JPH04167470A - 固体撮像素子、固体撮像素子の製造方法及び駆動方法 - Google Patents

固体撮像素子、固体撮像素子の製造方法及び駆動方法

Info

Publication number
JPH04167470A
JPH04167470A JP2294184A JP29418490A JPH04167470A JP H04167470 A JPH04167470 A JP H04167470A JP 2294184 A JP2294184 A JP 2294184A JP 29418490 A JP29418490 A JP 29418490A JP H04167470 A JPH04167470 A JP H04167470A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coupled device
charge
channel
solid
horizontal charge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2294184A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2671597B2 (ja
Inventor
Shigeru Toyama
茂 遠山
Kazuo Konuma
和夫 小沼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2294184A priority Critical patent/JP2671597B2/ja
Publication of JPH04167470A publication Critical patent/JPH04167470A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2671597B2 publication Critical patent/JP2671597B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、2次元像情報を時系列電気信号に変換する固
体撮像素子、固体撮像素子の製造方法及び駆動方法に関
する。
(従来の技術) 従来、2次元像情報を時系列電気信号に変換す固体撮像
素子においては、垂直電荷結合素子のチャネルの不純物
濃度と、水平電荷結合素子の少なくとも蓄積領域となる
チャネルの不純物濃度とが同一になっていた。
(発明が解決しようとする課題) 電荷結合素子の単位面積当たりの最大電荷蓄積容量はチ
ャネルの不純物濃度に依存し、高濃度になるほど大きく
なる。一方、添加不純物のイオン化が100%と見なせ
なくなる温度では転送効率の劣化現象が生しるが、この
劣化現像はチャネルの不#tA物濃度が高濃度になるほ
ど、また電荷結合素子の駆動周波数が高くなるほど類著
となる。
二次元固体撮像素子にはダイナミックレンジが大きいこ
とが要求されるから、扱い得る信号量が多いことが望ま
れる。また二次元固体撮像素子における垂直電荷結合素
子には面積的制約があるから、単位面積当たりの最大電
荷蓄積容量が大きいことが要求される6垂直電荷結合素
子においては、上述した転送効率の劣化現象が検知され
るほどその駆動周波数が高くないがら、チャネルの不純
物濃度を高濃度にした方が高性能となる。
一方、水平電荷結合素子は、垂直電荷結合素子のような
面積的制約がないうえ、水平電荷結合素子全段の転送期
間が垂直電荷結合素子1段の転送期間に相当するほどそ
の駆動周波数が高く、転送効率の劣化現象が生じゃすい
から、チャネルの不純物濃度を低濃度にし、チャネル幅
を大きく取った方が有利である。
このように、垂直電荷結合素子と水平電荷結合素子とで
はチャネルの不純物濃度の適正量が興なるにもかかわら
ず、従来の固体撮像素子では垂直電荷結合素子と水平電
荷結合素子のチャネル不純物濃度が同一であるから、チ
ャネル不純物濃度を高くした場合にはダイナミックレン
ジを大きくできるが冷却したときに水平電荷結合素子に
おいて信号転送不良が生じるという問題があり、逆にチ
ャネル不純物濃度を低くした場合には冷却しても水平電
荷結合素子における信号転送不良は生じないがダイナミ
ックレンジを大きくできないという間趙があった。
(課題を解決するための手段) 本発明の第1の固体撮像素子は、垂直電荷結合素子と水
平電荷結合素子の組み合わせにより、二次元情報の光信
号電荷を時系列信号として出力する固体撮像索子であっ
て、前記垂直電荷結合素子のチャネルの不純物濃度が、
前記水平電荷結合素子の少なくとも蓄積領域となるチャ
ネルの不純物濃度より高いことを特徴とする。
本発明の第2の固体撮像素子は、前述の第1の固体撮像
索子であって、前記垂直電荷結合素子には、前記水平電
荷結合素子との結合部に前記水平電荷結合素子との間の
ゲート電極とは別に、独立に電圧を印加することができ
る転送電極が1つ設けてあり、該独立した転送電極下の
チャネルの不純物濃度は前記水平電荷結合素子のチャネ
ルの不純物濃度と同一であることを特徴とする。
本発明の第1の固体撮像索子のl!!造方法は、前述の
第2の固体撮像素子の製造方法であって、前記垂直電荷
結合素子及び水平電荷結合素子のチャネルに前記水平電
荷結合素子に適した量の不純物を添加し、前記垂直電荷
結合素子に独立した転送電極を形成した後、前記独立し
た転送電極をイオン注入マスクの一部として前記垂直電
荷結合素子のチャネルに不純物をその総量が前記垂直電
荷結合素子に適した量となるように添加することを特徴
とする。
本発明の第1の固体撮像素子の駆動方法は、前述の第2
の固体撮像素子の駆動方法であって、前記垂直電荷結合
素子の独立した転送電極下のチャネルを障壁領域として
働がせる場合には、前記独立した転送電極下のチャネル
電位深さが前記垂直電荷結合素子の他の転送電極下のチ
ャネルを障壁領域として働かせる場合のチャネル電位深
さより少なくとも浅くならないレベルの電圧を前記独立
した転送電極に印加することを特徴とする。
本発明の第3の固体撮像素子は、前述の第1の固体撮像
素子であって、前記垂直電荷結合素子には、前記水平電
荷結合素子との結合部に前記水平電荷結合素子との間の
ゲート電極とは別に、独立に電圧を印加することができ
る転送電極が2つ設けてあり、該2つの独立した転送電
極のうちの前記水平電荷結合素子側の転送を極上のチャ
ネルの不純物濃度は前記水平電荷結合素子のチャネルの
不純物濃度と同一であることを特徴とする。
本発明の第2の固体撮像素子の製造方法は、前述の第3
の固体撮像素子の製造方法であって、前記垂直電荷結合
素子及び水平電荷結合素子のチャネルに前記水平電荷結
合素子に適した量の不純物を添加し、前記独立した2つ
の転送電極が形成される領域の独立した2つの転送電極
の境となる位置にエツジを有し前記水平電荷結合素子の
チャネルと水平電荷結合素子側の独立した転送電極下の
チャネルを覆うイオン注入マスクを用いて、前記垂直電
荷結合素子のチャネルに不純物をその総量が前記垂直電
荷結合素子に適した量となるように添加し、その後前記
垂直電荷結合素子及び前記水平電荷結合素子に転送!極
をそれぞれ形成することを特徴とする。
本発明の第2の固体撮像素子の駆動方法は、前述の第3
の固体撮像素子の駆動方法であって、前記垂直電荷結合
素子の独立した2つの転送電極下のチャネル電位がどち
らも深い状態から前記水平電荷結合素子から遠い側の前
記独立した転送電極下のチャネル電位のみが浅い状態に
なる際には、少なくとも前記独立した2つの転送電極下
のどちらのチャネル電位にも電位のピークまたはディッ
プが生じないだけの印加電圧差を前記独立した2つの転
送電極間に与え、前記水平電荷結合素子から遠い側の前
記独立した転送電極下のチャネル電位が浅く前記水平電
荷結合素子側の前記独立した転送!極上のチャネル電位
が深い状態から前記水平電荷結合素子側の独立した転送
電極下のチャネル電位が浅くなる際には、少なくとも前
記水平電荷結合素子側の独立した転送電極下のチャネル
電位にディップが生じないだけの印加電圧差を前記独立
した2つの転送電極間に保持することを特徴とする。
(作用) 本発明の第1の固体撮像素子では、垂直電荷結合素子と
水平電荷結合素子のチャネルの不純物濃度が事なり、垂
直電荷結合素子のチャネルの不純物濃度が水平電荷結合
素子のチャネルの不純物濃度より高くなっているから、
垂直電荷結合素子において単位面積当たりの最大電荷蓄
積容量を大きくできると同時に、水平電荷結合素子にお
ける冷却時の転送効率劣化の問題を取り除くことができ
る。
ただし、第8図に示すようにチャネル電位は任意のゲー
ト電圧に対してチャネル不純物濃度が高いほど深くなる
特性を有するから、垂直電荷結合素子のチャネルの不純
物濃度が水平電荷結合素子のチャネルの不純物濃度より
高くなっている場合、垂直電荷結合素子と水平電荷結合
素子との接続部分に電位のバリアが発生し易く、転送不
良を招く危険がある。また、チャネル不純物濃度が変化
する境界線とその上の電極との相対位置に起因して電位
のピークまたはディップが生ずることもある。
従って、本発明はこれら新たに発生する問題の解決を図
った固体撮像素子の構造、製造方法及び駆動方法を提供
するのである。
本発明の第2の固体撮像素子は、垂直電荷結合素子の水
平電荷結合素子との結合部に、水平電荷結合素子との間
のゲート電極とは別に、独立に電圧を印加することがで
きる転送電極が1つ設けてあり、その独立した転送電極
下のチャネルの不純物濃度が水平電荷結合素子のチャネ
ルの不純物濃度と同一になっている。従って、独立した
転送電極には、その下のチャネル電位が垂直電荷結合素
子における他の独立でない転送電極下のチャネル電位と
同程度になるような電圧を加えることもできる。
本発明の第1の固体撮像素子の製造方法は、垂直電荷結
合素子及び水平電荷結合素子のチャネルに水平電荷結合
素子に適した量の不純物を添加し、垂直電荷結合素子に
独立した転送電極を形成した後、その独立した転送電極
をイオン注入マスクの一部として垂直電荷結合素子のチ
ャネルに不純物をその総量が垂直電荷結合素子に適した
量となるように添加する。従って、この製造方法では、
チャネルの不純物!+1が高い領域と低い領域とを完全
に隣り合わせに形成できると同時に、チャネルの不純物
濃度が変化する境界線を独立した転送電極の端と完全に
一致させることができ、電位のピークやディップの発生
を防ぐことができる。
本発明の第1の固体撮像素子の駆動方法は、垂直電荷結
合素子の独立した転送電極下のチャネル電位が、その独
立した転送電極下のチャネルを障壁領域として働かせる
場合及び蓄積領域として働かせる場合に、それぞれ垂直
電荷結合素子の他の転送電極下のチャネルを障壁領域及
び蓄積領域として働かせる場合のチャネル電位深さより
少なくとも浅くならないレベルの電圧をその独立した転
送電極に印加するから、信号電荷の逆戻し現象が発生す
ることはなく、良好な電荷転送ができる。
本発明の第3の固体撮像素子は、垂直電荷結合素子の水
平電荷結合素子との結合部に、水平電荷結合素子との間
のゲート電極とは別に、独立に電圧を印加することがで
きる2つの転送電極が設けてあり、その2つの独立した
転送電極のうち水平電荷結合素子側の独立した転送電極
下のチャネルの不純物濃度が水平電荷結合素子のチャネ
ルの不純物濃度と同一になっており、本発明の第2の固
体撮像素子と同様に、水平電荷結合素子側に設けである
独立した転送電極には、その下のチャネル電位が垂直電
荷結合素子における他の独立でない転送tS下のチャネ
ル電位と同程度になるような電圧を加えることができる
。さらに、もう一つの独立した転送電極に転送がスムー
スとなるような補助的動作をさせることができる。
本発明の第2の固体撮像素子の製造方法は、垂直電荷結
合素子及び水平電荷結合素子のチャネルに、水平電荷結
合素子に適した量の不純物を添加し、独立した2つの転
送電極が形成される領域の独立した2つの転送電極の境
となる位置にエツジを有し水平電荷結合素子のチャネル
と水平電荷結合素子側の独立した転送電極下のチャネル
を覆うイオン注入マスクを用いて、垂直電荷結合素子の
チャネルに不純物をその総量が垂直電荷結合素子に適し
た量となるように添加し、その後垂直電荷結合素子及び
水平電荷結合素子の転送電極を形成するから、チャネル
の不純物濃度が高い領域と低い領域とを完全に隣り合わ
せに形成することができ、本発明の第1の固体撮像素子
の製造方法と比較すると、マスク工程を一回少なくする
ことができる利点がある。反面、チャネルの不純物濃度
が変化する境界線を独立した2つの転送電極の隣接位置
と厳密に一致させることができないが、このズレに起因
する電位のピークまたはディップは独立した2つの転送
電極の操作で消滅させることが可能である。
前述の電位のピークまたはディップが問題になるのは、
垂直電荷結合素子の独立した2つの転送電極下のチャネ
ル電位がどちらも深い状態から水平電荷結合素子から遠
い側の独立した転送電極下のみ浅い状態になる際、及び
水平電荷結合素子から遠い側の独立した転送電極下のチ
ャネル電位が浅く水平電荷結合素子側の独立した転送電
極下のチャネル電位が深い状態から水平電荷結合素子側
の独立した転送電極下のチャネル電位が浅い状態になる
際であるが、本発明の第2の固体撮像素子の駆動方法で
は、前者のタイミングにおいては少なくとも独立した2
つの転送電極下のどちらのチャネル電位にも電位のピー
クまたはディップが生じないだけの印加電圧差をその独
立した2つの転送電極に与え、後者のタイミングにおい
ては少なくとも水平電荷結合素子側の独立した転送電極
下のチャネル電位にディップが生じないだけの印加電圧
差をその独立した2つの転送を極間に保持するから、転
送不良を防ぐことができる。
(実施例) 次に本発明の実施例について図面を用いて詳細に説明す
る。
第1図は本発明の第1の固体撮像素子の一実施例の模式
的構成図である0本実施例は、インターライン転送方式
の電荷結合素子型固体撮像素子である。
半導体チップ上に光電変換素子1が二次元に配置されて
おり、それぞれの列にチャネル不純物濃度が高い垂直電
荷結合素子2が1本ずつ対応して設けられている。これ
ら二次元に配置された光電変換素子1と列に並べられた
垂直電荷結合素子2とからイメージ領域が構成され、そ
の下にチャネル不純物濃度が低い水平電荷結合素子3が
設けられている。水平電荷結合素子3の出力端に引き続
いて出力部4が設けられている。
この第1図の実施例はインターライン転送方式であるが
、本発明はフレーム転送方式の電荷結合素子型固体撮像
素子にも適用できる。
第2図は本発明の第2の固体撮像素子の一実施例の模式
的断面図である。垂直電荷結合素子は4相駆動力式で描
かれている。
P型S1基板5の表面に不純物濃度が高いn型チャネル
6及び不純物濃度が低いn型チャネル7が設けられてい
る。それらのチャネルと対向する形で、5i02WA8
を介して垂直電荷結合素子の転送電極9a〜9k、ゲー
ト電極10及び水平電荷結合素子の転送電極11が設け
られている。独立した転送電極φV4’9kが、独立し
ていない転送電極φVs9Jとゲート電極φVi、10
との間に設けられている。不純物濃度が高いn型チャネ
ル6と不純物濃度が低いn型チャネル7との境が、独立
していない転送電極φVs9Jと独立した転送電極φV
、’9にとの境の位置と一致している。
第3図は本発明の第1の固体撮像素子の製造方法の一実
施例を説明する製造工程図である。この製造方法は、第
2図の実施例をより高精度に製造するためのものである
下地形成工程によりp型St基板5にp+型チャネル阻
止領域12や厚いS i 02膜を介してすンイオン1
3を注入して不純物濃度が低いn型チャネル7を形成す
る(第3図(a))。垂直電荷結合素子に独立した転送
電極9kを、水平電荷結合素子に一層目の転送電極11
をそれぞれ形成し、その独立した転送電極9にの途中ま
でをフォトレジストマスク14で覆う、ここで、さらに
リンイオン15を注入して不純物濃度が高いn型チャネ
ル7を形成する(第3図(b))。その後、垂直電荷結
合素子に、垂直電荷結合素子の独立した転送電極9k及
び水平電荷結合素子の一層目の転送電極11と同じ層と
なる独立していない転送電極9a、9c、9e、9g、
9iを形成する(第3図(C))。次に、垂直電荷結合
素子に、二層目の独立していない転送電!!9b、9d
、9f、9h、9j及びゲート電極10を、水平電荷結
合素子に二層目の転送電極(第3図には記述されていな
い)をそれぞれ形成することにより垂直・水平電荷結合
素子の電極が全て形成される(第3図(d))。
第4図は本発明の第1の固体撮像素子の駆動方法の一実
施例を説明する電位井戸図である。本図には対応する模
式的段面構造図を合わせて示しである。
電荷の蓄積は常に2つの転送電極を1単位として行う。
電荷の転送は、電荷を蓄積している2つの転送電極のう
ちの水平電荷結合素子側(右側)のバリアとして動作し
ている転送電極下のチャネル電位を深くすると同時に、
水平電荷結合素子から違い側(左側)の電荷を蓄積して
いる転送電極下のチャネル電位を浅くすることにより順
次に行う。独立した転送電[iQk下のチャネル電位は
、チャネル不純物濃度が低いから、他の転送電極と同じ
電圧を印加したのでは第8図に示すBの特性のようにチ
ャネル電位が浅く、蓄積容量が低かったり、または転送
の際に電荷が逆流する危険がある。そこで本実施例では
、独立した転送電極9kが第4図(e)のように蓄積領
域として動作するときには、独立した転送電極9に下の
チャネル電位が独立していない転送電極9j下のものよ
り深くなる電圧を独立した転送電極9kに印加し、第4
(g)〜(i)のようにチャネル電位を浅くしていって
電荷を転送する際には、独立した転送電極9にの印加電
圧の変化は独立していない転送電極9j下のチャネル電
位と同レベルとなる電圧までにとどめる。
第8図を用いて例を示すと、例えば独立していない転送
電極をa−brWlで駆動するならば、独立した転送電
極はc−d間で駆動する。
第5図は本発明の第3の固体撮像素子の一実施例の模式
的断面図である。垂直電荷結合素子は4相駆動力式で描
かれている。
p型Si基板17の表面に不純物濃度が高いn型チャネ
ル18及び不純物濃度が低いn型チャネル19が設けら
れている。それらのチャネルと対向する形で、S i 
O2M20を介して垂直電荷結合素子の転送を極21a
 〜21k、ゲート電[!22及び水平電荷結合素子の
転送電極23が設けられている。独立した転送tf!φ
Vi’21j及びφV4°21kが、独立していない転
送で電極φV、21fとゲートを極φV、22との間に
設けられている。不純物濃度が高いn型チャネル18と
不純物濃度が低いn型チャネル19との境が、独立な転
送電極φV)’21JとφV4’21にとの境の位置と
一致している。
第6図は本発明の第2の固体撮像素子の製造方法の一実
施例を説明する製造工程図である。この製造方法は、第
5図の実施例を効率良く製造するためのものである。下
地形成工程によりP型Si基板17にP′″型チャネル
阻止領域24や厚いS i O2膜などを形成した後、
薄いSin、膜を介してリンイオン25を注入して不純
物濃度が低いn型チャネル19を形成する(第6図(a
))。
垂直電荷結合素子に形成する独立した転送電極のうちの
φv、°電極21に下に当たるチャネルまでをフォトレ
ジストマスク26で覆い、再びリンイオン27を注入し
て不純物濃度が高いn型チャネル18を形成する(第6
図(b))、その後、垂直電荷結合素子に一層目の転送
電極21a、21c、21e、21g、211.21k
を水平電荷結合素子に一層目の転送電極23をそれぞれ
形成しく第6図(C))、それから垂直電荷結合素子に
二層目の転送電極21b、21d、21f。
21h、21jとゲート電極22とを、水平電荷結合素
子に二層目の転送電極(第6図には記述されていない)
をそれぞれ形成することにより垂直・水平電荷結合素子
の電極が全て形成される(第6図(d))。
第7図は本発明の第2の固体撮像素子の駆動方法の一実
施例を説明する電位井戸図である。本図には対応する模
式的段面構造図を合わせて示しである。
電荷の蓄積及び転送については第4図の実施例と同様に
行う。電荷の蓄積は常に2つの転送電極を1単位として
行い、電荷転送は電荷を蓄積している2つの転送電極の
うちの水平電荷結合素子側(右rs>のバリアとして動
作している転送電極下のチャネル電位を深くすると同時
に、水平電荷結合素子から遠い側(左側)の電荷を蓄積
している転送電極下のチャネル電位を浅くすることによ
り順次に行う。独立した転送電極φ□Vi’21j及び
φV<’21にの隣接位置とチャネルの不純物濃度が変
化する境界線とが厳密に一致していないことに起因する
電位のピークまたはディップは、転送不良の原因となる
から、第7図(g)〜(i)に示すように独立した転送
電極φV<’21に下のチャネル電位を浅くしていって
蓄積されている電荷を転送する際にも電位のピークまた
はディップが消失するだけの電位差がφV4’21jと
φV4’21にの下のチャネルに残るように、独立した
転送電極φv、’21j及びφV4’21kを駆動する
(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば、垂直電荷結合素
子において単位面積当たりの最大電荷蓄積容量を大きく
できると同時に、水平電荷結合素子における冷却時の転
送効率劣化の問題を取り除くことができ、さらには垂直
電荷結合素子のチャネル不純物濃度を水平電荷結合素子
のチャネル不純物濃度より高くしたことに起因する垂直
電荷結合素子と水平電荷結合素子との接続部分における
電位のバリアや、チャネル不純物濃度が変化する境界線
とその上の電極との相対位置に起因する電位のピークま
たはディップを抑制できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の固体撮像素子の一実施例の模式
的構成図、第2図は本発明の第2の固体撮像素子の一実
施例の模式的断面図、第3図は本発明の第1の固体撮像
素子の製造方法の一実施例を説明する製造工程図、第4
図は本発明の第1の固体撮像素子の駆動方法の一実施例
を説明する電位井戸図、第5図は本発明の第3の固体撮
像素子の一実施例の模式的断面図、第6図は本発明の第
2の固体撮像素子の製造方法の一実施例を説明する製造
工程図、第7図は本発明の第2の固体撮像素子の駆動方
法の一実施例を説明する電位井戸図、第8図は埋め込み
チャネル型電荷結合素子のチャネル電位特性図である。 1・・・光電変換素子、2・・・チャネル不純物濃度が
高い垂直電荷結合素子、3・・・チャネル不純物濃度が
低い水平電荷結合素子、4・・・出力部、5,17・・
・P型Si基板、6,18・・・不純物濃度が高いn型
チャネル、7,19・・・不純物濃度が低いn型チャネ
ル、8,20・=S i 021!R59a、9b、9
c、9d、9e、9f、9g、9h、9i、9J+21
a、21b、21c、21ci、21e、21f、21
g、21h、21i・・・垂直電荷結合素子の独立して
いない転送電極、9に、21k・・・垂直電荷結合素子
の独立した転送電極φV4 ’ 、 10゜22・・・
ゲート電極、11.23・・・水平電荷結合素子の転送
電極、12.24・・・p+型チャネル阻止領域、13
.15,25.27・・・リンイオン、14.26・・
・フォトレジストマスク、16.28・・・信号電荷、
21j・・・垂直電荷結合素子の独立した転送電極φV
3′。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)垂直電荷結合素子と水平電荷結合素子の組み合わ
    せにより、二次元情報の光信号電荷を時系列信号として
    出力する固体撮像素子において、前記垂直電荷結合素子
    のチャネルの不純物濃度が、前記水平電荷結合素子の少
    なくとも蓄積領域となるチャネルの不純物濃度より高い
    ことを特徴とする固体撮像素子。
  2. (2)前記垂直電荷結合素子には、前記水平電荷結合素
    子との結合部に前記水平電荷結合素子との間のゲート電
    極とは別に、独立に電圧を印加することができる転送電
    極が1つ設けてあり、該独立した転送電極下のチャネル
    の不純物濃度は前記水平電荷結合素子のチャネルの不純
    物濃度と同一であることを特徴とする請求項1に記載の
    固体撮像素子。
  3. (3)請求項2に記載の固体撮像素子を製造する方法で
    あって、前記垂直電荷結合素子及び水平電荷結合素子の
    チャネルに前記水平電荷結合素子に適した量の不純物を
    添加し、前記垂直電荷結合素子に独立した転送電極を形
    成した後、前記独立した転送電極をイオン注入マスクの
    一部として前記垂直電荷結合素子のチャネルに不純物を
    その総量が前記垂直電荷結合素子に適した量となるよう
    に添加することを特徴とする固体撮像素子の製造方法。
  4. (4)請求項2に記載の固体撮像素子を駆動する方法で
    あって、前記垂直電荷結合素子の独立した転送電極下の
    チャネルを障壁領域として働かせる場合には、前記独立
    した転送電極下のチャネル電位深さが前記垂直電荷結合
    素子の他の転送電極下のチャネルを障壁領域として働か
    せる場合のチャネル電位深さより少なくとも浅くならな
    いレベルの電圧を前記独立した転送電極に印加すること
    を特徴とする固体撮像素子の駆動方法。
  5. (5)前記垂直電荷結合素子には、前記水平電荷結合素
    子との結合部に前記水平電荷結合素子との間のゲート電
    極とは別に、独立に電圧を印加することができる転送電
    極が2つ設けてあり、該2つの独立した転送電極のうち
    の前記水平電荷結合素子側の転送電極下のチャネルの不
    純物濃度は前記水平電荷結合素子のチャネルの不純物濃
    度と同一であることを特徴とする請求項1に記載の固体
    撮像素子。
  6. (6)請求項5に記載の固体撮像素子を製造する方法で
    あつて、前記垂直電荷結合素子及び水平電荷結合素子の
    チャネルに前記水平電荷結合素子に適した量の不純物を
    添加し、前記独立した2つの転送電極が形成される領域
    の独立した2つの転送電極の境となる位置にエッジを有
    し前記水平電荷結合素子のチャネルと水平電荷結合素子
    側の独立した転送電極下のチャネルを覆うイオン注入マ
    スクを用いて、前記垂直電荷結合素子のチャネルに不純
    物をその総量が前記垂直電荷結合素子に適した量となる
    ように添加し、その後前記垂直電荷結合素子及び前記水
    平電荷結合素子に転送電極をそれぞれ形成することを特
    徴とする固体撮像素子の製造方法。
  7. (7)請求項5に記載の固体撮像素子を駆動する方法で
    あつて、前記垂直電荷結合素子の独立した2つの転送電
    極下のチャネル電位がどちらも深い状態から前記水平電
    荷結合素子から遠い側の前記独立した転送電極下のチャ
    ネル電位のみが浅い状態になる際には、少なくとも前記
    独立した2つの転送電極下のどちらのチャネル電位にも
    電位のピークまたはディップが生じないだけの印加電圧
    差を前記独立した2つの転送電極間に与え、前記水平電
    荷結合素子から遠い側の前記独立した転送電極下のチャ
    ネル電位が浅く前記水平電荷結合素子側の前記独立した
    転送電極下のチャネル電位が深い状態から前記水平電荷
    結合素子側の独立した転送電極下のチャネル電位が浅く
    なる際には、少なくとも前記水平電荷結合素子側の独立
    した転送電極下のチャネル電位にディップが生じないだ
    けの印加電圧差を前記独立した2つの転送電極間に保持
    することを特徴とする固体撮像素子の駆動方法。
JP2294184A 1990-10-30 1990-10-30 固体撮像素子、固体撮像素子の製造方法及び駆動方法 Expired - Lifetime JP2671597B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2294184A JP2671597B2 (ja) 1990-10-30 1990-10-30 固体撮像素子、固体撮像素子の製造方法及び駆動方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2294184A JP2671597B2 (ja) 1990-10-30 1990-10-30 固体撮像素子、固体撮像素子の製造方法及び駆動方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04167470A true JPH04167470A (ja) 1992-06-15
JP2671597B2 JP2671597B2 (ja) 1997-10-29

Family

ID=17804402

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2294184A Expired - Lifetime JP2671597B2 (ja) 1990-10-30 1990-10-30 固体撮像素子、固体撮像素子の製造方法及び駆動方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2671597B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04225562A (ja) * 1990-12-27 1992-08-14 Matsushita Electron Corp 固体撮像装置とその製造方法
JPH08274293A (ja) * 1995-03-31 1996-10-18 Nec Corp 固体撮像装置
JPH0982935A (ja) * 1995-09-12 1997-03-28 Lg Semicon Co Ltd 固体撮像素子の構造
US5635738A (en) * 1993-12-21 1997-06-03 Nikon Corporation Infrared solid-state image sensing apparatus
US6621109B1 (en) * 1999-08-17 2003-09-16 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. Charge coupled device with split channeled HCCD
WO2013008405A1 (ja) * 2011-07-12 2013-01-17 パナソニック株式会社 固体撮像装置
CN103094299A (zh) * 2013-01-22 2013-05-08 南京理工大学 具有亚微米级间隙的高效电荷转移寄存器及其制备工艺

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6327056A (ja) * 1986-07-21 1988-02-04 Toshiba Corp 電荷転送デバイス

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6327056A (ja) * 1986-07-21 1988-02-04 Toshiba Corp 電荷転送デバイス

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04225562A (ja) * 1990-12-27 1992-08-14 Matsushita Electron Corp 固体撮像装置とその製造方法
US5635738A (en) * 1993-12-21 1997-06-03 Nikon Corporation Infrared solid-state image sensing apparatus
JPH08274293A (ja) * 1995-03-31 1996-10-18 Nec Corp 固体撮像装置
JPH0982935A (ja) * 1995-09-12 1997-03-28 Lg Semicon Co Ltd 固体撮像素子の構造
US6621109B1 (en) * 1999-08-17 2003-09-16 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. Charge coupled device with split channeled HCCD
WO2013008405A1 (ja) * 2011-07-12 2013-01-17 パナソニック株式会社 固体撮像装置
CN103094299A (zh) * 2013-01-22 2013-05-08 南京理工大学 具有亚微米级间隙的高效电荷转移寄存器及其制备工艺

Also Published As

Publication number Publication date
JP2671597B2 (ja) 1997-10-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3932399B2 (ja) パンチスルー電圧とフォトダイオードの集電量を増加させることのできるcmosイメージセンサ及びその製造方法
JP5768309B2 (ja) 電荷積分法を用いたマルチリニアイメージセンサ
JPH10144906A (ja) 固体撮像素子およびその駆動方法
JPH04167470A (ja) 固体撮像素子、固体撮像素子の製造方法及び駆動方法
JP2812310B2 (ja) 固体撮像装置及びその製造方法
US8525242B2 (en) Solid-state image pickup device and driving method of solid-state image pickup device
JP2812003B2 (ja) 固体撮像素子及びその駆動方法
CN100527429C (zh) Cmos图像传感器及其制造方法
JP3718103B2 (ja) 固体撮像装置とその駆動方法、およびこれを用いたカメラ
JP4049248B2 (ja) 固体撮像装置
JP2909158B2 (ja) 電荷結合装置
US10217784B2 (en) Isolation structure and image sensor having the same
JPH0425714B2 (ja)
JPH11195779A (ja) カラーリニアイメージセンサおよびその駆動方法
JP3047965B2 (ja) 固体撮像装置
JPS61188965A (ja) 固体撮像装置
JP3334992B2 (ja) Ccd固体撮像装置および製造方法
JP3156779B2 (ja) 電荷転送素子及びその製造方法
JPH06339081A (ja) 固体撮像素子の駆動方法
JP2713975B2 (ja) 固体撮像装置およびその製造方法
JPH04207077A (ja) 固体撮像素子の製造方法
JPH0774336A (ja) 固体撮像素子
JP2001057423A (ja) 電荷転送装置
JP2910648B2 (ja) 固体撮像装置
JPH06291148A (ja) 電荷転送素子

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070711

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080711

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090711

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100711

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110711

Year of fee payment: 14

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110711

Year of fee payment: 14