JPH04194703A - 光学接触法による接触面の面積、形状等の測定装置 - Google Patents

光学接触法による接触面の面積、形状等の測定装置

Info

Publication number
JPH04194703A
JPH04194703A JP32672190A JP32672190A JPH04194703A JP H04194703 A JPH04194703 A JP H04194703A JP 32672190 A JP32672190 A JP 32672190A JP 32672190 A JP32672190 A JP 32672190A JP H04194703 A JPH04194703 A JP H04194703A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
glass plate
light
contact
measured
light guide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP32672190A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoji Tanaka
洋二 田中
Koichi Kobayashi
幸一 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyo Seiki Seisaku-sho Ltd
Original Assignee
Toyo Seiki Seisaku-sho Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyo Seiki Seisaku-sho Ltd filed Critical Toyo Seiki Seisaku-sho Ltd
Priority to JP32672190A priority Critical patent/JPH04194703A/ja
Publication of JPH04194703A publication Critical patent/JPH04194703A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は主として、ゴム、合成樹脂(プラスチックシー
ト)、紙、布、液体又は半固体、或いは食品等の測定対
象物の接触面積、形状、又は周囲長や重心等の特徴量を
計測するための光学接触法に基く接触面の解析測定装置
に関するものである。
(従来の技術) 従来に於いては、第7図に示す如く、透明又は半透明ガ
ラス板1の下面IAに測定対象物2を接触せしめて、上
方向から適宜光りを照射してその反射光LRを写真撮影
するか、又はCCDカメラ3によって画像処理すること
で、その接触面積、形状等を解析したり、又は直接前記
ガラス板lに目盛4を刻設表示せしめることで目視にて
計測したりするものがあった。
(発明が解決しようとする課題) 従来技術に依れば、透明又は半透明ガラス板を使用し且
つ外部上方向から光を照射してその反射光を写真撮影又
はCCDカメラによる画像処理を行なったりする為、そ
のコントラストが採れ難く、精度の良い測定が出来ない
欠点があった。
又、目盛板直視の場合にはガラス板の厚みに対応する屈
折効果によって視認位置により誤差が大となる欠点もあ
った。
而して、本発明は従来技術の有する問題点に鑑みてなさ
れたものであり、その目的とする処は測定対象物の接触
面の明度を向上せしめることによって1画像処理の精度
を上げることにある。
(課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために、本発明に於ける測定装置は
透明又は半透明ガラス板の一端縁から内部に開口角が略
50°〜60°となるように幅の広い光を導光せしめ、
ガラス板の内側境界面に対して入射角を略55°〜60
°になるようにしてガラス内から空気中に対する光の臨
界角(略42°)以トに設定して多重全反射せしめ、ガ
ラス板の反対側端縁から射出させるような光導入部を該
ガラス板に付設せしめることによって、前記ガラス板の
下面に測定対象物を接触させた際に、ガラス内から空気
中への一部侵入光によるエパネッセント波のために物体
の接触面で乱反射せしめられ、これによって接触部分の
明度を向上せしめたものである。
(作 用) ガラス板の下面に物体を接触させると、全反射の反射率
は1であるが、空気中にもガラス板境界面かられずかの
深さ、つところまで−光が侵入する二/くネツセント波
の為に、接触している部分には光があたり、この為、光
が物体の接触面で乱反射するのでその部分を明るく視る
ことが出来る。
(実施例) 次いで、実施例について図面(第1図乃至第6図)を参
照して説明する。
10は光学接触法による接触面測定装置本体で、受光部
としての画像処理部11と、被測定部としての解析ステ
ージ12とから成っている。
前記解析ステージ12は透明又は半透明ガラス板13の
一側端縁13Aに光ファイバー等の導光部材14の一端
14Aをナキ細して光導入部と成し、幅の広い光を開口
角(NA)が略50°〜60°となる如く導光せしめガ
ラス板13内部に導入すべく成しである。 然る時、光
導入部から不要な光が外部へ漏れないように設置するこ
とが必要である。
15は前記導光部材14の他端14Bに接続せしめた光
源であり、例えば/\ロゲンランブ等を採用して(Xる
。 然る時、ガラス板13内から空気中に対する光の臨
界角は略42°であり、前記開口角の光は内側境界面に
対しては入射角が55°〜60°にな乙ので全反射する
而して、ガラス板13の一側端縁13Aに導入された光
はその内部にて全反射を繰り返してゆき、反対側の端縁
13Bから外へ射出してゆくこととなる(第1図参照)
、 然る際、ガラス板13のステージ上面Pから外部へ
はほとんど光が漏れないので、受光部としての画像処理
部11は何も感知しない。
次いで、前記ガラス板13のステージ下面Qに被測定対
象物Sとしての物体を接触せしめた場合、光源の波長に
比例してガラス板13内部境界面から空気中へわずかの
深さのところまで光が侵入している(エパネッセント波
)為、接触している部分に光があたり、この結果、物体
の接触面にて乱反射を生じ、その部分が明るく視えるこ
ととなる。
例えば、被測定対象物Sのガラス板13に接触している
個所の物体表面に凹凸がある場合には第2図及び第3図
に示す如く接触している所だけ乱反射する為に、光の点
の集団となり光斑点となる。
具体的な応用例としては半固体乃至液体等の粘性測定器
に採用した場合、第4図に示す如く半固体状の試料とし
ての被測定対象物Sを基板に上に載置し、その上にガラ
ス板13を接触せしめて、一定の圧力Fcで押さえる。
 この時、被測定対象物Sがガラス板13に押されて平
面状に広がって行く変形度合を光学接触法により測定出
来る(第5図参照)。
又、本装置によって、被測定対象物Sの周囲長や重心等
も知ることが出来る。
次いで、前記受光部としての画像処理部11の手順につ
いて述べる。
具体的な画像処理手段としては直接写真撮影したり、目
視によって解析しても良いが、本発明では特に固体撮像
デバイスとしてMOS型又はCCD型の内、CCD (
電荷転送デバイス)型の撮像素子を画像入力装置として
組み込んだCCUカメラ20を例にとって説明する(第
2図参照)。
先ず、ガラス板13のステージ上面P上に、成る間隔を
おいてCODカメラ20を設置し、ステージ上面Pから
の乱反射光を画像信号として取り込む。
次いで、これをデジタル信号に変換してコンピューター
(CPU)に取り込む。
然る時、ガラス板13のステージ下面Qに被測定対象物
Sが接触している部分が明るく写ることとなる(第6図
(a)参照)。
然る際、画像メモリーには画素(横512×縦512分
割)ごとに明るさを、一つのメモリーに記憶するように
なっており、取り込んだ画像は明るさが51z段階に分
けられる。 この画像の成る一部(中央の1ライン)を
抽出すると第6図(b)の如くなる。 ここで、白黒の
みの2値画像に変換するのであるが、この処理を行うと
斑点模様になってしまうので、この明るい部分の凹凸を
なくすために平均化処理を行う、 然る時、この処理を
行なった結果は第6図(C)の如く全体がなめらかな画
像となる。
次に前記2値化処理を行ない、成るしきい値Aを境界線
にして、それより上のデータを1に、下のデータをOと
2種類の値に変換する(第6図(d)参照)。 然る後
、明るい部分の画素数を合計し基準面積と比較すること
によって、ガラス接触面の面積形状等を求めることが出
来る。
(発明の効果) 而して、本発明は下記の如き効果を奏する。
特に、ガラス板の側面端縁から光を導入せしめ、被測定
対象物がステージ下面に接触している所を乱反射光源と
したので、接触面の明度を高めることが出来、画像処理
の精度を向上することが可能となった。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第6図は本発明の実施例を示すもので、第1
図は本発明装置の光導入の態様を示す概略図、第2図は
同じく測定時の概略図、第3図は同じく測定時の側面図
、第4図乃至第5図は応用例を示す側面図乃至平面図で
ある。 第6図(a)乃至(d)は画像処理手順を説明
する図である。 第7図は従来技術を示すものである。 12・−・解析ステージ  14・・・導光部材13・
譬拳ガラス板    15・・・光源特許出願人  株
式会社東洋精機製作所第 2 に 第 5 図 第 11   凶 第 6 IA(α) 第 6 図(シ) tA6  凶(挾)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)接触面の解析ステージ12としての透明又は半透
    明ガラス板13の一側端縁13Aに、光源15からの導
    光部材14を対向せしめて幅広の光導入部と成すと共に
    、導入された光をガラス板13内にて繰り返し全反射せ
    しめて、反対側の端縁13Bから射出せしめた光学接触
    法による接触面の面積、形状等の測定装置
  2. (2)前記光源15がハロゲンランプであり、且つ導光
    部材14が光ファイバーである請求項1記載の光学接触
    法による接触面の面積、形状等の測定装置
JP32672190A 1990-11-28 1990-11-28 光学接触法による接触面の面積、形状等の測定装置 Pending JPH04194703A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32672190A JPH04194703A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 光学接触法による接触面の面積、形状等の測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32672190A JPH04194703A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 光学接触法による接触面の面積、形状等の測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04194703A true JPH04194703A (ja) 1992-07-14

Family

ID=18190937

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32672190A Pending JPH04194703A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 光学接触法による接触面の面積、形状等の測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04194703A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005068935A1 (ja) * 2004-01-16 2005-07-28 Hamamatsu Photonics K.K. 曲面形状検査方法、ファイバ光学ブロック、及び、曲面形状検査装置
JP2006266839A (ja) * 2005-03-23 2006-10-05 Sumitomo Rubber Ind Ltd 接触界面積の評価方法および接触界面積評価装置
JP2007286048A (ja) * 2006-03-23 2007-11-01 Nissan Motor Co Ltd ワーク位置検出システムおよびワーク位置検出方法
JP2011021897A (ja) * 2009-07-13 2011-02-03 Toyota Motor Corp プロトン伝導度測定装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4995649A (ja) * 1973-01-16 1974-09-11
JPS6449997A (en) * 1987-08-19 1989-02-27 Tokico Ltd Moving stand equipment for water pressure control unit

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4995649A (ja) * 1973-01-16 1974-09-11
JPS6449997A (en) * 1987-08-19 1989-02-27 Tokico Ltd Moving stand equipment for water pressure control unit

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005068935A1 (ja) * 2004-01-16 2005-07-28 Hamamatsu Photonics K.K. 曲面形状検査方法、ファイバ光学ブロック、及び、曲面形状検査装置
GB2425834A (en) * 2004-01-16 2006-11-08 Hamamatsu Photonics Kk Curved surface shape inspection method, fiber optical block, and curved surface shape inspection device
GB2425834B (en) * 2004-01-16 2007-04-11 Hamamatsu Photonics Kk Curved surface shape inspection method, fiber optical block, and curved surface shape inspection device
US7679734B2 (en) 2004-01-16 2010-03-16 Hamamatsu Photonics K.K. Curved surface shape inspection method, fiber optical block, and curved surface shape inspection device
JP2006266839A (ja) * 2005-03-23 2006-10-05 Sumitomo Rubber Ind Ltd 接触界面積の評価方法および接触界面積評価装置
JP4546861B2 (ja) * 2005-03-23 2010-09-22 住友ゴム工業株式会社 接触界面積の評価方法および接触界面積評価装置
JP2007286048A (ja) * 2006-03-23 2007-11-01 Nissan Motor Co Ltd ワーク位置検出システムおよびワーク位置検出方法
JP2011021897A (ja) * 2009-07-13 2011-02-03 Toyota Motor Corp プロトン伝導度測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6011620A (en) Method and apparatus for the automatic inspection of optically transmissive planar objects
KR100382577B1 (ko) 차륜 측정장치
JPS58219441A (ja) 凸面体の表面欠陥検査装置
JP3185599B2 (ja) 表面欠陥検査装置
JP4151306B2 (ja) 被検査物の検査方法
JPH04194703A (ja) 光学接触法による接触面の面積、形状等の測定装置
KR20140012250A (ko) 라인 빔을 이용한 유리기판 결함 측정 장치 및 측정 방법
JPH08178855A (ja) 透光性物体あるいは鏡面性物体の検査方法
JPH0720059A (ja) 透視歪の測定方法および装置
KR102199314B1 (ko) 디스플레이 패널 검사장치
JPH0448251A (ja) 瓶検査装置
JPH03276005A (ja) 形状測定装置
JPH08334434A (ja) 光学部材検査装置
JP4292352B2 (ja) 画像計測方法
JPH07104287B2 (ja) 曲面を有する透明物体の微小欠点検査方法
JPH0599840A (ja) 粘着応用製品の性能評価方法及び装置
JPH0914942A (ja) 円筒状表面の傷検査用撮影装置
JPH085573A (ja) ワーク表面の検査装置と検査方法
CN110068307B (zh) 测距系统及测量距离的方法
JP3168864B2 (ja) 表面欠陥検査装置
JPH08152403A (ja) 光学歪の測定方法および形状の測定方法
JP3984367B2 (ja) 表面欠陥の検査方法および検査装置
JP2002014058A (ja) 検査方法及び装置
JPH05307007A (ja) 表面検査方法
JPH09218162A (ja) 表面欠陥検査装置