JPH04180228A - パタン形成方法 - Google Patents

パタン形成方法

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JPH04180228A
JPH04180228A JP30908890A JP30908890A JPH04180228A JP H04180228 A JPH04180228 A JP H04180228A JP 30908890 A JP30908890 A JP 30908890A JP 30908890 A JP30908890 A JP 30908890A JP H04180228 A JPH04180228 A JP H04180228A
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JP
Japan
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pattern
lift
patterned
thin film
base
Prior art date
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Pending
Application number
JP30908890A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanori Sumiya
角谷 昌紀
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、リフトオフ法を用いたパタン形成方法に関
するものである。
(従来の技術) パターニングしようとする材料(被パターニング材と称
する。)がエツチングが難しい材質である場合、また工
程の都合上エツチング技術を使用したくない場合等の被
パターニング材のパタンを形成する方法として、リフト
オフ法が用いられる。
リフトオフ法を一用いた従来のパタン形成方法について
、半導体基板等の下地上に配線パタンを形成する例によ
り、説明する。
菓4図(A)〜(D)は、その説明に供する図であり、
パタン形成工程中の主な工程における試料の様子を概略
的な断面図により示した工゛程図である。
先ず、下地としての例えば半導体基板11上全面にリフ
トオフ用パタン形成材として例えばレジスト13か公知
の方法により塗布される(第4図(A))。
次に、このレジスト13か選択的に露光され、その後こ
のレジスト]3が現像されて、基板11上にリフトオフ
用パタン13aが形成される(第4図(B))。周知の
通り、このリフトオフ用パタン13aは、基板11の配
線形成予定領域を露出するパタンとなっている。
次に、この基板11上全面に蒸着法等の好適な方法によ
り被パターニング材として所望の配線素材の薄膜15が
形成される(第4図(C))。
次に、薄膜15形成済みの下地がリフトオフ用パタンの
溶解液この場合レジスト溶解液中に浸漬され、レジスト
パタン13aか除去されこの際同時に配線素材の薄膜]
5の、レジストパタシ]3a上の部分が除去される(リ
フトオンされる)。
この結果、基板11の配線形成予定領域上のみに配線素
材の薄膜15が残存し、所望の配線パタン15aが形成
される(第4図(D))。
第4図を用いて説明したパタン形成工程では、配線素材
の薄膜15は、第4図(C)に示すように、リフトオフ
用パタン13aの側壁部分て不連続な(段切れになった
)、リフトオフには理想的な状態に形成されたものとし
て説明した。しかし、笑際の工程では、配線素材の薄膜
15は、第5図に示すように、基板11上の部分とリフ
トオフ用パタン13a上の部分が連続しでいる状態の薄
膜となることが多く、リフトオフ用パタン13aは薄膜
15により覆われることか多い。そしてこの場合、リフ
トオフ用パタン13aの溶解液は薄膜15の薄い部分(
例えばリフトオ)用パタンの側壁上の薄膜部分15X)
等から当該パタン13aへ侵入することとなるため、薄
膜15が不連続な場合(第4図(C)の場合)に比べ、
リフトオフ用パタン13aの溶解具合は著しく遅くなり
、よってリフトオフを困難なものとしていた。
従ってこれを回避するために、試料をリフトオフ用パタ
ン溶解液中に浸漬させた状態で試料に超音波振Gを加え
薄膜15の一部を粉砕しリフトオフを容易にする方法が
採られていた。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、超音波を印加しなからリフトオンした場
合被パターニング材のリフトオフされた部分はリフトオ
フ用パタンの溶解液中を漂うので下地に再付着し易いと
いう問題点があった。勿論、この問題は、超音波を印加
せずリフトオフする場合にもその程度は少いにしろ発生
する。
被パターニング材のリフトオンされた部分が下地に再付
着した場合、再付着物が例えば配線クズであれば回路の
ショート・誤動作の原因になりその他の材質の場合も回
路の汚染等となるため、再付着が生しないような改善が
望まれていた。
この発明はこのような点に鑑みなされたものであり、従
ってこの発明の目的は、被パターニング材のリフトオフ
された部分が下地に再付着することを防止出来るパタン
形成方法ヲ擾供することにある。
(課題を解決するための手段) この目的の達成を図るため、この発明によれば、下地上
にリフトオフ用パタンを形成し、該リフトオフ用パタン
形成済みの下地上に被パターニング材の薄膜を形成し、
該薄膜形成済み下地をリフトオフ用パタンの溶解液中に
浸漬して当該下地から前記リフトオフ用パタン及び該パ
タン上の被パターニング材部分を除去し、前記下地上に
前記被パターニグ材のパタンを形成する方法において、 以下の、■、■及び@の工程の少なくとも1つの工程中
で、当該下地に強磁性体を被着させ、強磁性体被着済み
前記下地をリフトオフ用パタン溶解液中に浸漬しでリフ
トオフ用パタン及び該パタン上の被パターニング材部分
を除去することを、磁場を印加した状態で行なうことを
特徴とする。
■・・・リフトオフ用パタン形成後であって被バターニ
ング材の薄膜形成前の工程。
■・・・被バターニング材の薄膜を形成する工程。
■被パターニング材の薄膜形成後であって該薄膜形成済
みの下地をリフトオフ用の溶解液中に浸漬する前の工程
なお、この発明の実施に当り、強磁性体の被着を上記■
〜@の工程のいずれの工程で行なうかについては、形成
するパタンの使用のされ方等を考慮し決定すれば良い0
例えば、パタン形成後に強磁性体を除去する必要がある
場合は、強磁性体を被パターニング材より下側に設けた
り被バターニング材中に含まれるように設けたのでは、
その除去が困難になるので、上述の@の工程で強磁性体
を下地に設けるのが良いと決定する。このような判断基
準で適正な工程で下地に強磁性体を被着させる。勿論設
計によっては、強磁性体は複数の工程で下地に付着させ
ても良い。
また、ここで強磁性体とは、磁石に吸引される種々のも
のをいい、鉄、コバルト、ニッケル等をはじめ従来から
知られている種々のものざらには今後知られるであろう
fI)?のちのをいう。
また、磁場を印加する具体的な方法としては、例えば磁
石をリフトオフ用パタンの溶解液中に若しくは溶解液の
容器の外壁近傍に予め設置しておく方法またはリフトオ
フ時のみ設置する方法等が考えられる。いずれの方法を
用いるかは、設計に応じ決定すれば良い、ここで、磁石
とは、永久磁石、電磁石を含む。
また、磁場を印加するタイミングは、リフトオフを行な
う全期間中でも良く、また、この発明の目的が達成出来
ればリフトオフ期間中の一部の期間でも良い。
また、リフトオフ用パタンか形成される下地とは、半導
体基板、半導体素子が作り込まれた半導体基板は勿論の
こと、半導体分野に限らずリフトオフ法によりパタン形
成される広く下地を意味する。
(作用) この発明の構成によれば、被パターニング材の、リフト
オフにより下地から剥離された部分は、これに強磁性体
が被着させであるため磁場の作用により例えば磁石側に
引かれるので特定領域に集合することとなりリフトオフ
用パタンの溶解液中に浮遊することがなくなる。
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明のパタン形成方法の実施
例について説明する。なお、説明に用いる各図は、この
発明を理解出来る程度に各構成成分の形状、寸法、配置
111fJ係ヲ概略的に示しである。
1上天蔑に はしぬに、第1図(A)〜(E)及び第2図を参照して
第1実施例の説明を行なう、ここで、第1図(A)〜(
E)はパタン形成工程中の主な工程での試料の様子を断
面図により示した工程図、第2図は第1英施例における
磁場の印加方法の説明に供する図である。
先ず、下地としての例えばシリコン基板、GaAs基板
等の半導体基板1]上に、リフトオフ用パタンとして例
えばレジストパタン13a%従来公知の方法により形成
する(第1図(A))、この実施例では、レジストとし
て、シブレー社製のレジスト(商品名「マイクロポジ・
ント1400」)を用いている。
次に、リフトオフ用パタン13a形成済みの下地11上
全面に被パターニング材として例えばAu、Aβ、Ti
等の配線素材の薄膜15を従来公知の方法により形成す
る(第1図(B))。
次に、配線素材の薄膜15形成済みの下地上全面に、強
磁性体21を被着させる(第1図(C))。
なお、強磁性体の被着は、用いる強磁性体の材質を考慮
した適切な方法で行なえば良い。強磁性体をコバルト、
鉄、ニッケル等とする場合その被着は、例えば蒸着法、
スパッタ法等の方法で行なうことが出来る。また、被着
させる強磁性体15は一種類に限られず設計によっては
複数l!類としても良い、また、この実施例では、被バ
ターニング材の薄膜15形成後にこの薄膜上に強磁性体
21を被1!させているが、設計によっては、リフトオ
フ用パタン形成後で被パターング材の薄膜形成前に、若
しくは、被パターニング材の薄膜形成と同時に、または
、これらの工程の複数の工程で、強磁性体を下地に被着
させでも良い。
次に、強磁性体21被着済みの下地を、リフトオフ用パ
タン溶解液(この場合はレジストパタン溶解するための
例えばアセトン)中に浸漬してリフトオフ用パタン13
a及び該パタン13a上の被パターニング材部分を除去
する。この際、この発明では磁場を印加するが、この第
1寅施例では磁場を以下、第2図を用いて説明する方法
により印加する。
第2図に示すように、アセトン31を入れた容器(例え
ばビー力)33中に強磁性体被着済みの下地35を浸漬
する。この容器33の下方には容器外壁に近接させて磁
石37を配冨しである。
この状態においては、下地35のリフトオフ用パタン(
レジストパタン)13aはアセトンにより溶解するため
、第1図(D)に示すように、リフトオフ用パタン13
a上の被パターニング材部分も下地から剥離し被パター
ニング材は下地11のパタン形成領域上にのみ残る。一
方、被パターニング材のリフトオンされた部分39(第
2図参照、以下、配線クズ39と称することもある。)
は、これに強磁性体が被着されているため、磁石37側
に引かれ容器33の底部に半固定される。
従って、配線クズ39がアセトン中を浮遊することが防
止でき、よって、配線パタン形成済みの下地に配線クズ
が再付着することを防止出来る。
次に、リフトオフの終了した試料(第1図CD)のもの
)から不要になった強磁性体を除去する。強磁性体21
の除去は、配線パタン15aが例えばAuで構成されて
いる場合て強磁性体がFe、Ni等で構成されでいる場
合であれば、フッ酸または塩酸を用いることで行なえる
。この処理が終了すると、第1図(E)に示すように下
地11上に所望の配線パタン15aが形成される。
なお、上述の実施例ではリフトオフ終了後に強磁性体2
1を除去していたが、特に支障かなければ強@牲体をそ
のまま残しておいても勿論良い。
上述の第1実施例の方法を用い、配線素材壱T1とし強
磁性体をN1として半導体基板上に配線パタンそ形成し
たところ、半導体基板上にN1クズ及びT1クズが再付
着することなくこの基板上にNi/Ti(Tiが下層)
の積層体パタンか形成出来た。
11叉蓬に 上述の第1笑施例では、リフトオフ用パタンの溶解液3
]を入れた容器33の外部に磁石37を設冒していたが
、容器33内部に磁石37を投雪した場合にもこの発明
の効果を得ることが出来る。
第2笑施例ではこの方法を実施する。第3図はその一例
の説明に供する図であり、2つの磁石37を容器33内
に互いが対向するように設冒した例である。
下地11上へのリフトオフ用パタン13aの形成、被パ
ターニング材の薄膜15の形成及び強磁性体21の被@
を第1寅施例と同様な手順で行なった後、この試料を第
3図に示したような容器33中に浸漬する。第3図に示
すように、試料35は磁石37の間になるように溶解液
31中に浸漬するのが好適である。配線クズ39はこれ
ら磁石37に直接に半固定される。
上述においては、この発明のパタン形成方法の実施例に
ついて説明したが、この発明は上述の実施例に限られる
ものではない。
例えば、上述の実施例ではリフトオフ用パタンの形成材
をレジストとしていたが他の材料でも勿論良い。
また、上述の実施例では配線パタンを形成する例であっ
たが、配線パタン以外のパタン形成にもこの発明が適用
出来ることは明らかである。
また、被パターニング材がそもそも強磁性を有する場合
は、強磁性体の被着を省略出来る。
(発明の効果) 上述した説明からも明らかなように、この発明のパタン
形成方法によれば、リフトオフ法によりバターニングさ
れる被バターニング材に強磁性体を被着させることによ
つ強磁性を付与し、かつ、リフトオフを磁場を印加した
状態で行なうので、被バターニング材の、リフトオフに
より下地から剥離された部分は、磁場の作用により例え
ば磁石側に引かれ特定領域に集合することとなる。この
ため、被バターニング材の、リフトオフにより下地から
剥離された部分がリフトオフ用パタンの溶解液中に浮遊
することがなくなるので、これが下地に再付着すること
を防止出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)〜(E)は、実施例の説明に供する工程図
、 第2図は、第1寅施例の説明に供する図、第3図は、第
2寅施例の説明に供する図、第4図(A)〜(D)及び
第5図は、従来技術の説明に供する図である。 11・・・下地(例えば半導体基板) 13・・・リフトオフ用パタン形成材(例えばレジスト
) 13a・・・リフトオフ用パタン(例えばレジストパタ
ン) 15・・・被バターニング材の薄膜 15a・・・被バターニング材のパタン15x・・・薄
膜の薄い部分、21・・・強磁性体31・・・リフトオ
フ用パタンの溶解液(例えばアセトン) 33・・・容器 35・・・強磁性体被着済みの下地 37・・・磁石 39・・・被バターニング材のリフトオフされた部分(
例えば配線クズ)。 特許出頼人   沖電気工業株式会社 3a 15  被バターニング材の薄膜(例えば配線素材の薄
膜)21・強磁性体 実施例の説明に供する工程図 第1図 15a被バターニング材のパタン 実施例の説明に供する工程図 第1図 311ノフトオフ用パタンの溶解液(例えばアセトン)
39  被バターニング材のり71〜オフされた部分(
例えば配線クズ)第2図 第2笑施例の説明に供する図 第3図 13  リフトオフ用パタン形成材(例えばレジスト)
従来技術の説明に供する図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)下地上にリフトオフ用パタンを形成し、該リフト
    オフ用パタン形成済みの下地上に被パターニング材の薄
    膜を形成し、該薄膜形成済み下地をリフトオフ用パタン
    の溶解液中に浸漬して当該下地から前記リフトオフ用パ
    タン及び該パタン上の被パターニング材部分を除去し、
    前記下地上に前記被パターニグ材のパタンを形成する方
    法において、 以下の、[a]、[b]及び[c]の工程の少なくとも
    1つの工程中で、当該下地に強磁性体を被着させ、強磁
    性体被着済み前記下地をリフトオフ用パタン溶解液中に
    浸漬してリフトオフ用パタン及び該パタン上の被パター
    ニング材部分を除去することを、磁場を印加した状態で
    行なうこと を特徴とするパタン形成方法。 [a]・・・リフトオフ用パタン形成後であって被パタ
    ーニング材の薄膜形成前の工程。 [b]・・・被パターニング材の薄膜を形成する工程。 [c]被パターニング材の薄膜形成前であって該薄膜形
    成済みの下地をリフトオフ用の溶解 液中に浸漬する前の工程。
JP30908890A 1990-11-15 1990-11-15 パタン形成方法 Pending JPH04180228A (ja)

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