JPH041850B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH041850B2 JPH041850B2 JP14574084A JP14574084A JPH041850B2 JP H041850 B2 JPH041850 B2 JP H041850B2 JP 14574084 A JP14574084 A JP 14574084A JP 14574084 A JP14574084 A JP 14574084A JP H041850 B2 JPH041850 B2 JP H041850B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- stylus
- detector
- lever
- support body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/28—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は低測定力で、しかも長変位測定を可
能とした触針式形状側測定機に関するものであ
る。
能とした触針式形状側測定機に関するものであ
る。
通常、触針式の形状測定機としては、揺動可能
に軸支されたレバーの先端に被測定物表面に接触
する触針を有し、他端に差動変圧器のような検出
器を有する構造とし、触針が被測定物表面の凹凸
に従つて上下動したときの変位量を検出器で連続
して測定し、その形状を拡大記録するものが知ら
れている。このレバー式の形状測定機は、測定力
を低くすることが出来るという利点はあるが、差
動変圧器のようなアナログ検出器を用いており、
その測定範囲が狭いという欠点がある。従つて凹
凸の変化の大きい被測定物の形状を測定するには
適していなかつた。
に軸支されたレバーの先端に被測定物表面に接触
する触針を有し、他端に差動変圧器のような検出
器を有する構造とし、触針が被測定物表面の凹凸
に従つて上下動したときの変位量を検出器で連続
して測定し、その形状を拡大記録するものが知ら
れている。このレバー式の形状測定機は、測定力
を低くすることが出来るという利点はあるが、差
動変圧器のようなアナログ検出器を用いており、
その測定範囲が狭いという欠点がある。従つて凹
凸の変化の大きい被測定物の形状を測定するには
適していなかつた。
そこで広範囲の形状を測定するために、アナロ
グ検出器とデイジタルスケールを組み合わせた形
状測定機が提案されている。例えば特開昭52−
26249号に示すものでは、 「サーボ機構に零位置検出を兼用したアナログ
変位検出器を取り付け、サーボ機構の追尾誤差を
該検出器によりアナログ信号で検出したうえ、該
信号をＡ／Ｄ変換器でデイジタル信号に変換し、
該デイジタル信号とサーボ機構の動き量を検出す
るデイジタル検出器の出力信号を演算させること
によりサーボ機構の追尾（ヒステリシス）誤差を
除去することを目的とする自動寸法形状測定器」
が開示されている。しかしこの装置においてはサ
ーボ機構の動き量を検出するデイジタル検出器の
出力信号と、サーボ機構の追尾誤差を検出するア
ナログ検出器の出力信号とを常に演算して被測定
物の変位量としているため、測定から測定値表示
までのスピードが遅くなる上に、演算誤差を生じ
高精度の測定ができないという欠点があつた。
グ検出器とデイジタルスケールを組み合わせた形
状測定機が提案されている。例えば特開昭52−
26249号に示すものでは、 「サーボ機構に零位置検出を兼用したアナログ
変位検出器を取り付け、サーボ機構の追尾誤差を
該検出器によりアナログ信号で検出したうえ、該
信号をＡ／Ｄ変換器でデイジタル信号に変換し、
該デイジタル信号とサーボ機構の動き量を検出す
るデイジタル検出器の出力信号を演算させること
によりサーボ機構の追尾（ヒステリシス）誤差を
除去することを目的とする自動寸法形状測定器」
が開示されている。しかしこの装置においてはサ
ーボ機構の動き量を検出するデイジタル検出器の
出力信号と、サーボ機構の追尾誤差を検出するア
ナログ検出器の出力信号とを常に演算して被測定
物の変位量としているため、測定から測定値表示
までのスピードが遅くなる上に、演算誤差を生じ
高精度の測定ができないという欠点があつた。
本発明は上記したような従来装置の欠点に鑑み
て成されたもので、従来のレバー式測定の利点で
ある低測定力を維持しつつ、被測定物の変位量を
直接デイジタル測定機にて測定することにより、
誤差のない広範囲の測定を可能とした形状測定機
を提供するものである。
て成されたもので、従来のレバー式測定の利点で
ある低測定力を維持しつつ、被測定物の変位量を
直接デイジタル測定機にて測定することにより、
誤差のない広範囲の測定を可能とした形状測定機
を提供するものである。
以下図面に従つて本発明の一実施例について説
明する。第１図において、基台１に垂直柱２を設
け、これに対して上下に正確に滑動可能に検出部
の支持体３を設ける。前記基台１にはサーボモー
タ４を取り付け、垂直柱２に平行に設けられたね
じ軸５をモータ４の回転軸に直結すると共に、前
記支持体３に螺合させ、後述する検出器からの出
力信号によつてモータが正逆回転し、支持体３が
上下動するように構成されている。前記支持体３
の図の左方に延びた腕にレバー８の回転支点６を
設ける。レバー８の右端には差動変圧器のコア１
０を取り付け、このコア１０と係合するコイル７
を前記支持体３に設ける。またレバー８の左端に
はレバー８に直角に触針９を取り付けると共に、
その直上にスケール１２を取り付ける。そしてこ
のスケール１２に対する変位量読取ヘツド１３を
垂直柱２に設けられた腕１５に固定する。なお図
示されていないがスケール１２と読取ヘツド１３
との間を一定に保ちスケールの動きを円滑にする
ために例えば、前記支持体３に一端を固定された
平行ばねによつてスケール１２を保持するように
構成される。また図において１４は被測定対象物
体で、例えば基台１上を水平移動可能なテーブル
１１に載置されて図の左右方向に移動されるよう
になつている。
明する。第１図において、基台１に垂直柱２を設
け、これに対して上下に正確に滑動可能に検出部
の支持体３を設ける。前記基台１にはサーボモー
タ４を取り付け、垂直柱２に平行に設けられたね
じ軸５をモータ４の回転軸に直結すると共に、前
記支持体３に螺合させ、後述する検出器からの出
力信号によつてモータが正逆回転し、支持体３が
上下動するように構成されている。前記支持体３
の図の左方に延びた腕にレバー８の回転支点６を
設ける。レバー８の右端には差動変圧器のコア１
０を取り付け、このコア１０と係合するコイル７
を前記支持体３に設ける。またレバー８の左端に
はレバー８に直角に触針９を取り付けると共に、
その直上にスケール１２を取り付ける。そしてこ
のスケール１２に対する変位量読取ヘツド１３を
垂直柱２に設けられた腕１５に固定する。なお図
示されていないがスケール１２と読取ヘツド１３
との間を一定に保ちスケールの動きを円滑にする
ために例えば、前記支持体３に一端を固定された
平行ばねによつてスケール１２を保持するように
構成される。また図において１４は被測定対象物
体で、例えば基台１上を水平移動可能なテーブル
１１に載置されて図の左右方向に移動されるよう
になつている。
このような発明の構成により、低測定力で、か
つ直接広範囲の測定が高精度に可能であることに
ついて第１図および第２図の制御ブロツク図によ
り説明する。いま第１図に示すように、レバー８
が水平状態にあるときにコイル７およびコア１０
からなる差動変圧器のようなアナログ検出器１６
の出力が零となるようにセツトする。触針９が被
測定物１４の凹凸により上下動すると、その変位
量は直ちにスケール１２および読取ヘツド１３か
らなるデイジタル検出器１７によつて読み取ら
れ、データ処理回路１８を介してデイジタル表示
器１９で表示され、あるいはプリンタ２０により
プリントアウトされる。
つ直接広範囲の測定が高精度に可能であることに
ついて第１図および第２図の制御ブロツク図によ
り説明する。いま第１図に示すように、レバー８
が水平状態にあるときにコイル７およびコア１０
からなる差動変圧器のようなアナログ検出器１６
の出力が零となるようにセツトする。触針９が被
測定物１４の凹凸により上下動すると、その変位
量は直ちにスケール１２および読取ヘツド１３か
らなるデイジタル検出器１７によつて読み取ら
れ、データ処理回路１８を介してデイジタル表示
器１９で表示され、あるいはプリンタ２０により
プリントアウトされる。
一方、触針９の変位量はアナログ検出器１６に
よつて検出され、その出力信号に応じてサーボ制
御回路２１によりモータ４は制御されて、正ある
いは逆回転する。すなわち、例えば触針９が被測
定物１４の凸部にあるときは、アナログ検出器１
６は（−）信号を出力するから、モータ４はサー
ボ制御回路２１によつて制御されて正回転が行な
われる。そして理想的にはねじ軸５に螺合された
支持体３はレバー８が水平になる位置、すなわち
アナログ検出器１６が零となる位置まで上昇して
停止するはずである。しかし実際にはサーボ機構
の送り誤差や慣性等により、アナログ検出器１６
の出力信号が零とならない位置で支持体３は停止
することが通常である。しかし本発明において被
測定物１４の変位量は直接デイジタル検出器１７
によつて測定されており、サーボ機構の送り誤差
は全く測定値に影響を及ぼすことはなく、高精度
の測定が可能である。
よつて検出され、その出力信号に応じてサーボ制
御回路２１によりモータ４は制御されて、正ある
いは逆回転する。すなわち、例えば触針９が被測
定物１４の凸部にあるときは、アナログ検出器１
６は（−）信号を出力するから、モータ４はサー
ボ制御回路２１によつて制御されて正回転が行な
われる。そして理想的にはねじ軸５に螺合された
支持体３はレバー８が水平になる位置、すなわち
アナログ検出器１６が零となる位置まで上昇して
停止するはずである。しかし実際にはサーボ機構
の送り誤差や慣性等により、アナログ検出器１６
の出力信号が零とならない位置で支持体３は停止
することが通常である。しかし本発明において被
測定物１４の変位量は直接デイジタル検出器１７
によつて測定されており、サーボ機構の送り誤差
は全く測定値に影響を及ぼすことはなく、高精度
の測定が可能である。
また、触針９が被測定物１４の凹部にあるとき
は、上記した場合とは逆に、アナログ検出器１６
からは（＋）信号が出力され、モータ４は逆回転
してレバー８を水平位置近傍で停止させるが、こ
の場合にもサーボ機構の送り誤差は全く測定値に
影響を及ぼさない。なお、上記においては、サー
ボ制御動作を説明するために被測定物の凸部ある
いは凹部における一点を測定した場合の支持体３
の追従動作について説明したが、被測定物１４の
形状を連続して測定する場合は、上記した支持体
３の追従動作も連続して行なわれる。従つて形状
変化の大きい被測定物を測定した場合には、支持
体３はサーボ機構により、その凸部または凹部の
変位量にほぼ相当する分だけ追従して変位するこ
ととなり広範囲の測定が可能である。また、上記
実施例においては、アナログ検出器の出力信号に
よつて回転するサーボモータのねじ軸を支持体に
螺合させ、この支持体を被測定物の形状に追従上
下動させるサーボ機構が示されているが、必ずし
もこの機構に限定されるものではなく、例えばラ
ツクとピニオンのような機構や、あるいは油圧駆
動によるサーボ機構等であつても、本発明の効果
を減ずるものではない。
は、上記した場合とは逆に、アナログ検出器１６
からは（＋）信号が出力され、モータ４は逆回転
してレバー８を水平位置近傍で停止させるが、こ
の場合にもサーボ機構の送り誤差は全く測定値に
影響を及ぼさない。なお、上記においては、サー
ボ制御動作を説明するために被測定物の凸部ある
いは凹部における一点を測定した場合の支持体３
の追従動作について説明したが、被測定物１４の
形状を連続して測定する場合は、上記した支持体
３の追従動作も連続して行なわれる。従つて形状
変化の大きい被測定物を測定した場合には、支持
体３はサーボ機構により、その凸部または凹部の
変位量にほぼ相当する分だけ追従して変位するこ
ととなり広範囲の測定が可能である。また、上記
実施例においては、アナログ検出器の出力信号に
よつて回転するサーボモータのねじ軸を支持体に
螺合させ、この支持体を被測定物の形状に追従上
下動させるサーボ機構が示されているが、必ずし
もこの機構に限定されるものではなく、例えばラ
ツクとピニオンのような機構や、あるいは油圧駆
動によるサーボ機構等であつても、本発明の効果
を減ずるものではない。
以上詳述したように本発明によれば、サーボ機
構は追従機構として用いることにより広範囲の測
定を可能とすると共に、触針は揺動自在に軸支さ
れたレバーに取り付けられ、従つてレバー式測定
の利点である低測定力を維持しており、かつこの
レバーに被測定物の形状変化を直接読み取るスケ
ールを取り付けているため、従来のように測定値
を演算等により求めることなく直接高精度にしか
も迅速に得ることができる等の優れた効果を奏す
ることができた。
構は追従機構として用いることにより広範囲の測
定を可能とすると共に、触針は揺動自在に軸支さ
れたレバーに取り付けられ、従つてレバー式測定
の利点である低測定力を維持しており、かつこの
レバーに被測定物の形状変化を直接読み取るスケ
ールを取り付けているため、従来のように測定値
を演算等により求めることなく直接高精度にしか
も迅速に得ることができる等の優れた効果を奏す
ることができた。
第１図は本発明の側面図、第２図は本発明の制
御のブロツク図。 １：基台、３：支持体、４：サーボモータ、
５：ねじ軸、６：支点、７：コイル、８：レバ
ー、９：触針、１０：コア、１２：デイジタルス
ケール、１３：読取ヘツド、１４：被測定物、１
６：アナログ検出器、１７：デイジタル検出器、
２１：サーボ制御回路。
御のブロツク図。 １：基台、３：支持体、４：サーボモータ、
５：ねじ軸、６：支点、７：コイル、８：レバ
ー、９：触針、１０：コア、１２：デイジタルス
ケール、１３：読取ヘツド、１４：被測定物、１
６：アナログ検出器、１７：デイジタル検出器、
２１：サーボ制御回路。
Claims (1)
- １ 触針と被測定物とを相対的に移動させて、被
測定物の形状によつて変位する触針の動きを検出
してその形状を測定するようにした形状測定機に
おいて、固定部に対し上下動可能に設けられた支
持体と、前記支持体に揺動自在に軸支され、一端
に触針およびデイジタル検出器を、他の一端にア
ナログ検出器を設けたレバーと、前記アナログ検
出器の出力によつて前記支持体を上下動させるサ
ーボ機構とを備えていることを特徴とする形状測
定機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14574084A JPS6125009A (ja) | 1984-07-13 | 1984-07-13 | 形状測定機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14574084A JPS6125009A (ja) | 1984-07-13 | 1984-07-13 | 形状測定機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6125009A JPS6125009A (ja) | 1986-02-03 |
| JPH041850B2 true JPH041850B2 (ja) | 1992-01-14 |
Family
ID=15392047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14574084A Granted JPS6125009A (ja) | 1984-07-13 | 1984-07-13 | 形状測定機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6125009A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014175412A1 (ja) | 2013-04-26 | 2014-10-30 | 株式会社東京精密 | 形状測定機 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63146702U (ja) * | 1987-03-19 | 1988-09-28 | ||
| JP5301061B1 (ja) * | 2012-01-04 | 2013-09-25 | 株式会社東京精密 | 輪郭形状表面粗さ測定装置および輪郭形状表面粗さ測定方法 |
-
1984
- 1984-07-13 JP JP14574084A patent/JPS6125009A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014175412A1 (ja) | 2013-04-26 | 2014-10-30 | 株式会社東京精密 | 形状測定機 |
| EP3346228A1 (en) | 2013-04-26 | 2018-07-11 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Shape measurement device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6125009A (ja) | 1986-02-03 |
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