JPH04212025A - 分光器 - Google Patents

分光器

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JPH04212025A
JPH04212025A JP782891A JP782891A JPH04212025A JP H04212025 A JPH04212025 A JP H04212025A JP 782891 A JP782891 A JP 782891A JP 782891 A JP782891 A JP 782891A JP H04212025 A JPH04212025 A JP H04212025A
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JP
Japan
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wavelength
diffraction grating
light
angle
slit
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Application number
JP782891A
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English (en)
Inventor
Shigeki Nishina
繁樹 西名
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は被測定光をその波長に
よって分光し、その分光した光の強度から被測定光のス
ペクトルを測定するものであり、特に2つの分光部が縦
続的に設けられ、その前段の回折格子と後段の回折格子
とが連動とされた分光器、いわゆる複単色計に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の分光器を図9に示す。分
光器11において、入射スリット12を通じて被測定光
13が入射され、その被測定光13は凹面鏡14で平行
光に変換され、その平行光は平面鏡15で反射されて前
段平面回折格子16に入射され、回折格子16の反射光
は凹面鏡17で絞られて中間スリット18に通され、こ
こで不要光が除去され、中間スリット18を通過した光
は凹面鏡19で平行光に変換され、その平行光は後段下
面回折格子21に入射され、後段回折格子21の反射光
は凹面鏡22が絞られて出射スリット23に入射され、
出射スリット23を通過した光は光検出器24でその光
強度に応じた強度の電気信号に変換される。
【0003】前段回折格子16と後段回折格子21は図
10に示すように、回転軸25上に背中合わせで取り付
けられ、回転軸25はステッピングモータ26により減
速ギア27を介して回動される。前段回折格子16にそ
の法線に対し、光が角度α1 で入射し、角度β1 で
出射する時、これらのはさみ角γ1 =α1 −β1 
と入射角α1 との関係は次式となる。
【0004】   α1 =sin −1{mλ/〔2dcos(γ1
 /2)〕+γ1 /2}        (1)m:
回折次数、d:回折格子16の溝間隔、λ:波長はさみ
角γ1 は凹面鏡14、平面鏡15などの配置により決
定され、波長λの変化に対して一定である。従って、前
段分光部である波長λの光のみを分光して取り出すには
、その波長λに対し、(1)式から得られるα1 の角
度になるように前段回折格子16を回転させればよい。 後段回折格子21に対する入射角α2 、出射角β2 
、はさみ角γ2 と、波長との関係も(1)式と同様に
なる。従って、両はさみ角γ1 とγ2 とが等しけれ
ば、(1)式の関係から入射角α1 =α2 となり、
前段回折格子16で分光された波長と同一波長の光が後
段回折格子21で分光される。つまり中間スリット18
の中心を通った光は、必ず出射スリット23の中心を通
ることになり、両スリット18,23の各スリット幅を
狭くして、通過波長帯域幅を狭くして、波長分解能を向
上させ、かつ迷光を少なくすることができる。
【0005】回折格子16,21の回転角度と波長λと
の関係を図7に示すように、回折格子波長−角度テーブ
ル28に予め持っておき、操作・表示部29により操作
入力された波長が演算処理部31を通じて波長−角度テ
ーブル28に与えられ、その波長に応じた角度が読み出
され、その角度に回折格子16,21がなるように回折
格子制御部32を通じて制御される。あるいは操作・表
示部29の操作に応じて、回折格子16,21が所定の
回転角度の範囲を回転して、つまり波長が走査され、光
検出器24の出力はA/D変換部33でデジタル信号に
変換され、そのデジタル信号は演算処理部31に入力さ
れ、被測定光の各波長成分のレベル、つまりスペクトル
が操作・表示部29に表示される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】図9に示した構成は、
前段回折格子16と後段回折格子21との各はさみ角γ
1 とγ2 とが等しければ、前段分光部で分光した光
を更に後段分光部で分光し、その際に中間スリット18
、出射スリット23の各スリット幅を十分狭くすること
ができ、高い波長分解能が得られる。しかし、はさみ角
γ1 とγ2 とを完全に等しくなるように調整するこ
とは困難であり、また周囲温度変化や、外圧による歪み
などにより調整がずれてしまう。このように、はさみ角
γ1 とγ2 とが等しくない場合は本来は同一波長に
対し、前段回折格子16と後段回折格子21とは別の回
転角度とさせる必要がある。しかし、回転機構は共通で
あるため、ある波長においては前段分光部と後段分光部
との通過波長帯域を一致させるように凹面鏡などの配置
を調整することは可能であるが、波長を変化させると前
段分光部と後段分光部とで通過波長帯域がずれる。この
時、スリット幅が狭いと、中間スリット18を通過した
光が出射スリット23で遮られることとなり、感度が低
下する。これを防止するため、従来においては演算処理
部31から中間スリット幅制御部34、出射スリット幅
制御部35をそれぞれ制御して、中間スリット18、出
射スリット23の各スリット幅を広げ、前段分光部と後
段分光部との通過波長帯域が多少ずれても、光が両スリ
ット18,23を通過できるようにしていた。このよう
にスリット幅を広くすると、2重分光の特徴である高波
長分解能が十分得られず、かつ迷光特性の性能も低下す
る問題があった。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明においては、入
射スリットと出射スリットとの間の光路(入射スリット
、出射スリットを含む)に、前段回折格子または後段回
折格子に対する光路の角度を調整し、実際にまたは等価
的にする角度調整手段が設けられ、分光すべき波長に応
じてこの角度調整手段は予め決められたように制御され
て、前段回折格子による分光部と後段回折格子による分
光部との通過波長帯域が常にほぼ一致するようにされる
。あるいは測定波長帯域のほぼ中心波長で角度調整手段
を制御して、前段回折格子による分光部と、後段回折格
子による分光部との通過波長帯域がほぼ一致するように
、その制御状態が保持される。
【0008】
【実施例】図1に請求項1の発明を加分散形2重分光器
に適用した実施例を示し、図9と対応する部分に同一符
号を付けてある。この実施例では平面鏡15を回転機構
36上に取り付け、平面鏡15から前段回折格子16に
対する入射角α1 を調整することができるようにされ
る。演算処理部31より与えられる波長に対応した回折
格子角度を記憶している回折格子波長−角度テーブル2
8には、後段回折格子21のはさみ角γ2 から各波長
ごとに(1)式により算出される入射角α2 の値が記
憶されている。従って、前段回折格子16および後段回
折格子21は、後段分光部を基準に回転することとなり
、このままでは後段回折格子21のはさみ角γ2 と異
なるはさみ角γ1 の前段回折格子16の分光部の通過
波長帯域は後段分光部とはずれてしまう。そこで平面鏡
制御部37により回転角を制御される平面鏡回転機構3
6で、平面鏡15を回転して前段回折格子16への入射
角α1 を変化させて、前段分光部の通過波長帯域を後
段分光部の通過波長帯域に合わせるようにする。演算処
理部31により与えられる波長に対応した平面鏡15の
角度は、予め平面鏡波長−角度テーブル38に記憶され
ている。従って、通過波長の設定が変化しても、入射さ
れた光の内で中間スリット18の中心を通る光は、必ず
出射スリット23の中心を通過することとなり、両スリ
ット18,23のスリット幅を狭くして通過波長帯域幅
を狭くしても感度が低下することがない。
【0009】このように、この分光器では分光部11に
対し、波長に対応して可動する部分を2カ所設け、その
両可動部を波長の変化に対応して、予め記憶されている
量にしたがって自動で動作させることによって前段分光
部と後段分光部との通過波長帯域を常に一致させること
ができる。従って、前段分光部と後段分光部との間で通
過波長帯域がずれた場合に従来行っていたスリット幅を
広くしたり、スリット幅が狭いままで新しい波長に対応
するように、凹面鏡など光学系の配置を調整し直す等の
作業を行うことなしに、低迷光、高分解能の測定を行う
ことができる。
【0010】平面鏡波長−角度テーブル38へのデータ
取得方法の例を示す。まず、波長λの光を入射し、回折
格子波長−角度テーブル28の波長λに対応した角度だ
け回折格子16,21を回転する。前述したように、回
折格子波長−角度テーブル28には後段回折格子21の
はさみ角γ2 の値から算出した角度が記憶されている
ため、中間スリット18の中心に波長λの光が入射した
とすれば、出射スリット23の中心を通過させるような
角度に後段回折格子21はある。しかし、まだ平面鏡1
5の角度が確定していないので、前段分光部に入射され
た波長λの光は中間スリット18を通過するとは限らな
い。ここで、演算処理部31から通路39を通じて直接
指令値を平面鏡制御部37に与えて平面鏡15の回転角
をいろいろ変えて、光検出器24で検出される光パワー
の大きさを観測する。このとき、中間スリット18、出
射スリット23の各スリット幅は最小にして、前段分光
部と後段分光部との通過波長帯域が完全に一致した時の
み、波長λの光が両スリット18,23を通過して光検
出器24に入射するようにしておく。そして、最大の光
パワーを検出した時の平面鏡15の角度を、平面鏡波長
−角度テーブル38に波長λに対して記憶する。
【0011】以上のことを、波長を変えて測定可能なす
べての波長範囲で行って、平面鏡波長−角度テーブル3
8の値を求める。図2に平面鏡回転機構36、つまり角
度調整手段の具体例を示す。ステッピングモータ41に
よりねじ42が正、逆回転され、ねじ42上にナット4
3がねじ結合され、ナット43は図に示してないが、回
転されることなく、ねじ42に沿って移動可能とされて
いる。回動自在に保持された支軸44上に平面鏡15が
取り付けられ、支軸44にレバー45が取り付けられ、
レバー45はコイルばね46でナット43に弾性的に押
し付けられる。ステッピングモータ41の回転により、
ナット43がねじ42上を移動し、これに伴ってレバー
45が回動し、従って平面鏡15も回動する。これはサ
インバー送りと呼ばれる機構である。
【0012】この発明の特徴は、2重分光部の両回折格
子が一つの駆動系によって回転させられる分光器におい
て、波長の変化に対応して可動する部分を別に少なくと
も1カ所追加して回折格子に対する光路の角度を調整し
て、前段分光部と後段分光部との通過波長帯域が常に自
動的に同一となるようにしたことである。従って、図1
では前段回折格子16に対する入射光路の角度を可動と
したが、入射スリット12の位置をその光軸と直角に動
かしてもよい。この場合は、図3に示すように、入射ス
リツト12を入射スリット可動機構47に取り付け、演
算処理部31から与えられる波長で入射スリット波長−
位置テーブル48を読み出し、その読み出した位置に入
射スリット12がなるように入射スリット位置制御部4
9を介して入射スリット可動機構47を制御する。つま
り、入射スリット12の光軸と凹面鏡14の法線とがな
す角度が、入射スリット12をその光軸と直角に移動す
ることにより変化し、これに伴って凹面鏡14から平面
鏡15へ反射する光の方向が変化し、前段回折格子16
に対する光路の入射角も変化することになる。従って図
1の場合と同様に、既知の波長λの光を入射して、演算
処理部31より通路51を通じて入射スリット位置制御
部49を直接制御し、光検出器24の出力が最大となる
ように入射スリット12の位置を調整し、その位置をそ
の波長λに対して入射スリット波長−位置テーブル48
に記憶し、これを各波長に対して行って入射スリット波
長−位置テーブル48を作っておくことにより、前段分
光部と後段分光部との通過波長帯域を一致させることが
できる。
【0013】入射スリット可動機構47の具体例を図4
に示す。この例も平面鏡回転機構と同様に、ステッピン
グモータ52でねじ53を正逆回転させ、ねじ53上に
ナット54をねじ結合し、ナット54を回転しないが軸
方向に移動自在とし、そのナット54に入射スリット1
2を取り付ける。図1において平面鏡15を回転させる
代わりに、凹面鏡14を回転させて波長ごとに調整する
ようにしてもよいことは容易に理解されよう。
【0014】以上では、前段回折格子16の入射角を調
整したが、凹面鏡17を回転調整することにより、中間
スリット18の中心を通るような光の前段回折格子16
からの出射角を変えることができ、同様に前段分光部と
、後段分光部との通過波長帯域を常に一致させることが
できる。以上、角度調整用可変手段を前段分光部内に設
けて、後段分光部を基準とした回折格子波長−角度テー
ブル28と、平面鏡波長−角度テーブル38や入射スリ
ット波長−位置テーブル48などとを設けたが、逆に角
度調整用可変手段を後段分光部内に設けて、前段回折格
子16を基準とした回折格子波長−角度テーブルを持つ
構成としてもよい。この場合は、凹面鏡19または22
の角度を調整するようにしてもよく、また別に、後段分
光部の光路中に平面鏡を追加して、その角度を調整して
もよい。更に出射スリット23の位置を調整してもよい
。これらの例として図5に凹面鏡22の角度を調整する
場合を示す。この場合の回折格子波長−角度テーブル2
8には、前段回折格子16のはさみ角γ1 の値から算
出した角度α1 が波長対応に記憶されている。ここで
、図1の場合と同様に、使用波長範囲にわたって各波長
ごとに光検出器24から最大光パワーを検出できる凹面
鏡22の角度を求めて、凹面鏡波長−角度テーブル55
に記憶しておき、使用時に演算処理部31から与えられ
る設定波長で凹面鏡波長−角度テーブル55を読み出し
、その出力で凹面鏡制御部56を通じて凹面鏡回転機構
57を制御して凹面鏡22の角度を調整する。
【0015】以上は前段か後段の分光部のどちらかに角
度調整可変手段がある場合であったが、中間スリット1
8の位置を調整してもよい。その場合の例を図6に示す
。この場合、前段か後段の分光部のどちらか片方を基準
にして、(1)式から予め回折格子波長−角度テーブル
28を作成しておくことができないので、テーブルデー
タの取得方法は若干異なる。このテーブルデータの取得
は次のようにして行えばよい。
【0016】まず、波長λの光を入射する。中間スリッ
ト18のスリット幅は最大にして、中間スリット18が
光を遮らないようにする。出射スリット23のスリット
幅は最小にする。そして、波長λの光が出射スリット2
3を通過し、光検出器24によって検出される光パワー
が最大となる時の回折格子角度を求め、回折格子波長−
角度テーブル28に記憶する。そして、光パワーが最大
となる角度に回折格子を回転し、中間スリット18のス
リット幅を最小とする。演算処理部31から中間スリッ
ト位置制御部58を直接制御して中間スリット可動機構
59を駆動し、中間スリット18をその光軸と直角に動
かして、光パワーが最大となる位置を求め、その位置を
中間スリット波長−位置テーブル61に波長λに対して
記憶する。この操作を入射波長λを変えて、すべての波
長範囲で行う。通常使用時は、演算処理部31で設定さ
れた波長で中間スリット波長−位置テーブル61を読み
出し、その出力で中間スリット位置制御部58を制御し
て、中間スリット18の位置を調整する。この場合も、
等価的に後段回折格子21に対する光路の角度を調整し
たことになる。
【0017】上述ではこの発明を加分散形2重分光器に
適用したが、差分散形2重分光器に適用することもでき
る。その例を図7に図1と対応する部分に同一符号を付
けて示す。この場合も例えば前段回折格子16の回転軸
(図示せず)上に後段回折格子21も取付けられるが、
後段回折格子21は前段回折格子16と同一向きとされ
ており、軸方向においてずらされている。このため凹面
鏡17で絞られた前段回折格子16の反射光は平面鏡6
3で回折格子の回転軸と平行となるように折り曲げられ
、更に平面鏡64で凹面鏡17側へ反射される凹面鏡1
9に入射される。平面鏡63と64との間の光通路に中
間スリット18が設けられる。
【0018】この場合は後段分光部については図10に
対し、入射角αと出射角βとを入れ替えた形となるから
、(1)式と対応する関係式は次の(2)式となる。   β2 = sin−1{mλ/〔2d cos(γ
2 /2)〕+γ2 /2}      (2)両挟み
角γ1 とγ2 とが等しければ、(1),(2)式の
関係から入射角α1 =出射角β2 となり、前段回折
格子16で分光された波長と、同一波長の光が後段回折
格子21で分光される。挟み角γ1 とγ2 とが等し
くない場合、前段分光部と、後段分光部との通過波長帯
域を一致させるように、先に加分散形2重分光器につい
て述べたように、入射スリット12及び出射スリット2
3間の光路に、前段回折格子16または後段回折格子2
1に付する光路の角度を調整する手段を設け、この角度
調整手段を波長に応じて制御するようにする。
【0019】この図7の実施例では出射スリット23を
出射スリット位置可動機構65上に設け、出射スリット
23をこのスリット及び光軸の両者に対して直角に移動
自在とし、波長に応じて出射スリット23の位置を制御
するため波長対応に制御位置を記憶した出射スリット波
長−位置テーブル66を設け、回折格子波長−角度テー
ブル28で設定した波長でそのテーブル66を読み出し
、その読み出したデータで出射スリット位置制御部67
により出射スリット位置可動機構65を制御するように
した場合である。出射スリット波長−位置テーブル66
の作成は、既知の波長の光ごとに、演算処理部31で出
射スリット位置制御部67を直接制御して光検出器24
の出力が最大となるようにし、その時の出射スリット位
置をその波長について出射スリット波長−位置テーブル
66に記憶して行う。なおこの時の回折格子の回転角度
は前段回折格子について決定した波長−角度テーブルで
行う。
【0020】上述では挟み角γ1 とγ2 とが不一致
の場合に、前段回折格子16または後段回折格子21に
対する光路の角度を波長ごとに調整するように、波長と
補正量との対応テーブル38,48,55,61,66
などを用いたが、ある波長付近のみを主として測定する
場合は、そのようなテーブルを設けることなく、その測
定波長のほぼ中心でのみ補正値を予め求め、これを記憶
しておき、この記憶値で補正を行い、その補正を測定波
長に応じて、自動的に追従させる必要はない。
【0021】例えば図8に示すように、平面鏡15を回
転させて前段回折格子16に対する光路の角度を補正す
る場合、測定する波長の中心付近の波長の光を入射し、
図1で説明したと同様にして、光検出器24の出力が最
大となった時の、平面鏡15の角度を、平面鏡角度記憶
部68に記憶する。その後、測定を行うが、その時は、
平面鏡角度記憶部68を読み出し、その読み出したデー
タに応じて平面鏡15の角度を補正し、その角度位置に
保持しておく。この波長近傍の波長の光を測定する場合
は前段分光部と後段分光部との通過波長帯域のずれは微
小であるから、スリット12,18,23の各スリット
幅を広くすることなく測定することができる。
【0022】測定波長帯域を大きく変更するときは、改
めてその波長帯域の中心について平面鏡角度記憶部68
に対する補正データを取り直してから測定する。以上述
べたように、前段分光部と後段分光部との通過波長帯域
を一致させるための角度調整手段は入射スリット12か
ら出射スリット23までの間の光路の適当な個所に設け
ることができる。
【0023】これらの実施例では、回折格子波長−角度
テーブル28、平面鏡波長−角度テーブル38などの波
長対角度データ、波長対位置データなどをテーブルとし
て記憶したが、これらの値を波長を変数とする式と係数
の形で記憶しておいて、測定時にこれらの式と係数から
波長対角度データ、波長対位置データを算出して使用し
てもよい。要は、波長対角度データ、波長対位置データ
、あるいは特定の波長に対する補正データを記憶する部
分に相当するものがあればよい。2重分光器の構成も他
の形式としてもよい。
【0024】
【発明の効果】以上述べたように、この発明によれば入
射スリットと出射スリットとの間の光路に回折格子に対
する光路の角度を変化(等価的変化も含む)させる角度
調整手段を設け、設定波長ごとにその角度調整手段を自
動調整して、あるいは測定波長帯域の中心付近の波長で
角度調整手段を自動調整して前段分光部と後段分光部と
の通過波長帯域が常に一致するようにされているから、
中間スリット18、出射スリット23の各スリット幅を
狭くすることができ、高い波長分解能が得られ、かつ迷
光遮断特性がよいものが得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明を加分散形2重分光器に適用した実施
例を示すブロック図
【図2】その平面鏡回転機構36の具体例を示す平面図
【図3】入射スリット位置を調整するようにしたこの発
明の実施例を示すブロック図
【図4】その入射スリット可動機構47の具体例を示す
平面図
【図5】後段分光部の凹面鏡を回転調整するようにした
この発明の実施例を示すブロック図
【図6】中間スリットの位置を調整するようにしたこの
発明の実施例を示すブロック図
【図7】この発明を差分散形2重分光器に適用した実施
例を示すブロック図
【図8】請求項2の発明の実施例を示すブロック図
【図
9】従来の2重分光器を示すブロック図
【図10】その
回折格子およびその回転制御部を示す斜視図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  入射スリットから入射された被測定光
    を平行光に変換し、その平行光を前段回折格子に入射し
    、その反射光を絞り、その絞った光を中間スリットを通
    過させ、その通過した光を平行光に変換し、その平行光
    を、前段回折格子と連動して回動される後段回折格子に
    入射し、その反射光を絞り、その絞った光を出射スリッ
    トを通過させ、その通過した光を光検出器で電気信号に
    変換する分光器において、上記入射スリットおよび上記
    出射スリット間の光路に設けられ、上記前段または後段
    回折格子に対する光路の角度を調整する角度調整手段と
    、波長に応じて予め決められたように、上記角度調整手
    段を制御し、上記前段回折格子による分光部と上記後段
    回折格子による分光部との通過波長帯域をほぼ一致させ
    る制御手段と、を設けたことを特徴とする分光器。
  2. 【請求項2】  入射スリットから入射された被測定光
    を平行光に変換し、その平行光を前段回折格子に入射し
    、その反射光を絞り、その絞った光を中間スリットを通
    過させ、その通過した光を平行光に変換し、その平行光
    を、上記前段回折格子と連動して回動される後段回折格
    子に入射し、その反射光を絞り、その絞った光を出射ス
    リットを通過させ、その通過した光を光検出器で電気信
    号に変換する分光器において、上記入射スリットおよび
    上記出射スリット間の光路に設けられ、上記前段回折格
    子または後段回折格子に対する光路の角度を調整する角
    度調整手段と、測定波長帯域のほぼ中心波長で上記角度
    調整手段を制御して、上記前段回折格子による分光部と
    上記後段回折格子による分光部との通過波長帯域がぼぼ
    一致するように、その制御状態を保持する制御手段と、
    を設けたことを制御とする分光器。
JP782891A 1990-03-29 1991-01-25 分光器 Pending JPH04212025A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100406029B1 (ko) * 2001-06-22 2003-11-19 주식회사 파이맥스 고속 주사형 다채널 다중광 분광광도계
JP2006132968A (ja) * 2004-11-02 2006-05-25 Nikon Corp 分光装置
JP2008046136A (ja) * 2001-04-06 2008-02-28 Renishaw Plc 光スリット

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008046136A (ja) * 2001-04-06 2008-02-28 Renishaw Plc 光スリット
KR100406029B1 (ko) * 2001-06-22 2003-11-19 주식회사 파이맥스 고속 주사형 다채널 다중광 분광광도계
JP2006132968A (ja) * 2004-11-02 2006-05-25 Nikon Corp 分光装置
JP4556620B2 (ja) * 2004-11-02 2010-10-06 株式会社ニコン 分光装置

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