検出装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】撮影レンズによって形成される像を再結
像光学系により二つに分割して光電変換素子列(受光素
子列)上に再形成し、その二像の位置ずれを検出するこ
とにより合焦検出を行なう焦点検出装置は従来から数多
く提案されている。代表的なものは、図9に示した如く
、撮影レンズ1の予定結像面(予定焦点面,フィルム等
価面)2の近傍に配置されたコンデンサーレンズ3と、
コンデンサーレンズ3の後方に配置された合焦精度を確
保し得る間隔を以って並ぶ一対のセパレータレンズ4と
、セパレータレンズ4から射出した光束の結像位置に配
置された受光素子列5より構成されている。
【0003】撮影レンズ1の合焦時に予定結像面2上に
物体像Iが結像される。この物体像Iは、コンデンサー
レンズ3と一対のセパレータレンズ4により撮影レンズ
1の光軸に対して垂直な二次結像面(受光素子列5)上
に再結像されて第1像I1 と第2像I2 となる。撮
影レンズ1が前ピンである即ち予定結像面2の前側に物
体像Fが形成される場合、その物体像Fは互いに撮影レ
ンズ1の光軸に近づいた形で該光軸に対して垂直に再結
像されて第1像F1 と第2像F2 となる。又、撮影
レンズ1が後ピンである即ち予定結像面2の後側に物体
像Bが形成される場合、その物体像Bは互いに撮影レン
ズ1の光軸から離れた形で該光軸に対して垂直に再結像
されて第1像B1 と第2像B2 となる。これらの第
1像と第2像は同一方向を向いており、両像の間隔を検
出する事により撮影レンズ1の合焦状態を前ピン量,後
ピン量を含めて検出する事が可能である。具体的には、
この第1像と第2像の受光素子列5上の輝度分布を検出
し、演算処理等を施して両像の間隔を求める。
【0004】上記のような構成を有する焦点検出装置は
、これまでに数多く提案されており、例えば特開昭55
−118019号公報,特開昭58−106511号公
報及び特開昭60−32012号公報に記載のものがあ
る。これらは何れも一列の受光素子列を用いて合焦検出
を行っている。
【0005】ところで、焦点検出系においては測距範囲
の広さと合焦精度とは通常相反する関係がある。受光素
子列は通常等間隔に各受光素子が配列されており、その
間隔を各々1ピッチすると、合焦精度は通常1ピッチに
対する相対尺度として表される。合焦精度を1ピッチの
M分の1(Mは定数)であるとし、1ピッチ当たりの像
面でのデフォーカス量をαとすると、像面での合焦精度
Δは、         Δ=±(1/M)・α       
                         
  (1)である。
【0006】ここで、Δが大きいほうが合焦精度が悪く
、Δが小さい程合焦精度は良いと言える。又、受光素子
数をN(定数)とすると、像面での測距可能なデフォー
カス範囲Σは、       Σ=|±N/α|           
                         
    (2)である。
【0007】ここで、αを大きくすると、測距範囲Σは
大きくなるが、合焦精度Δは劣化する。逆に、αを小さ
くすると、合焦精度Δは良くなるが、測距範囲Σは小さ
くなり、これらは両立しない。
【0008】そこで、測距範囲の拡大と、合焦精度の向
上の両方を同時に満足する焦点検出系が例えば特開昭6
3−264715号公報で提案されている。図10に、
この提案の中のTTL像位相差法による焦点検出系を二
つ併設した光学系を示した。これは、予定結像面2の近
傍に配置されたコンデンサーレンズ3と、コンデンサー
レンズ3の後方に配置されたハーフミラー6と、ハーフ
ミラー6の反射光路上に配置され且つ合焦精度を確保し
得る間隔を以って紙面と垂直な方向に並ぶ一対の開口部
を有する明るさ絞り7と、一対の開口部を有する明るさ
絞り7の各後方に夫々配置され且つ紙面と垂直な方向に
並ぶ一対のセパレータレンズ8と、セパレータレンズ8
から射出した光束の結像位置に配置された受光素子列9
とから成る焦点検出系Iと、ハーフミラー6の透過光路
上であってミラー10の後方に配置され且つ合焦精度を
確保し得る間隔を以って紙面と垂直な方向に並ぶ一対の
開口部を有する明るさ絞り11と、一対の開口部を有す
る明るさ絞り11の各後方に夫々配置され且つ紙面と垂
直な方向に並ぶ一対のセパレータレンズ12と、セパレ
ータレンズ12から射出した光束の結像位置に配置され
た受光素子列13とから成る焦点検出系IIとから構成
されている。ここで、受光素子列9,13上の像位相差
量をP、検出する重心光束のFナンバーをFW 、焦点
検出系の投影倍率をβとすると、検出デフォーカス量D
はD=FW /β)・Pとなる。従って、焦点検出系I
,IIの検出デフォーカス量D1 ,D2 は次のよう
になる。
【0009】   D1 =(FW1/β1 )・P1   ,  D
2 =(FW2/β2 )・P2   (3)
【001
0】但し、D1 は焦点検出系Iの検出デフォーカス量
、D2 は焦点検出系IIの検出デフォーカス量、P1
 は焦点検出系Iの受光素子列9上の像位相差量、P2
 は焦点検出系IIの受光素子列13上の像位相差量、
β1 は焦点検出系Iの像倍率、β2 は焦点検出系I
Iの像倍率、FW1は焦点検出系Iの検出重心光束のF
ナンバー、FW2は焦点検出系IIの検出重心光束のF
ナンバーである。従って、焦点検出系I,IIのFW1
,β1 ,FW2,β2 を適切に設定することにより
、合焦精度は若干劣るものの測距デフォーカス範囲が広
い焦点検出系Iと測距デフォーカス範囲が狭いながらも
合焦精度の優れた焦点検出系IIとから構成された、測
距範囲の拡大と合焦精度の向上の両方を同時に満足する
焦点検出装置を実現することができる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来例
の場合、光束がハーフミラーで焦点検出系I,  焦点
検出系IIに2分されるので、光量が1/2となる。そ
のため、明るい被写体の場合は問題がないが、暗い被写
体の時測距離精度が劣化したり、又は測距不能となって
しまう。
【0012】本発明の目的は、測距範囲の拡大と合焦精
度の向上の両方を同時に満足しつつ、暗い被写体の時な
ど必要な時には焦点検出系が一つのものと同等の測距精
度が得られる焦点検出装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明の焦点検
出装置は、2つの焦点検出系を備えている。その一方は
、撮影レンズの異なる領域をそれぞれ通過した光束を対
を成す2つのセパレータレンズでそれぞれ受けて2つの
物体像を形成させ、該物体像をそれぞれ光電変換手段で
受けて該物体像の光強度分布を表わす信号を出力させ、
該信号の間の位相差を検出することにより焦点検出を行
う、いわゆる位相検出型のものである。また、他方も、
前記撮影レンズの異なる領域をそれぞれ通過した光束を
対を成す2つのセパレータレンズでそれぞれ受けて2つ
の物体像を形成させ、該物体像をそれぞれ光電変換手段
で受けて該物体像の光強度分布を表わす信号を出力させ
、該信号の間の位相差を検出することにより焦点検出を
行う、いわゆる位相差検出型のものである。ただし、第
1の焦点検出系と第2の焦点検出系とでは、検出重心光
束のFナンバ及び結像倍率の一方または両方が異なって
いるので、一方は焦点検出の精度は高いが検出可能なデ
フォーカスの範囲が狭く、他方は焦点検出の精度は低い
が検出可能なデフォーカスの範囲は広いという特性を持
っている。そこで、本発明では、光路切換え手段を設け
て第1および第2の焦点検出系に撮影レンズを通過した
光束を選択的に導くようにしたので、各々の焦点検出系
に焦点検出のために使用できる光をすべて導くことがで
き、その結果物体が暗い場合でも焦点検出動作を行わせ
ることが可能となる。
【0014】ここで検出重心光束とは、セパレータレン
ズで2つの像が形成される場合に各像の強度分布の重心
となる点に入射する光束(通常は撮像レンズによる像の
中心とセパレータレンズの各中心とを結ぶ線に沿って入
射する光束が大体これになる)を意味している。又、検
出重心光束のFナンバとは、撮影レンズの瞳面において
2つの検出重心光束と接する円を瞳径と考えた時のFナ
ンバを意味している。
【0015】
【実施例】以下、図示した実施例に基づき上記従来例と
同一の部材には同一符号を付して本発明を詳細に説明す
る。
【0016】第一実施例 図1は本発明による焦点検出装置の第一実施例を一眼レ
フカメラボディ内に組込んだ状態を示した断面図、図2
は第一実施例の焦点検出系を二つ併設した光学系を示し
た図である。これは、撮影レンズ1の予定結像面2の近
傍に配置されたコンデンサーレンズ3と、コンデンサー
レンズ3の後方に配置され且つ光路から退避可能なハー
フミラー28と、ハーフミラー28の反射光路上に配置
され且つ合焦精度を確保し得る間隔を以て紙面と垂直な
方向に並ぶ一対の開口部を有する明るさ絞り30と、一
対の開口部を有する明るさ絞り30の各後方にそれぞれ
配置され且つ紙面と垂直な方向に並ぶ一対のセパレータ
レンズ32と、セパレータレンズ32から射出した光束
の結像位置に配置された受光素子列9とから成る焦点検
出系Iと、ハーフミラー28の透過光路上であってミラ
ー29の後方に配置され且つ合焦精度を確保し得る間隔
を以て紙面と垂直な方向に並ぶ一対の開口部を有する明
るさ絞り31と、一対の開口部を有する明るさ絞り31
の各後方にそれぞれ配置され且つ紙面と垂直な方向に並
ぶ一対のセパレータレンズ33と、セパレータレンズ3
3から射出した光束の結像位置に配置された受光素子列
13とから成る焦点検出系IIとから構成されている。
【0017】下記表1,2に第一実施例のレンズデータ
を示す。但し、rijは曲率半径、dijはレンズ肉厚
又は空気間隔、nijはレンズによるd線の屈折率、β
1 は焦点検出系Iの像倍率、β2 は焦点検出系II
の像倍率、FW1は焦点検出系Iの検出重心光束のFナ
ンバー、FW2は焦点検出系IIの検出重心光束のFナ
ンバーである。
【0018】
【0019】
【0020】本実施例によれば、焦点検出系Iでは、撮
影レンズ1から射出されて撮影レンズ1の予定結像面2
を透過しコンデンサーレンズ3を経た光束の内ハーフミ
ラー28で反射した光束が、セパレータレンズ32を経
て受光素子列9上に一対の2次像I11,I12として
結像せしめられる。焦点検出系IIでは、撮影レンズ1
から射出されて撮影レンズ1の予定結像面2を透過しコ
ンデンサーレンズ3を経た光束の内ハーフミラー28で
反射した光束が、セパレータレンズ33を経て受光素子
列13上に一対の2次像I21,I22として結像せし
められる。 被写体が明るい時はハーフミラー28は光路に挿入され
ており、合焦精度は若干劣るものの測距デフォーカス範
囲が広い焦点検出系Iと測距デフォーカス範囲が狭いな
がらも合焦精度の優れた焦点検出系IIの両方が構成さ
れ、あわせて測距範囲の拡大と合焦精度の向上の両方を
同時に満足する焦点検出装置が構成される。測距精度が
劣化する程度被写体が暗くなったときはハーフミラー2
8を光路から退避させ、焦点検出系IIに導かれる光量
を増やして測距精度の劣化を防ぐ。この時、測距デフォ
ーカス範囲が狭い焦点検出系だけになるが、■撮影者が
概略ピントを合わせておくか、■撮影レンズ1のフォー
カス状態を変化させて測距デフォーカス範囲にいれ、そ
の後測距し合焦させるか、■一般に補助光は光量をより
多く得ることのできる赤色か近赤外の波長を用いるため
実際に撮影されフィルムに感光する波長分布と異なり測
距精度が劣化することを考慮し、最初はハーフミラー2
8を光路に挿入し且つ補助光をカメラ側から投射して焦
点検出系Iで概略合焦させ、その後ハーフミラー28を
光路から退避させて焦点検出系IIで精度の高い合焦検
出を行い、この時ハーフミラー28の特性として近赤外
の波長に対しては反射率を高くすることにより補助光の
光を効率よく焦点検出系Iに導けるようにする、の三案
が考えられるが、いずれの場合も暗い被写体に対しても
焦点検出系IIで測距精度の高い焦点検出ができる。
【0021】更に、図3や図4に示したように素通し部
分34とハーフミラー部分35とミラー部分36とから
なる切替え部材28′を図2のハーフミラー28の代わ
りに光路に挿入する様に構成しても良い。このとき焦点
検出系Iの検出重心光束のFナンバーを焦点検出系II
の検出重心光束のFナンバーより暗く設定しておくこと
により、焦点検出系IIの検出重心光束のFナンバーよ
り暗いFナンバーの撮影レンズ1を装着した場合、ハー
フミラー部分35を光路から退避させ、ミラー部分36
を光路に挿入することにより、焦点検出光束を分離する
ことなく効率的に焦点検出系Iに導くことができ、特に
暗い時の測距精度を上げることができる。この時、焦点
検出系IIに比べ測距精度は劣るが、暗いFナンバーの
撮影レンズ1の場合被写界深度が深いので実質的には大
きな問題はない。
【0022】第二実施例 図5は第二実施例の焦点検出系を二つ併設した光学系を
示した図である。これは、第一実施例と同様な構成にお
いて、クイックリターンミラー37を特定の直線偏光成
分を通し且つ残りを反射する偏光ミラーから構成しその
背後に補助ミラー38を設けると共に、ハーフミラー2
8の代わりに液晶ミラー39を用いて光路の切換えを行
うようにしたものである。
【0023】図6は液晶ミラー39の詳細な構造を示す
断面図である。40は透明基板、41は透明基板40に
接合された液晶セルであって、液晶セル41は入射光の
振動面を90゜回転させるのに必要な厚さを持つツイス
トネマチック型の液晶層42を二つの透明電極43,4
3で挾み、両透明電極43,43をスイッチ44を介し
て電源45と接続して成るものである。46は液晶セル
41に接合された偏光ミラーであって、これはクイック
リターンミラー37を通過した直線偏光の振動面と直交
する振動面を持つ光を通し且つ残りを反射するようにな
っている。
【0024】そして、スイッチ44がOFFの時は、液
晶セル41に入射した直線偏光は、ツイスト配列の液晶
層42により振動面が90゜回転せしめられるので偏光
ミラー46を通り出て行く。一方、スイッチ44がON
になると、液晶層42のツイスト配列がとけるので、入
射した直線偏光は振動面の向きが変わらず偏光ミラー4
6により反射される。
【0025】本実施例は上述の如く構成されているから
、被写体が明るい時スイッチ44をONにすれば、液晶
ミラー39が反射状態になるので、コンデンサーレンズ
3に入射した光は全て合焦精度が若干劣るものの測距デ
フォーカス範囲の広い焦点検出系Iに入射せしめられ、
広い測距範囲で合焦検出を行うことができる。又、被写
体が暗い時スイッチ4をOFFにすれば、液晶ミラー3
9が透過状態になるので、コンデンサーレンズ3に入射
した光は全て測距デフォーカス範囲が狹いながらも合焦
精度の優れた焦点検出系IIに入射せしめられ、合焦精
度の劣化が防止される。即ち、暗い被写体の時など必要
な時には焦点検出系が一つのものと同等の測距精度が得
られる。
【0026】第三実施例 図7は第三実施例の焦点検出系を二つ併設した光学系を
示した図である。これは、撮影レンズの予定結像面2の
近傍に配置されたコンデンサーレンズ3と、コンデンサ
ーレンズ3の後方に配置されたミラー14と、ミラー1
4の後方に入射光軸に対して斜めに配置され且つ印加電
圧のON,OFFに応じて入射光の偏向方向を変化させ
る液晶偏向部材15と、液晶偏向部材15に接合された
入射面16aが光軸に対して斜めであり且つ受光素子側
に二つの射出面16b,16cが設けられた紙面と垂直
な方向に並ぶ一対のセパレータレンズ16と、射出面1
6b,16cの各後方に夫々配置され且つ合焦精度を確
保し得る間隔を以って紙面と垂直な方向に並ぶ一対の開
口部を有する明るさ絞り17,18と、液晶偏向部材1
5の偏向作用を受けずにセパレータレンズ16に入射し
て射出面16bから射出する光束が結像する位置に配置
された受光素子列9と、液晶偏向部材15の偏向作用を
受けてセパレータレンズ16に入射して射出面16cか
ら射出する光束が結像する位置に配置された受光素子列
13とから構成されている。
【0027】液晶偏向部材15は、図8に示したように
、微小な液晶プリズム21と適当な透明材料から成るプ
リズム22を交互に重ね、それらを2組重ねたものを透
明基板23上に多数並列に配置した構成を有している。 液晶プリズム21は、液晶層24を二つの透明電極25
で挾み、両透明電極25,25をスイッチ26を介して
電源27と接続して成るものである。そして、液晶層2
4の常光,異常光に対する屈折率を夫々no ,ne 
とし、プリズム22の屈折率をn22とする時、n22
=no ,n22<ne という関係を満足しているも
のとする。
【0028】液晶層24に電界を印加しない状態では、
液晶プリズム21は常光,異常光の何れに対しても等し
い屈折率を有している。この屈折率をn22と等しくし
ておけば、液晶偏向部材15において全く屈折作用を受
けることなく即ち偏向作用を受けることなく透過する。 一方、液晶層24に電界を印加すると、液晶分子の配列
が揃い、液晶プリズム21は常光,異常光に対して異な
る屈折率を示すようになる。ここで、液晶プリズム21
の透明電極25の配置及び配向処理により、電界を印加
したときに前側の液晶プリズム21に対して常光となる
光線が後側の液晶プリズム21に対しては異常光となる
ように構成しておけば、前側の液晶プリズム21に対し
て常光となる光成分は前側の液晶プリズム21において
は屈折を受けないが、後側の液晶プリズム21に対して
は異常光となるので屈折作用を受けて斜め情報に屈折し
て液晶偏向部材15を射出する。又、前側の液晶プリズ
ム21に対して異常光となる光成分は、前側の液晶プリ
ズム21において斜め上方に屈折された後、後側の液晶
プリズム21においては屈折を受けないので、結局先の
光成分と同じ方向に屈折して液晶偏向部材15から射出
する。従って、この液晶偏向部材15を用いれば、電源
を供給して液晶層24に電界が印加されると光が受光素
子列13に到達し、電界がなくなると受光素子列9に到
達するという具合に光路を切り換えることができる。
【0029】本実施例は上述の如く構成されているから
、被写体が明るい時スイッチ26をOFFにして液晶層
24に電界が印加されないようにすれば、液晶偏向部材
15の偏向作用がなくなるので、コンデンサーレンズ3
に入射した光は全て合焦精度が若干劣るものの測距デフ
ォーカス範囲の広い焦点検出系Iに入射せしめられ、広
い測距範囲で合焦検出を行うことができる。又、被写体
が暗い時スイッチ26をONにして液晶層24に電界を
印加すれば、液晶偏向部材15が偏向作用を有するよう
になるので、コンデンサーレンズ3に入射した光は全て
測距デフォーカス範囲が狹いながらも合焦精度の優れた
焦点検出系IIに入射せしめられ、合焦精度の劣化が防
止される。即ち、暗い被写体の時など必要な時には焦点
検出系が一つのものと同等の測距精度が得られる。
【0030】
【発明の効果】上述の如く、本発明による焦点検出装置
は、測距範囲の拡大と合焦精度の向上の両方を同時に満
足しつつ、暗い被写体の時など必要な時には焦点検出系
が一つのものと同等の測距精度が得られるという実用上
重要な利点を有している。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による焦点検出装置の第一実施例を一眼
レフカメラボディ内に組み込んだ状態を示した図である
【図2】第一実施例の焦点検出系を二つ併設した光学系
を示した図である。
【図3】第一実施例の切替え部材の一例を示した図であ
る。
【図4】第一実施例の切替え部材の他の例を示した図で
ある。
【図5】第二実施例の焦点検出系を二つ併設した光学系
を示した図である。
【図6】第二実施例の液晶ミラーの断面図である。
【図7】第三実施例の焦点検出系を二つ併設した光学系
を示した図である。
【図8】第三実施例の液晶偏向部材の要部断面図である
【図9】従来の焦点検出装置の代表的な例を示した図で
ある。
【図10】従来の焦点検出系を二つ併設した合焦装置の
光学系を示した図である。
【符号の説明】
1    撮影レンズ 2    予定結像面 3    コンデンサーレンズ 9    受光素子列 13  受光素子列 14,19    ミラー 15    液晶偏向部材 16,32,33    セパレータレンズ17,18
,30,31    明るさ絞り21    液晶プリ
ズム 22    プリズム 23,40    透明基板 24,42    液晶層 25,43    透明電極 26,44    スイッチ 27,45    電源 28,35    ハーフミラー 34    素通し部分 36    ミラー部分 37    クイックリターンミラー 38    補助ミラー 39    液晶ミラー 41    液晶セル 46    偏光ミラー

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  撮影レンズの異なる領域をそれぞれ通
    過した光束を対を成す2つのセパレータレンズでそれぞ
    れ受けて2つの物体像を形成させ、該物体像をそれぞれ
    光電変換手段で受けて該物体像の光強度分布を表わす信
    号を出力させ、該信号の間の位相差を検出することによ
    り焦点検出を行なう第1の焦点検出系と、前記撮影レン
    ズの異なる領域をそれぞれ通過した光束を対を成す2つ
    のセパレータレンズでそれぞれ受けて2つの物体像を形
    成させ、該物体像をそれぞれ光電変換手段で受けて該物
    体像の光強度分布を表わす信号を出力させ、該信号の間
    の位相差を検出することにより焦点検出を行う、前記第
    1の焦点検出系とは検出重心光束のFナンバ及び/又は
    結像倍率が異なる第2の焦点検出系と、前記第1及び第
    2の焦点検出系に前記撮影レンズを通過した光束を選択
    的に導くように光路を切り換える光路切り換え手段とを
    備えた焦点検出装置。
JP7223591A 1991-01-25 1991-01-25 焦点検出装置 Withdrawn JPH04240813A (ja)

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JP7223591A Withdrawn JPH04240813A (ja) 1991-01-25 1991-01-25 焦点検出装置

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JP (1) JPH04240813A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5424528A (en) * 1992-10-30 1995-06-13 Olympus Optical Co., Ltd. Focus detecting device having at least three reimaging lenses
JP2006038932A (ja) * 2004-07-22 2006-02-09 Fujinon Corp Afレンズ装置

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JP2006038932A (ja) * 2004-07-22 2006-02-09 Fujinon Corp Afレンズ装置

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