JPH04212573A - Ｘ線診断装置 - Google Patents
Ｘ線診断装置Info
- Publication number
- JPH04212573A JPH04212573A JP3012950A JP1295091A JPH04212573A JP H04212573 A JPH04212573 A JP H04212573A JP 3012950 A JP3012950 A JP 3012950A JP 1295091 A JP1295091 A JP 1295091A JP H04212573 A JPH04212573 A JP H04212573A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solid
- state image
- image
- layer
- ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 4
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 abstract description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- YADSGOSSYOOKMP-UHFFFAOYSA-N lead dioxide Inorganic materials O=[Pb]=O YADSGOSSYOOKMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 1
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/26—Measuring radiation intensity with resistance detectors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/30—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from X-rays
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＸ線診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】電気抵抗値が入射Ｘ線の強度に依存する
層とこの層に接触して抵抗値を相応する輝度値に変換す
るエレクトロルミネセンス層とを有するＸ線像作成用固
体像変換器は公知である。両層の互いに反対側の間には
、エレクトロルミネセンス層を入射Ｘ線強度に応じて発
光させる高周波交流電圧が印加される。
層とこの層に接触して抵抗値を相応する輝度値に変換す
るエレクトロルミネセンス層とを有するＸ線像作成用固
体像変換器は公知である。両層の互いに反対側の間には
、エレクトロルミネセンス層を入射Ｘ線強度に応じて発
光させる高周波交流電圧が印加される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この種の固体像変換器
は今までＸ線医学においては普及されていなかった。と
いうのは、エレクトロルミネセンス層は比較的高い時間
慣性を有しており、この時間慣性は移動する像を考察す
るためには適さないからである。
は今までＸ線医学においては普及されていなかった。と
いうのは、エレクトロルミネセンス層は比較的高い時間
慣性を有しており、この時間慣性は移動する像を考察す
るためには適さないからである。
【０００４】本発明は、エレクトロルミネセンス層の時
間慣性に起因するエレクトロルミネセンス像の数十秒か
ら分オーダの長い減衰時間を、Ｘ線により作成された個
別像をこの減衰時間の間蓄積するために使用し得るとい
う認識に基づいている。
間慣性に起因するエレクトロルミネセンス像の数十秒か
ら分オーダの長い減衰時間を、Ｘ線により作成された個
別像をこの減衰時間の間蓄積するために使用し得るとい
う認識に基づいている。
【０００５】このような認識から出発して、本発明は、
固体像変換器の蓄積能力をこれによって作成された像の
ディジタル化を行うために利用することを課題とする。
固体像変換器の蓄積能力をこれによって作成された像の
ディジタル化を行うために利用することを課題とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
、本発明おいては、冒頭で述べた種類の固体像変換器を
備えたＸ線診断装置において、エレクトロルミネセンス
層の像点の輝度を相応する電気信号に変換する走査装置
を設け、その電気信号をデータ収集・データ処理装置に
送給するものである。
、本発明おいては、冒頭で述べた種類の固体像変換器を
備えたＸ線診断装置において、エレクトロルミネセンス
層の像点の輝度を相応する電気信号に変換する走査装置
を設け、その電気信号をデータ収集・データ処理装置に
送給するものである。
【０００７】走査装置の光検出器の電気出力信号は個々
の像点の輝度に一致し、モニター上で像表示するために
さらに処理を加えることができる。モニター上の像はエ
レクトロルミネセンス像よりも後で作成することができ
る。
の像点の輝度に一致し、モニター上で像表示するために
さらに処理を加えることができる。モニター上の像はエ
レクトロルミネセンス像よりも後で作成することができ
る。
【０００８】
【実施例】次に、本発明を図面に示された実施例に基づ
いて詳細に説明する。図１には、焦点２から一次Ｘ線絞
り３によって絞られる角錐状Ｘ線束４を放出するＸ線源
１が図示されている。Ｘ線束４は患者５を貫通し、固体
像変換器６に入射する。固体像変換器６は数十秒から分
オーダにわたって像を蓄積する。その際、固体像変換器
６は発光のために電気的に励起されるが、蓄積された像
は消滅しない。蓄積された像は図１によればＸ方向およ
びＹ方向に蛇行状に移動される光検出器７の助けによっ
て走査され、連続的な電気信号に変換されて導線８へ与
えられる。導線８上の信号はデータ収集・データ処理装
置９に送給され、このデータ収集・データ処理装置９は
必要に応じて加工された像の再生をモニター１０上に行
わせる。
いて詳細に説明する。図１には、焦点２から一次Ｘ線絞
り３によって絞られる角錐状Ｘ線束４を放出するＸ線源
１が図示されている。Ｘ線束４は患者５を貫通し、固体
像変換器６に入射する。固体像変換器６は数十秒から分
オーダにわたって像を蓄積する。その際、固体像変換器
６は発光のために電気的に励起されるが、蓄積された像
は消滅しない。蓄積された像は図１によればＸ方向およ
びＹ方向に蛇行状に移動される光検出器７の助けによっ
て走査され、連続的な電気信号に変換されて導線８へ与
えられる。導線８上の信号はデータ収集・データ処理装
置９に送給され、このデータ収集・データ処理装置９は
必要に応じて加工された像の再生をモニター１０上に行
わせる。
【０００９】図２は固体像変換器６が２枚のガラス板１
１、１２間にエレクトロルミネセンス層１３と抵抗層１
４とを有する様子が示されている。エレクトロルミネセ
ンス層１３と抵抗層１４との間には結合層１５が位置し
、ガラス板１１とエレクトロルミネセンス層１３との間
には透明電極層１６が位置し、ガラス板１２と抵抗層１
４との間には透明電極層１７が位置している。
１、１２間にエレクトロルミネセンス層１３と抵抗層１
４とを有する様子が示されている。エレクトロルミネセ
ンス層１３と抵抗層１４との間には結合層１５が位置し
、ガラス板１１とエレクトロルミネセンス層１３との間
には透明電極層１６が位置し、ガラス板１２と抵抗層１
４との間には透明電極層１７が位置している。
【００１０】電極層１６、１７間には高周波電圧が印加
される。この電圧によって、大きさが抵抗層１４の抵抗
値に依存する電流がエレクトロルミネセンス層１３を通
って流れる。この抵抗値はその都度入射するＸ線の強度
によって決定される。このようにして、エレクトロルミ
ネセンス層１３の個々の像点の輝度は抵抗層１４の抵抗
値、従って入射するＸ線の強度に依存する。それゆえ、
エレクトロルミネセンス層１３は図１の患者５の透過領
域のＸ線陰影像を再生する。
される。この電圧によって、大きさが抵抗層１４の抵抗
値に依存する電流がエレクトロルミネセンス層１３を通
って流れる。この抵抗値はその都度入射するＸ線の強度
によって決定される。このようにして、エレクトロルミ
ネセンス層１３の個々の像点の輝度は抵抗層１４の抵抗
値、従って入射するＸ線の強度に依存する。それゆえ、
エレクトロルミネセンス層１３は図１の患者５の透過領
域のＸ線陰影像を再生する。
【００１１】エレクトロルミネセンス層１３は数十秒か
ら分オーダの比較的長い減衰時間を有し、個別像をこの
時間に亘って蓄積することができる。蓄積された個別像
は図１においては破壊されることなく像点毎に読出され
る。この読出しは減衰時間の間多数回繰返して行われる
。このことは発光密度が小さい低像線量において有効で
ある。即ち、多数回読出しによって光検出器７とこれに
後置接続された電子回路との固有雑音の影響が大幅に低
減される。つまり、特にディジタル形態にて読出信号を
正しい位置関係にて合算すると、充分に雑音のないＸ線
像が得られる。このＸ線像の雑音特性は実際上不可避な
量子雑音によってのみ決定される。
ら分オーダの比較的長い減衰時間を有し、個別像をこの
時間に亘って蓄積することができる。蓄積された個別像
は図１においては破壊されることなく像点毎に読出され
る。この読出しは減衰時間の間多数回繰返して行われる
。このことは発光密度が小さい低像線量において有効で
ある。即ち、多数回読出しによって光検出器７とこれに
後置接続された電子回路との固有雑音の影響が大幅に低
減される。つまり、特にディジタル形態にて読出信号を
正しい位置関係にて合算すると、充分に雑音のないＸ線
像が得られる。このＸ線像の雑音特性は実際上不可避な
量子雑音によってのみ決定される。
【００１２】読出しは図１に示されているように点状に
行われる。しかしながら、一列の検出器要素から成る列
状光検出器を使用することも可能であり、それゆえ列状
読出しが可能である。さらに、固体像変換器に関して相
対的運動を必要としない二次元走査形平面状光検出器も
使用され得る。
行われる。しかしながら、一列の検出器要素から成る列
状光検出器を使用することも可能であり、それゆえ列状
読出しが可能である。さらに、固体像変換器に関して相
対的運動を必要としない二次元走査形平面状光検出器も
使用され得る。
【００１３】固体像変換器は平坦状または湾曲状であり
得る。
得る。
【００１４】図１の例においては固体像変換器６上の各
像点の輝度が光検出器７によって検出される。この光検
出器７は上述したようにＸ方向およびＹ方向に、しかし
ながら固体像変換器６がこれらの方向の一方向に移動さ
れる場合には、これらの方向の他方向だけに移動され得
る。各像点の輝度の正確な検出は、行絞りがＸ方向およ
びＹ方向に互いに相対的に、かつ常時１つの像点だけが
光検出器７から見えるように固体像変換器６および光検
出器７に対して移動される場合に可能である。
像点の輝度が光検出器７によって検出される。この光検
出器７は上述したようにＸ方向およびＹ方向に、しかし
ながら固体像変換器６がこれらの方向の一方向に移動さ
れる場合には、これらの方向の他方向だけに移動され得
る。各像点の輝度の正確な検出は、行絞りがＸ方向およ
びＹ方向に互いに相対的に、かつ常時１つの像点だけが
光検出器７から見えるように固体像変換器６および光検
出器７に対して移動される場合に可能である。
【００１５】図３においては、Ｘ線源１には、扇状Ｘ線
束１９に対するスリット状一次Ｘ線絞り１８が所属して
いる。患者５の後には第２のスリット絞り２０が配設さ
れている。Ｘ線束１９は患者５を透過した後に円筒体２
１上に配置された固体像変換器２２に入射する。この固
体像変換器２２は図２に示された固体像変換器と同じに
形成されている。電圧は図示されていない回転形電流結
合器を介して固体像変換器２２に供給される。
束１９に対するスリット状一次Ｘ線絞り１８が所属して
いる。患者５の後には第２のスリット絞り２０が配設さ
れている。Ｘ線束１９は患者５を透過した後に円筒体２
１上に配置された固体像変換器２２に入射する。この固
体像変換器２２は図２に示された固体像変換器と同じに
形成されている。電圧は図示されていない回転形電流結
合器を介して固体像変換器２２に供給される。
【００１６】像撮影を行うために、一次Ｘ線絞り１８を
備えたＸ線源１と、固体像変換器２２を備えた円筒体２
１と、スリット絞り２０とが矢印２３方向に移動される
。その際、円筒体２１は回転させられる。このようにし
て、固体像変換器２２上には患者５の診察すべき領域の
像が列状に記録される。漂遊Ｘ線はその際抑制される。
備えたＸ線源１と、固体像変換器２２を備えた円筒体２
１と、スリット絞り２０とが矢印２３方向に移動される
。その際、円筒体２１は回転させられる。このようにし
て、固体像変換器２２上には患者５の診察すべき領域の
像が列状に記録される。漂遊Ｘ線はその際抑制される。
【００１７】固体像変換器２２上に記録された像の読出
しを行うために、この固体像変換器２２は回動して一列
の検出器要素から成る列状光検出器２４の傍を通過する
。検出器要素の出力信号はデータ収集・データ処理装置
９に送給される。
しを行うために、この固体像変換器２２は回動して一列
の検出器要素から成る列状光検出器２４の傍を通過する
。検出器要素の出力信号はデータ収集・データ処理装置
９に送給される。
【００１８】図４は構成要素１〜６が図１の構成要素１
〜６と同じである実施例を示す。固体像変換器６の像は
図１とは逆に一列の検出器要素から成る列状光検出器２
５によって読出される。光検出器２５は読出しの際には
列状走査を行うために列方向に対して垂直に固体像変換
器６の傍を通過する。
〜６と同じである実施例を示す。固体像変換器６の像は
図１とは逆に一列の検出器要素から成る列状光検出器２
５によって読出される。光検出器２５は読出しの際には
列状走査を行うために列方向に対して垂直に固体像変換
器６の傍を通過する。
【００１９】固体像変換器６と固体像変換器２２を備え
た円筒体２１とは読出しのために撮影位置から離されて
、走査位置へもたらされ得る。
た円筒体２１とは読出しのために撮影位置から離されて
、走査位置へもたらされ得る。
【００２０】面状つまり二次元ラスタ形光検出器が使用
される場合には、上述したように、この光検出器と固体
像変換器との間の相対運動はもはや必要ない。かかる光
検出器の検出器要素は、固体像変換器の像の縮小化が必
要とあれば小平面に形成され得る。個々の検出器要素の
光学的結合はファイバー光学技術によって行われ得る。
される場合には、上述したように、この光検出器と固体
像変換器との間の相対運動はもはや必要ない。かかる光
検出器の検出器要素は、固体像変換器の像の縮小化が必
要とあれば小平面に形成され得る。個々の検出器要素の
光学的結合はファイバー光学技術によって行われ得る。
【００２１】固体像変換器６、２２内のＸ線により作成
された像を読出してもこの像は自然には消滅しない。像
の消去は図２の電極１６、１７に適宜に極性付けされた
直流電界を印加することによって行われ得る。
された像を読出してもこの像は自然には消滅しない。像
の消去は図２の電極１６、１７に適宜に極性付けされた
直流電界を印加することによって行われ得る。
【００２２】連続撮影の間の繰返し時間は例えば１０〜
２０秒であり得る。この時間の間、必要ならば複数回光
学的読出しが行われ、それによって得られた信号の必要
な後処理が行われる。
２０秒であり得る。この時間の間、必要ならば複数回光
学的読出しが行われ、それによって得られた信号の必要
な後処理が行われる。
【００２３】ディジタルＸ線像を作成するために光学的
に走査される固体像変換器を備えた本発明によるＸ線診
断装置は、一時的なＸ線像蓄積のために読出しがレーザ
ー光による走査によって行われる他の方式の蓄積形発光
物質を使用したり、またはＸ線像に相当する電荷分布が
走査される例えばセレンから成る電荷蓄積層を備えたＸ
線診断装置を使用したりすることができる。
に走査される固体像変換器を備えた本発明によるＸ線診
断装置は、一時的なＸ線像蓄積のために読出しがレーザ
ー光による走査によって行われる他の方式の蓄積形発光
物質を使用したり、またはＸ線像に相当する電荷分布が
走査される例えばセレンから成る電荷蓄積層を備えたＸ
線診断装置を使用したりすることができる。
【００２４】エレクトロルミネセンスを生ぜしめるため
に電極１６、１７（図２）に印加される交流電圧の大き
さおよび周波数を変えることによって、発光密度および
場合によってその分布、従ってＸ線撮影のダイナミック
領域を制御することができる。
に電極１６、１７（図２）に印加される交流電圧の大き
さおよび周波数を変えることによって、発光密度および
場合によってその分布、従ってＸ線撮影のダイナミック
領域を制御することができる。
【００２５】エレクトロルミネセンス層１３は全てのシ
ート機構、すなわち蓄積形発光物質シートにおいても発
光物質の多結晶特性とは逆に粒体なし、つまりアモルフ
ァスに設けることができる。それによって解像度はこれ
らのシートに比較して改善される。
ート機構、すなわち蓄積形発光物質シートにおいても発
光物質の多結晶特性とは逆に粒体なし、つまりアモルフ
ァスに設けることができる。それによって解像度はこれ
らのシートに比較して改善される。
【００２６】固体像変換器６、２２の像の走査の他に、
同様に接触撮影も直接露光によって実行することができ
る。
同様に接触撮影も直接露光によって実行することができ
る。
【００２７】連続撮影の間の繰返し比が約１Ｈｚに高め
られると、本発明によるＸ線診断装置によればディジタ
ル的なパルス状透視が可能になる。
られると、本発明によるＸ線診断装置によればディジタ
ル的なパルス状透視が可能になる。
【００２８】エレクトロルミネセンス層１３と導電層１
４との材料は知られている。即ち、エレクトロルミネセ
ンス層１３は例えばＺｎＳから構成することができ、抵
抗層１４はＣｄＳから構成することができる。
４との材料は知られている。即ち、エレクトロルミネセ
ンス層１３は例えばＺｎＳから構成することができ、抵
抗層１４はＣｄＳから構成することができる。
【００２９】抵抗層１４のための他の材料としてはＣｄ
Ｓｅ、ＨｇＪ２ およびＰｂＯがあり、これらはＣｄＳ
に比較して高いＸ線吸収を有する。この利点は層厚みが
僅かとなり、さらに位置鮮明度が改善されることである
。
Ｓｅ、ＨｇＪ２ およびＰｂＯがあり、これらはＣｄＳ
に比較して高いＸ線吸収を有する。この利点は層厚みが
僅かとなり、さらに位置鮮明度が改善されることである
。
【００３０】多結晶導電層とは逆に、ＨｇＪ２ は例え
ばダイナミック昇華技術（Ｍ．Ａ．Ｈａｓｓｅｎ、Ｓ．
Ｐｒａｒｃｅ、Ｊ．Ｐ．Ｎ．Ｅｄｗａｒｄｓの「ジャー
ナルオブ クリスタル グロース（Ｊｏｕｒｎａｌ
ｏｆ Ｃｒｙｓｔｅｌ Ｇｒｏｗｔｈ）」４４
、１９７８年発行、第４７３頁〜第４７４頁）により、
ＰｂＯ２ は蒸着（Ｆ．Ｊ．ｄｕ Ｃｈａｔｅｎｉｅ
ｒ、Ｊ．ｖａｎ ｄｅｎ Ｂｒｏｅｋの「フィリッ
プス リサーチ レポート（Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｒ
ｅｓ．Ｒｅｐｔｓ）２４、１９６９年発行、第３９２頁
〜第４０６頁）により設けることができる。
ばダイナミック昇華技術（Ｍ．Ａ．Ｈａｓｓｅｎ、Ｓ．
Ｐｒａｒｃｅ、Ｊ．Ｐ．Ｎ．Ｅｄｗａｒｄｓの「ジャー
ナルオブ クリスタル グロース（Ｊｏｕｒｎａｌ
ｏｆ Ｃｒｙｓｔｅｌ Ｇｒｏｗｔｈ）」４４
、１９７８年発行、第４７３頁〜第４７４頁）により、
ＰｂＯ２ は蒸着（Ｆ．Ｊ．ｄｕ Ｃｈａｔｅｎｉｅ
ｒ、Ｊ．ｖａｎ ｄｅｎ Ｂｒｏｅｋの「フィリッ
プス リサーチ レポート（Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｒ
ｅｓ．Ｒｅｐｔｓ）２４、１９６９年発行、第３９２頁
〜第４０６頁）により設けることができる。
【００３１】固体像変換器６は図５示された構成を備え
ることによって高量子効率でもって駆動させることがで
きる。図５においては、Ｘ線感応ルミネセンス層１４ａ
は１００μｍ〜３００μｍの厚みを有し、例えばＣｓＪ
：Ｎａが蒸着されるかまたは微粒子状多結晶特性、例え
ばＧｄ２ Ｏ２ Ｓ：Ｔｂを有する。この層１４ａで吸
収されるＸ線は可視光に変換される。その際、ＣｓＪ：
Ｎａについては最大放出は４２０ｎｍ、Ｇｄ２ Ｏ２
Ｓ：Ｔｂについては５４５ｎｍに位置する。
ることによって高量子効率でもって駆動させることがで
きる。図５においては、Ｘ線感応ルミネセンス層１４ａ
は１００μｍ〜３００μｍの厚みを有し、例えばＣｓＪ
：Ｎａが蒸着されるかまたは微粒子状多結晶特性、例え
ばＧｄ２ Ｏ２ Ｓ：Ｔｂを有する。この層１４ａで吸
収されるＸ線は可視光に変換される。その際、ＣｓＪ：
Ｎａについては最大放出は４２０ｎｍ、Ｇｄ２ Ｏ２
Ｓ：Ｔｂについては５４５ｎｍに位置する。
【００３２】この光はＰｂＯまたはＧａＡｓから成る薄
い（１０μｍ〜１００μｍ）蒸着層から構成され得る抵
抗層１４ｂを制御する。固体像変換器用に層１４ａと透
明電極層１７ａと抵抗層１４ｂとから構成されたこの装
置は、大きく改善された位置鮮明度を有すると共に、高
量子効率を有する。従って、像の量子雑音はさらに低減
することができる。
い（１０μｍ〜１００μｍ）蒸着層から構成され得る抵
抗層１４ｂを制御する。固体像変換器用に層１４ａと透
明電極層１７ａと抵抗層１４ｂとから構成されたこの装
置は、大きく改善された位置鮮明度を有すると共に、高
量子効率を有する。従って、像の量子雑音はさらに低減
することができる。
【図１】本発明によるＸ線診断装置を示す概略図である
。
。
【図２】図１に示したＸ線診断装置の固体像変換器を示
す概略図である。
す概略図である。
【図３】本発明によるＸ線診断装置の他の実施例を示す
概略図である。
概略図である。
【図４】本発明によるＸ線診断装置のさらに異なる他の
実施例を示す概略図である。
実施例を示す概略図である。
【図５】図２に示した固体像変換器の変形例を示す概略
図である。
図である。
１ Ｘ線源
２ 焦点
３ 一次Ｘ線絞り
４ Ｘ線束
５ 患者
６ 固体像変換器
７ 光検出器
８ 導線
９ データ収集・データ処理装置
１０ モニター
１１、１２ ガラス板
１３ エレクトロルミネセンス層
１４ 抵抗層
１４ａ Ｘ線感応層
１４ｂ 抵抗層
１５ 結合層
１６、１７ 透明電極
１８ 一次Ｘ線絞り
１９ Ｘ線束
２０ スリット絞り
２１ 円筒体
２２ 固体像変換器
２４、２５ 光検出器
Claims (5)
- 【請求項１】 電気抵抗値が入射Ｘ線（４、１９）の
強度に依存する抵抗層（１４、１４ｂ）とこれに接触し
て抵抗値を相応する輝度値に変換するエレクトロルミネ
センス層（１３）とを備えた固体像変換器（６、２２）
と、前記エレクトロルミネセンス層（１３）の像点の輝
度を相応する電気信号に変換する走査装置（７、２１、
２４、２５）とを備え、前記電気信号はデータ収集・デ
ータ処理装置（９）に送給されることを特徴とするＸ線
診断装置。 - 【請求項２】 前記走査装置は、個々の像点の輝度を
検出するための光検出器（７）と、点状像走査を行うた
めに前記固体像変換器（６）と前記光検出器（７）との
間に相対運動を行わせる手段とを有することを特徴とす
る請求項１記載のＸ線診断装置。 - 【請求項３】 前記走査装置は、像列の像点の輝度を
検出するために一列の検出器要素から成る列状光検出器
（２４、２５）と、列状の像走査を行うために列方向に
対して垂直に前記固体像変換器（６）と前記光検出器（
２４、２５）との間に相対運動を行わせる手段とを有す
ることを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装置。 - 【請求項４】 前記走査装置（７、２１、２４、２５
）は前記固体像変換器内に蓄積された像を複数回読出す
ことを特徴とする請求項１ないし３の１つに記載のＸ線
診断装置。 - 【請求項５】 前記抵抗層（１４ｂ）はＸ線感応ルミ
ネセンス層（１４ａ）上に設けられ、前記抵抗層（１４
ｂ）の導電率は前記ルミネセンス層（１４ａ）の光によ
って制御されることを特徴とする請求項１ないし４の１
つに記載のＸ線診断装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP90100647.8 | 1990-01-12 | ||
| EP90100647A EP0436765B1 (de) | 1990-01-12 | 1990-01-12 | Röntgendiagnostikeinrichtung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04212573A true JPH04212573A (ja) | 1992-08-04 |
Family
ID=8203487
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3012950A Withdrawn JPH04212573A (ja) | 1990-01-12 | 1991-01-09 | Ｘ線診断装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0436765B1 (ja) |
| JP (1) | JPH04212573A (ja) |
| DE (1) | DE59005107D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012165983A (ja) * | 2011-02-17 | 2012-09-06 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮影装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4327687B4 (de) * | 1993-08-18 | 2004-11-18 | Robert Bosch Gmbh | Elektronischer Bildwandler |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4628356A (en) * | 1984-10-15 | 1986-12-09 | Imagex, Inc. | Digital X-ray scanner |
| DE3503698A1 (de) * | 1985-02-04 | 1986-08-07 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Anordnung zum herstellen von roentgenbildern durch computer-radiographie |
-
1990
- 1990-01-12 EP EP90100647A patent/EP0436765B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-01-12 DE DE90100647T patent/DE59005107D1/de not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-01-09 JP JP3012950A patent/JPH04212573A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012165983A (ja) * | 2011-02-17 | 2012-09-06 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮影装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE59005107D1 (de) | 1994-04-28 |
| EP0436765A1 (de) | 1991-07-17 |
| EP0436765B1 (de) | 1994-03-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4554453A (en) | Apparatus for recording X-ray images | |
| JP4533010B2 (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像方法及び放射線撮像システム | |
| US7601973B2 (en) | Radiography system and method for recording X-rays in phosphor layers | |
| US7170080B2 (en) | Read-out device and method for reading out X-rays stored in phosphor layers | |
| JPS5999300A (ja) | 像撮影装置 | |
| US5084619A (en) | X-ray diagnostics installation having a solid-state transducer | |
| JP2000081484A (ja) | 撮像素子 | |
| JPH11271457A (ja) | Ｘ線イメ―ジング・システム | |
| EP0092157B1 (en) | Two-dimensional radiation detecting apparatus | |
| JP4690106B2 (ja) | 放射線画像情報検出方法および放射線画像情報検出装置 | |
| US4363969A (en) | Light switched segmented tomography detector | |
| JP3560624B2 (ja) | 画像信号読出方法および装置 | |
| JPS60111571A (ja) | 放射線画像情報読取装置 | |
| JPH04212573A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JPS58121874A (ja) | Ｘ線イメ−ジコンバ−タ | |
| JPS58153379A (ja) | Ｘ線像変換装置 | |
| US6787790B2 (en) | Image information read-out apparatus | |
| US20060081795A1 (en) | Breast image obtaining method and apparatus | |
| US6724007B2 (en) | Radiation image read-out method and apparatus | |
| US20040086204A1 (en) | Method and apparatus for image readout | |
| JP4050129B2 (ja) | 画像読取方法および装置 | |
| SU1022089A1 (ru) | Способ запоминани и воспроизведени скрытого рентгеновского изображени и устройство дл его осуществлени | |
| JP2000137080A (ja) | 放射線画像検出装置 | |
| JP3983963B2 (ja) | 画像検出器およびその製造方法、並びに画像記録／読取方法および装置 | |
| JPS60103940A (ja) | Ｘ線撮影装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |