JPH04215008A - トンネル顕微鏡用交換機構 - Google Patents

トンネル顕微鏡用交換機構

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JPH04215008A
JPH04215008A JP41017690A JP41017690A JPH04215008A JP H04215008 A JPH04215008 A JP H04215008A JP 41017690 A JP41017690 A JP 41017690A JP 41017690 A JP41017690 A JP 41017690A JP H04215008 A JPH04215008 A JP H04215008A
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JP
Japan
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sample
probe
clamp member
tip
bar
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP41017690A
Other languages
English (en)
Inventor
Takao Hata
畑 喬雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Publication date
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Publication of JPH04215008A publication Critical patent/JPH04215008A/ja
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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】  本発明は、試料及び若しくは
探針を交換する為のトンネル顕微鏡用交換機構に関し、
特に、簡単で安価な構造のトンネル顕微鏡用交換機構に
関する。
【0002】
【従来の技術】  走査形トンネル顕微鏡に於いては、
観測試料表面の原子レベルの分解能を得る為に、探針先
端の形状を尖鋭化する事が要求されている。その為、該
探針先端は電界研磨法等によって形成された探針先端に
原子が1つある様な1原子尖端とされている。
【0003】さて、走査形トンネル顕微鏡に於ける試料
観察で、探針尖端と試料表面との間の距離を1nm程度
まで接近させる必要があるが、その接近動作中に該試料
と探針尖端とが接触して該探針の原子尖端が破損したり
、又は試料が破損したりする場合がある。この様な原子
尖端の破損した探針では原子レベルの分解能が得られな
い為、正常な探針との交換が必要である。また、試料が
破損した場合にも、正常な試料との交換が必要となる。 更に異種試料を同時装着し観察することも可能となる。
【0004】しかし、トンネル顕微鏡が収容される超真
空状態に排気された観察室内の真空を破って、その都度
探針及び若しくは試料の交換を行った場合、該探針及び
若しくは試料の交換後、再排気を行った上で観測を再開
する為に、莫大な時間を要してしまう。
【0005】そこで、観察室の隣に仕切弁を介して移送
室を設け、該移送室内に複数の探針ソケット及び複数の
試料ホルダーが装着可能な保持器を有する移動棒を設け
、該移動棒を、探針及び試料を装着する為の位置と、探
針及び試料を観察室へ挿入する為の位置との間を移動可
能に成し、前記装着位置で複数の探針及び試料を前記保
持器に装着し、前記挿入位置で交換棒で前記保持器に保
持された探針及び試料を受けて前記観察室に仕切弁を介
して移送する事により、超真空を維持した状態で探針及
び試料を交換する交換機構が提案されている(特願平1
−170003号)。
【0006】しかし乍、前記移動棒及び交換棒の移動に
は、ガイドの外側に移動可能に配置されたマグネット、
及び、ガイドの内側に移動棒及び交換棒各々に設けられ
た磁性部材から成る磁気結合移動装置が使用されている
為、費用が掛り、又、機構も複雑化する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】  本発明はこの様な
問題を解決する事を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】  本発明のトンネル顕
微鏡用交換機構は、着脱可能に装着された探針を駆動す
るユニット及び着脱可能にセットされた試料筒を収容す
るメインチャンバー、該メインチャンバーに仕切弁を介
して接続されたサブチャンバーを有し、該サブチャンバ
ー内に、前記ユニット方向に移動可能で先端にチャック
部を有する昇降手段、該昇降手段の移動方向に垂直な方
向に移動可能で複数の探針,複数の試料ホルダー,探針
クランプ部材,試料クランプ部材,試料筒がセットされ
た移動台を備え、前記探針クランプ部材は前記昇降手段
のチャック部にチャッキングされる部分と前記探針をチ
ャッキングするチャック部を有し、前記試料クランプ部
材は前記昇降手段のチャック部にチャッキングされる部
分と前記試料をチャッキングする為の前記試料筒をチャ
ッキングするチャック部を有して成る。
【0009】
【実施例】  図1は本発明の一実施例として示した交
換機構を備えたトンネル顕微鏡の概略図である。
【0010】図中1は架台、2は排気装置、3は除振マ
ウント、4はベース、5はメインチャンバ、6は支柱、
7はベース、8はトンネル顕微鏡ユニット、9は探針、
10はステージ、11は試料筒、12はパルスモータ、
13はステージ移動駆動部、14はゲートバルブ、15
は排気装置、16はL形弁、17はサブチャンバ、18
は回転導入部、19はギヤ、20はワイヤー、21は回
転体、22は移動台、23A,23Bはローラ、24A
,24Bはピン、25,26はゲートバルブ、27,2
8は排気装置、29は昇降機構である。
【0011】前記架台1の上に前記除振マウント3を介
して前記ベース4が固定されている。該ベースの上には
、前記メインチャンバ5が設置されている。該メインチ
ャンバ内に、前記支柱6を介して前記ベース7が固定さ
れ、該ベースに前記トンネル顕微鏡ユニット8が取付け
られている。該トンネル顕微鏡ユニットの上部にはピン
ジャック(図示せず)が設けられており、該ピンジャッ
ク内に前記探針9が挿入されている。前記ベース7の上
にはX,Y方向に移動可能な前記ステージ10が取付け
られており、その内部に前記試料筒11が挿入されてい
る。該ステージは前記ステージ移動駆動部13を通じて
前記パルスモータ12によって駆動される。  尚、前
記メインチャンバ5は前記排気装置2によって高真空に
排気される。
【0012】前記メインチャンバ5の上部は、ゲートバ
ルブ14によって前記サブチャンバ17と仕切られてい
る。該サブチャンバ内には、前記回転導入部18の回転
動を直線動に変えて前記ワイヤ19に伝導する前記ギヤ
19が設けられている。該ワイヤは前記移動台22のピ
ン24A,24Bに繋がれているので、前記回転導入部
18の回転により該移動台は左右に移動する。該サブチ
ャンバの上に取付けられた前記昇降機構29は、回転導
入部30,該回転導入部の回転を軸32に伝導するギヤ
31、該軸の回転により、棒33と共に上下動するネジ
34、サブチャンバ内と外部とを仕切り且つ該棒の上下
動を可能にするベローズBから成る。尚、該サブチャン
バは前記排気装置27,28により高真空に排気されて
いる。
【0013】2図及び3図は前記サブチャンバ17内の
移動台22の主要部分を示したもので、該移動台には、
探針35A,35B,35C,35D及び試料ホルダ3
6A,36B,36C,36Dが装填されている。又、
該試料台には、探針クランプ部材37、試料クランプ部
材38及び試料筒39がセットされている。更に、該試
料台には、探針クランプリセット工具40及び試料クラ
ンプリセット工具41が固定されている。尚、図中42
は移動台22に取付けられたローラ23A,23Bが滑
走するレール、43は移動台本体、44は工具ベース、
45は試料ホルダステージ、46は試料加熱部材である
【0014】さて、探針装填時、前記ゲートバルブ14
を開くと共に、前記昇降機構29の棒33を下方に下げ
、その先端部を前記探針クランプ部材37の頸部の高さ
に位置させる。該棒の先端部は図4の47に示す様に、
チャック部48を有するフック49、ブッシュ50、ス
トッパー51、コイルバネ52から成る。又、前記探針
クランプ部材37は、図5に示す様に、頸部53を有す
る本体部54、クランプ本体部55、ブッシュ56、ク
ランプ爪57、板バネ58、コイルバネ59から成る。 そして、移動台22を移動させる事により、前記棒33
の先端のチャック部48に前記探針クランプ部材37の
頸部53を嵌合させる。そして、一旦、棒33を上方に
上げ、この状態で、移動台22を移動させ、探針の1つ
(例えば、35A)が前記探針クランプ部材37の先端
の真下に来る様にする。そして、棒33を下方に移動さ
せる事により、該探針35Aを前記探針クランプ部材3
7にセットする。図5は該セットされた状態を示してい
る。そして、棒33を一旦上方へ移動させ、前記移動台
22を端部に移動させる。この状態で、該棒を下方へ移
動させて、前記トンネル顕微鏡ユニット8の上部のピン
ジャック(図示せず)内に前記探針35Aをセットする
。この際、探針35Aをピンジャックに押し付けてセッ
トするので、ブッシュ56が頸部53側に移動して板バ
ネ58が開き、その為に、クランプ爪57の部分も外側
に開いた状態となる。この状態で、棒33はゲートバル
ブ14を介してサブチャンバー17内に戻され、更に、
探針クランプ部材37は前記移動台22の探針クランプ
部材のセット位置に戻される。
【0015】次に、試料筒の装填時、前記棒33を移動
させ、その先端部が前記試料クランプ部材38の頸部の
高さに位置させる。該試料クランプ部材は、図4の60
に示す様に、先端に頸部61を有するボディー62、ブ
ッシュ63、心金64、クランプ爪65、板バネ66、
コイルバネ67から成る。そして、移動台22を移動さ
せる事により、前記棒33の先端のチャック部48に前
記試料クランプ部材38の頸部61を嵌合させる。そし
て、一旦、棒33を上方に上げ、該試料クランプ部材3
8の頸部61の先端の真下に試料筒39が来る様に移動
台22を移動させる。該試料筒は、図7に示す様に、サ
ポート68、頸部を有するサポート69、ケースホルダ
ー70、絶縁プレート71,72、ストッパー73、ガ
イドネジ74、コイルバネ75から成る。そして、棒3
3を下方に移動させ、図4に示す様に、試料クランプ部
材38に試料筒39をセットする。次に、一旦、棒33
を上方へ移動させ、試料を有する試料ホルダ(例えば、
36A)の真横に移動させる。試料ホルダーは図7に示
す様に、試料ケース76、押し捩子77、バックシート
78、リング79から成り、試料Sが保持されている。 そして、前記試料筒39のケースホルダー70の先端部
が試料ホルダー36Aを嵌合する様に移動台22を移動
させる。そして、一旦、前記試料筒のセット位置に該試
料ホルダー36Aを戻す。該試料筒のセット位置には電
気的試料加熱部材が設けられており、ここで、試料は加
熱処理される。該処理後、前記探針をトンネル顕微鏡ユ
ニット8の上部のピンジャック(図示せず)にセットし
た様に前記棒33を移動させて、試料ステージ10に試
料ホルダー36Aを保持した試料筒39をセットする。 この際、試料筒39をステージ10のセット位置に押し
付けてセットするので、試料クランプ部材38のブッシ
ュ63が頸部61側に移動して板バネ66が開き、その
為に、クランプ爪65の部分も外側に開いた状態となる
。この状態で、棒33はゲートバルブ14を介してサブ
チャンバー17内に戻され、更に、試料クランプ部材3
8は前記移動台22の試料クランプ部材のセット位置に
戻される。そして、ゲートバルブ14を閉じて、試料表
面の観察等が行われる。
【0016】さて、例えば、試料を交換する場合には、
前記棒33の先端のチャック部48に前記試料クランプ
部材38の頸部61を嵌合させ、前記棒33が試料クラ
ンプリセット工具41の真下に来る様に移動台22を移
動させ、該棒33を下方へ移動させる。すると、該試料
クランプリセット工具41の頭部が試料クランプ部材3
8のクランプ爪65に当たって、該爪を更に外側に広げ
る事により、前記ブッシュ63がコイルバネ67の力に
より戻って来て、該爪が元の開きの無い状態に戻る。こ
の状態で、ゲートバルブ14を開いて、棒33を移動さ
せ、ステージ10にセットされている試料筒を試料クラ
ンプ部材38でクランプし、サブチャンバーに戻す。そ
して、試料ホルダーを元の位置に戻してから、別の試料
ホルダーを前記一連の工程の様に操作して前記ステージ
10へセットする。
【0017】又、別の探針に交換する場合には、一旦試
料筒をステージ10から取り除いてから行う。(但し、
該ステージ10の試料筒セット箇所と別な該ステージ箇
所に適宜な孔を開け、該ステージを移動させる事により
、該孔が棒が移動する通路に位置する様に成せば、一々
試料筒をステージから取り除く必要が無い。)前記棒3
3の先端のチャック部48に前記探針クランプ部材37
の頸部53を嵌合させ、前記棒33が探針クランプリセ
ット工具40の真下に来る様に移動台22を移動させ、
該棒33を下方へ移動させる。すると、図6に示す様に
、該探針クランプリセット工具40の頭部が探針クラン
プ部材37のクランプ爪57に当たって、該爪を更に外
側に広げる事により、コイルバネ59の力により前記ブ
ッシュ56が戻って来て、該爪が元の開きの無い状態に
戻る。この状態で、前記別の探針を前記一連の工程の様
に操作して前記トンネル顕微鏡ユニット8のピンジャッ
ク(図示せず)にセットする。
【0018】
【発明の効果】  本発明のトンネル顕微鏡用交換機構
は、着脱可能に装着された探針を駆動するユニット及び
着脱可能にセットされた試料筒を収容するメインチャン
バー、該メインチャンバーに仕切弁を介して接続された
サブチャンバーを有し、該サブチャンバー内に、前記ユ
ニット方向に移動可能で先端にチャック部を有する昇降
手段、該昇降手段の移動方向に垂直な方向に移動可能で
複数の探針,複数の試料ホルダー,探針クランプ部材,
試料クランプ部材,試料筒がセットされた移動台を備え
、前記探針クランプ部材は前記昇降手段のチャック部に
チャッキングされる部分と前記探針をチャッキングする
チャック部を有し、前記試料クランプ部材は前記昇降手
段のチャック部にチャッキングされる部分と前記試料を
チャッキングする為の前記試料筒をチャッキングするチ
ャック部を有して成るので、先に提案された交換機構の
様に、高価で複雑な機構の磁気結合移動装置と異なり、
費用が掛からず、又、機構も単純である。
【図面の簡単な説明】
【図1】  本発明の一実施例として示した交換機構を
備えたトンネル顕微鏡の概略図である。
【図2】  サブチャンバ内の移動台の主要部分の一例
を示したものである。
【図3】  サブチャンバ内の移動台の主要部分の一例
を示したものである。
【図4】  棒の先端部と試料クランプ部材の一例を示
したものである。
【図5】  探針クランプ部材の一例を示したものであ
る。
【図6】  探針クランプリセット工具の動作を示した
ものである
【図7】  試料筒の一例を示したものである。
【符号の説明】
1:架台    2:排気装置    3:除振マウン
ト    4:ベース    5:メインチャンバ  
  6:支柱    7:ベース    8:トンネル
顕微鏡ユニット    9:探針    10:ステー
ジ    11:試料筒    12:パルスモータ 
   13:ステージ移動駆動部    14:ゲート
バルブ    15:排気装置16:L形弁    1
7:サブチャンバ    18:回転導入部    1
9:ギヤ20:ワイヤー    21:回転体    
22:移動台    23A,23B:ローラ    
24A,24B:ピン    25,26:ゲートバル
ブ  27,28:排気装置    29:昇降機構3
0:回転導入部    31:ギヤ    32:軸3
3:棒    34:ネジ    B:ベローズ   
 35A,35B,35C,35D:探針    36
A,36B,36C,36D:試料ホルダ    37
:探針クランプ部材    38:試料クランプ部材 
   39:試料筒    S:試料    40:探
針クランプリセット工具    41:試料クランプリ
セット工具    42:レール    43:移動台
本体    44:工具ベース    45:試料ホル
ダステージ46:試料加熱機構    48:チャック
部    49:フック    50:ブッシュ   
 51:ストッパー    52:コイルバネ    
53:頸部    54:本体部    55:クラン
プ本体部    56:ブッシュ    57:クラン
プ爪    58:板バネ    59:コイルバネ 
   61:頸部    62:ボディー63:ブッシ
ュ    64:心金    65:クランプ爪  6
6:板バネ    67:コイルバネ68:サポート 
   69:サポート    70:ケースホルダー 
   71,72:絶縁プレート    73:ストッ
パー    74:ガイドネジ    75:コイルバ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  着脱可能に装着された探針を駆動する
    ユニット及び着脱可能にセットされた試料筒を収容する
    メインチャンバー、該メインチャンバーに仕切弁を介し
    て接続されたサブチャンバーを有し、該サブチャンバー
    内に、前記ユニット方向に移動可能で先端にチャック部
    を有する昇降手段、該昇降手段の移動方向に垂直な方向
    に移動可能で複数の探針,複数の試料ホルダー,探針ク
    ランプ部材,試料クランプ部材,試料筒がセットされた
    移動台を備え、前記探針クランプ部材は前記昇降手段の
    チャック部にチャッキングされる部分と前記探針をチャ
    ッキングするチャック部を有し、前記試料クランプ部材
    は前記昇降手段のチャック部にチャッキングされる部分
    と前記試料をチャッキングする為の前記試料筒をチャッ
    キングするチャック部を有して成るトンネル顕微鏡用交
    換機構。
JP41017690A 1990-12-12 1990-12-12 トンネル顕微鏡用交換機構 Withdrawn JPH04215008A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP41017690A JPH04215008A (ja) 1990-12-12 1990-12-12 トンネル顕微鏡用交換機構

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JP41017690A JPH04215008A (ja) 1990-12-12 1990-12-12 トンネル顕微鏡用交換機構

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JPH04215008A true JPH04215008A (ja) 1992-08-05

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ID=18519374

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JP41017690A Withdrawn JPH04215008A (ja) 1990-12-12 1990-12-12 トンネル顕微鏡用交換機構

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JP (1) JPH04215008A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002168753A (ja) * 2000-11-29 2002-06-14 Tokyo Seimitsu Co Ltd 走査型プローブ顕微鏡

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002168753A (ja) * 2000-11-29 2002-06-14 Tokyo Seimitsu Co Ltd 走査型プローブ顕微鏡

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Effective date: 19980312