JPH04177820A - 真空度調整機構 - Google Patents

真空度調整機構

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Publication number
JPH04177820A
JPH04177820A JP30692190A JP30692190A JPH04177820A JP H04177820 A JPH04177820 A JP H04177820A JP 30692190 A JP30692190 A JP 30692190A JP 30692190 A JP30692190 A JP 30692190A JP H04177820 A JPH04177820 A JP H04177820A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vacuum
gate valve
differential pressure
valve
vacuum vessels
Prior art date
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Pending
Application number
JP30692190A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitobumi Fujita
藤田 仁文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Yamaguchi Ltd
Original Assignee
NEC Yamaguchi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は複数の真空容器より構成された半導体製造装置
の真空度調整機構に関し、特に異なる真空容器間の圧力
を調整する機構に間する。
〔従来の技術〕
従来、この種の半導体製造装置における真空度調整機構
は、独立した真空容器をそれぞれ独立したポンプにより
真空引きを行い、真空容器間のウェーハを通過させるた
めのゲートバルブを開く際には、再真空容器内の圧力を
それぞれの真空容器にとりつけられた真空計又は圧力セ
ンサーによって検知し、差圧のなくなった時点でゲート
バルブを開けるようになっている。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記した従来の半導体装置の真空度調整機構では、それ
ぞれの真空容器を別々の真空計又は圧力センサーで監視
しているので、誤差等によってゲートバルブを開けてし
まった際には、ある程度の差圧が真空容器間に発生し、
この差圧による反応性ガスの巻き込み、ごみの巻き上げ
等が発生するという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明による半導体製造装置の真空度調整機構は、相互
に接続された真空容器間に、ウェーハを通過させるため
のゲートバルブとは別に設けたバイパス配管と、このバ
イパス配管の途中に設けられ両翼空容器間の差圧を検知
するための機構とを備えている。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の実施例1の構成図である。ポンプ4,
5が接続された真空容器1,2間に、バルブ7を介して
バイパス配管6を設け、真空容器1.2閏の圧力差を圧
力差検知器8で測定し、その値を電気信号で電磁弁9に
伝え、ある圧力差に到達したところでバルブ7を開とす
ることによって真空容器1.2の圧力を同一圧力とし、
次いでゲートバルブ3を開とすることにより、圧力差に
より生じるごみの巻き上げを防止する効果がある。
第2図はバイパス配管6に差圧センサー10を設けた実
施例2の構成図である。これにより、従来各真空容器に
各々真空計又は差圧センサーが1個必要たったのに対し
、本実施例においては差圧センサー10だけでゲートバ
ルブ3の開閉の基準となり、各真空計又は圧力センサー
の誤差によって生じる差圧に起因したごみの巻き上げを
防止する効果がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、真空容器面に設けたバイ
パス配管の途中に両翼空容器間の差圧を検知する機構を
有するので、ゲートバルブを開ける際、差圧による反応
性ガスの巻き込み、ごみの巻き上げを防止する効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例1の構成図、第2図は実施例2
の構成図である。 1.2・・・真空容器、3・・・ゲートバルブ、4.5
・・・ポンプ、6・・・バイパス配管、7・・・バルブ
、8、・、圧力差検知器、9・・・電磁弁、10・・・
差圧センサー 。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  それぞれ独立した排気系と吸気系及び圧力計を持ちウ
    ェーハを通過させるためのゲートバルブによつて相互に
    接続された真空容器を備え、この真空容器間の差圧がな
    くなった時点で前記ゲートバルブを開くように構成され
    た半導体製造装置における真空度調整機構において、相
    互に接続された真空容器間にゲートバルブとは別に設け
    られたバイパス配管と、このバイパス配管の途中に前記
    真空容器間の圧力差を検知する機構とを有することを特
    徴とする真空度調整機構。
JP30692190A 1990-11-13 1990-11-13 真空度調整機構 Pending JPH04177820A (ja)

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JPH04177820A true JPH04177820A (ja) 1992-06-25

Family

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010040623A (ja) * 2008-08-01 2010-02-18 Tokyo Electron Ltd 圧力調整装置、これを用いた処理システム及び圧力調整方法
JP2010067992A (ja) * 2003-06-02 2010-03-25 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置及び基板搬送方法

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