JPH0419799Y2 - - Google Patents

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JPH0419799Y2
JPH0419799Y2 JP1986076334U JP7633486U JPH0419799Y2 JP H0419799 Y2 JPH0419799 Y2 JP H0419799Y2 JP 1986076334 U JP1986076334 U JP 1986076334U JP 7633486 U JP7633486 U JP 7633486U JP H0419799 Y2 JPH0419799 Y2 JP H0419799Y2
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  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は小型樹脂封止の半導体装置に関する。
〔従来の技術〕
樹脂封止型半導体装置は、通常リードフレーム
を用いて半導体素子を該リードフレーム上に載置
し、各リードにワイヤボンデイングを行なつた
後、これを樹脂封止した構造となつている。この
樹脂封止型半導体装置の外形はDIP(デユアルイ
ンラインパツケージ)型、SIP(シングルインラ
インパツケージ)型、TO−92,TO−220等いろ
いろあり、樹脂封止をする場合は半導体素子の機
能や半導体装置の実装法により、適切な外形が用
いられている。この実装法に関しては、産業用、
民生用の機器や装置の小型・軽量化により、機器
や装置内部の実装密度を向上させることが必要に
なり、それに伴つて半導体装置の外形も現在では
SOP(スモールアウトラインパツケージ)型が広
く使用されるようになつている。SOPの外形は
8pinの場合5.0×5.0×1.6(単位mm)でDIPの8.8×
6.4×3.4(単位mm)に比べて樹脂封止部分の体積
は約2割程度と小型になつている。この小型樹脂
封止半導体装置のSOPにおける1つの問題は、
DIPと同様に成型用樹脂の熱伝導度が低く、DIP
に比べ樹脂の量は2割程度しかないため、パツケ
ージ消費電力の最大定格が8pinの場合はDIPは
500mWであるがSOPは300mWと小さくなつてし
まうことである。このパツケージ消費電力は、
TTLシリーズやMOSタイプのデイジタル集積回
路においては、動作状態でも十分余裕があり問題
ないが、リニア集積回路のオペアンプの場合には
次のような問題点がある。
オペアンプの電源電圧の最大定格は36Vで、通
常使用する時の印加電圧としては20V〜30Vが一
般的である。オペアンプの場合、入力端子に信号
を入力しない時でも電源端子に上記印加電圧を加
えることにより、回路全体として3〜8mAの無
効電流が常に流れる構造になつているものが数多
く製品化されている。その他にオペアンプの機
能、特性を変更して、無効電流として0.1mAと小
さいものや12mA程度と大きくしたものもある。
オペアンプの通常の使用における、印加電圧が
30Vで無効電流が8mAの場合、無信号時の消費
電力は240mWである。このオペアンプをSOPで
樹脂封止すると、SOPのパツケージ消費電力の
最大定格が300mWのため、入力端子に信号を入
力しオペアンプを動作させる場合、内部消費電力
は最大60mWまでに制限されてしまう。また、無
効電流が12mAのオペアンプをSOPで樹脂封止す
ると、印加電圧が25Vで消費電力はSOPの最大定
格である300mWに達するので、SOPではこれ以
上の電圧を印加することはできなくなる。
上記のようにリニア集積回路のオペアンプを
SOPで樹脂封止した半導体装置は、消費電力の
最大定格により大きく制御され、印加電圧の最大
値を低下させなければ使用できないという問題が
あつた。このため、SOPにより実装密度は向上
するが、印加電圧の低下によりオペアンプの特性
を十分に発揮できないという問題も発生した。
オペアンプの他にリニア集積回路の電源用三端
子レギユレータ(以下電源ICという)の場合、
TO−92の外形で樹脂封止を行なつているもの
は、消費電力の最大定格が500mWである。この
電源ICもSOPで樹脂封止すれば、実装上はオペ
アンプと同一形状品を配置することになるので、
実装密度を向上させることができるが、消費電力
の点から現行では使用条件が極端に制限されてし
まう。
〔考案が解決しようとする問題点〕
以上説明したように、従来のSOPの樹脂封止
型半導体装置では、パツケージ消費電力の最大定
格が300mWなので、リニア集積回路のオペアン
プや電源ICをSOPに樹脂封止して、電源端子に
通常DIP型やTO−92型で使用している印加電圧
を与えた場合、半導体素子自体で消費する電力
は、SOPの最大定格300mWを超えてしまう場合
がある。又最大定格を超えない場合でも、最大定
格内で使用するときは、入力端子に信号を入力し
て半導体素子を動作させる範囲は大きく制限され
てしまう。
上記いずれの場合も、印加電圧を低下させた
り、出力電流等を制限したりして動作させること
はできるが、半導体装置の機能が著しく低下する
という問題があつた。
そこで本考案は、小型樹脂封止された半導体素
子の消費電力によつて発生した熱を効率よく放熱
する構造を備えた半導体装置を提供することを目
的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的を達成するため本考案は、半導体素子
を載置するリードフレームのダイアイランド部
を、インナーリードの厚みに比べて厚くし、この
ダイアイランド部の肉厚部の半導体素子を載置す
る面と反対側の面を樹脂封止されたSOPの片側
の面に露出させ、半導体素子の動作時の消費電力
による熱放散の放熱効果を良くしたものである。
〔実施例〕
第1図は本考案の一実施例を示す説明図で、第
2図は第1図のA−A′線に沿つた断面図である。
図において1はリードフレームのダイアイランド
部、2は半導体素子、3はインナーリード、4は
ダイアイランド部保持用リード、5はモールド樹
脂である。第2図において、第1図と同一の符号
は同一または相当する部分を示している。本実施
例において、半導体素子は電源ICを用い、外形
はSOPの8pinと同一になるようにしてある。半導
体装置の組立は以下のようにして行なう。
ダイアイランド部1に半導体素子2をダイボン
デイングし、ついで各インナーリード3に所定の
リードボンデイングを行ない、樹脂封止をした
後、リード切断を行ない個々の製品としている。
本実施例のように半導体素子が電源ICの場合、
リードボンド数は3本のため、第1図に示すよう
にリードボンドは各コーナーの3箇所のインナー
リードを使用すればよい。ここでダイアイランド
部1の厚みは、第2図に示すようにインナーリー
ドの厚みに比べて厚くなるようにして、半導体素
子を載置する面と反対側の面は、樹脂封止の一方
の面に露出するようにしてある。このようにダイ
アイランド1の肉厚部は厚くなつているので、樹
脂封止後に不用部分を切断除去する方法では樹脂
クラツクが発生する恐れがある。このためダイボ
ンデイング前のリードフレームの段階で、ダイア
イランド部1を隣りのダイアイランド部と切断・
分離して、保持用リード4でダイアイランド部1
を固定するようにしている。実施例では保持用リ
ードとして片側2本ずつ合計4本使用しているの
で、ダイアイランド部が斜めに保持されることな
く、ダイアイランド部1の一面を封止樹脂部の一
面より均一に露出させることができる。
上記のように組立てた半導体装置は、半導体素
子2を載置するダイアイランド部1を厚くしてい
るので、半導体素子において発生した熱が、封止
樹脂部との接触面積が増したダイアイランド部を
介在して、封止樹脂に均一に拡散していき易く、
また、半導体素子載置面と反対側の面を樹脂封止
面に露出させているので、ダイアイランド部の該
露出面を外部放熱板に接触させることにより、半
導体素子が発生する熱を、樹脂を介在させずに直
接放熱板に導くことができる。
〔考案の効果〕
以上説明したように、本考案によれば、SOP
の半導体装置において、該半導体装置を動作させ
たときに発生する熱を、封止樹脂部との接触面積
が増したダイアイランド部を介在して、封止樹脂
部に均一に拡散させるとともに、熱伝導度の低い
樹脂ではなく、リードフレームのダイアイランド
部の金属の一部を通して、直接外部の放熱板に接
触させることにより、さらに放熱効率を向上させ
ることができる。このため従来SOPの消費電力
の最大定格が300mWであつたために、SOPの外
形で組立を行なうことができなかつた消費電力の
大きな半導体素子をDIPと同様に製品化すること
ができる。またSOPに組立て、消費電力の最大
定格に規制され半導体素子の機能を十分発揮でき
なかつた半導体装置に対しても、十分に機能を発
揮させることができるようになる。
以上のように本考案により、SOPの利用範囲
が拡大し、機器の小型・軽量化に寄与する効果は
大きいものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す説明図、第2
図は第1図のA−A′断面図であ。 1……ダイアイランド、2……半導体素子、3
……インナーリード、4……保持用リード、5…
…モールド樹脂。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 リードフレームのダイアイランド部をリード線
    よりも厚くして肉厚部を形成すると共に、上記肉
    厚部の半導体素子搭載面と反対側の一面を封止樹
    脂部の一面に露出させた樹脂封止の半導体装置に
    於て、 複数のリードを封止樹脂部の向かい合う2側面
    より延出させるとともに、上記側面より2本ずつ
    のリードを上記ダイアイランド部に連結すること
    により、上記ダイアイランド部の一面が、上記封
    止樹脂部の一面に均一に露出していることを特徴
    とする半導体装置。
JP1986076334U 1986-05-22 1986-05-22 Expired JPH0419799Y2 (ja)

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JP1986076334U JPH0419799Y2 (ja) 1986-05-22 1986-05-22

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JPS62188149U JPS62188149U (ja) 1987-11-30
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