JPH04238246A - 濃度計 - Google Patents

濃度計

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JPH04238246A
JPH04238246A JP659391A JP659391A JPH04238246A JP H04238246 A JPH04238246 A JP H04238246A JP 659391 A JP659391 A JP 659391A JP 659391 A JP659391 A JP 659391A JP H04238246 A JPH04238246 A JP H04238246A
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conductivity
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山浦 武
Makoto Tanaka
誠 田中
Tsutomu Suzuki
務 鈴木
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郁男 荒井
Hitoshi Nagao
均 長尾
Seiji Yamaguchi
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は懸濁物質の濃度、例えば
汚泥濃度、パルプ濃度、又は液体中に溶解している物質
の濃度を測定する濃度計に関する。
【0002】
【従来の技術】図7は従来の超音波式濃度計の構成図で
ある。配管1には超音波送信器2及び超音波受信器3が
それぞれ対向配置されている。これら超音波送信器2及
び超音波受信器3はそれぞれ配管1の管壁に配管1を流
れる流体と接触するように設けられている。かかる構成
で超音波送信器2に超音波発振器4から超音波信号が入
力すると、超音波送信器2から超音波が放射される。こ
の超音波は流体中を伝播して超音波受信器3で受信され
る。このとき、超音波の強度は流体中の懸濁物質の濃度
に応じて減衰する。超音波受信器3は受信した超音波強
度に応じた電気信号を出力し、この電気信号は超音波減
衰率測定回路5に送られる。この超音波減衰率測定回路
5は懸濁物質の濃度とこの濃度に応じた超音波の減衰率
との関係を示す検量線が予め設定されており、入力した
電気信号から減衰率を求めて濃度を得る。
【0003】しかしながら、上記濃度計では次のような
問題がある。
【0004】(1) 超音波の送受信器2、3が液体に
接触しているので、その接触面に懸濁物質が付着して測
定誤差の要因となり、定期的に洗浄する必要がある。特
に下水汚泥等の懸濁物質では付着しやすい。
【0005】(2) これに対して超音波の送受信器2
、3を配管1の外側に取り付けることがあるが、この場
合、配管1における取り付ける部分の肉厚を薄くしなけ
ればならない。また、配管1の振動の影響を受けやすく
、誤差の要因となる。
【0006】(3) 超音波は液体中と比較して気体中
では減衰率が非常に大きくなる。このため、流体中に気
泡が混入していると、超音波の減衰が懸濁物質による減
衰よりも格段に大きくなる。従って、測定不可能となっ
たり、又見掛け上非常な高濃度として測定される。そこ
で、消泡式の濃度計が用いられている。この濃度計は流
体をサンプリングして一旦加圧消泡室に入れて加圧し、
これにより気泡を溶け込ませて濃度を測定するものであ
る。ところが、この濃度計では流体をサンプリングする
ので、連続測定ができない。又、サンプリング及び加圧
を行うため機械的な可動機構が必要となり、長期的な信
頼性が低い。
【0007】(4) 超音波が懸濁物質により分散され
て減衰することを利用しているので、懸濁物質が液体中
に溶解する物質の場合には適用できない。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】以上のように懸濁物質
の付着や液体中の気泡の影響を受け、かつ懸濁物質が液
体中に溶解する物質では測定に適用できず、長期的な信
頼性が低い。
【0009】そこで本発明は、懸濁物質の付着や液体中
の気泡の影響を受けず濃度測定ができ、かつ懸濁物質が
液体中に溶解する物質でも測定できる長期的な信頼性の
高い濃度計を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、被測定物質を
含む被測定流体の流れる配管又は流体を収納した容器を
介して対向配置されたマイクロ波の送受信器と、この送
信器から発射され被測定流体を通過し受信器にて受信さ
れたマイクロ波の位相遅れθ2 と、予め被測定物質を
含まない流体を用いて測定しておいた位相遅れθ1 と
の位相差Δθつまり Δθ=θ2 −θ1  を求めることにより被測定流体の濃度を測定するように
して上記目的を達成しようとする濃度計である。
【0011】この場合、被測定流体の導電率を測定し、
予め測定しておいた被測定物質を含まない流体の導電率
との差に基づき位相差を補正する導電率による位相差補
正手段を設けている。
【0012】又、被測定流体の温度を測定し、予め測定
しておいた被測定物質を含まない流体の温度との差に基
づき位相差を補正する温度による位相差補正手段を設け
ている。
【0013】
【作用】このような手段を備えたことにより、送信器か
ら発射され被測定流体を通過し受信器にて受信されたマ
イクロ波の位相遅れθ2 と、予め被測定物質を含まな
い流体を用いて測定しておいた位相遅れθ1 との位相
差Δθつまり Δθ=θ2 −θ1  を求めることにより被測定流体の濃度が測定される。
【0014】この場合、被測定流体の導電率を測定し、
予め測定しておいた被測定物質を含まない流体の導電率
との差に基づき位相差が補正される。
【0015】又、被測定流体の温度を測定し、予め測定
しておいた被測定物質を含まない流体の温度との差に基
づき位相差が補正される。
【0016】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。
【0017】図1は本発明の濃度計の構成図である。配
管1、2の間には検出部配管3及び付属配管4がそれぞ
れ連通して接続されている。これら配管1、2と検出部
配管3及び付属配管4との接続部にはそれぞれ仕切弁5
、6が設けられている。又、付属配管4には水道管7及
び排水管8が接続され、これら配管7、8にそれぞれ給
水バルブ9、排水バルブ10が設けられている。
【0018】検出部配管3にはマイクロ波の送信アンテ
ナ20及び受信アンテナ21が密着して取り付けられて
おり、これら送信アンテナ20及び受信アンテナ21は
検出部配管3を介して互いに対向位置に配置されている
。なお、これら送信アンテナ20及び受信アンテナ21
が取り付けられる検出部配管3の部分は絶縁体、例えば
ファイバ・レジン・プラスチック(FRP)により形成
されている。
【0019】発振器22にはパワースプリッタ23が接
続されている。このパワースプリッタ23には送信アン
テナ20及び位相差測定回路24が接続されており、発
振器22から出力されたマイクロ波信号を分岐して送信
アンテナ20及び位相差測定回路24へ出力する。送信
アンテナ20はパワースプリッタ23から受けたマイク
ロ波信号により検出部配管3中にマイクロ波を発射する
。このマイクロ波は検出部配管3中の流体を透過した後
、受信アンテナ21で受信され、受信アンテナ21は受
信信号として位相差測定回路24に出力する。
【0020】位相差測定回路24は受信アンテナ21が
出力する受信信号とパワースプリッタ23から送られる
マイクロ波信号との位相遅れθ2 と、予め被測定物質
を含まない流体、例えば水道水で求めた位相遅れθ1 
との位相差Δθつまり Δθ=θ2 −θ1                
   …(1) を求める。ここで、(1) 式におけ
る位相差θ2 、θ1 はそれぞれ次式の通り表される
【0021】
【数1】
【0022】従って、上記(1) 式、(2) 式及び
(3) 式から位相差Δθは、
【0023】
【数2】
【0024】により表される。
【0025】この式において、C0 は真空中での電波
の伝播速度、dは被測定液層の厚さ(距離)、ωはマイ
クロ波の角周波数、εs は被測定液の比誘電率、ε0
 は真空の比誘電率、εw は被測定物質の濃度0%の
流体の比誘電率、σは被測定液の導電率、σw は被測
定物質の濃度0%の流体の導電率である。
【0026】又、付属配管4には導電率検出器25及び
温度検出器26が配設されている。これら導電率検出器
25及び温度検出器26は付属配管4内を流れる流体と
接触するように取り付けられている。そして、これら導
電率検出器25及び温度検出器26はそれぞれ信号変換
回路27、28を介して補正演算回路29に接続されて
いる。
【0027】この補正演算回路29は流体の導電率及び
温度による影響を補正する機能を有している。これは、
上記式において位相差Δθが導電率σ及び温度の影響を
受けることを解決するもので、例えば先ず導電率につい
て説明すると、下水汚泥濃度測定の場合には基準となる
濃度測定法が乾燥重量測定法なので、液体中に溶解して
いる成分(イオン成分等)に起因する導電率σの影響を
除くものである。
【0028】実際に補正演算回路29には例えば図2に
示すように導電率σと位相差補正値Δθσとの関係が記
憶されている。
【0029】図2の関係は水に塩化ナトリウムなどを溶
解し、導電率σを変えて、測定した結果である。従って
、補正演算回路29は位相差測定回路24により測定さ
れた位相差Δθから位相差補正値Δθσを差し引いて位
相差Δθ´とする導電率補正手段としての機能を有して
いる。
【0030】次に温度について説明すると、流体の比誘
電率εs は温度によって変化し、位相差Δθに影響を
与える。そこで、補正演算回路29には図3に示す温度
差Δtと位相差補正値Δθεとの関係が予め記憶されて
いる。この関係は温度差Δtと位相差補正値Δθεとの
測定結果である。従って、補正演算回路29は位相差測
定回路24により測定された位相差Δθから位相差補正
値Δθεを差し引いて位相差Δθ´とする温度補正手段
としての機能を有している。
【0031】さらに補正演算回路29は導電率及び温度
に対する各補正を同時に行う機能を有し、Δθ´=Δθ
−Δθσ−Δθε なる式により補正した位相差を求めることができる。
【0032】信号変換回路30には図4に示す位相差Δ
θ´と濃度との関係が予め設定され、補正演算回路29
により補正された位相差Δθ´から濃度を求めこの濃度
に対応した電流信号を出力する機能を有している。
【0033】次に上記の如く構成された装置の作用につ
いて説明する。
【0034】先ず、濃度0%の液体、この場合は水道水
での受信波遅れθ1 を測定する。そのためには、汚泥
が流れている配管1、2の仕切弁5、6を閉じて汚泥を
止める。なお、汚泥の流れを止められない場合はバイパ
ス管を設けておき、汚泥の流れをバイパス管へ切換えお
く。次に排水バルブ10を開き検出部配管3及び付属配
管4内の汚泥を排出し、次に給水バルブ9を開いて水道
水を検出部配管3及び付属配管4内に供給する。そして
、検出部配管3及び付属配管4内を洗浄した後に、これ
ら検出部配管3及び付属配管4内を水道水で満たす。
【0035】この状態でマイクロ波発振器22からマイ
クロ波信号を出力する。このマイクロ波信号はパワース
プリッタ23により2方向に分岐され、その一方がマイ
クロ波アンテナ20に送られるとともに、他方が位相差
測定回路24に送られる。マイクロ波アンテナ20はマ
イクロ波を放射し、このマイクロ波は図5に示すように
検出部配管3を透過し、水道水を伝播して受信アンテナ
21に到達する。この受信アンテナ21は受信したマイ
クロ波に応じた信号を出力する。このとき、位相差測定
回路24は受信アンテナ21の出力信号とパワースプリ
ッタ23からのマイクロ波信号との位相遅れθ1 を求
めて記憶する。
【0036】又、導電率検出器25で測定した濃度ゼロ
の液体、ここでは水の導電率と温度検出器26で測定し
た濃度ゼロの液体、ここでは水の温度を記憶しておく。
【0037】次に排水バルブ10を開いて検出部配管3
及び付属配管4内の水道水を排出し、次に各仕切弁5、
6を開いて汚泥を検出部配管3及び付属配管4内に流す
【0038】この状態でマイクロ波発振器22からマイ
クロ波信号を出力する。このマイクロ波信号は上記同様
にマイクロ波アンテナ20に送られるとともに、位相差
測定回路24に送られる。マイクロ波アンテナ20はマ
イクロ波を放射し、このマイクロ波は図6に示すように
汚泥内を伝播して受信アンテナ21に到達する。この受
信アンテナ21は受信したマイクロ波に応じた信号を出
力する。このとき、位相差測定回路24は受信アンテナ
21の出力信号とパワースプリッタ23からのマイクロ
波信号との位相遅れθ2 を求めて記憶する。
【0039】次に位相差測定回路24は水道水及び汚泥
のときの各位相遅れθ1 、θ2 の差つまり位相差Δ
θΔθ=θ2 −θ1  を求める。この位相差Δθは補正演算回路29に送られ
る。
【0040】一方、導電率検出器25により検出された
汚泥の導電率は信号変換回路27により導電率に応じた
導電率信号に変換されて補正演算回路29に送られ、こ
れとともに温度検出器26により検出された汚泥の温度
は信号変換回路27により温度に応じた温度信号に変換
されて補正演算回路29に送られる。
【0041】この補正演算回路29は導電率及び温度の
補正を行わなければ位相差Δθを信号変換回路30に送
る。
【0042】この信号変換回路30は位相差Δθを受け
ると図4に示す位相差Δθと濃度との関係から汚泥の濃
度を求め、この濃度に応じた電流信号を出力する。この
電流信号は例えば濃度0〜10%であれば、4〜20m
Aに対応する。
【0043】又、導電率の補正を行う場合、補正演算回
路29は導電率信号を受けて図2に示す予め測定して記
憶しておいた濃度ゼロの液体の導電率との導電率差と位
相差補正値Δθσとの関係から位相差補正値Δθσを求
め、位相差Δθと位相差補正値Δθσとの差Δθ´Δθ
´=Δθ−Δθσ を求める。この位相差Δθ´は信号変換回路30に送ら
れ、この信号変換回路30は図4に示す位相差Δθ´と
濃度との関係から汚泥の濃度を求め、この濃度に応じた
電流信号を出力する。
【0044】又、温度の補正を行う場合、補正演算回路
29は温度信号を受けて図3に示す予め測定して記憶し
ておいた濃度ゼロの液体の温度との温度差と位相差補正
値Δθt との関係から位相差補正値Δθεを求め位相
差Δθと位相差補正値Δθεとの差Δθ´Δθ´=Δθ
−Δθε を求める。この位相差Δθ´は信号変換回路30に送ら
れ、この信号変換回路30は図4に示す位相差Δθ´と
濃度との関係から汚泥の濃度を求め、この濃度に応じた
電流信号を出力する。
【0045】又、導電率及び温度の補正を共に行う場合
、補正演算回路29は導電信号及び温度信号を受けて上
記同様に各位相差補正値Δθσ及びΔθεを求め、位相
差Δθと各位相差補正値Δθσ及びΔθεとの差Δθ´ Δθ´=Δθ−Δθσ−Δθε を求める。この位相差Δθ´は信号変換回路30に送ら
れ、この信号変換回路30は図4に示す位相差Δθ´と
濃度との関係から汚泥の濃度を求め、この濃度に応じた
電流信号を出力する。
【0046】このように上記一実施例においては、受信
アンテナ21の出力信号とマイクロ波信号との位相差Δ
θを求め、この位相差Δθから汚泥に含まれる被測定物
質の濃度を求めるようにしたので、汚泥に含まれる懸濁
物質の付着や汚泥中の気泡の影響を受けず濃度測定がで
き、かつ懸濁物質が液体中に溶解する物質でも濃度測定
ができる。そのうえ機械的な機構がないので、長期的な
信頼性を向上できる。
【0047】又、汚泥の導電率を測定して位相差Δθを
補正するので、汚泥に溶解しているイオン成分等に起因
する導電率の影響をなくすことができる。
【0048】又、汚泥の温度を測定して位相差Δθを補
正するので、温度により比誘電率が変化してもその影響
をなくして正確な濃度測定ができる。
【0049】さらに汚泥の導電率及び温度を測定して位
相差Δθを補正するので、汚泥に溶解しているイオン成
分等に起因する導電率の影響と温度による比誘電率の変
化の影響とを共になくすことができる。
【0050】なお、本発明は上記一実施例に限定される
ものでなくその要旨を変更しない範囲で変形してもよい
。例えば、上記一実施例では汚泥は流れている状態で測
定したが、静止している状態で濃度測定してもよい。 又、汚泥に限らず他の流体の濃度測定にも適用できる。 又、実施例では濃度0%の液体を基準とするように述べ
たが、厳密にゼロでなくても測定範囲から考えて濃度ゼ
ロとみなせる液体を基準としてもよいし、ある既知濃度
の被測定物質を含むものを基準としてもよい。
【0051】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、懸
濁物質が付着や液体中の気泡の影響を受けず濃度測定が
でき、かつ懸濁物質が液体中に溶解する物質でも測定で
きる長期的な信頼性の高い濃度計を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる濃度計の一実施例を示す構成図
【図2】同濃度計における導電率と位相差との関係を示
す図。
【図3】同濃度計における温度と位相差との関係を示す
図。
【図4】同濃度計における濃度と位相差との関係を示す
図。
【図5】同濃度計におけるマイクロ波伝播を示す図。
【図6】同濃度計におけるマイクロ波伝播を示す図。
【図7】従来技術の構成図である。
【符号の説明】
1,2…配管、3…検出部配管、4…付属配管、5,6
…仕切弁、9…給水バルブ、10…排水バルブ、20…
送信アンテナ、21…受信アンテナ、22…マイクロ波
発振器、23…パワースプリッタ、24…位相差測定回
路、25…導電率検出器、26…温度検出器、29…補
正演算回路、30…信号変換回路。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  被測定物質を含む被測定流体の流れる
    配管又は前記流体を収納した容器を介して対向配置され
    たマイクロ波の送受信器と、この送信器から発射され前
    記被測定流体を通過し前記受信器にて受信されたマイク
    ロ波の位相遅れθ2 と、予め前記被測定物質を含まな
    い流体を用いて測定しておいた位相遅れθ1 との位相
    差Δθつまり Δθ=θ2 −θ1  を求めることにより前記被測定流体の濃度を測定するこ
    とを特徴とする濃度計。
  2. 【請求項2】  前記被測定流体の導電率を測定し、予
    め測定しておいた被測定物質を含まない前記流体の導電
    率との差に基づき前記位相差を補正する導電率による位
    相差補正手段を設けたことを特徴とする請求項(1) 
    記載の濃度計。
  3. 【請求項3】  前記被測定流体の温度を測定し、予め
    測定しておいた被測定物質を含まない前記流体の温度と
    の差に基づき前記位相差を補正する温度によ位相差補正
    手段を設けたことを特徴とする請求項第(1) 又は請
    求項第(2)記載の濃度計。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007525668A (ja) * 2004-02-27 2007-09-06 ダプロックス アクチボラゲット 繊維濃度を測定するための方法及び装置
JP2007315912A (ja) * 2006-05-25 2007-12-06 Toshiba Corp マイクロ波濃度計
JP2008111814A (ja) * 2006-10-31 2008-05-15 Toshiba Corp 電磁波物理量測定装置
JP2013213833A (ja) * 2013-07-12 2013-10-17 Toshiba Corp 電磁波物理量測定装置

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