JPH04163746A - 光学式ピックアップ - Google Patents
光学式ピックアップInfo
- Publication number
- JPH04163746A JPH04163746A JP28904890A JP28904890A JPH04163746A JP H04163746 A JPH04163746 A JP H04163746A JP 28904890 A JP28904890 A JP 28904890A JP 28904890 A JP28904890 A JP 28904890A JP H04163746 A JPH04163746 A JP H04163746A
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- light
- prism
- optical axis
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- lens
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- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 25
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims abstract description 8
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光学式ピックアップ、特に光磁気記録媒体に光
学的に各種情報を記録・再生する光学式ピックアップに
関する。
学的に各種情報を記録・再生する光学式ピックアップに
関する。
従来、この種の光学式ピックアップは、第4図および第
5図にそれぞれ平面図および側面図を示すように、半導
体レーザ1を出射した光束はコリメートレンズ2により
平行光とされた後、前方に配置されたビーム整形プリズ
ム3に入射し、半導体レーザ1のPN接合面に平行な方
向に2.5倍程度拡大され、円形光束となって第1の偏
光ビームスプリッタ4に入射する。第1の偏光ビームス
プリッタ4は半導体レーザ1からの出射の光束に対して
例えばP偏光を50%透過、S偏光を100%反射する
ような特性を持たせて配置しであるので、第1の偏光ビ
ームスプリッタ4に入射した光束はその誘電体多層膜を
コートした接合面によりP偏光は50%透過して前方に
ある第1のハーフミラ−5に入射し、さらに50%が透
過して三角プリズム8により反射され、対物レンズ7に
入射し、フォーカシング制御およびトラッキング制御さ
れながら光磁気記録媒体8上に集光される。光磁気記録
媒体8上に集光した光束は光磁気記録媒体8によって反
射され、反射光束は再び対物レンズ7を透過し三角プリ
ズム6により反射され、再び第1のハーフミラ−5に入
射する。このとき、光束は50%が透過して再び第1の
偏光ビームスプリッタ4に、残りの50%は第2の偏光
ビームスプリッタ9に入射する。第2の偏光ビームスプ
リッタ9に入射した光束は、バイアス磁界コイル19に
よって与えられた記録・消去のそれぞれの状態によって
回転された偏光面により任意の割合で透過および反射し
、透過および反射の二つの出射面の前方に配置された検
光子10および11を透過して、それぞれ第1の受光素
子12および第2の受光素子13に入力され、二つの受
光素子の作動出力により記録情報再生信号の検出を行う
。また、再び第1の偏光ビームスプリッタ4に入射した
光束は、その50%の光束が反射し平凸レンズ14によ
って集光されながら第2のハーフミラ−15に入射し、
50%は透過して2分割以上形式の第3の受光素子16
に入力され、その作動出力によりトラッキング制御を行
い、残り50%の光束は反射されて前方に配置されたナ
イフ17によりさらに50%が遮光され2分割以上形式
の第4の受光素子18に入力され、その作動出力により
フォーカシング制御を行っている。
5図にそれぞれ平面図および側面図を示すように、半導
体レーザ1を出射した光束はコリメートレンズ2により
平行光とされた後、前方に配置されたビーム整形プリズ
ム3に入射し、半導体レーザ1のPN接合面に平行な方
向に2.5倍程度拡大され、円形光束となって第1の偏
光ビームスプリッタ4に入射する。第1の偏光ビームス
プリッタ4は半導体レーザ1からの出射の光束に対して
例えばP偏光を50%透過、S偏光を100%反射する
ような特性を持たせて配置しであるので、第1の偏光ビ
ームスプリッタ4に入射した光束はその誘電体多層膜を
コートした接合面によりP偏光は50%透過して前方に
ある第1のハーフミラ−5に入射し、さらに50%が透
過して三角プリズム8により反射され、対物レンズ7に
入射し、フォーカシング制御およびトラッキング制御さ
れながら光磁気記録媒体8上に集光される。光磁気記録
媒体8上に集光した光束は光磁気記録媒体8によって反
射され、反射光束は再び対物レンズ7を透過し三角プリ
ズム6により反射され、再び第1のハーフミラ−5に入
射する。このとき、光束は50%が透過して再び第1の
偏光ビームスプリッタ4に、残りの50%は第2の偏光
ビームスプリッタ9に入射する。第2の偏光ビームスプ
リッタ9に入射した光束は、バイアス磁界コイル19に
よって与えられた記録・消去のそれぞれの状態によって
回転された偏光面により任意の割合で透過および反射し
、透過および反射の二つの出射面の前方に配置された検
光子10および11を透過して、それぞれ第1の受光素
子12および第2の受光素子13に入力され、二つの受
光素子の作動出力により記録情報再生信号の検出を行う
。また、再び第1の偏光ビームスプリッタ4に入射した
光束は、その50%の光束が反射し平凸レンズ14によ
って集光されながら第2のハーフミラ−15に入射し、
50%は透過して2分割以上形式の第3の受光素子16
に入力され、その作動出力によりトラッキング制御を行
い、残り50%の光束は反射されて前方に配置されたナ
イフ17によりさらに50%が遮光され2分割以上形式
の第4の受光素子18に入力され、その作動出力により
フォーカシング制御を行っている。
上述した従来の光学式ピックアップでは、プリズムの部
品点数が多く装置の外形が大きくなるばかりでなく、受
光素子の調整として第1の受光素子12および第2の受
光素子13、さらに第3の受光素子16および第4の受
光素子18の調整を行わなければならず、装置の組立に
多くの時間を要するという欠点がある。また、フォーカ
シング制御の検出系にナイフェツジ法を採用しているた
め、ナイフ17の調整も行わなければならないという欠
点がある。
品点数が多く装置の外形が大きくなるばかりでなく、受
光素子の調整として第1の受光素子12および第2の受
光素子13、さらに第3の受光素子16および第4の受
光素子18の調整を行わなければならず、装置の組立に
多くの時間を要するという欠点がある。また、フォーカ
シング制御の検出系にナイフェツジ法を採用しているた
め、ナイフ17の調整も行わなければならないという欠
点がある。
本発明の光学式ピックアップは、光磁気記録媒体に光学
的に各種情報を記録・再生する光学式ピックアップにお
いて、光源の半導体レーザと、この半導体レーザから出
射した光束を平行光とするコリメートレンズと、このコ
リメートレンズの前方に配置され、このコリメートレン
ズからの出射の光束を前記半導体レーザのPN接合面と
平行な方向に任意の倍率で拡大するビーム整形プリズム
と、このビーム整形プリズムに接合されその誘電体多層
膜をコートした接合面により光束のP偏光成分とS偏光
成分とを任意の割合で分割する偏光ビームスプリッタと
、この偏光ビームスプリッタに接合されこの偏光ビーム
スプリッタから前記コリメートレンズの光軸と平行に出
射した光束を前記半導体レーザのPN接合面に垂直な方
向に1゜O%反射させる三角プリズムと、この三角プリ
ズムにより反射された光束を光磁気記録媒体上に集光す
る対物レンズと光磁気記録媒体により反射され前記対物
レンズを透過し、再び前記三角プリズムにより反射され
前記偏光ビームスプリッタの誘電体多層膜をコートした
接合面により前記コリメートレンズの光軸と直交する方
向に反射された光束を集光する平凸レンズが接合され、
この平凸レンズの光軸に平行な方向に50%透過し、こ
の先軸に直交する方向に50%反射するハーフミラ−と
、このハーフミラ−の前記平凸レンズの光軸と平行に光
束を出射させる出射面に接合された全反射ミラーと、前
記ハーフミラ−の前記平凸レンズの光軸と直交方向に光
束を出射させる二つの出射面にそれぞれ接合されたサバ
ール板および4分割プリズムと、この4分割プリズムの
前方に配置された少なくとも6分割以上形式の受光素子
と、前記サバール板の前方に配置された少なくとも2分
割以上形式の受光素子とを配置したことにより構成され
る。
的に各種情報を記録・再生する光学式ピックアップにお
いて、光源の半導体レーザと、この半導体レーザから出
射した光束を平行光とするコリメートレンズと、このコ
リメートレンズの前方に配置され、このコリメートレン
ズからの出射の光束を前記半導体レーザのPN接合面と
平行な方向に任意の倍率で拡大するビーム整形プリズム
と、このビーム整形プリズムに接合されその誘電体多層
膜をコートした接合面により光束のP偏光成分とS偏光
成分とを任意の割合で分割する偏光ビームスプリッタと
、この偏光ビームスプリッタに接合されこの偏光ビーム
スプリッタから前記コリメートレンズの光軸と平行に出
射した光束を前記半導体レーザのPN接合面に垂直な方
向に1゜O%反射させる三角プリズムと、この三角プリ
ズムにより反射された光束を光磁気記録媒体上に集光す
る対物レンズと光磁気記録媒体により反射され前記対物
レンズを透過し、再び前記三角プリズムにより反射され
前記偏光ビームスプリッタの誘電体多層膜をコートした
接合面により前記コリメートレンズの光軸と直交する方
向に反射された光束を集光する平凸レンズが接合され、
この平凸レンズの光軸に平行な方向に50%透過し、こ
の先軸に直交する方向に50%反射するハーフミラ−と
、このハーフミラ−の前記平凸レンズの光軸と平行に光
束を出射させる出射面に接合された全反射ミラーと、前
記ハーフミラ−の前記平凸レンズの光軸と直交方向に光
束を出射させる二つの出射面にそれぞれ接合されたサバ
ール板および4分割プリズムと、この4分割プリズムの
前方に配置された少なくとも6分割以上形式の受光素子
と、前記サバール板の前方に配置された少なくとも2分
割以上形式の受光素子とを配置したことにより構成され
る。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示す平面図、第2図は第1
図の実施例を対物レンズの光軸に直交する方向より眺め
た場合の側面図である。第1図および第2図において、
半導体レーザ1を出射した光束はコリメートレンズ2に
よって平行光とされた後、前方に配置されたビーム整形
プリズム3に入射し、半導体レーザ1のPN接合面に平
行な方向に2.5倍程度拡大され、円形光束となって偏
光ビームスプリッタ25に入射する。このとき、偏光ビ
ームスプリッタ25は半導体レーザ1からの出射の光束
に対しては、例えばP偏光を50%透過し、S偏光を1
00%反射するような特性を持たせて配置しであるので
偏光ビームスプリッタ25に入射した光束はその誘電体
多層膜をコートした接合面により、P偏光は50%透過
し、前方にある三角プリズム6に入射して全反射され対
物レンズ7に入射し、フォーカシング制御及びトラッキ
ング制御されながら光磁気記録媒体8上に集光される。
図の実施例を対物レンズの光軸に直交する方向より眺め
た場合の側面図である。第1図および第2図において、
半導体レーザ1を出射した光束はコリメートレンズ2に
よって平行光とされた後、前方に配置されたビーム整形
プリズム3に入射し、半導体レーザ1のPN接合面に平
行な方向に2.5倍程度拡大され、円形光束となって偏
光ビームスプリッタ25に入射する。このとき、偏光ビ
ームスプリッタ25は半導体レーザ1からの出射の光束
に対しては、例えばP偏光を50%透過し、S偏光を1
00%反射するような特性を持たせて配置しであるので
偏光ビームスプリッタ25に入射した光束はその誘電体
多層膜をコートした接合面により、P偏光は50%透過
し、前方にある三角プリズム6に入射して全反射され対
物レンズ7に入射し、フォーカシング制御及びトラッキ
ング制御されながら光磁気記録媒体8上に集光される。
光磁気記録媒体8に集光した光束は光磁気記録媒体8に
よって反射され、反射した光束は再び対物レンズ7を透
過し、三角プリズム6により反射され前方にある平凸レ
ンズ14によって集光されながらハーフミラ−26に入
射する。このとき、光束の50%はその誘電体多層膜を
コートした接合面により反射され、前方のサバール板2
0に入射する。サバール板20は二つの複屈折体のそれ
ぞれの光学軸が互いに逆向きになるように接合してあり
、しかも光学軸に対して斜めに光束が入射するように配
置されているため、入射光は全く平行な二つの集光され
た光束としてサバール板20から入射し、2分割形式の
受光素子21に入射する。受光素子21の受光部gおよ
びhではバイアス磁界コイル19によって与えられた記
録・消去のそれぞれの状態によって回転させられた光束
の偏光面の違いにより、それぞれの受光量に差が生じる
ので、その差動出力により記録情報再生信号の検出を行
う。
よって反射され、反射した光束は再び対物レンズ7を透
過し、三角プリズム6により反射され前方にある平凸レ
ンズ14によって集光されながらハーフミラ−26に入
射する。このとき、光束の50%はその誘電体多層膜を
コートした接合面により反射され、前方のサバール板2
0に入射する。サバール板20は二つの複屈折体のそれ
ぞれの光学軸が互いに逆向きになるように接合してあり
、しかも光学軸に対して斜めに光束が入射するように配
置されているため、入射光は全く平行な二つの集光され
た光束としてサバール板20から入射し、2分割形式の
受光素子21に入射する。受光素子21の受光部gおよ
びhではバイアス磁界コイル19によって与えられた記
録・消去のそれぞれの状態によって回転させられた光束
の偏光面の違いにより、それぞれの受光量に差が生じる
ので、その差動出力により記録情報再生信号の検出を行
う。
次に、ハーフミラ−26の誘電体多層膜をコートした接
合面を透過した光束は、前方に接合された全反射ミラー
22により反射され、再びノーーフミラー26の接合面
にて50%の光量が反射して前方の4分割プリズム23
に入射する。4分割プリズム23に入射した光束は任意
の角度で出射させることができるが、この実施例では第
3図に示すような状態で前方の6分割受光素子24に入
射される。そして、受光素子24の受光部による(a+
b)−(c+d)の差動出力によってフォーカシング制
御を、同じく受光部による(e−f)の差動出力によっ
てトラッキング制御を行う。
合面を透過した光束は、前方に接合された全反射ミラー
22により反射され、再びノーーフミラー26の接合面
にて50%の光量が反射して前方の4分割プリズム23
に入射する。4分割プリズム23に入射した光束は任意
の角度で出射させることができるが、この実施例では第
3図に示すような状態で前方の6分割受光素子24に入
射される。そして、受光素子24の受光部による(a+
b)−(c+d)の差動出力によってフォーカシング制
御を、同じく受光部による(e−f)の差動出力によっ
てトラッキング制御を行う。
以上述べたように本発明によれば、プリズム及び受光素
子の削減により装置の小型軽量化、および装置の組立時
間の大幅な短縮ができるという効果がある。
子の削減により装置の小型軽量化、および装置の組立時
間の大幅な短縮ができるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す平面図、第2図は第1
図の実施例を対物レンズの光軸に直交する方向より眺め
た場合の側面図である。第3図は第1図の受光素子24
の受光状態を説明するための図、第4図は従来の光学式
ピックアップを説明するための平面図、第5図は第4図
の平面図を対物レンズの光軸に直交する方向より眺めた
場合の側面図である。 1・・・半導体レーザ、2・・・コリメートレンズ、3
・・・ビーム整形プリズム、4・・・第1の偏光ビーム
スプリッタ、5・・・第1のハーフミラ−16・・・三
角プリズム、7・・・対物レンズ、8・・・光磁気記録
媒体、9・・・第2の偏光ビームスプリッタ、10.1
1・・・検光子、12・・・第1の受光素子、13・・
・第2の受光素子、14・・・平凸レンズ、15・・・
第2のハーフミラ−116・・・第4の受光素子、17
・・・ナイフ、工8・・・第5の受光素子、19・・・
バイアス磁界コイル、20・・・サバール板、21.2
4・・・受光素子、22・・・全反射ミラー、23・・
・4分割プリズム、25・・・偏光ビームスプリッタ、
26・・・ハーフミラ−〇
図の実施例を対物レンズの光軸に直交する方向より眺め
た場合の側面図である。第3図は第1図の受光素子24
の受光状態を説明するための図、第4図は従来の光学式
ピックアップを説明するための平面図、第5図は第4図
の平面図を対物レンズの光軸に直交する方向より眺めた
場合の側面図である。 1・・・半導体レーザ、2・・・コリメートレンズ、3
・・・ビーム整形プリズム、4・・・第1の偏光ビーム
スプリッタ、5・・・第1のハーフミラ−16・・・三
角プリズム、7・・・対物レンズ、8・・・光磁気記録
媒体、9・・・第2の偏光ビームスプリッタ、10.1
1・・・検光子、12・・・第1の受光素子、13・・
・第2の受光素子、14・・・平凸レンズ、15・・・
第2のハーフミラ−116・・・第4の受光素子、17
・・・ナイフ、工8・・・第5の受光素子、19・・・
バイアス磁界コイル、20・・・サバール板、21.2
4・・・受光素子、22・・・全反射ミラー、23・・
・4分割プリズム、25・・・偏光ビームスプリッタ、
26・・・ハーフミラ−〇
Claims (1)
- 光磁気記録媒体に光学的に各種情報を記録・再生する光
学式ピックアップにおいて、光源の半導体レーザと、こ
の半導体レーザから出射した光束を平行光とするコリメ
ートレンズと、このコリメートレンズの前方に配置され
、このコリメートレンズからの出射の光束を前記半導体
レーザのPN接合面と平行な方向に任意の倍率で拡大す
るビーム整形プリズムと、このビーム整形プリズムに接
合されその誘電体多層膜をコートした接合面により光束
のP偏光成分とS偏光成分とを任意の割合で分割する偏
光ビームスプリッタと、この偏光ビームスプリッタに接
合されこの偏光ビームスプリッタから前記コリメートレ
ンズの光軸と平行に出射した光束を前記半導体レーザの
PN接合面に垂直な方向に100%反射させる三角プリ
ズムと、この三角プリズムにより反射された光束を光磁
気記録媒体上に集光する対物レンズと光磁気記録媒体に
より反射され前記対物レンズを透過し、再び前記三角プ
リズムにより反射され前記偏光ビームスプリッタの誘電
体多層膜をコートした接合面により前記コリメートレン
ズの光軸と直交する方向に反射された光束を集光する平
凸レンズが接合され、この平凸レンズの光軸に平行な方
向に50%透過し、この光軸に直交する方向に50%反
射するハーフミラーと、このハーフミラーの前記平凸レ
ンズの光軸と平行に光束を出射させる出射面に接合され
た全反射ミラーと、前記ハーフミラーの前記平凸レンズ
の光軸と直交方向に光束を出射させる二つの出射面にそ
れぞれ接合されたサバール板および4分割プリズムと、
この4分割プリズムの前方に配置された少なくとも6分
割以上形式の受光素子と、前記サバール板の前方に配置
された少なくとも2分割以上形式の受光素子とを配置し
たことを特徴とする光学式ピックアップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28904890A JPH04163746A (ja) | 1990-10-26 | 1990-10-26 | 光学式ピックアップ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28904890A JPH04163746A (ja) | 1990-10-26 | 1990-10-26 | 光学式ピックアップ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04163746A true JPH04163746A (ja) | 1992-06-09 |
Family
ID=17738149
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28904890A Pending JPH04163746A (ja) | 1990-10-26 | 1990-10-26 | 光学式ピックアップ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04163746A (ja) |
-
1990
- 1990-10-26 JP JP28904890A patent/JPH04163746A/ja active Pending
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