JPH04238246A - 濃度計 - Google Patents
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
汚泥濃度、パルプ濃度、又は液体中に溶解している物質
の濃度を測定する濃度計に関する。
ある。配管1には超音波送信器2及び超音波受信器3が
それぞれ対向配置されている。これら超音波送信器2及
び超音波受信器3はそれぞれ配管1の管壁に配管1を流
れる流体と接触するように設けられている。かかる構成
で超音波送信器2に超音波発振器4から超音波信号が入
力すると、超音波送信器2から超音波が放射される。こ
の超音波は流体中を伝播して超音波受信器3で受信され
る。このとき、超音波の強度は流体中の懸濁物質の濃度
に応じて減衰する。超音波受信器3は受信した超音波強
度に応じた電気信号を出力し、この電気信号は超音波減
衰率測定回路5に送られる。この超音波減衰率測定回路
5は懸濁物質の濃度とこの濃度に応じた超音波の減衰率
との関係を示す検量線が予め設定されており、入力した
電気信号から減衰率を求めて濃度を得る。
問題がある。
接触しているので、その接触面に懸濁物質が付着して測
定誤差の要因となり、定期的に洗浄する必要がある。特
に下水汚泥等の懸濁物質では付着しやすい。
、3を配管1の外側に取り付けることがあるが、この場
合、配管1における取り付ける部分の肉厚を薄くしなけ
ればならない。また、配管1の振動の影響を受けやすく
、誤差の要因となる。
では減衰率が非常に大きくなる。このため、流体中に気
泡が混入していると、超音波の減衰が懸濁物質による減
衰よりも格段に大きくなる。従って、測定不可能となっ
たり、又見掛け上非常な高濃度として測定される。そこ
で、消泡式の濃度計が用いられている。この濃度計は流
体をサンプリングして一旦加圧消泡室に入れて加圧し、
これにより気泡を溶け込ませて濃度を測定するものであ
る。ところが、この濃度計では流体をサンプリングする
ので、連続測定ができない。又、サンプリング及び加圧
を行うため機械的な可動機構が必要となり、長期的な信
頼性が低い。
て減衰することを利用しているので、懸濁物質が液体中
に溶解する物質の場合には適用できない。
の付着や液体中の気泡の影響を受け、かつ懸濁物質が液
体中に溶解する物質では測定に適用できず、長期的な信
頼性が低い。
の気泡の影響を受けず濃度測定ができ、かつ懸濁物質が
液体中に溶解する物質でも測定できる長期的な信頼性の
高い濃度計を提供することを目的とする。
含む被測定流体の流れる配管又は流体を収納した容器を
介して対向配置されたマイクロ波の送受信器と、この送
信器から発射され被測定流体を通過し受信器にて受信さ
れたマイクロ波の位相遅れθ2 と、予め被測定物質を
含まない流体を用いて測定しておいた位相遅れθ1 と
の位相差Δθつまり Δθ=θ2 −θ1 を求めることにより被測定流体の濃度を測定するように
して上記目的を達成しようとする濃度計である。
予め測定しておいた被測定物質を含まない流体の導電率
との差に基づき位相差を補正する導電率による位相差補
正手段を設けている。
しておいた被測定物質を含まない流体の温度との差に基
づき位相差を補正する温度による位相差補正手段を設け
ている。
ら発射され被測定流体を通過し受信器にて受信されたマ
イクロ波の位相遅れθ2 と、予め被測定物質を含まな
い流体を用いて測定しておいた位相遅れθ1 との位相
差Δθつまり Δθ=θ2 −θ1 を求めることにより被測定流体の濃度が測定される。
予め測定しておいた被測定物質を含まない流体の導電率
との差に基づき位相差が補正される。
しておいた被測定物質を含まない流体の温度との差に基
づき位相差が補正される。
して説明する。
管1、2の間には検出部配管3及び付属配管4がそれぞ
れ連通して接続されている。これら配管1、2と検出部
配管3及び付属配管4との接続部にはそれぞれ仕切弁5
、6が設けられている。又、付属配管4には水道管7及
び排水管8が接続され、これら配管7、8にそれぞれ給
水バルブ9、排水バルブ10が設けられている。
ナ20及び受信アンテナ21が密着して取り付けられて
おり、これら送信アンテナ20及び受信アンテナ21は
検出部配管3を介して互いに対向位置に配置されている
。なお、これら送信アンテナ20及び受信アンテナ21
が取り付けられる検出部配管3の部分は絶縁体、例えば
ファイバ・レジン・プラスチック(FRP)により形成
されている。
続されている。このパワースプリッタ23には送信アン
テナ20及び位相差測定回路24が接続されており、発
振器22から出力されたマイクロ波信号を分岐して送信
アンテナ20及び位相差測定回路24へ出力する。送信
アンテナ20はパワースプリッタ23から受けたマイク
ロ波信号により検出部配管3中にマイクロ波を発射する
。このマイクロ波は検出部配管3中の流体を透過した後
、受信アンテナ21で受信され、受信アンテナ21は受
信信号として位相差測定回路24に出力する。
出力する受信信号とパワースプリッタ23から送られる
マイクロ波信号との位相遅れθ2 と、予め被測定物質
を含まない流体、例えば水道水で求めた位相遅れθ1
との位相差Δθつまり Δθ=θ2 −θ1
…(1) を求める。ここで、(1) 式におけ
る位相差θ2 、θ1 はそれぞれ次式の通り表される
。
(3) 式から位相差Δθは、
の伝播速度、dは被測定液層の厚さ(距離)、ωはマイ
クロ波の角周波数、εs は被測定液の比誘電率、ε0
は真空の比誘電率、εw は被測定物質の濃度0%の
流体の比誘電率、σは被測定液の導電率、σw は被測
定物質の濃度0%の流体の導電率である。
温度検出器26が配設されている。これら導電率検出器
25及び温度検出器26は付属配管4内を流れる流体と
接触するように取り付けられている。そして、これら導
電率検出器25及び温度検出器26はそれぞれ信号変換
回路27、28を介して補正演算回路29に接続されて
いる。
温度による影響を補正する機能を有している。これは、
上記式において位相差Δθが導電率σ及び温度の影響を
受けることを解決するもので、例えば先ず導電率につい
て説明すると、下水汚泥濃度測定の場合には基準となる
濃度測定法が乾燥重量測定法なので、液体中に溶解して
いる成分(イオン成分等)に起因する導電率σの影響を
除くものである。
示すように導電率σと位相差補正値Δθσとの関係が記
憶されている。
解し、導電率σを変えて、測定した結果である。従って
、補正演算回路29は位相差測定回路24により測定さ
れた位相差Δθから位相差補正値Δθσを差し引いて位
相差Δθ´とする導電率補正手段としての機能を有して
いる。
電率εs は温度によって変化し、位相差Δθに影響を
与える。そこで、補正演算回路29には図3に示す温度
差Δtと位相差補正値Δθεとの関係が予め記憶されて
いる。この関係は温度差Δtと位相差補正値Δθεとの
測定結果である。従って、補正演算回路29は位相差測
定回路24により測定された位相差Δθから位相差補正
値Δθεを差し引いて位相差Δθ´とする温度補正手段
としての機能を有している。
に対する各補正を同時に行う機能を有し、Δθ´=Δθ
−Δθσ−Δθε なる式により補正した位相差を求めることができる。
θ´と濃度との関係が予め設定され、補正演算回路29
により補正された位相差Δθ´から濃度を求めこの濃度
に対応した電流信号を出力する機能を有している。
いて説明する。
での受信波遅れθ1 を測定する。そのためには、汚泥
が流れている配管1、2の仕切弁5、6を閉じて汚泥を
止める。なお、汚泥の流れを止められない場合はバイパ
ス管を設けておき、汚泥の流れをバイパス管へ切換えお
く。次に排水バルブ10を開き検出部配管3及び付属配
管4内の汚泥を排出し、次に給水バルブ9を開いて水道
水を検出部配管3及び付属配管4内に供給する。そして
、検出部配管3及び付属配管4内を洗浄した後に、これ
ら検出部配管3及び付属配管4内を水道水で満たす。
クロ波信号を出力する。このマイクロ波信号はパワース
プリッタ23により2方向に分岐され、その一方がマイ
クロ波アンテナ20に送られるとともに、他方が位相差
測定回路24に送られる。マイクロ波アンテナ20はマ
イクロ波を放射し、このマイクロ波は図5に示すように
検出部配管3を透過し、水道水を伝播して受信アンテナ
21に到達する。この受信アンテナ21は受信したマイ
クロ波に応じた信号を出力する。このとき、位相差測定
回路24は受信アンテナ21の出力信号とパワースプリ
ッタ23からのマイクロ波信号との位相遅れθ1 を求
めて記憶する。
の液体、ここでは水の導電率と温度検出器26で測定し
た濃度ゼロの液体、ここでは水の温度を記憶しておく。
及び付属配管4内の水道水を排出し、次に各仕切弁5、
6を開いて汚泥を検出部配管3及び付属配管4内に流す
。
クロ波信号を出力する。このマイクロ波信号は上記同様
にマイクロ波アンテナ20に送られるとともに、位相差
測定回路24に送られる。マイクロ波アンテナ20はマ
イクロ波を放射し、このマイクロ波は図6に示すように
汚泥内を伝播して受信アンテナ21に到達する。この受
信アンテナ21は受信したマイクロ波に応じた信号を出
力する。このとき、位相差測定回路24は受信アンテナ
21の出力信号とパワースプリッタ23からのマイクロ
波信号との位相遅れθ2 を求めて記憶する。
のときの各位相遅れθ1 、θ2 の差つまり位相差Δ
θΔθ=θ2 −θ1 を求める。この位相差Δθは補正演算回路29に送られ
る。
汚泥の導電率は信号変換回路27により導電率に応じた
導電率信号に変換されて補正演算回路29に送られ、こ
れとともに温度検出器26により検出された汚泥の温度
は信号変換回路27により温度に応じた温度信号に変換
されて補正演算回路29に送られる。
補正を行わなければ位相差Δθを信号変換回路30に送
る。
ると図4に示す位相差Δθと濃度との関係から汚泥の濃
度を求め、この濃度に応じた電流信号を出力する。この
電流信号は例えば濃度0〜10%であれば、4〜20m
Aに対応する。
路29は導電率信号を受けて図2に示す予め測定して記
憶しておいた濃度ゼロの液体の導電率との導電率差と位
相差補正値Δθσとの関係から位相差補正値Δθσを求
め、位相差Δθと位相差補正値Δθσとの差Δθ´Δθ
´=Δθ−Δθσ を求める。この位相差Δθ´は信号変換回路30に送ら
れ、この信号変換回路30は図4に示す位相差Δθ´と
濃度との関係から汚泥の濃度を求め、この濃度に応じた
電流信号を出力する。
29は温度信号を受けて図3に示す予め測定して記憶し
ておいた濃度ゼロの液体の温度との温度差と位相差補正
値Δθt との関係から位相差補正値Δθεを求め位相
差Δθと位相差補正値Δθεとの差Δθ´Δθ´=Δθ
−Δθε を求める。この位相差Δθ´は信号変換回路30に送ら
れ、この信号変換回路30は図4に示す位相差Δθ´と
濃度との関係から汚泥の濃度を求め、この濃度に応じた
電流信号を出力する。
、補正演算回路29は導電信号及び温度信号を受けて上
記同様に各位相差補正値Δθσ及びΔθεを求め、位相
差Δθと各位相差補正値Δθσ及びΔθεとの差Δθ´ Δθ´=Δθ−Δθσ−Δθε を求める。この位相差Δθ´は信号変換回路30に送ら
れ、この信号変換回路30は図4に示す位相差Δθ´と
濃度との関係から汚泥の濃度を求め、この濃度に応じた
電流信号を出力する。
アンテナ21の出力信号とマイクロ波信号との位相差Δ
θを求め、この位相差Δθから汚泥に含まれる被測定物
質の濃度を求めるようにしたので、汚泥に含まれる懸濁
物質の付着や汚泥中の気泡の影響を受けず濃度測定がで
き、かつ懸濁物質が液体中に溶解する物質でも濃度測定
ができる。そのうえ機械的な機構がないので、長期的な
信頼性を向上できる。
補正するので、汚泥に溶解しているイオン成分等に起因
する導電率の影響をなくすことができる。
正するので、温度により比誘電率が変化してもその影響
をなくして正確な濃度測定ができる。
相差Δθを補正するので、汚泥に溶解しているイオン成
分等に起因する導電率の影響と温度による比誘電率の変
化の影響とを共になくすことができる。
ものでなくその要旨を変更しない範囲で変形してもよい
。例えば、上記一実施例では汚泥は流れている状態で測
定したが、静止している状態で濃度測定してもよい。 又、汚泥に限らず他の流体の濃度測定にも適用できる。 又、実施例では濃度0%の液体を基準とするように述べ
たが、厳密にゼロでなくても測定範囲から考えて濃度ゼ
ロとみなせる液体を基準としてもよいし、ある既知濃度
の被測定物質を含むものを基準としてもよい。
濁物質が付着や液体中の気泡の影響を受けず濃度測定が
でき、かつ懸濁物質が液体中に溶解する物質でも測定で
きる長期的な信頼性の高い濃度計を提供できる。
。
す図。
図。
図。
…仕切弁、9…給水バルブ、10…排水バルブ、20…
送信アンテナ、21…受信アンテナ、22…マイクロ波
発振器、23…パワースプリッタ、24…位相差測定回
路、25…導電率検出器、26…温度検出器、29…補
正演算回路、30…信号変換回路。
Claims (3)
- 【請求項1】 被測定物質を含む被測定流体の流れる
配管又は前記流体を収納した容器を介して対向配置され
たマイクロ波の送受信器と、この送信器から発射され前
記被測定流体を通過し前記受信器にて受信されたマイク
ロ波の位相遅れθ2 と、予め前記被測定物質を含まな
い流体を用いて測定しておいた位相遅れθ1 との位相
差Δθつまり Δθ=θ2 −θ1 を求めることにより前記被測定流体の濃度を測定するこ
とを特徴とする濃度計。 - 【請求項2】 前記被測定流体の導電率を測定し、予
め測定しておいた被測定物質を含まない前記流体の導電
率との差に基づき前記位相差を補正する導電率による位
相差補正手段を設けたことを特徴とする請求項(1)
記載の濃度計。 - 【請求項3】 前記被測定流体の温度を測定し、予め
測定しておいた被測定物質を含まない前記流体の温度と
の差に基づき前記位相差を補正する温度によ位相差補正
手段を設けたことを特徴とする請求項第(1) 又は請
求項第(2)記載の濃度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP659391A JP2965712B2 (ja) | 1991-01-23 | 1991-01-23 | 濃度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP659391A JP2965712B2 (ja) | 1991-01-23 | 1991-01-23 | 濃度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04238246A true JPH04238246A (ja) | 1992-08-26 |
JP2965712B2 JP2965712B2 (ja) | 1999-10-18 |
Family
ID=11642635
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP659391A Expired - Lifetime JP2965712B2 (ja) | 1991-01-23 | 1991-01-23 | 濃度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2965712B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007525668A (ja) * | 2004-02-27 | 2007-09-06 | ダプロックス アクチボラゲット | 繊維濃度を測定するための方法及び装置 |
JP2007315912A (ja) * | 2006-05-25 | 2007-12-06 | Toshiba Corp | マイクロ波濃度計 |
JP2008111814A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Toshiba Corp | 電磁波物理量測定装置 |
JP2013213833A (ja) * | 2013-07-12 | 2013-10-17 | Toshiba Corp | 電磁波物理量測定装置 |
-
1991
- 1991-01-23 JP JP659391A patent/JP2965712B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007525668A (ja) * | 2004-02-27 | 2007-09-06 | ダプロックス アクチボラゲット | 繊維濃度を測定するための方法及び装置 |
JP2007315912A (ja) * | 2006-05-25 | 2007-12-06 | Toshiba Corp | マイクロ波濃度計 |
JP2008111814A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Toshiba Corp | 電磁波物理量測定装置 |
JP2013213833A (ja) * | 2013-07-12 | 2013-10-17 | Toshiba Corp | 電磁波物理量測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2965712B2 (ja) | 1999-10-18 |
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Legal Events
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