JPH04162601A - 抵抗体薄膜とその製造方法およびその抵抗体薄膜を用いたサーマルヘッド - Google Patents

抵抗体薄膜とその製造方法およびその抵抗体薄膜を用いたサーマルヘッド

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JPH04162601A
JPH04162601A JP2287287A JP28728790A JPH04162601A JP H04162601 A JPH04162601 A JP H04162601A JP 2287287 A JP2287287 A JP 2287287A JP 28728790 A JP28728790 A JP 28728790A JP H04162601 A JPH04162601 A JP H04162601A
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thin film
resistor
resistor thin
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tin
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Kumiko Baba
馬場 久美子
Kazuo Baba
馬場 和夫
Koichi Haga
浩一 羽賀
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Fujifilm Business Innovation Corp
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Fuji Xerox Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ハイブリッドIC,サーマルヘッド。
その他の各種電子部品に用いられる抵抗体薄膜とその製
造方法、およびその抵抗体薄膜を用いたサーマルヘッド
に関する。
〔従来の技術〕
ハイブリッドICや各種電子部品に用いられる抵抗体薄
膜の製造方法には、スパッタリング等の真空蒸着技術に
よる。所謂薄膜方式と、材料ペーストを塗布、焼成して
薄層を得る厚膜方式とが知られている。
上記抵抗体薄膜の製造方法の一つである上記の所謂薄膜
方式は、基板上に抵抗体材料をスパッタリング、蒸着等
の成膜技術によって形成し、これを所望の形状にフォト
エツチングするという技術を主体とするものであるため
、製造設備が大規模なものとなり、製造工程数も多い。
一方、厚膜方式は、抵抗体材料のペーストを、予め所望
のパターンに形成されたスクリーン版を用いて印刷し、
これを焼成するすることによって薄膜を得る技術である
ため、製造設備と製造工程は上記の所謂薄膜方式に比較
して簡単である。
ファクシミリやプリンターなどの記録手段として広く採
用されている感熱記録装置に用いられるサーマルヘッド
は、その構成要素である電極層。
発熱抵抗層などを、上記の所謂薄膜方式や厚膜方式で形
成しているが、特に、印字ドツト形状を左右する発熱抵
抗体は均一な膜層とする必要があるために所謂薄膜方式
を採用するのが望ましいが、所謂薄膜方式は上記したよ
うに製造設備が大規模で、その工程数が多いことから、
厚膜方式で製造することが多い。
そのため、厚膜方式によって均一な発熱抵抗体を形成す
るため、例えば特公昭57−18506号公報や特公昭
59−22675号公報に開示されたように、厚膜方式
にフォトエツチング等の薄膜成形技術を採り入れた厚膜
−薄膜混成方式を採用したものもある。
[発明が解決しようとする課題] 上記従来の技術における厚膜−薄膜混成方式では、材料
ペーストの塗布、焼成によって発熱抵抗体を形成する厚
膜方式で成層した該発熱抵抗層は、必ずしも均質なもの
でないため、また材料ペースト中の粉体の粒径にロフト
間でばらつきがあることから、フォトエツチング処理で
微細な形状を正確に得ることが難しいという問題がある
また、このことは、上記発熱抵抗体の形成に限らず、ハ
イブリッドIC等の電子部品の抵抗体薄膜の形成におい
ても同様である。
本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解消し、厚膜
方式によって均質な抵抗体薄膜を得ること、またこの抵
抗体薄膜を発熱抵抗体としたサーマルヘッドを提供する
ことにある。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため、本発明は、 抵抗体薄膜が、インジウム(In)、g(Sn)、およ
び鉛(Pb)の各酸化物を含有し、錫の原子数比が1〜
15%、鉛の原子数比が0.5〜lO%であることを特
徴とする。
また、この抵抗体薄膜を製造する方法が、絶縁基板上に
、インジウム、錫、および鉛の各有機配位子錯体の混合
溶液を塗布し、 酸素雰囲気中、550℃以上で焼成する、ことを特徴と
する。
さらに、サーマルヘッドを、インジウム、錫。
および鉛の各有機配位子錯体の混合溶液の塗布。
焼成により生じる抵抗体薄膜で発熱抵抗体を構成したこ
とを特徴とする。
[作用] インジウム、錫、鉛という比較的安価な材料を用いて均
質で薄く、また可視光を透過するエツチング可能な抵抗
体薄膜が形成される。
また、抵抗体の抵抗値の制御が、導電性酸化物であるI
n、O,と、絶縁性酸化物であるSnO2とPb0gの
混合比、すなわち各金属の組成比によってほぼ決定でき
るため、従来の厚膜抵抗体に見られた材料の粒径なと、
ロフトの違いに起因するばらつき等の他のパラメータを
考慮する必要がない。
さらに、インジウム、錫、鉛の有機配位錯体を含有する
ペーストを用いることにより、これらの各金属酸化物の
原子レベルでの混合が実現し、サーマルヘッドに適用し
た場合に、形成される発熱抵抗体膜の均質化が図られる
そして、抵抗体薄膜が均質であるために、一般の強酸に
よるエツチングが可能となり、所望の微細線形状などの
抵抗体を形成できる。
さらにまた、鉛の存在によって、抵抗体薄膜と基板との
間の密着性が向上する。
[実施例コ 以下、本発明の実施例の実施例につき、図面を参照して
詳細に説明する。
まず、インジウム、錫、および鉛の各酸化物を含有し、
錫の原子数比が1〜15%、鉛の原子数比が0.5〜l
O%とした抵抗体薄膜とその製造方法の実施例を説明す
る。
第1図は本発明による抵抗体薄膜の製造工程の一実施例
の説明図である。
同図において、工程1は抵抗体ペースト調製工程であり
、成膜材料である金属有機物溶液として、例えば、エン
ゲルハード社製のメタルレジネート(商品名)の下記の
番号のものを使用する。
1n:A−2307 (Inを11.6wt%含有) Sn:#11BB (Snを3,1wt%含有) Pb:#207−A (pbを27.8wt%含有) 上記の溶液をを印刷、乾燥し、焼成した後の原子数比が
所定の値、例えばTn:Sn:Pb=94:5:1とな
るような割合で混合し、有機溶剤として、例えばα−チ
ルビオネール、樹脂エチルセルロースを使用し、粘度を
8000〜20000cpsに調整してペーストを得る
このペーストを、150〜400メツシユのステンレス
スクリーンを用いて所定の絶縁基板上にスクリーン印刷
する(工程2)。
このスクリーン印刷は、所要の形状に形成されたステン
レススクリーンにより、例えばハイブリッドICの抵抗
体やサーマルヘッドの発熱抵抗体の形状に基板上にペー
ストを塗布するものである。
次に、スクリーン印刷したペーストを、約120℃で乾
燥しく工程3)、赤外線ベルト焼成炉などを用い、55
0℃以上で10分間焼成する(工程4)。
これにより、基板上に膜厚が0.1〜0.4μmの抵抗
体薄膜を得る。
この抵抗体薄膜のシート抵抗は、0.35〜1゜2にΩ
/口である。
第2図は抵抗体薄膜の焼成温度とSn含有率に対するシ
ート抵抗変化の説明図であり、縦軸はシート抵抗(kΩ
/口)、横軸はSn/(Sn+In十Pb)%で、Pb
=1atm%における(I)は焼成温度700℃、(I
I)は同じく550″Cの時のシート抵抗の変化を示す
また、第3図は抵抗体1膜のPbおよびSn含有率に対
するシート抵抗の依存度の説明図であり、縦軸はシート
抵抗(kΩ/口)、横軸はSn/(Sn+In+Pb)
%で、(1)(n)Cm)はそれぞれPbが0.5%、
1%、10%の時のSnの含有率に対するシート抵抗の
変化を示す。
上記実施例では、焼成後の原子数比が、In:Sb:P
b=94:5:1となる場合、すなわちIn、Sn、P
bの合計とSnとの原子数比(Sn/ (In+Sn+
Pb))が5%、またIn。
Sn、Pbの合計とpbとの原子数比(Pb/(In+
Sn+Pb))が1%のものについて説明した。
しかし、本発明はこれに限るものではなく、In、Sn
、Pbの合計とSnの原子数比が、(Sn/ (I n
+5n)) =1〜25atga%、またInとSnの
合計とPbとの原子数比が(P b/(In+Sn+P
b))=0.5〜10atm%であれば、良好な成膜状
態の抵抗体薄膜を得ることができる。
なお、上記実施例の説明において、乾燥させたペースト
の焼成条件を、550℃以上のピーク温度で行うのは、
550℃以下では薄膜の形成が困難であることによる。
第4図は抵抗体薄膜の材料ペーストの焼成温度対重量変
化率の分析結果の説明図であって、横軸は焼成温度、縦
軸は重量変化率である。
同図において、矢印Aで示した焼成温度200℃までの
重量の減少は、溶剤が揮発したことによるものである。
また、矢印Bで示した300℃〜500℃での重量減少
は、有機配位子が金属から分離離脱して燃焼したことに
よるものと考えられる。
そして、500℃〜550℃における緩やかな重量の減
少は、分解した炭素残留分の燃焼によるものである。
そして、550℃以上では、有機成分は完全に除去され
、各金属元素が完全に酸化物となり、抵抗体膜薄膜が形
成されると考えられる(矢印C)。
また、上記の実施例では、各金属有機物溶液として、エ
ンゲルハード社のメタルレジネートを用いたが、本発明
はこれに限らず、Inや他の金属がカルボン酸やイミダ
ゾール、β−ジケトン、メルカプタン類、等の有機物と
安定な錯体を形成し、その金属有機物が有機溶剤に溶け
るものであれば、各種の金属有機物を用いることができ
る。
例えば、 Inとして  I n (OCOC7Hls) 3Sn
として  S n (OCOC7H+ s ) aPb
として  P b (OCOC? H+s) zなどを
挙げることができる。
なお、Pbの金属有機物に代えてビスマス(Bi)の金
属有機物を用いることもできる。
さらに、上記実施例では、材料ペーストの塗布法として
スクリーン印刷を用いた例を説明したが、本発明はこれ
に限らず、厚膜形成に用いられる塗布法1例えばスピン
コード法、ロールコート法あるいはデイツプコート法な
どの既知の塗布法で材料ペーストを絶縁基板上に全面塗
布、乾燥し、これを焼成後にエツチング処理して所望の
形状の抵抗体薄膜を形成してもよい。
次に、上記実施例で説明した本発明による抵抗体薄膜を
発熱抵抗体として用いたサーマルヘッドの実施例につい
て説明する。
第5図は本発明によるサーマルヘッドの一実施例の説明
図であって、(a)は平面図、(b)は(a)のX−Y
線に沿った断面図である。
同図において、1はアルミナ等の絶縁基板、2はガラス
系材料からなるアンダーグレーズ層(蓄熱層)、3は共
通電極、4は対向電極(個別電極)、5は発熱抵抗体素
子、6はガラス系材料からなるオーバーグレーズ層(保
護膜)である。
このサーマルヘッドは、アンダーグレーズ層2を被覆し
た絶縁基板1 (グレーズドアルミナ基板)上に、発熱
抵抗体素子5がドツト単位で個別に直接形成され、該発
熱抵抗体素子5の両端部にそれぞれ接続した共通電極3
と対向電極4がグレーズドアルミナ基板上に形成されて
いる。
この形式のサーマルヘッドは、共通電極3と対向電極4
とに橋絡する発熱抵抗体素子5とからなる多数の発熱部
を持ち、文字9図形等のデータに従って対向電極4を選
択して選択された発熱抵抗体素子5に電流を供給し、発
熱抵抗体素子5がその発生するジュール熱で加熱される
ことを利用して、感熱記録媒体に文字5図形等を印字す
るものである。
発熱抵抗体素子5を形成する抵抗体薄膜は、前記第1図
で説明した方法により絶縁基板上に形成される。
第6図は本発明によるサーマルヘッドの製造方法の一実
施例の説明図である。
以下、(a)〜(h)の工程順に従って説明する。
先ず、抵抗体材料のペーストを、アンダーグレーズ層2
を被覆した絶縁基板1(グレーズドアルミナ基板)上に
スクリーン印刷し、乾燥、焼成して抵抗体薄膜50を形
成する(a)。
抵抗体薄膜50の上に、フォトレジスト7oを塗布し、
乾燥して、発熱抵抗体素子のパターンをもつフォトマス
ク8を介して光線9で露光し、露光された部分のフォト
レジストを硬化させる(b)。
露光したフォトレジスト70を現像し、硬化した発熱抵
抗体素子形成部分のフォトレジスト7を残して、未露光
フォトレジストを除去し、不要部分の抵抗体薄膜を露出
する(c)。
続いて、例えば8%のHCI、あるいはHCfFeCI
2sの水溶液をエツチング液として、露出した部分の抵
抗体薄膜50をエツチングし、その後フォトレジストを
除去して所望の発熱抵抗体素子5(例えば、6〜16ド
ツ) / m m )を形成する(d)。
形成した発熱抵抗体素子5の上を覆って、金属有機物ペ
ースト、例えばノリタケ株式会社製の有機金ペース)D
27 (商品名)を全面印刷し、これをピーク温度80
0℃で焼成して金膜100を形成する(e)。
形成した金膜100の上にフォトレジスト70を塗布し
、電極のパターンをもつフォトマスク80を介して光線
9で露光して、電極部分のフォトレジストを硬化させる
(f)。
露光したフォトレジストを現像して、未露光部分を除去
し、発熱抵抗体素子5の部分を露出させる(g)。
これをエツチング液(例えば、ヨウ素ヨウ化カリウムの
水溶液)を用いてエツチング処理し、その後フォトレジ
スト7を除去して共通電極3と対向電極4を得る(h)
最後に、共通電極3.対向電極4および発熱抵抗体素子
5の全面を覆ってガラス系材料、例えば田中マソセイ株
式会社製のガラスペース)LS201(商品名)を印刷
し、焼成して、保護膜であるオーバグレーズ層6を形成
する(i)。
これにより、前記第5図に示したようなサーマルヘッド
が得られる。
なお、本発明は上記の形式のサーマルヘッド(個別対向
型)に限らず、発熱抵抗体がサーマルヘッドの主走査方
向に連続して形成された形式、あるいは、共通電極と個
別電極とが櫛の歯型に交互に配置された交互リード型サ
ーマルヘッド、その他の各種サーマルヘッドの発熱抵抗
体に適用できるものである。
また、サーマルヘッドに限らず、前記したように、各種
の電子部品の抵抗体薄膜に適用できるものである。
[発明の効果] 以上、詳細に説明したように、本発明によれば、抵抗体
薄膜の抵抗値の制御が、導電性酸化物であるIn2O,
と、絶縁性酸化物であるSnO□とPb0zの混合比、
すなわち各金属の組成比によってほぼ決定できるため、
従来の厚膜抵抗体に見られた材料の粒径の相違など、ロ
フトの違いに起因するばらつき等の他のパラメータを考
慮する必要がなく均質な抵抗体薄膜を得ることができる
さらに、インジウム、錫、鉛の有機配位錯体を含有する
ペーストを用いることにより、これらの各金属酸化物の
原子レベルでの均一な混合が実現され、サーマルヘッド
に適用した場合に、形成される発熱抵抗体膜の均質化が
達成できる。
そして、抵抗体薄膜が均質であるために、塩酸や硝酸な
どの一般な強酸によるエツチングが可能となり、所望の
微細形状の抵抗体素子を形成できる。
さらにまた、鉛の存在によって、抵抗体薄膜と基板との
間の密着性が向上し、従来のガラス系材料(ガラスフリ
ント)を用いた厚膜抵抗体薄膜と同様に、簡単な製造設
備で均質な抵抗体薄膜を得ることが可能であり、大面積
の基板やガラス基板上に均質な抵抗体薄膜を成膜するこ
とができる、など、前記従来技術の欠点を除いて優れた
品質の抵抗体薄膜、および優れた機能のサーマルヘッド
を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による抵抗体薄膜の製造工程の一実施例
の説明図、第2図は抵抗体薄膜の焼成温度とSn含有率
に対するシート抵抗変化の説明図、第3図は抵抗体薄膜
のPbおよびSn含有率に対するシート抵抗の依存度の
説明図、第4図は抵抗体薄膜の材料ペーストの焼成温度
対重量変化率の分析結果の説明図、第5図は本発明によ
るサーマルヘッドの一実施例の説明図、第6図は本発明
によるサーマルヘッドの製造方法の一実施例の説明図で
ある。 1・・・・絶縁基板、2・・・・アンダーグレーズ層、
3・・・・共通電極、4・・・・対向電極、5・・・・
発熱抵抗体素子、6・・・・オーバーグレーズ層。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)インジウム,錫,および鉛の各酸化物を含有し、
    錫の原子数比が1〜15%,鉛の原子数比が0.5〜1
    0%であること、 を特徴とする抵抗体薄膜。
  2. (2)絶縁基板上に、インジウム,錫,および鉛の各有
    機配位子錯体の混合溶液を塗布し、 酸素雰囲気中、550℃以上で焼成すること、を特徴と
    する抵抗体薄膜の製造方法。
  3. (3)インジウム,錫,および鉛の各有機配位子錯体の
    混合溶液の塗布,焼成により生じる抵抗体薄膜で発熱抵
    抗体を構成したことを特徴とするサーマルヘッド。
JP2287287A 1990-10-26 1990-10-26 抵抗体薄膜とその製造方法およびその抵抗体薄膜を用いたサーマルヘッド Pending JPH04162601A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018176549A (ja) * 2017-04-13 2018-11-15 ローム株式会社 サーマルプリントヘッド、および、サーマルプリントヘッドの製造方法

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