JPH04192096A - 視覚計測装置 - Google Patents
視覚計測装置Info
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- JPH04192096A JPH04192096A JP2326588A JP32658890A JPH04192096A JP H04192096 A JPH04192096 A JP H04192096A JP 2326588 A JP2326588 A JP 2326588A JP 32658890 A JP32658890 A JP 32658890A JP H04192096 A JPH04192096 A JP H04192096A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 19
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 15
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 8
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、所定の領域内に点在する物体を観測して、
その点在物の個数を計測するための視覚計測装置に関す
る。
その点在物の個数を計測するための視覚計測装置に関す
る。
〈従来の技術〉
例えばガラスダイオードを製作する過程において、所定
本数のダイオードをトレー上に等配列に保持したものを
電気炉を通過させるなどして各種処理を行っている。
本数のダイオードをトレー上に等配列に保持したものを
電気炉を通過させるなどして各種処理を行っている。
第5図および第6図は、前記トレーlの具体例を示す。
このトレーlは、基台部2と蓋部3とから成るもので、
基台部2の上面には多数の支持孔4が等配列に形成しで
ある。各支持孔4にはダイオード5の一方のリード6を
挿入して起立姿勢で保持し、その上に蓋部3を被せてダ
イオード5の抜けを防止している。蓋部3は基台部2の
支持孔4と対応する位置に貫通孔8が設けてあり、各貫
通孔8へ各ダイオード5の他方のリード7を挿入して蓋
部3の上方へ突出させている。なお図示していないが、
基台部2と蓋部3との間には両者の間隔を保持するため
の保持部材を介在させる。
基台部2の上面には多数の支持孔4が等配列に形成しで
ある。各支持孔4にはダイオード5の一方のリード6を
挿入して起立姿勢で保持し、その上に蓋部3を被せてダ
イオード5の抜けを防止している。蓋部3は基台部2の
支持孔4と対応する位置に貫通孔8が設けてあり、各貫
通孔8へ各ダイオード5の他方のリード7を挿入して蓋
部3の上方へ突出させている。なお図示していないが、
基台部2と蓋部3との間には両者の間隔を保持するため
の保持部材を介在させる。
上記トレーl上へのダイオード5の装填は、通常ロボッ
トにより自動的に行われるか、この装填作業に際して、
装填ミスが生じてダイオード5が脱落する虞かある。ま
たこのダイオード5の脱落はトレー1を運搬するなどの
取扱過程でも起こり得る。
トにより自動的に行われるか、この装填作業に際して、
装填ミスが生じてダイオード5が脱落する虞かある。ま
たこのダイオード5の脱落はトレー1を運搬するなどの
取扱過程でも起こり得る。
このためトレー1上に所定本数のダイオード5が適正に
存在しているが否かを製作工程の適当な段階で確認する
必要かあり、従来はその種計数作業を人手により行って
いた。
存在しているが否かを製作工程の適当な段階で確認する
必要かあり、従来はその種計数作業を人手により行って
いた。
〈発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら人手による計数作業では、各リード7が取
扱中に変形して整列配置が壊されるため、計数ミスか生
じやすいたけでなく、作業員を極度に疲労させ、しかも
計数作業に多くの時間を要するという問題かある。
扱中に変形して整列配置が壊されるため、計数ミスか生
じやすいたけでなく、作業員を極度に疲労させ、しかも
計数作業に多くの時間を要するという問題かある。
この発明は、上記問題に着目してなされたものて、点在
物の計数を自動化することにより、計数ミスの発生を防
止し、計数作業の効率化を実現する視覚計測装置を提供
することを目的とする。
物の計数を自動化することにより、計数ミスの発生を防
止し、計数作業の効率化を実現する視覚計測装置を提供
することを目的とする。
く問題点を解決するための手段〉
この発明の視覚計測装置は、所定の領域内に点在する物
体を観測して、その点在物の個数を計測するためのもの
であって、前記領域を含む視野で前記点在物を撮像する
撮像装置と、この撮像装置からの画像信号を処理して点
在物の個数を計測する画像処理装置とから成るものであ
る。そして前記画像処理装置は、撮像装置より画像信号
を入力して2値化処理し2値画像を生成する手段と、2
値画像の全面を走査する手段と、着目画素が物体構成画
素か否かを2値データにより判別する手段と、着目画素
が物体構成画素であると判別したときその近傍の画素を
背景構成画素に変換する手段と、着目画素が物体構成画
素であると判別した回数を加算することにより点在物の
個数を計数する手段とを具備している。
体を観測して、その点在物の個数を計測するためのもの
であって、前記領域を含む視野で前記点在物を撮像する
撮像装置と、この撮像装置からの画像信号を処理して点
在物の個数を計測する画像処理装置とから成るものであ
る。そして前記画像処理装置は、撮像装置より画像信号
を入力して2値化処理し2値画像を生成する手段と、2
値画像の全面を走査する手段と、着目画素が物体構成画
素か否かを2値データにより判別する手段と、着目画素
が物体構成画素であると判別したときその近傍の画素を
背景構成画素に変換する手段と、着目画素が物体構成画
素であると判別した回数を加算することにより点在物の
個数を計数する手段とを具備している。
く作用〉
撮像装置により点在物を撮像すると、その画像は2値化
された後、その2値画像につき計測処理か行われる。計
測処理では2値画像の全面を走査しつつ着目画素が物体
構成画素か否かが判別され、物体構成画素であれば計数
を行うと共に、その近傍の画素を背景構成画素に変換す
ることにより以後の走査で同じ点在物の画像か重複して
計数するのを防止する。
された後、その2値画像につき計測処理か行われる。計
測処理では2値画像の全面を走査しつつ着目画素が物体
構成画素か否かが判別され、物体構成画素であれば計数
を行うと共に、その近傍の画素を背景構成画素に変換す
ることにより以後の走査で同じ点在物の画像か重複して
計数するのを防止する。
このようにして2値画像を全面走査することにより点在
物の個数を計測でき、人手による計数作業のような計数
ミスが生じず、また作業員の疲労も軽減され、しかも計
数作業の効率化かはかられる。
物の個数を計測でき、人手による計数作業のような計数
ミスが生じず、また作業員の疲労も軽減され、しかも計
数作業の効率化かはかられる。
〈実施例〉
第1図は、この発明の一実施例にかかる視覚計測装置の
構成を示している。図示例の装置はトレー1上に装填さ
れた多数本のダイオード5を観測してその装填本数を計
測するためのものであるが、この発明はダイオードに限
らず、所定の領域内に点在するものであれば、任意の点
在物の個数を計測する用途に適用できる。
構成を示している。図示例の装置はトレー1上に装填さ
れた多数本のダイオード5を観測してその装填本数を計
測するためのものであるが、この発明はダイオードに限
らず、所定の領域内に点在するものであれば、任意の点
在物の個数を計測する用途に適用できる。
図示例の視覚計測装置は、撮像装置lOと画像処理装置
11と照明装置12とを含んでおり、撮像装置10に画
像処理装置11が電気接続されている。
11と照明装置12とを含んでおり、撮像装置10に画
像処理装置11が電気接続されている。
前記撮像装置lOおよび照明装置12は検査位置の上方
に配置され、検査位置には図示しない搬送手段により検
査対象9が順次搬送されてくる。
に配置され、検査位置には図示しない搬送手段により検
査対象9が順次搬送されてくる。
検査対象9は、多数本のダイオード5かトレー1上に起
立姿勢で装填されたもので、第5図および第6図に示す
ものと同様の構成であって、ここではその説明を省略す
る。
立姿勢で装填されたもので、第5図および第6図に示す
ものと同様の構成であって、ここではその説明を省略す
る。
前記撮像装置10は、トレー1の全体を含む視野を有し
、その視野に含まれる全てのダイオード5が真上位置よ
り撮像される。照明装置12は蛍光灯のような円環状光
源をもって構成され、撮像装置10の外周位置に位置決
め配置される。
、その視野に含まれる全てのダイオード5が真上位置よ
り撮像される。照明装置12は蛍光灯のような円環状光
源をもって構成され、撮像装置10の外周位置に位置決
め配置される。
前記画像処理装置11はモニタ表示部13を有し、撮像
装置10からの画像信号を処理してトレーl上のダイオ
ード5の装填本数を計測する。前記画像処理装置11は
、マイクロコンピュータより成る回路構成であって、制
御・演算の主体であるCPU、プログラムが格納される
ROM、データの読み書きに供されるRAMなどを含む
他、画像データを記憶させる画像メモリなどを含んでい
る。
装置10からの画像信号を処理してトレーl上のダイオ
ード5の装填本数を計測する。前記画像処理装置11は
、マイクロコンピュータより成る回路構成であって、制
御・演算の主体であるCPU、プログラムが格納される
ROM、データの読み書きに供されるRAMなどを含む
他、画像データを記憶させる画像メモリなどを含んでい
る。
第2図は、前記画像処理装置11の機能および制御手順
をフローチャートで示したものである。
をフローチャートで示したものである。
同図のスタート時点において、検査位置に検査対象9が
導かれた後、照明装置12による照明下で撮像装置10
により検査対象9が撮像される。この撮像装置10によ
る画像信号は画像処理装置11に取り込まれ、2値化処
理されて2値画像が生成される。この2値画像は画像メ
モリに格納されると共に、モニタ表示部13に表示され
る。
導かれた後、照明装置12による照明下で撮像装置10
により検査対象9が撮像される。この撮像装置10によ
る画像信号は画像処理装置11に取り込まれ、2値化処
理されて2値画像が生成される。この2値画像は画像メ
モリに格納されると共に、モニタ表示部13に表示され
る。
第3図は、この2値画像14を示すもので、図中、15
はトレー1上のダイオード5を上方より見たときの画像
、すなわち蓋部3より突出したダイオード5のリード7
の端面の画像を示している。前記リード7は照明装置1
2からの光か照射されて高輝度で反射する結果、2値画
像14では白画素のデータに変換され、一方その背景部
分は、リード7より低い輝度であるため、黒画素のデー
タに変換される。この2値画像14はX軸方向か254
画素の配列をとり、またY軸方向は241画素の配列を
とる。
はトレー1上のダイオード5を上方より見たときの画像
、すなわち蓋部3より突出したダイオード5のリード7
の端面の画像を示している。前記リード7は照明装置1
2からの光か照射されて高輝度で反射する結果、2値画
像14では白画素のデータに変換され、一方その背景部
分は、リード7より低い輝度であるため、黒画素のデー
タに変換される。この2値画像14はX軸方向か254
画素の配列をとり、またY軸方向は241画素の配列を
とる。
この2値画像14につき画像処理装置11ては第′2図
中の5TI−ST13で示す各手順(ステップ)が順次
実行されてトレーl上のダイオード5の装填本数が計測
されるもので、この計測処理では、2値画像14を全面
にわたり走査しつつ後記する判別、計数、データ変換な
どの各処理が実行される。
中の5TI−ST13で示す各手順(ステップ)が順次
実行されてトレーl上のダイオード5の装填本数が計測
されるもので、この計測処理では、2値画像14を全面
にわたり走査しつつ後記する判別、計数、データ変換な
どの各処理が実行される。
まず第2図のステップ1において、2値画像14のX座
標値およびY座標値を計数するためのX軸カウンタおよ
びY軸カウンタをリセットし、つぎのステップ2におい
て、ダイオード5の本数を計数するためのカウンタCを
リセットする。
標値およびY座標値を計数するためのX軸カウンタおよ
びY軸カウンタをリセットし、つぎのステップ2におい
て、ダイオード5の本数を計数するためのカウンタCを
リセットする。
つぎのステップ3ではY軸カウンタの計数値がY軸方向
の画素配列数r241 Jを越えたか否かを判別し、つ
ぎのステップ4ではX軸カウンタの計数値がX軸方向の
画素配列数r254」を越えたか否かを判別する。この
場合、いずれの判定も“NO”であるから、ステップ5
へ進み、(X、Y)の座標位置(この場合(0,0)の
座標位置)に1画素分のウィンドウ16を設定する。
の画素配列数r241 Jを越えたか否かを判別し、つ
ぎのステップ4ではX軸カウンタの計数値がX軸方向の
画素配列数r254」を越えたか否かを判別する。この
場合、いずれの判定も“NO”であるから、ステップ5
へ進み、(X、Y)の座標位置(この場合(0,0)の
座標位置)に1画素分のウィンドウ16を設定する。
つぎのステップ6ては、このウィンドウ16内の画素が
白画素か否かを画素データにより判別し、もしその判定
が“YES”であれば、ステップ8へ進み、“NO”で
あれば、ステップ10へ進む。
白画素か否かを画素データにより判別し、もしその判定
が“YES”であれば、ステップ8へ進み、“NO”で
あれば、ステップ10へ進む。
ステップ8の判定が°’YES”のとき、すなわちウィ
ンドウ16内の画素かリードを構成する画素のとき、ス
テップ8でカウンタCをインクリメントした後、つぎの
ステップ9でデータ変換処理を実行する。
ンドウ16内の画素かリードを構成する画素のとき、ス
テップ8でカウンタCをインクリメントした後、つぎの
ステップ9でデータ変換処理を実行する。
第4図は、このデータ変換処理の概念を示している。図
中、17か座標位置(X、 Y)の白画素、18がリー
ド構成画素てあって、(X十A、Y十B)の座標位置P
を中心として半径dの円19を設定し、その円19の内
側に含まれる画素をすべて白画素にデータ変換する。こ
の実施例の場合、A=0、B=−2、d=4に設定して
いるか、これに限らず、リード構成画素18の全体を包
む大きさの円であれば、その他の値に設定してもよい。
中、17か座標位置(X、 Y)の白画素、18がリー
ド構成画素てあって、(X十A、Y十B)の座標位置P
を中心として半径dの円19を設定し、その円19の内
側に含まれる画素をすべて白画素にデータ変換する。こ
の実施例の場合、A=0、B=−2、d=4に設定して
いるか、これに限らず、リード構成画素18の全体を包
む大きさの円であれば、その他の値に設定してもよい。
ステップlOでは、X軸カウンタXをインクリメントし
てステップ3へ戻り、ステップ3てX軸カウンタの値か
r241 Jを越えたか否か、つぎのステップ4てY軸
カウンタの値かr254 Jを越えたか否かをそれぞれ
判定する。
てステップ3へ戻り、ステップ3てX軸カウンタの値か
r241 Jを越えたか否か、つぎのステップ4てY軸
カウンタの値かr254 Jを越えたか否かをそれぞれ
判定する。
このようにして1行分の走査か完了すれば、ステップ4
の判定か“YES”となり、ステップ11てY軸カウン
タをインクリメントし、ステップ12てX軸カウンタを
リセットした後、つぎの行についての計測処理へ移行す
る。
の判定か“YES”となり、ステップ11てY軸カウン
タをインクリメントし、ステップ12てX軸カウンタを
リセットした後、つぎの行についての計測処理へ移行す
る。
2値画像14が全面にわたり走査されると、ステップ3
の判定が“YES”となってステップ13へ進み、カウ
ンタCの計数値、すなわち2値画像14中に含まれるリ
ード画像の個数が読み出されて、モニタ表示部13にそ
の値が表示される。
の判定が“YES”となってステップ13へ進み、カウ
ンタCの計数値、すなわち2値画像14中に含まれるリ
ード画像の個数が読み出されて、モニタ表示部13にそ
の値が表示される。
〈発明の効果〉
この発明は上記の如く、所定の領域内に点在する物体を
観測して、その点在物の個数を計測するのに、前記点在
物の2値画像の全面を走査しつつ着目画素が物体構成画
素か否かを判別し、物体構成画素であれば計数を行うと
共に、その近傍の画素を背景構成画素に変換するように
したから、点在物の個数を人手によらず非接触かつ正確
に計数でき、疲労を伴わず効率的に計数作業を実施でき
るという顕著な効果を奏する。
観測して、その点在物の個数を計測するのに、前記点在
物の2値画像の全面を走査しつつ着目画素が物体構成画
素か否かを判別し、物体構成画素であれば計数を行うと
共に、その近傍の画素を背景構成画素に変換するように
したから、点在物の個数を人手によらず非接触かつ正確
に計数でき、疲労を伴わず効率的に計数作業を実施でき
るという顕著な効果を奏する。
第1図はこの発明の一実施例にかかる視覚計測装置の構
成を示す説明図、第2図は画像処理装置の制御手順を示
すフローチャート、第3図は2値画像を示す説明図、第
4図はデータ変換の概念を示す説明図、第5図はトレー
上に多数本のダイオードを装填した状態を示す斜面図、
第6図は第5図の拡大断面図である。
成を示す説明図、第2図は画像処理装置の制御手順を示
すフローチャート、第3図は2値画像を示す説明図、第
4図はデータ変換の概念を示す説明図、第5図はトレー
上に多数本のダイオードを装填した状態を示す斜面図、
第6図は第5図の拡大断面図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 所定の領域内に点在する物体を観測して、その点在物の
個数を計測するための視覚計測装置であって、 前記領域を含む視野で前記点在物を撮像する撮像装置と
、この撮像装置からの画像信号を処理して点在物の個数
を計測する画像処理装置とから成り、 前記画像処理装置は、撮像装置より画像信号を入力して
2値化処理し2値画像を生成する手段と、2値画像の全
面を走査する手段と、着目画素が物体構成画素か否かを
2値データにより判別する手段と、着目画素が物体構成
画素であると判別したときその近傍の画素を背景構成画
素に変換する手段と、着目画素が物体構成画素であると
判別した回数を加算することにより点在物の個数を計数
する手段とを具備して成る視覚計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2326588A JPH04192096A (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 | 視覚計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2326588A JPH04192096A (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 | 視覚計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04192096A true JPH04192096A (ja) | 1992-07-10 |
Family
ID=18189499
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2326588A Pending JPH04192096A (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 | 視覚計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04192096A (ja) |
-
1990
- 1990-11-27 JP JP2326588A patent/JPH04192096A/ja active Pending
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