JPH04195547A - 故障診断システム - Google Patents
故障診断システムInfo
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- JPH04195547A JPH04195547A JP2327910A JP32791090A JPH04195547A JP H04195547 A JPH04195547 A JP H04195547A JP 2327910 A JP2327910 A JP 2327910A JP 32791090 A JP32791090 A JP 32791090A JP H04195547 A JPH04195547 A JP H04195547A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 78
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- 238000012217 deletion Methods 0.000 claims description 34
- 230000037430 deletion Effects 0.000 claims description 34
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 32
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
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- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は論理回路等の故障診断システムに関し特にテス
ターを用いた検査の結果不良と判定された回路の故障を
診断する故障診断システムに関する。
ターを用いた検査の結果不良と判定された回路の故障を
診断する故障診断システムに関する。
従来、論理回路等の故障診断システムとして故障辞書を
利用する方法がある(可児賢二、用西宏、船津重宏著「
紹LSICADの基礎J’ p173〜エフ4、オー
入社、1983年)。このような故障辞書を用いた故障
診断システムにおいては、予め被検査回路に想定される
全ての故障をリストアツブしておき、各故障について所
定のテストパタンに基づく被検査回路の故障シミュレー
ションを行い、各故障に対応する被検査回路の仮想出力
応答を編集して故障辞書として用意しておき、テスター
を用いた実際の検査の結果得られる出力応答と故障辞書
とを順次比較対照し、出力応答が一致する辞書中の故障
を実際の被疑故障として決定する。
利用する方法がある(可児賢二、用西宏、船津重宏著「
紹LSICADの基礎J’ p173〜エフ4、オー
入社、1983年)。このような故障辞書を用いた故障
診断システムにおいては、予め被検査回路に想定される
全ての故障をリストアツブしておき、各故障について所
定のテストパタンに基づく被検査回路の故障シミュレー
ションを行い、各故障に対応する被検査回路の仮想出力
応答を編集して故障辞書として用意しておき、テスター
を用いた実際の検査の結果得られる出力応答と故障辞書
とを順次比較対照し、出力応答が一致する辞書中の故障
を実際の被疑故障として決定する。
C発明が解決しようとするHM’J ′ところで、前
述のような故障辞書を用いた故障診断システムにおいて
は、想定される全ての故障を対象として故障シミュレー
ションを行い、得られた全ての故障項目を辞書に記録し
ておく。このため、被検査回路規模の増大とともに対象
故障数やテストパタンの数が増加すると、シミュレーシ
舊ン作業の回数も栄、激に増加し、故障辞書の作成に非
常に長い時間がかかるとともに、故障辞書のデータ量も
膨大になり、参照の際に長い時間がかかりる。この結果
、大規模な被検査回路に対する診断処理には現実的に対
応できなくなる。
述のような故障辞書を用いた故障診断システムにおいて
は、想定される全ての故障を対象として故障シミュレー
ションを行い、得られた全ての故障項目を辞書に記録し
ておく。このため、被検査回路規模の増大とともに対象
故障数やテストパタンの数が増加すると、シミュレーシ
舊ン作業の回数も栄、激に増加し、故障辞書の作成に非
常に長い時間がかかるとともに、故障辞書のデータ量も
膨大になり、参照の際に長い時間がかかりる。この結果
、大規模な被検査回路に対する診断処理には現実的に対
応できなくなる。
さらに、従来の故障診断システムは主に単一故障を想定
しており、被検査回路内に複数の故障が発生した場合ま
で記録することはデータ量の点からも現実的に困難であ
り、特に、故障の重複によって与えられる出力バタンか
他の単一故障の出力バタンと同じになるような場合など
、故障辞書では判定不能あるいは誤った結果を選択する
など、正確で確実な故障診断ができなかった。
しており、被検査回路内に複数の故障が発生した場合ま
で記録することはデータ量の点からも現実的に困難であ
り、特に、故障の重複によって与えられる出力バタンか
他の単一故障の出力バタンと同じになるような場合など
、故障辞書では判定不能あるいは誤った結果を選択する
など、正確で確実な故障診断ができなかった。
本発明の目的は処理データ量の減少、診断処理に要する
時間の短縮および確実な結果の提供を達成する故障診断
システムを提供することにある。
時間の短縮および確実な結果の提供を達成する故障診断
システムを提供することにある。
本発明のテスターによる検査を行った結果不良であると
判定された被検査回路の故障を診断する故障診断システ
ムは、 前記被検査回路のシミュレーションモデルを用い前記被
検査回路に発注が予測される全ての故障項目をシミュレ
ーション対象故障リストに定義する故障定義手段と、 前記シミュレーション対象故障リスト中の故障項目につ
いて、前記シミュレーションモデルに対して所定のテス
トパタンに基づく故障シミュレーションを行い前記被検
査回路の出力において検出が予測される故障項目を選択
する故障シミュレーション手段と、 前記故障シミュレーシ目ン手段で選択した故障項目が前
記被検査回路を前記テストパタンに基づいて実際に検査
した結果が前記テスターでエラーとならない出力で検出
される故障項目であることを示すときは、当該故障項目
をシミュレーション対象故障リストから削除する第一の
故障削除手段と、 前記故障シミュレーション手段で選択した故障項目が前
記被検査回路を前記テストパタンに基づいて実際に検査
した結果が前記テスターでエラーとなった出力で検出さ
れる故障項目であることを示すときは当該故障項目を残
して他の全ての故障項目をシミュレーション対象故障リ
ストから削除する第二の故障削除手段と、 前記故障シミュレーションが必要なテストパタンの全て
について終了した後、前記シミュレーション対象故障リ
ストに残された故障項目を被疑故障として表示する被疑
故障表示手段と から構成されている。
判定された被検査回路の故障を診断する故障診断システ
ムは、 前記被検査回路のシミュレーションモデルを用い前記被
検査回路に発注が予測される全ての故障項目をシミュレ
ーション対象故障リストに定義する故障定義手段と、 前記シミュレーション対象故障リスト中の故障項目につ
いて、前記シミュレーションモデルに対して所定のテス
トパタンに基づく故障シミュレーションを行い前記被検
査回路の出力において検出が予測される故障項目を選択
する故障シミュレーション手段と、 前記故障シミュレーシ目ン手段で選択した故障項目が前
記被検査回路を前記テストパタンに基づいて実際に検査
した結果が前記テスターでエラーとならない出力で検出
される故障項目であることを示すときは、当該故障項目
をシミュレーション対象故障リストから削除する第一の
故障削除手段と、 前記故障シミュレーション手段で選択した故障項目が前
記被検査回路を前記テストパタンに基づいて実際に検査
した結果が前記テスターでエラーとなった出力で検出さ
れる故障項目であることを示すときは当該故障項目を残
して他の全ての故障項目をシミュレーション対象故障リ
ストから削除する第二の故障削除手段と、 前記故障シミュレーションが必要なテストパタンの全て
について終了した後、前記シミュレーション対象故障リ
ストに残された故障項目を被疑故障として表示する被疑
故障表示手段と から構成されている。
さらに、本発明のテスターによる検査を行った結果不良
であると判定された被検査回路の故障を診断する故障診
断システムは、 前記被検査回路のシミュレーションモデルを用い前記被
検査回路に発生が予測される全ての故障項目をシミュレ
ーション対象故障リストに定義する故障定義手段と、 前記シミュレーション対象故障リストにおける故障項目
について前記シミュレーションモデルに対して所定のテ
ストパタンに基づく故障シミュレーションを行い前記被
検査回路の出力において検出が予測される故障項目を選
択する故障シミュレーション手段と、 前記故障シミニレ−252手段で選択した故障項目が前
記被検査回路を前記テストパタンに基づいて実際に検査
した結果が前記テスターでエラーとならない出力で検出
される故障項目であることを示すときには当該故障項目
をシミュレーション対象故障リストから削除する故障削
除手段と、前記故障シミュレーション手段で選択した故
障項目が前記被検査回路を前記テストパタンに基づいて
実際に検査した結果が前記テスターでエラーとなる出力
で検出される故障項目であることを示すときは、当該故
障項目毎の検出・回数を数える検出回数カウント手段と
、 前記故障シミュレーションが必要なテストパタンの全て
について終了した後前記検出回数カウンタに基づき検出
回数の多い順に前記シミュレーション対象故障リストに
残された故障項目を被疑故障として表示する被疑故障表
示手段と から構成されている。
であると判定された被検査回路の故障を診断する故障診
断システムは、 前記被検査回路のシミュレーションモデルを用い前記被
検査回路に発生が予測される全ての故障項目をシミュレ
ーション対象故障リストに定義する故障定義手段と、 前記シミュレーション対象故障リストにおける故障項目
について前記シミュレーションモデルに対して所定のテ
ストパタンに基づく故障シミュレーションを行い前記被
検査回路の出力において検出が予測される故障項目を選
択する故障シミュレーション手段と、 前記故障シミニレ−252手段で選択した故障項目が前
記被検査回路を前記テストパタンに基づいて実際に検査
した結果が前記テスターでエラーとならない出力で検出
される故障項目であることを示すときには当該故障項目
をシミュレーション対象故障リストから削除する故障削
除手段と、前記故障シミュレーション手段で選択した故
障項目が前記被検査回路を前記テストパタンに基づいて
実際に検査した結果が前記テスターでエラーとなる出力
で検出される故障項目であることを示すときは、当該故
障項目毎の検出・回数を数える検出回数カウント手段と
、 前記故障シミュレーションが必要なテストパタンの全て
について終了した後前記検出回数カウンタに基づき検出
回数の多い順に前記シミュレーション対象故障リストに
残された故障項目を被疑故障として表示する被疑故障表
示手段と から構成されている。
このように構成された本発明においては、故障定義手段
により被検査回路に予測される全ての故障項目をシミニ
レ−ジョン対象故障リストに定義しておくとともに、故
障シミュレーション手段により各故障項目毎に順次故障
シミュレーションを行い、実際の検査によるテスター出
方と比較して被疑故障を決定し、被疑故障表示手段に表
示する。
により被検査回路に予測される全ての故障項目をシミニ
レ−ジョン対象故障リストに定義しておくとともに、故
障シミュレーション手段により各故障項目毎に順次故障
シミュレーションを行い、実際の検査によるテスター出
方と比較して被疑故障を決定し、被疑故障表示手段に表
示する。
その際、故障シミュレーションを行う故障項目が、故障
シミエレーシッン出力ではエラーとなるが実際のテスタ
ー出力ではエラーとならないなら、第一の故障削除手段
によりその故障項目をシミュレーション対象故障リスト
から外し、これによりいわゆる枝切りを行って被疑故障
を絞り込み、故障シミュレーションを行う回数を大幅に
削減して診断時間の短縮を図る。
シミエレーシッン出力ではエラーとなるが実際のテスタ
ー出力ではエラーとならないなら、第一の故障削除手段
によりその故障項目をシミュレーション対象故障リスト
から外し、これによりいわゆる枝切りを行って被疑故障
を絞り込み、故障シミュレーションを行う回数を大幅に
削減して診断時間の短縮を図る。
特に、故障シミュレーション出力でエラーとなり実際の
テスター出力でもエラーとなるなら、第二の故障削除手
段によりその故障項目を除く他の全ての故障項目をシミ
ュレーション対象故障リストから外し、−層効率よい絞
り込みを行って診断作業をより高速化する。
テスター出力でもエラーとなるなら、第二の故障削除手
段によりその故障項目を除く他の全ての故障項目をシミ
ュレーション対象故障リストから外し、−層効率よい絞
り込みを行って診断作業をより高速化する。
また、故障シミュレーション出力でエラーとなり実際の
テスター出力でもエラーとなる場合、検出回数カウント
手段によりその故障項目の検出回数をカウントし、被疑
故障表示手段には複数の被疑故障を発現頻度順に表示し
、複数の故障の重複発生に対応して正確な診断を実現す
る。
テスター出力でもエラーとなる場合、検出回数カウント
手段によりその故障項目の検出回数をカウントし、被疑
故障表示手段には複数の被疑故障を発現頻度順に表示し
、複数の故障の重複発生に対応して正確な診断を実現す
る。
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図に示す本発明の第一の実施例は被検査回路103
の故障診断を支援する故障診断システムlとして示され
ている。このシステム1は故障定義手段11、故障シミ
ュレーション手段12、第一の故障削除手段13、第二
の故障削除手段14、および被疑故障表示手段15を備
えている。この故障診断システム1には、テスター10
2による被検査回路103の検査に用いる複数のテスト
パタン101、検査結果であるテスター102からのエ
ラー出力104、および被検査回路103に対応するシ
ミュレーションモデル105をそれぞれ記憶するファイ
ルが接続され、各々は故障診断システムlから随時参照
される。
の故障診断を支援する故障診断システムlとして示され
ている。このシステム1は故障定義手段11、故障シミ
ュレーション手段12、第一の故障削除手段13、第二
の故障削除手段14、および被疑故障表示手段15を備
えている。この故障診断システム1には、テスター10
2による被検査回路103の検査に用いる複数のテスト
パタン101、検査結果であるテスター102からのエ
ラー出力104、および被検査回路103に対応するシ
ミュレーションモデル105をそれぞれ記憶するファイ
ルが接続され、各々は故障診断システムlから随時参照
される。
前記故障診断システム1のうち、故障定義手段11は、
診断動作にあたって最初に起動され、被検査回路103
のシミュレーションモデル105に基づき、被検査回路
103に発生が予測される全ての故障項目を定義してシ
ミュレーション対象故障リスト16を作成する。
診断動作にあたって最初に起動され、被検査回路103
のシミュレーションモデル105に基づき、被検査回路
103に発生が予測される全ての故障項目を定義してシ
ミュレーション対象故障リスト16を作成する。
前記故障シミュレーション手段12は、ファイルから順
次テストパタン101を読み出し、そのテストパタン1
01 ヲ用いてシミュレーションモデル105に対する
故障シミュレーションを行い、そのテストパタン101
において被検査回路103に検出が予測される故障項
目をシミュレーション対象故障りスト16の故障項目の
中から選択し、現在のテストパタン101 に対応する
故障項目をまとめて検出故障りスト17を作成する。
次テストパタン101を読み出し、そのテストパタン1
01 ヲ用いてシミュレーションモデル105に対する
故障シミュレーションを行い、そのテストパタン101
において被検査回路103に検出が予測される故障項
目をシミュレーション対象故障りスト16の故障項目の
中から選択し、現在のテストパタン101 に対応する
故障項目をまとめて検出故障りスト17を作成する。
第一の故障削除手段13は、エラー出力104に基づい
て検出故障りスト17内の故障項目を判定し、テスター
102でエラーとならなかった出力で検出される故障項
目があれば、その故障項目をシミュレーシぢン対象故障
りスト16から削除する。
て検出故障りスト17内の故障項目を判定し、テスター
102でエラーとならなかった出力で検出される故障項
目があれば、その故障項目をシミュレーシぢン対象故障
りスト16から削除する。
第二の故障削除手段13は、エラー出力104に基づい
て検出故障りスト17内の故障項目を判定し、テスター
102でエラーとなった出力で検出されるものであれば
、検出故障りスト17内の故障項目をシミュレーション
対象故障りスト16に残し、その他の全ての故障項目を
シミュレーション対象故障りスト16から削除する。
て検出故障りスト17内の故障項目を判定し、テスター
102でエラーとなった出力で検出されるものであれば
、検出故障りスト17内の故障項目をシミュレーション
対象故障りスト16に残し、その他の全ての故障項目を
シミュレーション対象故障りスト16から削除する。
続いて、故障診断システム1は、故障シミュレーション
手段12にテストパタン101 を1バタンづつ読み込
み、前述の手順で各バタンについて故障シミュレーショ
ンを繰り返すとともに、第一および第二の故障削除手段
13.14により、故障シミュレーションの実行毎にシ
ミニレ−シラン対象故障リスト16内の故障項目を減ら
してゆく。
手段12にテストパタン101 を1バタンづつ読み込
み、前述の手順で各バタンについて故障シミュレーショ
ンを繰り返すとともに、第一および第二の故障削除手段
13.14により、故障シミュレーションの実行毎にシ
ミニレ−シラン対象故障リスト16内の故障項目を減ら
してゆく。
テストパタン101の全てについて処理が終了しタナラ
、故障診断システム1は、シミュレーション対象故障り
スト16に残った故障項目を被疑故障として、被疑故障
表示手段15により表示し、あるいは被疑故障リスト1
8として印刷出力する。
、故障診断システム1は、シミュレーション対象故障り
スト16に残った故障項目を被疑故障として、被疑故障
表示手段15により表示し、あるいは被疑故障リスト1
8として印刷出力する。
ここで、本実施例の具体的な故障診断処理動作を第2図
から第4図を参照して詳細に説明する。
から第4図を参照して詳細に説明する。
第2図には、論理回路である被検査回路103が示され
ている。図中、A −R、AI、 A2・・・、 ML
M2等は回路103中の全ての信号線に附されたもの
であり、各々における論理値(1または0)は、A〜F
に与えられる入力バタンおよび各ゲートにより一義的に
決定される。
ている。図中、A −R、AI、 A2・・・、 ML
M2等は回路103中の全ての信号線に附されたもの
であり、各々における論理値(1または0)は、A〜F
に与えられる入力バタンおよび各ゲートにより一義的に
決定される。
第3図には、第2図の前記被検査回路103の入力^〜
Fに与えられる入力バタン301、被検査回路103が
正常ならば入力バタン301に応して出力P、Rに得ら
れる出力期待値302、およびテスター102により被
検査回路103を実際に検査した結果出力P、Hに得ら
れる被検査回路出力値303について8通りの組み合わ
せが示されている。
Fに与えられる入力バタン301、被検査回路103が
正常ならば入力バタン301に応して出力P、Rに得ら
れる出力期待値302、およびテスター102により被
検査回路103を実際に検査した結果出力P、Hに得ら
れる被検査回路出力値303について8通りの組み合わ
せが示されている。
ここで、テストパタン101 は入力バタン301
と出力期待値302 との組み合わせによって構成され
る。また、被検査回路出力(tr303のデータのうち
出力期待値302 と一致しないものはエラー出力10
4として検出される0例えば、バタン番号4のとき、出
力期待値302はP=O,R・0であるのに対し被検査
回路出力値303はP・1. R・1であり、同様にバ
タン番号6のとき、出力期待値302はR=1であるの
に対し被検査回路出力値303はR・0である。このた
め、バタン番号4の出力P・1. R=1、およびバタ
ン番号6の出力R・0がエラー出力データとしてエラー
出力104に登録される。
と出力期待値302 との組み合わせによって構成され
る。また、被検査回路出力(tr303のデータのうち
出力期待値302 と一致しないものはエラー出力10
4として検出される0例えば、バタン番号4のとき、出
力期待値302はP=O,R・0であるのに対し被検査
回路出力値303はP・1. R・1であり、同様にバ
タン番号6のとき、出力期待値302はR=1であるの
に対し被検査回路出力値303はR・0である。このた
め、バタン番号4の出力P・1. R=1、およびバタ
ン番号6の出力R・0がエラー出力データとしてエラー
出力104に登録される。
第4図には、第2図の前記被検査回路103 と第3図
のテストパタン101オよびエラー出力104 とに基
づいて、故障診断システム1により故障診断を行う手順
およびシミュレーション対象故障りスト16内の故障項
目が示されている。なお、リスト16中、例えばA10
とあるのは、前記第2図中の信号線^のOVa退故障
を表す。
のテストパタン101オよびエラー出力104 とに基
づいて、故障診断システム1により故障診断を行う手順
およびシミュレーション対象故障りスト16内の故障項
目が示されている。なお、リスト16中、例えばA10
とあるのは、前記第2図中の信号線^のOVa退故障
を表す。
まず、手順工のように、故障定義手段11により故障定
義を行い、シミュレーション対象故障りスト16A に
被検査回路103中の全ての信号線についてのO縮退故
障および1縮退故障(各々所期の値でないOまたは1と
なる故障をいう)を定義する。
義を行い、シミュレーション対象故障りスト16A に
被検査回路103中の全ての信号線についてのO縮退故
障および1縮退故障(各々所期の値でないOまたは1と
なる故障をいう)を定義する。
次に、手順2のように、故障シミュレーション手段12
により入力バタン301のバタン番号1を用いた各信号
線の値のシミュレーションを行って故障項目を決定する
とともに、バタン番号1がエラー出力104にないこと
から第一の故障削除手段13を用い、決定された故1l
trj4目をシミュレーション対象故障リス) 16A
から削除する。
により入力バタン301のバタン番号1を用いた各信号
線の値のシミュレーションを行って故障項目を決定する
とともに、バタン番号1がエラー出力104にないこと
から第一の故障削除手段13を用い、決定された故1l
trj4目をシミュレーション対象故障リス) 16A
から削除する。
例えば、リスト16Aのうち、バタン番号1ではP、、
1. R=OであるからPlo、 11/1は故障であ
る。また、Ml・0.IOならば反転されたP=1であ
るが、M1=1 。
1. R=OであるからPlo、 11/1は故障であ
る。また、Ml・0.IOならば反転されたP=1であ
るが、M1=1 。
M=1 ならp=o となるためMl/1. l’l/
1 も故障である。
1 も故障である。
このように全ての信号線について故障項目を決定し、決
定された故障項目P10. R/1. Ml/1. M
/1・・・等をシミュレーション対象故障リスト16A
から削除し、リスト16Bを得る。
定された故障項目P10. R/1. Ml/1. M
/1・・・等をシミュレーション対象故障リスト16A
から削除し、リスト16Bを得る。
同様に、手順3〜4においてバタン番号2〜3を用いて
リスト16B 、 16Cについてのシミュレーション
および故障項目の削除を行い、リス) 16C1リスト
160のように絞り込みを行う。
リスト16B 、 16Cについてのシミュレーション
および故障項目の削除を行い、リス) 16C1リスト
160のように絞り込みを行う。
ここで、手順5においては、バタン番号4の出力Pがエ
ラー出力104にリストアツブされているため第二の故
障削除手段14を用い、シミュレーション対象故障りス
ト16[1の故障項目のうち、故障シミュレーション手
段12でのシミュレーションにより出力Pの故障に対応
して検出されるものを残し、他を削除してリスト16I
!を得る。
ラー出力104にリストアツブされているため第二の故
障削除手段14を用い、シミュレーション対象故障りス
ト16[1の故障項目のうち、故障シミュレーション手
段12でのシミュレーションにより出力Pの故障に対応
して検出されるものを残し、他を削除してリスト16I
!を得る。
例えば、リスト16[lのうち、Jloについては、入
力^=1.B・0からH−0であり、J・1ならばM=
1 であり、所期の出力P・0であるのに対し、J=0
ならばト0であり、出力P=1 となる、故にJloは
出力Pのエラーを与える故障であり、このような故障項
目のみをリスト16Hに残す。
力^=1.B・0からH−0であり、J・1ならばM=
1 であり、所期の出力P・0であるのに対し、J=0
ならばト0であり、出力P=1 となる、故にJloは
出力Pのエラーを与える故障であり、このような故障項
目のみをリスト16Hに残す。
同様に、手順6においては、バタン番号4の出力Rがエ
ラー出力104 にリストアツブされているため第二の
故障削除手段14を用い、シミュレーション対象故障リ
スト16Bの故障項目のうち、故障シミュレーション手
段12でのシミュレーションにより出力Pの故障に対応
して検出されるものを残し、他を削除してリス) 16
Fを得る。なお、本例では手順6での実質的な削減はな
い。
ラー出力104 にリストアツブされているため第二の
故障削除手段14を用い、シミュレーション対象故障リ
スト16Bの故障項目のうち、故障シミュレーション手
段12でのシミュレーションにより出力Pの故障に対応
して検出されるものを残し、他を削除してリス) 16
Fを得る。なお、本例では手順6での実質的な削減はな
い。
以下、手順7〜10の繰返しによりリスト16G〜16
Jを求める。なお、手順8ではバタン番号6の出力Pに
ついて第一の故障削除手段13を用いるが、手順9では
出力Rがエラー出力104にあるため第二の故障削除手
段14を用いる。
Jを求める。なお、手順8ではバタン番号6の出力Pに
ついて第一の故障削除手段13を用いるが、手順9では
出力Rがエラー出力104にあるため第二の故障削除手
段14を用いる。
このような処理により最終的にシミュレーション対象故
障リス) 16J に残った故障項目D2/1. G1
0、すなわち信号線D2の1m退故障および信号線Gの
Om退故障が被疑故障として故障表示手段15に表示さ
れる。
障リス) 16J に残った故障項目D2/1. G1
0、すなわち信号線D2の1m退故障および信号線Gの
Om退故障が被疑故障として故障表示手段15に表示さ
れる。
このように、本実施例によれば、故障シミュレーション
とテスターによる実際の検査結果による確認とを平行し
て行うため、記憶しておくデータは故障シミュレーショ
ンの対象となる故障項目からなるシミュレーション対象
故障リスト16だけでよく、従来の故障辞書を利用した
システムのように、テストパタン数と故障想定飲との組
み合わせにおよぶ多量の出力応答データを記憶して処理
する場合に比べ、処理データ量および処理時間を著しく
減らすことができる。
とテスターによる実際の検査結果による確認とを平行し
て行うため、記憶しておくデータは故障シミュレーショ
ンの対象となる故障項目からなるシミュレーション対象
故障リスト16だけでよく、従来の故障辞書を利用した
システムのように、テストパタン数と故障想定飲との組
み合わせにおよぶ多量の出力応答データを記憶して処理
する場合に比べ、処理データ量および処理時間を著しく
減らすことができる。
また、故障シミュレーションの都度、第一および第二の
故障削除手段13.14を用いて被疑故障の可能性のな
くなった故障項目をシミュレーション対象故障りスト1
6から削除し、故障シミュレーション手段12によるシ
ミュレーション回数を大幅に削減し、処理時間を短縮す
ることができる。
故障削除手段13.14を用いて被疑故障の可能性のな
くなった故障項目をシミュレーション対象故障りスト1
6から削除し、故障シミュレーション手段12によるシ
ミュレーション回数を大幅に削減し、処理時間を短縮す
ることができる。
特に、本実施例では、第二の故障削除手段14によって
、手順5に示すように、検出故障IJスト17以外の故
障項目を削除することによってシミュレーション対象故
障リス目6を大幅に絞り込むことができ、故障診断処理
に要する時間を一層短縮することができる。
、手順5に示すように、検出故障IJスト17以外の故
障項目を削除することによってシミュレーション対象故
障リス目6を大幅に絞り込むことができ、故障診断処理
に要する時間を一層短縮することができる。
従って、大規模な回路等であっても短時間の内に確実な
故障診断処理を行うことができ、その際、大容量外部記
憶装置および高速演算処理装置を含むコンピュータ等は
特に必要ではなく、現実的な運用を実現できる。
故障診断処理を行うことができ、その際、大容量外部記
憶装置および高速演算処理装置を含むコンピュータ等は
特に必要ではなく、現実的な運用を実現できる。
第5図は、本発明の第二の実施例を示すフ゛ロック図で
ある1図において、故障診断システム2は、検出回数カ
ウント手段24を除いて前記第−の実施例の故障診断シ
ステムlと同様のものであり、共通する部分については
簡略化のため説明を省略する。
ある1図において、故障診断システム2は、検出回数カ
ウント手段24を除いて前記第−の実施例の故障診断シ
ステムlと同様のものであり、共通する部分については
簡略化のため説明を省略する。
この故障診断システム2は、前記第一の実施例の故障定
義手段11、故障シミュレーション手段12、第一の故
障削除手段13と同様な故障定義手段21、故障シミュ
レーション手段22、故障削除手段23を備え、予め故
障定義手段21で作成してお0たシミュレーション対象
故障りスト26に基づき、テストパタン101毎に故障
シミュレーション手段22によりシミュレーションを繰
返し、故障削除手段23によりエラー出力104にない
故障項目をシミュレーション対象故障りスト26から削
除して絞り込みを行う。
義手段11、故障シミュレーション手段12、第一の故
障削除手段13と同様な故障定義手段21、故障シミュ
レーション手段22、故障削除手段23を備え、予め故
障定義手段21で作成してお0たシミュレーション対象
故障りスト26に基づき、テストパタン101毎に故障
シミュレーション手段22によりシミュレーションを繰
返し、故障削除手段23によりエラー出力104にない
故障項目をシミュレーション対象故障りスト26から削
除して絞り込みを行う。
ここで、前記第一の実施例の故障診断システムlには第
二の故障削除手段14が設けられて0たのに対し、本実
施例の故障診断システム2に番よ検出故障カウント手段
24が設けられてし)る。
二の故障削除手段14が設けられて0たのに対し、本実
施例の故障診断システム2に番よ検出故障カウント手段
24が設けられてし)る。
この検出回数カウント手段24は、エラー出力104に
基づいて検出故障りスト27内の故障項目を判定し、テ
スター102でエラーとなった出力で検出されるもので
あれば、検出故障りスト27内の故障項目に対応するシ
ミュレーション対象故障リスト26内の項目を探し、そ
の項目の検出回数をカウントして故障検出回数リスト2
9内に保持する。
基づいて検出故障りスト27内の故障項目を判定し、テ
スター102でエラーとなった出力で検出されるもので
あれば、検出故障りスト27内の故障項目に対応するシ
ミュレーション対象故障リスト26内の項目を探し、そ
の項目の検出回数をカウントして故障検出回数リスト2
9内に保持する。
このため、故障診断システム2は、故障シミュレーショ
ンの実行毎に、故障削除手段23によりシミュレーショ
ン対象故障リスト26内の故障項目を減らしてゆくとと
もに、検出回数力、ラント手段24により故障検出回数
リスト29内の各故障項目毎の検出回数をカウントして
ゆく。
ンの実行毎に、故障削除手段23によりシミュレーショ
ン対象故障リスト26内の故障項目を減らしてゆくとと
もに、検出回数力、ラント手段24により故障検出回数
リスト29内の各故障項目毎の検出回数をカウントして
ゆく。
テストパタン101の全てについて処理が終了したなら
、故障診断システム2は、シミュレーション対象故障り
スト26に残った故障項目を被疑故障として、故障検出
回数リスト29における検出回数の多い順に被疑故障表
示手段25に表示し、あるいは被疑故障リスト28とし
て印刷出力する。
、故障診断システム2は、シミュレーション対象故障り
スト26に残った故障項目を被疑故障として、故障検出
回数リスト29における検出回数の多い順に被疑故障表
示手段25に表示し、あるいは被疑故障リスト28とし
て印刷出力する。
ここで、本実施例の故障診断システム2による具体的な
故障診断処理を第5図を参照して詳細に説明する。
故障診断処理を第5図を参照して詳細に説明する。
第6図には、前記第一の実施例で説明した第2図の被検
査回路103 と第3図のテストパタン101およびエ
ラー出力104 とに基づいて、故障診断システム2に
より故障診断を行う手順、シミュレーション対象故障リ
スト26の内容、および故障検出回数リスト29の内容
が示されている。なお、リスト29中、例えばA10・
1とあるのは、第2図中の信号線^のOwM退故障が1
回検出されたことを表す。
査回路103 と第3図のテストパタン101およびエ
ラー出力104 とに基づいて、故障診断システム2に
より故障診断を行う手順、シミュレーション対象故障リ
スト26の内容、および故障検出回数リスト29の内容
が示されている。なお、リスト29中、例えばA10・
1とあるのは、第2図中の信号線^のOwM退故障が1
回検出されたことを表す。
まず、手順1のように、故障定義手段21により故障定
義を行い、シミュレーション対象故障リスト26Aに被
検査回路103中の全ての信号線についてのOwM退故
障および1wi退故障(各々所期の値でないOまたは1
となる故障をいう)を定義する。
義を行い、シミュレーション対象故障リスト26Aに被
検査回路103中の全ての信号線についてのOwM退故
障および1wi退故障(各々所期の値でないOまたは1
となる故障をいう)を定義する。
次に、手112のように、故障シミュレーション手段2
2により入力バタン301 のバタン番号1を用いた各
信号線の値のシミュレーションを行って故障項目を決定
するとともに、バタン番号1がエラー出力104にない
ことから故障削除手段23を用い、決定された故障項目
をシミュレーション対象故障リスト26A から削除し
、リスト26B を得る。
2により入力バタン301 のバタン番号1を用いた各
信号線の値のシミュレーションを行って故障項目を決定
するとともに、バタン番号1がエラー出力104にない
ことから故障削除手段23を用い、決定された故障項目
をシミュレーション対象故障リスト26A から削除し
、リスト26B を得る。
同様に、手ll[3〜4においてバタン番号2〜′3を
用いてリスト26B 、 26Cについてのシミュレー
ションおよび故障項目の削除を行い、リスト26C1リ
スト26Dのように絞り込みを行う。
用いてリスト26B 、 26Cについてのシミュレー
ションおよび故障項目の削除を行い、リスト26C1リ
スト26Dのように絞り込みを行う。
ここで、手順5においては、バタン番号4の出力Pがエ
ラー出力104にリストアツブされているため検出回数
カウント手段24を用い、シミュレーション対象故障リ
ス) 26Dの故障項目のうち、故障シミュレーション
手段22でのシミュレーションにより出力Pの故障に対
応して検出されるものから故障検出回数リスト29Eを
得る。
ラー出力104にリストアツブされているため検出回数
カウント手段24を用い、シミュレーション対象故障リ
ス) 26Dの故障項目のうち、故障シミュレーション
手段22でのシミュレーションにより出力Pの故障に対
応して検出されるものから故障検出回数リスト29Eを
得る。
例えば、リスト26Dのうち、Jloについては、入力
^・1. B・0からH・0であり、J=1 ならばM
=1 であり、所期の出力P=0であるのに対し、J=
OならばトOであり、出力P=1 となる、故にJlo
は出力Pのエラーを与える故障であり、このような故障
項目の検出回数(ここでは各々1)をリスト29Eに残
す。
^・1. B・0からH・0であり、J=1 ならばM
=1 であり、所期の出力P=0であるのに対し、J=
OならばトOであり、出力P=1 となる、故にJlo
は出力Pのエラーを与える故障であり、このような故障
項目の検出回数(ここでは各々1)をリスト29Eに残
す。
同様に、手順6においては、バタン番号4の出力Pがエ
ラー出力104 にリストアツブされているため検出回
数カウント手段24を用い、シミュレーション対象故障
リスト26Eの故障項目のうち、故障シミュレーション
手段22でのシミュレーションにより出力Rの故障に対
応して検出されるものについて故障検出回数リス) 2
9E内の該当項目の値を1づつ増加する。
ラー出力104 にリストアツブされているため検出回
数カウント手段24を用い、シミュレーション対象故障
リスト26Eの故障項目のうち、故障シミュレーション
手段22でのシミュレーションにより出力Rの故障に対
応して検出されるものについて故障検出回数リス) 2
9E内の該当項目の値を1づつ増加する。
以下、手順7〜12の繰返しによりリス) 26G〜2
6Lおよび29G〜29Lを求める。なお、手順8では
バタン番号6の出力Pについて故障削除手段23を用い
るが、手ll[9では出力Rがエラー出力104にある
ため検出回数カウント手段24を用いる。
6Lおよび29G〜29Lを求める。なお、手順8では
バタン番号6の出力Pについて故障削除手段23を用い
るが、手ll[9では出力Rがエラー出力104にある
ため検出回数カウント手段24を用いる。
このような処理により最終的にシミュレーション対象故
障リスト26Lに残った故障項目A210.C10〜に
10は被疑故障として故障表示手段15に表示される。
障リスト26Lに残った故障項目A210.C10〜に
10は被疑故障として故障表示手段15に表示される。
このとき、被疑故障は故障検出回数リスト29に基づい
て検出頻度の高いもの順に表示され、検出回数3回づつ
で最多の02/1.3. G10=3 、すなわち信号
線D2のl縮退故障および信号線GのO縮退故障が第1
位の被疑故障として表示され、以下同様K 2 回ツツ
I)A2IO=2. C10−2,D/1=2. に1
10=2゜J10=2.1 回ツツノE10=1. G
210=1. K10=1が続けて表示される。
て検出頻度の高いもの順に表示され、検出回数3回づつ
で最多の02/1.3. G10=3 、すなわち信号
線D2のl縮退故障および信号線GのO縮退故障が第1
位の被疑故障として表示され、以下同様K 2 回ツツ
I)A2IO=2. C10−2,D/1=2. に1
10=2゜J10=2.1 回ツツノE10=1. G
210=1. K10=1が続けて表示される。
このように、本実施例によれば、前記第一の実施例にお
ける第二の故障削除手段14による極端な処理時間の短
縮はできないが、故障削除手段23によるシミュレーシ
ョン対象故障リスト26の絞り込みにより、前記第一の
実施例と同様に処理データ量およびシミュレーション回
数の低減を図ることができ、この結果、故lIl#断処
理に要する時間の短縮を達成できる。
ける第二の故障削除手段14による極端な処理時間の短
縮はできないが、故障削除手段23によるシミュレーシ
ョン対象故障リスト26の絞り込みにより、前記第一の
実施例と同様に処理データ量およびシミュレーション回
数の低減を図ることができ、この結果、故lIl#断処
理に要する時間の短縮を達成できる。
一方、シミニレ−シラン対象故障リスト26の故障項目
毎の検出回数を検出回数カウント手段24でカウントし
て故障検出回数リスト29に記録しておくため、従来の
故障辞書を用いるシステムではデータ量が膨大となって
対応が困難だった重複して発住した複数の故障の診断に
も対応できる。
毎の検出回数を検出回数カウント手段24でカウントし
て故障検出回数リスト29に記録しておくため、従来の
故障辞書を用いるシステムではデータ量が膨大となって
対応が困難だった重複して発住した複数の故障の診断に
も対応できる。
また、従来の故障辞書を用いるシステムのように、故障
の重複によって与えられる出力バタンが他の単一故障の
出力バタンと同しになるような場合でも、テストパタン
毎のシミュレーションを行うため、正確で確実な故障診
断ができる。
の重複によって与えられる出力バタンが他の単一故障の
出力バタンと同しになるような場合でも、テストパタン
毎のシミュレーションを行うため、正確で確実な故障診
断ができる。
さらに、複数の故障の各々を、故障検出回数リスト29
に記録された検出回数に基づいて可能性の高い被疑故障
から順に表示することができ、盲動な診断を行うことが
できる。
に記録された検出回数に基づいて可能性の高い被疑故障
から順に表示することができ、盲動な診断を行うことが
できる。
従って、処理が高速であり、かつ複数の故障に柔軟に対
応できるため、データ量が多く重複故障が発生し易い大
規模な回路等であっても短時間の内に確実かつ正確な故
障診断処理を行うことができる。
応できるため、データ量が多く重複故障が発生し易い大
規模な回路等であっても短時間の内に確実かつ正確な故
障診断処理を行うことができる。
なお、前記各実施例においては、処理にあたってシミュ
レーション対象故障リスト16.26に最初に定義する
故障として、被検査回路103の全信号線の0縮退故障
および1wi退故障を用いたが、これは通常の故障シミ
ュレーションで用いられる故障定義処理で行われる等価
故障の識別と代表故障の選択といった他の故障判別手法
を利用してもよい、その場合、故障定義手段II、 2
1により代表故障をシミュレーション対象故障16.2
6に出力し、被疑故障表示手段15.25ではシミュレ
ーション対象故障16.26に残った代表故障と等価な
故障を全て被疑故障として表示するようにすればよい。
レーション対象故障リスト16.26に最初に定義する
故障として、被検査回路103の全信号線の0縮退故障
および1wi退故障を用いたが、これは通常の故障シミ
ュレーションで用いられる故障定義処理で行われる等価
故障の識別と代表故障の選択といった他の故障判別手法
を利用してもよい、その場合、故障定義手段II、 2
1により代表故障をシミュレーション対象故障16.2
6に出力し、被疑故障表示手段15.25ではシミュレ
ーション対象故障16.26に残った代表故障と等価な
故障を全て被疑故障として表示するようにすればよい。
また、被検査回路103の回路構成は前記各実施例に用
いたものに限らず、本発明の故障診断システム1,2は
多様な回路の故障診断に広く適用可能であり、テストパ
タン101等を保持する外部ファイルやテスター102
の仕様も実施にあたって任意に選択してよい。
いたものに限らず、本発明の故障診断システム1,2は
多様な回路の故障診断に広く適用可能であり、テストパ
タン101等を保持する外部ファイルやテスター102
の仕様も実施にあたって任意に選択してよい。
さらに、故1[#断システム1,2自体を展開する手段
も実施にあたって適宜選択すればよく、要するに本発明
の故障診断システムとしての機能構成を実現しうるちの
であればよい。
も実施にあたって適宜選択すればよく、要するに本発明
の故障診断システムとしての機能構成を実現しうるちの
であればよい。
〔発明の効果)
以上に説明したように、本発明の故障診断システムによ
れば、最初に定義されたシミュレーション対象リストに
基づいて故障シミュレーションを繰返し行い、その都度
故障削除手段によってシミュレーション結果を実際の検
査結果と照合してシミュレーション対象リストを絞るこ
とができるため、短時間で確実な故障診断処理を行うこ
とができる。特に、第二の故障削除手段を設けて急激な
絞り込みを行うことにより処理時間の一層の短縮ができ
る。一方、検出回数カウント手段を設けて被疑故障の検
出頻度に基づいて表示させることにより、複数の故障の
重複発生に対応でき、大規模な回路でも正確な診断を行
うことができる。
れば、最初に定義されたシミュレーション対象リストに
基づいて故障シミュレーションを繰返し行い、その都度
故障削除手段によってシミュレーション結果を実際の検
査結果と照合してシミュレーション対象リストを絞るこ
とができるため、短時間で確実な故障診断処理を行うこ
とができる。特に、第二の故障削除手段を設けて急激な
絞り込みを行うことにより処理時間の一層の短縮ができ
る。一方、検出回数カウント手段を設けて被疑故障の検
出頻度に基づいて表示させることにより、複数の故障の
重複発生に対応でき、大規模な回路でも正確な診断を行
うことができる。
第1図は本発明の第一の実施例の構成を示すブロック図
、第2図は前記第一の実施例で用いる被検査回路の回路
構成図、第3図は第2図の回路に対するテストパタンお
よびエラー出力を示す図、第4rMは前記第一の実施例
による故障診断の具体的な手順を示す図、第5図は本発
明の第二の実施例の構成を示す第1図相当のブロック図
および第6図は前記第二の実施例による故障診断の具体
的な手順を示す第4図相当の図である。 1.2・・・故障診断システム、11.21・・・故障
定義手段、12.22・・・故障シミュレーション手段
、13・・・第一の故障削除手段、23・・・故障削除
手段、14・・・第二の故障削除手段、24・・・検出
回数カウント手段、15、25・・・被疑故障表示手段
、16.26・・・シミュレーション対象故障リスト、
17.27・・・検出故障リスト、18、28・・・被
疑故障リスト、29・・・故障検出回数リスト、101
・・・テストパタン、102・・・テスター、103
・・・被検査回路、104・・・エラー出力、105・
・・シミュレーションモデル、301 ・・・入力バタ
ン、302・・・出力期待値、303・・・被検査回路
出力値。
、第2図は前記第一の実施例で用いる被検査回路の回路
構成図、第3図は第2図の回路に対するテストパタンお
よびエラー出力を示す図、第4rMは前記第一の実施例
による故障診断の具体的な手順を示す図、第5図は本発
明の第二の実施例の構成を示す第1図相当のブロック図
および第6図は前記第二の実施例による故障診断の具体
的な手順を示す第4図相当の図である。 1.2・・・故障診断システム、11.21・・・故障
定義手段、12.22・・・故障シミュレーション手段
、13・・・第一の故障削除手段、23・・・故障削除
手段、14・・・第二の故障削除手段、24・・・検出
回数カウント手段、15、25・・・被疑故障表示手段
、16.26・・・シミュレーション対象故障リスト、
17.27・・・検出故障リスト、18、28・・・被
疑故障リスト、29・・・故障検出回数リスト、101
・・・テストパタン、102・・・テスター、103
・・・被検査回路、104・・・エラー出力、105・
・・シミュレーションモデル、301 ・・・入力バタ
ン、302・・・出力期待値、303・・・被検査回路
出力値。
Claims (2)
- (1)テスターによる検査を行った結果不良であると判
定された被検査回路の故障を診断する故障診断システム
において、 前記被検査回路のシミュレーションモデルを用い前記被
検査回路に発生が予測される全ての故障項目をシミュレ
ーション対象故障リストに定義する故障定義手段と、 前記シミュレーション対象故障リスト中の故障項目につ
いて、前記シミュレーションモデルに対して所定のテス
トパタンに基づく故障シミュレーションを行い前記被検
査回路の出力中において検出が予測される故障項目を選
択する故障シミュレーション手段と、 前記故障シミュレーション手段で選択した故障項目が前
記被検査回路を前記テストパタンに基づいて実際に検査
した結果が前記テスターでエラーとならない出力で検出
される故障項目であることを示すときは、当該故障項目
をシミュレーション対象故障リストから削除する第一の
故障削除手段と、 前記故障シミュレーション手段で選択した故障項目が前
記被検査回路を前記テストパタンに基づいて実際に検査
した結果が前記テスターでエラーとなった出力で検出さ
れる故障項目であることを示すときは、当該故障項目を
残して他の全ての故障項目をシミュレーション対象故障
リストから削除する第二の故障削除手段と、 前記故障シミュレーションが必要なテストパタンの全て
について終了した後、前記シミュレーション対象故障リ
ストに残された故障項目を被疑故障として表示する被疑
故障表示手段と から構成されたことを特徴とする故障診断システム。 - (2)テスターによる検査を行った結果不良であると判
定された被検査回路の故障を診断する故障診断システム
において、 前記被検査回路のシミュレーションモデルを用い前記被
検査回路に発生が予測される全ての故障項目をシミュレ
ーション対象故障リストに定義する故障定義手段と、 前記シミュレーション対象故障リストにおける故障項目
について前記シミュレーションモデルに対して所定のテ
ストパタンに基づく故障シミュレーションを行い前記被
検査回路の出力において検出が予測される故障項目を選
択する故障シミュレーション手段と、 前記故障シミュレーション手段で選択した故障項目が前
記被検査回路を前記テストパタンに基づいて実際に検査
した結果前記テスターでエラーとならない出力で検出さ
れる故障項目であることを示すときは、当該故障項目を
シミュレーション対象故障リストから削除する故障削除
手段と、前記故障シミュレーション手段で選択した故障
項目が前記被検査回路を前記テストパタンに基づいて実
際に検査した結果が前記テスターでエラーとなる出力で
検出される故障項目であることを示すときには、当該故
障項目毎の検出回数を数える検出回数カウント手段と、 前記故障シミュレーションが必要なテストパタンの全て
について終了した後前記検出回数カウンタに基づき検出
回数の多い順に前記シミュレーション対象故障リストに
残された故障項目を被疑故障として表示する被疑故障表
示手段と を含むことを特徴とする故障診断システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2327910A JPH04195547A (ja) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | 故障診断システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2327910A JPH04195547A (ja) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | 故障診断システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04195547A true JPH04195547A (ja) | 1992-07-15 |
Family
ID=18204362
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2327910A Pending JPH04195547A (ja) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | 故障診断システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04195547A (ja) |
-
1990
- 1990-11-28 JP JP2327910A patent/JPH04195547A/ja active Pending
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