JPH0545990Y2 - - Google Patents

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JPH0545990Y2
JPH0545990Y2 JP1985184184U JP18418485U JPH0545990Y2 JP H0545990 Y2 JPH0545990 Y2 JP H0545990Y2 JP 1985184184 U JP1985184184 U JP 1985184184U JP 18418485 U JP18418485 U JP 18418485U JP H0545990 Y2 JPH0545990 Y2 JP H0545990Y2
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nuclear magnetic
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、試料温度可変装置を備えた核磁気共
鳴装置に関するものである。
[従来技術] 試料温度可変装置を備えた核磁気共鳴装置で
は、核磁気共鳴プローブの設定位置に置かれた試
料管の周囲に温度制御されたガスを流通させ、試
料温度を例えば−100℃から+150℃程度の範囲で
任意に設定して測定を行つている。
更に、近時、超電導磁石を用いた核磁気共鳴装
置においては、多数の試料を効率良く測定するた
めに自動試料交換装置が組込まれるようになつて
いる。
[考案が解決しようとする問題点] ところが、試料温度可変装置を備えた核磁気共
鳴装置に併せて自動試料交換装置を組込んで測定
時間の効率化を図つても、試料管を核磁気共鳴プ
ローブにセツトしてから試料管(試料)の温度が
設定温度になるまでの待ち時間が長く、それがロ
スタイムとなるため、測定時間の短縮にはあまり
効果がなかつた。
そこで、本考案はこのような不都合を解決する
ために、測定位置に試料をセツト後直ちに測定を
開始することができ、測定時間を大幅に短縮する
ことのできる核磁気共鳴装置を提供することを目
的としている。
[問題点を解決するための手段] この目的を達成するため、本考案は、核磁気共
鳴プローブの測定位置に置かれた試料管の周囲に
温度制御されたガスを流通させ、試料温度を任意
に設定するようになした試料温度可変装置を備え
た核磁気共鳴装置において、複数の未測定試料管
を保持した未測定試料管保持部と、既測定試料管
保持部と、試料管を挟持するチヤツク機構と、該
チヤツク機構を移動させる移動機構とから構成さ
れ、未測定試料管を未測定試料管保持部から核磁
気共鳴プローブへ運び、既測定試料管を核磁気共
鳴プローブから既測定試料管保持部へ運ぶように
した試料管自動交換装置を設けると共に、前記各
未測定試料管を前記試料温度可変装置において設
定される温度に略等しい温度に予めセツトするた
めの予備温度可変手段を前記核磁気共鳴プローブ
と未測定試料管保持部との間の試料管の移動通路
部に設け、更に該予備温度可変手段により温度設
定された試料管を外気から遮断するための手段と
を設けたことを特徴としている。
以下、図面を用いて本考案の一実施例を詳説す
る。
[実施例] 添附図面は本考案の一実施例を示す構成略図で
ある。図において、1は超電導磁石を収納した容
器であり、この容器の中心部には核磁気共鳴プロ
ーブ2が設けてある。3は筒状のスピンナハウジ
ングで、このスピンナハウジングは前記容器1の
頂部からプローブ2に向けて挿入されており、ま
た、このスピンナハウジングは後述するプローブ
2内の測定位置に置かれた試料管4をガス圧によ
り容器1の頂部まで浮上させる際のガイドの役目
を果す。
5は第1の試料温度可変手段で、液体窒素容器
と加熱ヒータとを備え、液体窒素の気化ガスを加
熱ヒータにて加熱することにより−100℃から+
150℃程度の範囲で任意の温度に設定し、このガ
スをパイプ6を介してプローブ2内に供給するこ
とにより、プローブ2内の測定位置に置かれた試
料管4(試料)を任意の温度に設定することがで
きる。また、この手段はガス供給圧力可変手段を
も備えており、プローブ内に供給するガス圧を高
めることにより試料管を浮上させたり、あるいは
反対にガス圧を低くすることにより降下させるこ
とが可能である。
7は測定すべき前記試料管4を多数装填した回
転板で、モータ8により回転される。9はこの回
転板7に保持された特定位置の試料管4を下方か
ら押し上げて、回転板から抜き出すためのエアー
シリンダからなる上下移動機構である。10はこ
の機構9により上方に取出された試料管4を挟持
するためのチヤツク機構で、開閉可能な2つの爪
から構成されている。また、このチヤツク機構1
0は図示外のエアーシリンダからなる移動機構に
より前記試料管4の抜き出し位置Aとスピンナハ
ウジング3上に浮上した試料管位置Bとの間を往
復する。
11は前記チヤツク機構10の移動通路の途中
に形成された予備室で、この予備室には試料管4
が着脱可能に装填される。また、この予備室には
パイプ12を介して前記試料温度可変手段5と同
様に構成された第2の試料温度可変手段13に接
続されている。14はこの予備室11に対して試
料管4が浮上あるいは降下する際のガイドの役目
を果す筒体で、この筒体は断熱材で形成され、そ
の内部を大気から熱的に遮断する。15はこの筒
体14の上端に浮上した試料管4がスピンナハウ
ジング3の上端まで移動する空間を大気と熱的に
遮断するための断熱材で形成された熱シールド部
材である。
かかる装置における動作を以下に説明する。
先ず、回転板7の所定位置に置かれた第1番目
の試料管4を上下移動機構により上方に抜き出し
てチヤツク機構10にて挟持した後、このチヤツ
ク機構を水平移動させて試料管4を予備室11
(筒体14)の直上に配置する。このとき、筒体
14からは第2の試料温度可変手段13から加圧
ガスが吹き出されているため、チヤツク機構10
から試料管を外すと共に、ガス圧を徐々に低くす
ることにより試料管は筒体14内を降下し、予備
室11に装着される。この状態において、予備室
11に供給するガスの温度を制御することにより
試料管4の温度を所望の測定温度にセツトする。
この試料管が測定温度に保たれると、再び予備室
11内に供給するガス圧を高めて試料管を上昇さ
せてチヤツク機構10に挟持させた後、このチヤ
ツク機構を移動させて試料管をBの位置、つまり
スピンナハウジング3上端に位置させる。この
時、このスピンナハウジング3からは第1の試料
温度可変手段5からの加圧ガスが吹き出されてい
るため、チヤツク機構10から試料管4を外すと
共に、ガス圧を徐々に低くすることにより試料管
はスピンナハウジング3内を降下し、プローブ2
の測定位置にセツトされる。ここで、プローブ内
に供給されるガスは第1の試料温度可変手段5に
より予備室11内に供給されているガスの温度と
同一の温度、つまり測定温度に保たれている。従
つて、試料管はプローブ内の測定位置にセツトさ
れたときには既に測定温度に保たれているため、
直ちに測定を開始することができる。また、測定
温度に保たれた試料管が予備室11からプローブ
内まで運ばれている間は断熱材で形成された筒体
14や熱シールド部材15により熱シールドされ
ているため、試料管の温度変化を防止できたりあ
るいは低温に保つた場合における霜の付着を防止
することができる。
一方、第1番目の試料管が測定されているとき
には、チヤツク機構は再び試料管抜き出し位置A
に移動し、回転板7から抜き出された第2番目の
試料管を挟持して予備室10の直上まで移動する
ため、この試料管は予備室内に装着されて測定温
度に保たれる。
しかして、第1番目の試料管4の測定が終了す
ると、試料管はガス圧によりスピンナハウジング
3内を浮上してチヤツク機構10により挟持され
た後、抜き出し位置Aまで運ばれて回転板7に回
収される。この試料管の回転板への回収が終了す
ると、チヤツク機構は予備室11の直上まで移動
し、測定温度に保たれた第2番目の試料管を挟持
してプローブ2内の測定位置にセツトせしめてこ
の試料管内の試料を測定する。以下、以上の動作
が繰返されることにより予め測定温度に保たれた
試料管が順次プローブ内にセツトされ、測定が行
われる。
尚、前述の説明ではプローブ及び予備室内に加
圧ガスを供給するための試料温度可変手段は別々
に設けた場合について述べたが、別々に設けない
で兼用させても良い。
更に、上記実施例では測定が終了した既測定試
料管を回転板に戻したが、既測定試料管を保持す
る第2の保持手段を別個に設けると共にチヤツク
機構をこの保持手段の方へ移動させるようにし、
既測定試料管を第2の保持手段に回収するように
しても良い。
[考案の効果] 以上詳述したように本考案においては、測定す
べき試料管の温度を予め測定温度に保つた状態で
プローブ内にセツトするようになしているため、
従来のようにプローブ内に試料管をセツト後、測
定温度に達成するまで待つ必要がなくなり、測定
時間の短縮化を図ることができる。また、予備温
度可変手段を従来のように未測定試料管保持部に
組み込んでいないため、未測定試料管保持部に保
持された多数の試料管すべての温度を一緒に可変
する必要がなくなると共に予備温度可変手段の小
型化が図られ、しかも、試料の温度変化に基づく
性質が変化して正確な測定情報が得られなくなる
ことを防止できる。さらに、予め測定温度に保た
れた試料管がプローブ内にセツトされる間は外気
と熱的に遮断するようになしてあるため、試料管
の移動時における温度変化を防止できたりあるい
は低温に保たれた試料管に霜が付着することを防
止することができる。
【図面の簡単な説明】
添附図面は本考案の一実施例を示す構成略図で
ある。 1……容器、2……プローブ、3……スピンナ
ハウジング、4……試料管、5……第1の試料温
度可変手段、6,12……パイプ、7……回転
板、8……モータ、9……上下移動機構、10…
…チヤツク機構、11……予備室、13……第2
の試料温度変化手段、14……筒体、15……熱
シールド部材。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 核磁気共鳴プローブの測定位置に置かれた試
    料管の周囲に温度制御されたガスを流通させ、
    試料温度を任意に設定するようになした試料温
    度可変装置を備えた核磁気共鳴装置において、
    複数の未測定試料管を保持した未測定試料管保
    持部と、既測定試料管保持部と、試料管を挟持
    するチヤツク機構と、該チヤツク機構を移動さ
    せる移動機構とから構成され、未測定試料管を
    未測定試料管保持部から核磁気共鳴プローブへ
    運び、既測定試料管を核磁気共鳴プローブから
    既測定試料管保持部へ運ぶようにした試料管自
    動交換装置を設けると共に、前記各未測定試料
    管を前記試料温度可変装置において設定される
    温度に略等しい温度に予めセツトするための予
    備温度可変手段を前記核磁気共鳴プローブと未
    測定試料管保持部との間の試料管の移動通路部
    に設け、更に該予備温度可変手段により温度設
    定された試料管を外気から遮断するための手段
    とを設けたことを特徴とする核磁気共鳴装置。 (2) 前記未測定試料管保持部が既測定試料管保持
    部を兼ねる実用新案登録請求の範囲第1項記載
    の核磁気共鳴装置。
JP1985184184U 1985-11-29 1985-11-29 Expired - Lifetime JPH0545990Y2 (ja)

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JPS6292461U JPS6292461U (ja) 1987-06-12
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