JPH04160301A - 機械の静的精度計測用のマスター計測装置 - Google Patents
機械の静的精度計測用のマスター計測装置Info
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- JPH04160301A JPH04160301A JP28445990A JP28445990A JPH04160301A JP H04160301 A JPH04160301 A JP H04160301A JP 28445990 A JP28445990 A JP 28445990A JP 28445990 A JP28445990 A JP 28445990A JP H04160301 A JPH04160301 A JP H04160301A
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Landscapes
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- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、マシニングセンタ等の工作機械やその他の計
測機器類等、主に使用頻度が高く、かつ精度維持要求の
高い機械類の静的精度の計測と較正やNG制御装置に供
給する機械側の軸補正データの採取、機械設置域に対す
る設置レベルの計測と調整等の多用途に使用することの
できる静的精度計測用のマスター計測装置に関する。
測機器類等、主に使用頻度が高く、かつ精度維持要求の
高い機械類の静的精度の計測と較正やNG制御装置に供
給する機械側の軸補正データの採取、機械設置域に対す
る設置レベルの計測と調整等の多用途に使用することの
できる静的精度計測用のマスター計測装置に関する。
従来より、マシニングセンタを始緬とする工作機械、2
次元、3次元測定装置等の機械類においては、機械の導
入、設置時や使用過程におけ”る定期保守等で計測機器
やゲージ類を使用して静的精度の計測と較正が遂行され
る。このような工作機械類の静的精度の計測、較正は従
来から日本工業規格の規定(JIS B 6336 )
を適用し、直定規、直角定規等の測定具を機械のテーブ
ル面上に設置し、テーブルや主軸頭の動作時にテストイ
ンジケータで測定具の測定面を辿ることにより、測定デ
ータを取得する方法が取られていた。
次元、3次元測定装置等の機械類においては、機械の導
入、設置時や使用過程におけ”る定期保守等で計測機器
やゲージ類を使用して静的精度の計測と較正が遂行され
る。このような工作機械類の静的精度の計測、較正は従
来から日本工業規格の規定(JIS B 6336 )
を適用し、直定規、直角定規等の測定具を機械のテーブ
ル面上に設置し、テーブルや主軸頭の動作時にテストイ
ンジケータで測定具の測定面を辿ることにより、測定デ
ータを取得する方法が取られていた。
例えば、第5図は工作機械の直交2軸、つまりワークテ
ーブルの移動方向(X軸方向)と主軸頭の上下移動方向
(1111方向)との直角度を計測、較正する場合の例
を示している。第5図において、マシニングセンタのコ
ラム1に沿って上下する主軸頭2の主軸先端2aにテス
トインジケータ6を取付け、又、機械のベツドに対して
サドル4′を介して平面内で直交する2軸方向(X軸、
Z軸)に移動変位可能なワークテーブル3にL字形をし
た直角定規7を載置し、このとき、同直角定規7は鉛直
な測定面7aがZ軸に平行になるようにテストインジケ
ータ6の読みから調節しながら設置する。また、同測定
面7aと直角な面7cが、テーブル3のX軸移動面と平
行になるように予約機械のレベルを調節しておく。こう
して直角定規7の設置後に測定面7aにテストインジケ
ータ6を接触させ、次に主軸頭2をY軸方向に移肚変位
させることによりテストインジケータ6の振れを読み取
り、読みの最大値から工作機械のX軸とY軸との直角度
を計測、較正するものである。
ーブルの移動方向(X軸方向)と主軸頭の上下移動方向
(1111方向)との直角度を計測、較正する場合の例
を示している。第5図において、マシニングセンタのコ
ラム1に沿って上下する主軸頭2の主軸先端2aにテス
トインジケータ6を取付け、又、機械のベツドに対して
サドル4′を介して平面内で直交する2軸方向(X軸、
Z軸)に移動変位可能なワークテーブル3にL字形をし
た直角定規7を載置し、このとき、同直角定規7は鉛直
な測定面7aがZ軸に平行になるようにテストインジケ
ータ6の読みから調節しながら設置する。また、同測定
面7aと直角な面7cが、テーブル3のX軸移動面と平
行になるように予約機械のレベルを調節しておく。こう
して直角定規7の設置後に測定面7aにテストインジケ
ータ6を接触させ、次に主軸頭2をY軸方向に移肚変位
させることによりテストインジケータ6の振れを読み取
り、読みの最大値から工作機械のX軸とY軸との直角度
を計測、較正するものである。
また、第6図は工作機械の旋回テーブルにおけるワーク
載台面の面振れを測定、較正する場合を示している。こ
の場合には、主軸頭2の主軸2aにテストインジケータ
8を取付け、機械のワークテーブル4上に載置した旋回
テーブル9の上面に設置したゲージブロック10の測定
面にテーブルインジケータ8の先端を接触させて旋回テ
ーブル9を旋回変位させる。このとき、旋回テーブル9
の中心点を中心にして90°づつの割出し位置を設定し
、各90°の割出し位置に就いて旋回時のテーブルイン
ジケータ8の振れを読み、最大読みを測定データにして
、面振れ測定し、所要の°較正がおこなわれる。
載台面の面振れを測定、較正する場合を示している。こ
の場合には、主軸頭2の主軸2aにテストインジケータ
8を取付け、機械のワークテーブル4上に載置した旋回
テーブル9の上面に設置したゲージブロック10の測定
面にテーブルインジケータ8の先端を接触させて旋回テ
ーブル9を旋回変位させる。このとき、旋回テーブル9
の中心点を中心にして90°づつの割出し位置を設定し
、各90°の割出し位置に就いて旋回時のテーブルイン
ジケータ8の振れを読み、最大読みを測定データにして
、面振れ測定し、所要の°較正がおこなわれる。
然しながら、上述した測定具を用いて行う工作機械の静
的精度の計測と較正は測定具を工作機械のワークテーブ
ルや旋回テーブルの載置面に設置してから、実際に計測
を実行するまでの段取り処理、例えば、測定具を工作機
械の設置現場の環境温度に安定させたり、その後、測定
具の測定面をテストインジケータの触針に対して予約ワ
ークテーブルの移動変位方向に応じて調整をおこなわな
ければならない等の処理が必須であり、また、段取り後
の実測作業にも相当の時間を要し、上述したJIS B
6336 に規定された精度検査項目を網羅するに
は、1台の工作機械の計測、較正に2日程度もの日数を
要するばかりか、作業者の高熟練度が要求される問題が
ある。
的精度の計測と較正は測定具を工作機械のワークテーブ
ルや旋回テーブルの載置面に設置してから、実際に計測
を実行するまでの段取り処理、例えば、測定具を工作機
械の設置現場の環境温度に安定させたり、その後、測定
具の測定面をテストインジケータの触針に対して予約ワ
ークテーブルの移動変位方向に応じて調整をおこなわな
ければならない等の処理が必須であり、また、段取り後
の実測作業にも相当の時間を要し、上述したJIS B
6336 に規定された精度検査項目を網羅するに
は、1台の工作機械の計測、較正に2日程度もの日数を
要するばかりか、作業者の高熟練度が要求される問題が
ある。
このような測定具を用いた工作機械の静的精度の測定方
法による問題点を緩和する一環として、最近、金属性の
立方体ブロックに測定基準面゛や基準孔を穿設して種々
の計測項目を単一の計測ブロックにより網羅し得るよう
にして、計測工数の削減を図った計測ブロック装置も市
販されているが、この計測ブロック装置は、金属材料製
であり、低膨張金属材が使用されているとしても、工作
機械が設置される加工現場において、種々の熱源からの
発熱の影響や1日を周期とした気温の変化等による温度
変化に応じて発生する伸縮による寸法変化ハ、マシニン
グセンタ等の精密な工作機械の静的精度検査等に用いる
基準測定具として適用するには精度的に相応しくないと
言う欠点がある。
法による問題点を緩和する一環として、最近、金属性の
立方体ブロックに測定基準面゛や基準孔を穿設して種々
の計測項目を単一の計測ブロックにより網羅し得るよう
にして、計測工数の削減を図った計測ブロック装置も市
販されているが、この計測ブロック装置は、金属材料製
であり、低膨張金属材が使用されているとしても、工作
機械が設置される加工現場において、種々の熱源からの
発熱の影響や1日を周期とした気温の変化等による温度
変化に応じて発生する伸縮による寸法変化ハ、マシニン
グセンタ等の精密な工作機械の静的精度検査等に用いる
基準測定具として適用するには精度的に相応しくないと
言う欠点がある。
依って、本発明の目的は、上述した日本工業規格に基づ
く測定具で工作機械の静的精度測定を方法や市販の特殊
な計測ブロック装置を用いた方法で遭遇する計測技術上
の問題点を解決し得る基準計測装置を提供せんとするも
のである。
く測定具で工作機械の静的精度測定を方法や市販の特殊
な計測ブロック装置を用いた方法で遭遇する計測技術上
の問題点を解決し得る基準計測装置を提供せんとするも
のである。
本発明の他の目的は、温度変化の影響を受けて基準計測
具としての精度が劣化することの無いように改善された
機械の静的精度計測用のマスター計測装置を提供せんと
するものである。 ゛本発明の更に他の目的は、マシ
ニングセンタにのワークテーブル上に設置されて静的精
度を計測せんとしたときに、マシニングセンタの制御装
置によって自動計測し、マシニングセンタの静的精度の
計測データを得ることを可能にし、故に、作業者の熟練
度をいたずらに要しないようにした絶対座標系を有した
機械の静的精度計測用のマスター計測装置を提供せんと
するものである。
具としての精度が劣化することの無いように改善された
機械の静的精度計測用のマスター計測装置を提供せんと
するものである。 ゛本発明の更に他の目的は、マシ
ニングセンタにのワークテーブル上に設置されて静的精
度を計測せんとしたときに、マシニングセンタの制御装
置によって自動計測し、マシニングセンタの静的精度の
計測データを得ることを可能にし、故に、作業者の熟練
度をいたずらに要しないようにした絶対座標系を有した
機械の静的精度計測用のマスター計測装置を提供せんと
するものである。
本発明は、線膨張係数が0または0に近い、つまり路線
膨張係数が0の棒状体の端面に基準面を有した複数本の
計測棒を組み合わせ、これらを低膨張性の材料によって
形成した中空体構造の支持具に取付、固定することによ
り、三次元空間内に複数の計測基準面を設けるようにし
た単一基準計測装置を構成して上述の目的を達成するよ
うにしたものである。
膨張係数が0の棒状体の端面に基準面を有した複数本の
計測棒を組み合わせ、これらを低膨張性の材料によって
形成した中空体構造の支持具に取付、固定することによ
り、三次元空間内に複数の計測基準面を設けるようにし
た単一基準計測装置を構成して上述の目的を達成するよ
うにしたものである。
すなわち、本発明によれば、計測対象機械に設置して用
いられ、該機械に装着した接触形計゛測ツールで接触検
知する基準接触面を備えることにより機械の静的精度を
計測するマスター計測装置において、 前記計測対象機械の載台面に直接又はパレットを介して
載置される基準底面を有し、低膨張材から成る支持ブロ
ックと、 線膨張計数が略0値の棒体の少なくとも両端面を前記接
触形計測ツールと協動する基準計測面にして複数の該棒
体を井桁状に組んで前記支持ブロックに取付は固定した
基準計測棒と、 前記支持ブロックの基準底面と反対の頂面に相互に分離
して取付、固定される少なくとも3つの座標基準設定用
のボールと、 を具備して構成された機械の静的精度計測用のマスター
計測装置を提供するものである。
いられ、該機械に装着した接触形計゛測ツールで接触検
知する基準接触面を備えることにより機械の静的精度を
計測するマスター計測装置において、 前記計測対象機械の載台面に直接又はパレットを介して
載置される基準底面を有し、低膨張材から成る支持ブロ
ックと、 線膨張計数が略0値の棒体の少なくとも両端面を前記接
触形計測ツールと協動する基準計測面にして複数の該棒
体を井桁状に組んで前記支持ブロックに取付は固定した
基準計測棒と、 前記支持ブロックの基準底面と反対の頂面に相互に分離
して取付、固定される少なくとも3つの座標基準設定用
のボールと、 を具備して構成された機械の静的精度計測用のマスター
計測装置を提供するものである。
本発明による機械の静的精度計測用のマスター計測装置
は、基準計測棒に形成された基準計測面に使用し、工作
機械の主軸に装着したテスト°インジケータ等の接触形
計測ツールとの接触点における読みを得て演算すること
により、自動的に機械の静的精度の計測を行い、その計
測データに従って、較正をおこなうことができるのであ
る。
は、基準計測棒に形成された基準計測面に使用し、工作
機械の主軸に装着したテスト°インジケータ等の接触形
計測ツールとの接触点における読みを得て演算すること
により、自動的に機械の静的精度の計測を行い、その計
測データに従って、較正をおこなうことができるのであ
る。
以下、本発明を添付図面に示す実施例に基づいて更に詳
細に説明する。
細に説明する。
第1図は、本発明に係る機械の静的精度計測用のマスタ
ー計測装置の構造を示す斜視図、第2A図から第2C図
は、六面体構造を有した支持ブロックの構造を示す断面
図、上面図、2C−2C断面図、第3図は、線膨張係数
が略0の棒状材料によって形成される基準計測棒の正面
図、第4図は、工作機械の静的精度の計測方法を説明す
る略示斜視図、第5図と第6図は従来技術による工作機
械の静的精度の計測方法を説明する略示図である。
ー計測装置の構造を示す斜視図、第2A図から第2C図
は、六面体構造を有した支持ブロックの構造を示す断面
図、上面図、2C−2C断面図、第3図は、線膨張係数
が略0の棒状材料によって形成される基準計測棒の正面
図、第4図は、工作機械の静的精度の計測方法を説明す
る略示斜視図、第5図と第6図は従来技術による工作機
械の静的精度の計測方法を説明する略示図である。
第1図を参照すると、本発明の実施例に係るマスター計
測装置は、支持ブロック20を有し、この支持ブロック
20は略立方体又は直方体形“状を有した中空六面体ユ
ニットとして形成され、低膨張係数を有し、かつ中空状
態で機械強度が大きな材料、例えば、低膨張鋳鉄による
鋳物ユニットとして形成され、周囲の温度変化による形
状、寸法の変化を極小に抑制し得るようにしている。
測装置は、支持ブロック20を有し、この支持ブロック
20は略立方体又は直方体形“状を有した中空六面体ユ
ニットとして形成され、低膨張係数を有し、かつ中空状
態で機械強度が大きな材料、例えば、低膨張鋳鉄による
鋳物ユニットとして形成され、周囲の温度変化による形
状、寸法の変化を極小に抑制し得るようにしている。
なお、支持ブロック20の構造の詳細はIK2A図から
第2C図に従って後述する。
第2C図に従って後述する。
支持ブロック20の底面22は加工時に高仕上げ精度に
仕上げられた一平坦面に形成され、支持ブロック20を
工作機械のワークテーブル上に直接またはパレット等の
治具を介して設置するときに安定に設置可能とする基準
面を形成している。また、支持ブロック200西側面の
各面には保持具30を介して計測棒40が取付け、固定
されている。このとき、複数の保持具30は、1つの部
品として低膨張材料(低膨張鋳鉄)を用いて別に製造さ
れ、支持ブロック20の各側面のコーナ一部位に、固定
ネジ等の取付手段で取付け、固定されるか、または支持
ブロック20を鋳造する過程で同時に鋳造、形成した支
持ブロックと一体の一部分として設けられても良い。そ
して、各保持具30は丸棒形状を有した計測棒40を挿
通する保持孔と、その保持孔に計測棒40を挿通後に締
付はネジで計測棒40を不動に固定できるように上記保
持孔に向けて切り入れたすり割りとを備え、締付はネジ
ですり割り部分を締付けて計測棒40を固定的に保持す
る構造を備えている。
仕上げられた一平坦面に形成され、支持ブロック20を
工作機械のワークテーブル上に直接またはパレット等の
治具を介して設置するときに安定に設置可能とする基準
面を形成している。また、支持ブロック200西側面の
各面には保持具30を介して計測棒40が取付け、固定
されている。このとき、複数の保持具30は、1つの部
品として低膨張材料(低膨張鋳鉄)を用いて別に製造さ
れ、支持ブロック20の各側面のコーナ一部位に、固定
ネジ等の取付手段で取付け、固定されるか、または支持
ブロック20を鋳造する過程で同時に鋳造、形成した支
持ブロックと一体の一部分として設けられても良い。そ
して、各保持具30は丸棒形状を有した計測棒40を挿
通する保持孔と、その保持孔に計測棒40を挿通後に締
付はネジで計測棒40を不動に固定できるように上記保
持孔に向けて切り入れたすり割りとを備え、締付はネジ
ですり割り部分を締付けて計測棒40を固定的に保持す
る構造を備えている。
さて、計測棒40は各面に4本が井桁状に組んで取付け
、固定されている。この計測棒40は線膨張係数が略0
のガラス材料で形成されており、そのようなガラス材料
としては、例えば日本電気ガラス(株)により製造、販
売されているネオセ5 ムNO,N−0(線膨張係数:
−6,5X 10−’/l)からなる棒状体を研削゛
形成することにより所望の計測棒とすることができる。
、固定されている。この計測棒40は線膨張係数が略0
のガラス材料で形成されており、そのようなガラス材料
としては、例えば日本電気ガラス(株)により製造、販
売されているネオセ5 ムNO,N−0(線膨張係数:
−6,5X 10−’/l)からなる棒状体を研削゛
形成することにより所望の計測棒とすることができる。
なお、上記のネオセラムNO,N−0によると、計測棒
の長さが320mmの場合に温度変化が10℃に対して
誤差は2ミクロン程度の極小値になり、故に、マシニン
グセンタ等の高精度の工作機械の静的精度を計測する用
途にも十分に耐えることができる。各計測棒40は第3
図に図示のように、少なくともその両端が接触形のイン
ジケータにより接触、計測される計測基準面42を形成
するように予め高仕上げ面として形成されている。然し
なから、更に、棒状体の長さ方向の表面に1ないし複数
の平坦な計測面44を予め形成しておいても良い。 こ
の計測棒40は上述のように線膨張係数が略0と見做し
ことができる材料から形成されているので、1日の気温
変化等により温度変化が発生する場所で使用されても伸
縮により計測に影響を来すような長さ変動が発生しない
よう配慮されている。このように温度変化の影響が低減
された計測棒40は、既述の如く各棒が両端に計測面基
準42を有することにより、マスター計測装置の各側面
には4本の計測棒40により空間内に夫々が分離したA
:B。
の長さが320mmの場合に温度変化が10℃に対して
誤差は2ミクロン程度の極小値になり、故に、マシニン
グセンタ等の高精度の工作機械の静的精度を計測する用
途にも十分に耐えることができる。各計測棒40は第3
図に図示のように、少なくともその両端が接触形のイン
ジケータにより接触、計測される計測基準面42を形成
するように予め高仕上げ面として形成されている。然し
なから、更に、棒状体の長さ方向の表面に1ないし複数
の平坦な計測面44を予め形成しておいても良い。 こ
の計測棒40は上述のように線膨張係数が略0と見做し
ことができる材料から形成されているので、1日の気温
変化等により温度変化が発生する場所で使用されても伸
縮により計測に影響を来すような長さ変動が発生しない
よう配慮されている。このように温度変化の影響が低減
された計測棒40は、既述の如く各棒が両端に計測面基
準42を有することにより、マスター計測装置の各側面
には4本の計測棒40により空間内に夫々が分離したA
:B。
C:D、G:H,I :Jで示された8点の計測基準面
42が形成されている。なお、各側面の計測棒40の計
測基準面42は、予め計測棒40の長さを4本が全て等
長となるように製造し、例えば第1図において、計測基
準面42に就き、GoとIが、又HとJが縦方向に略揃
っているように取付け、固定し、又AとC及びBとDが
水平方向に略揃っているように取付け、固定することが
好ましい。又、本実施例では、最適実施例として支持ブ
ロック2004つの側面に夫々、井桁状に計測棒40を
組み付けた構造として記載したが、所要に応じて4つの
側面全部ではなく、例えば、隣接した2つの側面にだけ
計測棒40の井桁組立体を取付け、固定した構造として
も十分に計測機能を達成できる場合もある。 4つの側
面全部に計測棒40を取付けておけば、マシニングセン
タ等の工作機械上に設置して使用するときに、任意の側
面の計測棒40を使用できる点、静的精度に関する検査
項目が多い場合にも1台のマスター計測装置で全て網羅
できる点等で便宜であると言う利点がある。
42が形成されている。なお、各側面の計測棒40の計
測基準面42は、予め計測棒40の長さを4本が全て等
長となるように製造し、例えば第1図において、計測基
準面42に就き、GoとIが、又HとJが縦方向に略揃
っているように取付け、固定し、又AとC及びBとDが
水平方向に略揃っているように取付け、固定することが
好ましい。又、本実施例では、最適実施例として支持ブ
ロック2004つの側面に夫々、井桁状に計測棒40を
組み付けた構造として記載したが、所要に応じて4つの
側面全部ではなく、例えば、隣接した2つの側面にだけ
計測棒40の井桁組立体を取付け、固定した構造として
も十分に計測機能を達成できる場合もある。 4つの側
面全部に計測棒40を取付けておけば、マシニングセン
タ等の工作機械上に設置して使用するときに、任意の側
面の計測棒40を使用できる点、静的精度に関する検査
項目が多い場合にも1台のマスター計測装置で全て網羅
できる点等で便宜であると言う利点がある。
支持ブロック20の上面には、十字形の支持板32がネ
ジ止め又は接着等の固定方法で取付けられ、この支持板
32に依って形成される4つのコーナー位置と中心位置
との5つの位置にマス°ター球34が取付台36を介し
て取付けられている。
ジ止め又は接着等の固定方法で取付けられ、この支持板
32に依って形成される4つのコーナー位置と中心位置
との5つの位置にマス°ター球34が取付台36を介し
て取付けられている。
マスター球34と取付台36とは一体要素に予め形成さ
れ、取付台36の下端に設けた雄ねじ軸を支持板32の
取付位置に形成した雌ねじ孔に螺合させることにより固
定されている。このマスター球34は予め既知の直径を
有し、鋼球により形成すれば良いが、好ましくは温度変
化の影響を受けないガラス材料等によって形成された球
体であることがより望ましい。これらの5つのマスター
球34における中心位置のマスター球34と支持ブロッ
ク20の各側面の両端に位置した2つ1組のマスター球
34 (各側面に2つ1組があり、従って4側面で4組
があることになる)との3つのマスター球34の各位置
を周知の高精度の三次元測定器により計測した三次元位
置データを絶対座標位置として使用すれば、マスター計
測装置を工作機械に設置したとき、工作機械上における
3つのマスター球34の位置が不変であることから、こ
れらの3つのマスター球34の位置を工作機械に装着し
た接触形計測ツールで測定することに゛より、機械の座
標系におけるマスター球34の位置関係からマスター計
測装置の機械上における位置、姿勢を検出して、その検
出データによって機械の静的精度の計測時に補正を行う
ことが可能となる。
れ、取付台36の下端に設けた雄ねじ軸を支持板32の
取付位置に形成した雌ねじ孔に螺合させることにより固
定されている。このマスター球34は予め既知の直径を
有し、鋼球により形成すれば良いが、好ましくは温度変
化の影響を受けないガラス材料等によって形成された球
体であることがより望ましい。これらの5つのマスター
球34における中心位置のマスター球34と支持ブロッ
ク20の各側面の両端に位置した2つ1組のマスター球
34 (各側面に2つ1組があり、従って4側面で4組
があることになる)との3つのマスター球34の各位置
を周知の高精度の三次元測定器により計測した三次元位
置データを絶対座標位置として使用すれば、マスター計
測装置を工作機械に設置したとき、工作機械上における
3つのマスター球34の位置が不変であることから、こ
れらの3つのマスター球34の位置を工作機械に装着し
た接触形計測ツールで測定することに゛より、機械の座
標系におけるマスター球34の位置関係からマスター計
測装置の機械上における位置、姿勢を検出して、その検
出データによって機械の静的精度の計測時に補正を行う
ことが可能となる。
つまり、マスター計測装置が機械上で例えば、設置時に
傾いて設置されている場合等はその傾きがマスター球3
4の絶対座標位置のデータから検出できるので、その後
に遂行される機械の静的精度の計測をその分だけ補正す
ることが可能となるのである。
傾いて設置されている場合等はその傾きがマスター球3
4の絶対座標位置のデータから検出できるので、その後
に遂行される機械の静的精度の計測をその分だけ補正す
ることが可能となるのである。
ここで、第2A図から第2C図を参照すれば明らかなよ
うに、支持ブロック20は、中央部に円筒状の縦リブ2
4を有し、外周囲には4つの縦壁面26を備え、縦リブ
24と各縦壁面26とが頂部で4つの横リブ27で結合
されている。 そして下底部には基準面22を有した四
角形状の基台23と上記の縦リブ24の外側に同心に位
置した円筒状の縦リブ28が備えられ、両級リブ24と
28とは下底部の横リブ29によって接続されている。
うに、支持ブロック20は、中央部に円筒状の縦リブ2
4を有し、外周囲には4つの縦壁面26を備え、縦リブ
24と各縦壁面26とが頂部で4つの横リブ27で結合
されている。 そして下底部には基準面22を有した四
角形状の基台23と上記の縦リブ24の外側に同心に位
置した円筒状の縦リブ28が備えられ、両級リブ24と
28とは下底部の横リブ29によって接続されている。
つまり、支持ブロック20は中空の軽“量ユニットとし
て形成される共に内側の円筒縦リブ24の中心線を中心
とした線対称形状を有し、故に、この点でも温度変化の
影響で形状歪みが発生しない単体ユニットに設計、製造
されていることがわかる。このような中空形状の支持ブ
ロック20により計測棒40を支持した構造のマスター
計測装置は温度変化に対する歪み誤差が殆ど無視可能な
高精度の計測基準装置と成ることが分かる。
て形成される共に内側の円筒縦リブ24の中心線を中心
とした線対称形状を有し、故に、この点でも温度変化の
影響で形状歪みが発生しない単体ユニットに設計、製造
されていることがわかる。このような中空形状の支持ブ
ロック20により計測棒40を支持した構造のマスター
計測装置は温度変化に対する歪み誤差が殆ど無視可能な
高精度の計測基準装置と成ることが分かる。
マスター計測装置は、支持ブロック20に計測棒40、
マスター球34が取付け、固定された組立の完了状態で
予約、高精度の三次元測定器を用いて既述したマスター
球34の位置を絶対座標位置として計測し、また、計測
棒40の各計測基準面42の位置を絶対座標位置として
計測し、記録する。つまり、登録したデータはマスター
計測装置が損傷等により故障を生じた場合を除き、永続
的に同マスター装置の絶対的な基準データとして用いら
れ、以後のマスター計測装置による工作機械の静的精度
の計測時に使用されるのである。
マスター球34が取付け、固定された組立の完了状態で
予約、高精度の三次元測定器を用いて既述したマスター
球34の位置を絶対座標位置として計測し、また、計測
棒40の各計測基準面42の位置を絶対座標位置として
計測し、記録する。つまり、登録したデータはマスター
計測装置が損傷等により故障を生じた場合を除き、永続
的に同マスター装置の絶対的な基準データとして用いら
れ、以後のマスター計測装置による工作機械の静的精度
の計測時に使用されるのである。
次に上述した本発明に係るマスター計測装装置を用いて
工作機械、特に、マシニングセンタの静的精度の計測を
行う方法を第4図を参照して説明する。
工作機械、特に、マシニングセンタの静的精度の計測を
行う方法を第4図を参照して説明する。
第4図に示すように、マスター計測装置50はは予めマ
シニングセンタによる加工ワークと同様にパレット60
に予め設置される。つまり、ワーク加工の場合と同様に
、ワークステーションからマシニングセンタのワークテ
ーブル62上に搬送車等によって自動搬送され、搭載さ
れる。
シニングセンタによる加工ワークと同様にパレット60
に予め設置される。つまり、ワーク加工の場合と同様に
、ワークステーションからマシニングセンタのワークテ
ーブル62上に搬送車等によって自動搬送され、搭載さ
れる。
他方、マシニングセンタの主軸64には周知の自動工具
交換装置による工具交換と同作用によって、予め工具マ
ガジンに準備された接触形計測ツール、例えば、周知の
タッチプローブ装置66等が装着される。
交換装置による工具交換と同作用によって、予め工具マ
ガジンに準備された接触形計測ツール、例えば、周知の
タッチプローブ装置66等が装着される。
なお、マスター計測装置50をパレット60に設置する
ときは、適宜の断熱シート材を介在させることが好まし
い。
ときは、適宜の断熱シート材を介在させることが好まし
い。
そして、マスター計測装置50の1つの側面がマシニン
グセンタの主軸64に装着されたタッチプローブ装置6
6に対向するように、例えば゛、第1図に示した計測基
準面42を有した計測棒40のA:B、C:D、G:H
S I :Jの組が主軸64の先端を向くように機械の
ワークテーブル上に設置する。
グセンタの主軸64に装着されたタッチプローブ装置6
6に対向するように、例えば゛、第1図に示した計測基
準面42を有した計測棒40のA:B、C:D、G:H
S I :Jの組が主軸64の先端を向くように機械の
ワークテーブル上に設置する。
次いで、マシニングセンタのワークテーブル62のX軸
方向の移動変位、主軸64を有した主軸頭のY軸方向の
移動変位、主軸64の軸心に一致したZ軸方向の移動変
位(X軸、Y軸、Y軸は互いに三次元空間内で直交する
3方向であり、工作機械の加工動作に必要とさる通常の
動作方向である)によって主軸64に装着したタッチプ
ローブ装置66でマスター球34の座標位置を検出する
。
方向の移動変位、主軸64を有した主軸頭のY軸方向の
移動変位、主軸64の軸心に一致したZ軸方向の移動変
位(X軸、Y軸、Y軸は互いに三次元空間内で直交する
3方向であり、工作機械の加工動作に必要とさる通常の
動作方向である)によって主軸64に装着したタッチプ
ローブ装置66でマスター球34の座標位置を検出する
。
このとき、マスター球34は全て直径が既知量の球体で
あるから、タッチプローブ装置66と各マスター球34
との接触時の位置データを得ることにより、簡単に全て
のマスター球34の中心位置のx、y、zデータを検知
、採取することが可能である。 こうして、マスター球
34の座標データ、特に、マスター計測装置50の中心
位置にあるマスター球34と上記4組の針棒40を井゛
桁状に有した側面の両端に装着された2つのマスター球
34との合計3個のマスター球34の座標値データを計
測すれば、マシニングセンタが有する直交3軸のxSy
、z座標系における各マスター球34の座標位置が確定
する。故に、このデータとそれらマスター球34に関し
て登録された絶対座標データとの関係からマスター計測
装置50がマシニングセンタの機械上に設置された状態
における水平面に対する傾きやマシニングセンタ座標の
原点に対するマスター計測装置50の中心のマスター球
34の座標データ等を得ることができる。
あるから、タッチプローブ装置66と各マスター球34
との接触時の位置データを得ることにより、簡単に全て
のマスター球34の中心位置のx、y、zデータを検知
、採取することが可能である。 こうして、マスター球
34の座標データ、特に、マスター計測装置50の中心
位置にあるマスター球34と上記4組の針棒40を井゛
桁状に有した側面の両端に装着された2つのマスター球
34との合計3個のマスター球34の座標値データを計
測すれば、マシニングセンタが有する直交3軸のxSy
、z座標系における各マスター球34の座標位置が確定
する。故に、このデータとそれらマスター球34に関し
て登録された絶対座標データとの関係からマスター計測
装置50がマシニングセンタの機械上に設置された状態
における水平面に対する傾きやマシニングセンタ座標の
原点に対するマスター計測装置50の中心のマスター球
34の座標データ等を得ることができる。
このようにしてマスター球34のデータ取得後にマシニ
ングセンタの静的精度の実測工程に入る。
ングセンタの静的精度の実測工程に入る。
例えば、マシニングセンタのワークテーブル62の面と
主軸64との間におけるY軸とY軸との面角度、Y軸と
Y軸との面角度、Y軸とY軸との面角度を始めとするテ
ーブル動きによる位置決と精度、繰り返し位置決を精度
、ワークテーブル62の割比し旋回におけるテーブル割
出し精度、ワークテーブルのX軸移動変位におけるピッ
チン゛グ精度、同ローリング精度、同ヨー精度、ワーク
テーブル上面の旋回時の面振れ精度、ワークテーブルの
X軸方向の移動変位における真直度管種々の日本工業規
格に指定された静的精度の検査項目に就いて、マスター
計測装置50の計測棒40における計測基準面42を用
いて計測を遂行することができる。
主軸64との間におけるY軸とY軸との面角度、Y軸と
Y軸との面角度、Y軸とY軸との面角度を始めとするテ
ーブル動きによる位置決と精度、繰り返し位置決を精度
、ワークテーブル62の割比し旋回におけるテーブル割
出し精度、ワークテーブルのX軸移動変位におけるピッ
チン゛グ精度、同ローリング精度、同ヨー精度、ワーク
テーブル上面の旋回時の面振れ精度、ワークテーブルの
X軸方向の移動変位における真直度管種々の日本工業規
格に指定された静的精度の検査項目に就いて、マスター
計測装置50の計測棒40における計測基準面42を用
いて計測を遂行することができる。
例えば、ワークテーブル62のX軸方向の移動変位と主
軸64のY軸方向の移動変位の面角度を測定する場合に
ついて簡単に説明する。
軸64のY軸方向の移動変位の面角度を測定する場合に
ついて簡単に説明する。
先ず、ワークテーブル62のX軸方向の移動変位によっ
て主軸64に装着したタッチプローブ装置66を同方向
に移動変位させ、計測棒40の計測基準面42における
B、Dの面を接触検知してデータを採取する。なお、こ
のとき、タッチプローブ装置66を接触させるた狛に微
小のY軸方向の変位が主軸頭の移動により付与されても
良い。
て主軸64に装着したタッチプローブ装置66を同方向
に移動変位させ、計測棒40の計測基準面42における
B、Dの面を接触検知してデータを採取する。なお、こ
のとき、タッチプローブ装置66を接触させるた狛に微
小のY軸方向の変位が主軸頭の移動により付与されても
良い。
次に主軸64をY軸方向に移動変位させて計測棒40の
計測基準面42におけるGと1との基準面にタッチプロ
ーブ装置66を接触させ、同Gと工との基準面を検知す
る。このようにして検知した時点におけるB面、D面、
G面、1面の計測データをB、、D、、G、、I 、と
し、又、予め高精度の三次元測定装置で計測したこれら
4つの計測基準面42の絶対座標データをB、、D、、
Go、Ioとすると、マシニングセンタ上におき、計測
した上記B、、D、、G、、I 、をマスター計測装置
50の座標系の値にマスター球34の上記計測値と三次
元測定装置で予め測定した絶対座標との差に応じて変換
し、その変換後の値をB、D’、G、Iとすると、マシ
ニングセンタにおけるワークテーブル62の移動変位方
向であるY軸と主軸64が上下に移動変位する方向であ
るY軸との間のx:Y面角度は[(G−Go >−(I
−Io )’] XQ/P−[(B−BO’)−(D−
D、) 〕・・・ (1) なる演算によって得ることができる。
計測基準面42におけるGと1との基準面にタッチプロ
ーブ装置66を接触させ、同Gと工との基準面を検知す
る。このようにして検知した時点におけるB面、D面、
G面、1面の計測データをB、、D、、G、、I 、と
し、又、予め高精度の三次元測定装置で計測したこれら
4つの計測基準面42の絶対座標データをB、、D、、
Go、Ioとすると、マシニングセンタ上におき、計測
した上記B、、D、、G、、I 、をマスター計測装置
50の座標系の値にマスター球34の上記計測値と三次
元測定装置で予め測定した絶対座標との差に応じて変換
し、その変換後の値をB、D’、G、Iとすると、マシ
ニングセンタにおけるワークテーブル62の移動変位方
向であるY軸と主軸64が上下に移動変位する方向であ
るY軸との間のx:Y面角度は[(G−Go >−(I
−Io )’] XQ/P−[(B−BO’)−(D−
D、) 〕・・・ (1) なる演算によって得ることができる。
なお、上記(1)式において、Qは面Gと■との間のY
軸に沿う距離、Pは面BとDとの間のY軸に沿う距離で
ある。従って、上述した変換演算や(1)式の演算をマ
シニングセンタに備えられた制御装置のメモリー手段に
予め記憶させておけば、自動的に演算を遂行することが
できる。
軸に沿う距離、Pは面BとDとの間のY軸に沿う距離で
ある。従って、上述した変換演算や(1)式の演算をマ
シニングセンタに備えられた制御装置のメモリー手段に
予め記憶させておけば、自動的に演算を遂行することが
できる。
上述の説明は、マシニングセンタのY軸−Y軸間の面角
度に就いて1例として説明したが、他の日本工業規格(
JIS B 6336 )に規定された工作機械の静的
精度の検査項目に就いても、マスター計測装置50の計
測棒40の基準計測面42を主軸64に装着したタッチ
プローブ66等の計測ツールを用いて接触法で計測を遂
行することができる。
度に就いて1例として説明したが、他の日本工業規格(
JIS B 6336 )に規定された工作機械の静的
精度の検査項目に就いても、マスター計測装置50の計
測棒40の基準計測面42を主軸64に装着したタッチ
プローブ66等の計測ツールを用いて接触法で計測を遂
行することができる。
以上の説明から明らかなように、本発胡によれば、工作
機械の静的精度の計測、その計測結果に基づく較正が単
一のマスター計測ユニットを駆使して全ての検査項目に
就いて連続的に遂行でき、従って工作機械の精度検査を
短時間で達成することができる。しかも、本発明に係る
マスター計測装置は、使用現場の1日の気温の変化や熱
発生源の存在等による温度変化の影響を受けることがな
く、故に、計測精度が温度変化に応じて劣化することが
ないと言う利点がある。
機械の静的精度の計測、その計測結果に基づく較正が単
一のマスター計測ユニットを駆使して全ての検査項目に
就いて連続的に遂行でき、従って工作機械の精度検査を
短時間で達成することができる。しかも、本発明に係る
マスター計測装置は、使用現場の1日の気温の変化や熱
発生源の存在等による温度変化の影響を受けることがな
く、故に、計測精度が温度変化に応じて劣化することが
ないと言う利点がある。
更に、本発明によるマスター計測装置は、単一の計測装
置で多数の計測項目を網羅できるから、マシニングセン
タ等の静的精度をパレットを用いて機械のワークテーブ
ル上に設置し、計測結果を同マシニングセンタの制御装
置に具備された演算手段とメモリー手段を用いて演算す
ることにより自動計測を遂行することができろう。この
結果、工作機械の精度計測を特別な熟練度を有した作業
者しか行い得ないと言う従来の欠点の解消を図ることも
できるのである。
置で多数の計測項目を網羅できるから、マシニングセン
タ等の静的精度をパレットを用いて機械のワークテーブ
ル上に設置し、計測結果を同マシニングセンタの制御装
置に具備された演算手段とメモリー手段を用いて演算す
ることにより自動計測を遂行することができろう。この
結果、工作機械の精度計測を特別な熟練度を有した作業
者しか行い得ないと言う従来の欠点の解消を図ることも
できるのである。
なお、本発明に係るマスター計測装置は工作機械の静的
精度ばかりでなく、工作加工現場や検査現場で使用され
る種々の計測装置の静的精度の測定、較正やその他の一
般機械類の精度測定にも適用できることは言うまでもな
い。
精度ばかりでなく、工作加工現場や検査現場で使用され
る種々の計測装置の静的精度の測定、較正やその他の一
般機械類の精度測定にも適用できることは言うまでもな
い。
第1図は、本発明に係る機械の静的精度計測用のマスタ
ー計測装置の構造を示す斜視図、第2A図から第2C図
は、六面体構造を有した支持ブロックの構造を示す断面
図、上面図、2C−2C断面図、第3図は、線膨張係数
が略0の棒状材料によって形成される基準計測棒の正面
図、第4図は、工作機械の静的精度の計測方法を説明す
る略示斜視図、第5図と第6図は従来技術による工作機
械の静的精度の計測方法を説明する略示図。 20・・・支持ブロック、22・・・下底面、30・・
・保持具、34・・・マスター球、40・・・計測棒、
42・・・計測基準面。 2B 2Bt 第2A図 第2B図 第2C図 第3図 第4yU
ー計測装置の構造を示す斜視図、第2A図から第2C図
は、六面体構造を有した支持ブロックの構造を示す断面
図、上面図、2C−2C断面図、第3図は、線膨張係数
が略0の棒状材料によって形成される基準計測棒の正面
図、第4図は、工作機械の静的精度の計測方法を説明す
る略示斜視図、第5図と第6図は従来技術による工作機
械の静的精度の計測方法を説明する略示図。 20・・・支持ブロック、22・・・下底面、30・・
・保持具、34・・・マスター球、40・・・計測棒、
42・・・計測基準面。 2B 2Bt 第2A図 第2B図 第2C図 第3図 第4yU
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、計測対象機械に設置して用いられ、該機械に装着し
た接触形計測ツールで接触検知する基準接触面を備える
ことにより機械の静的精度を計測するマスター計測装置
において、前記計測対象機械の載台面に直接またはパレ
ットを介して載置される基準底面を有し、低膨張材から
成る支持ブロックと、 線膨張計数が略0値の棒体の少なくとも両端面を前記接
触形計測ツールと協動する基準計測面にして複数の該棒
体を井桁状に組んで前記支持ブロックに取付け固定した
基準計測棒と、 前記支持ブロックの基準底面と反対の頂面に相互に分離
して取付、固定される少なくとも3つの座標基準設定用
のボールと、 を具備して構成されることを特徴とした機械の静的精度
計測用のマスター計測装置。 2、前記支持ブロックは立方体又は直方体形状を有した
中空ブロックからなると共に該立方体又は直方体の少な
くとも1つの面が平面度の高い前記基準底面に形成され
、該基準底面を囲む四面の少なくとも一つの面に4つの
前記棒体が井桁状に取付、固定され、空間に8つの基準
計測面を形成して成る請求項1に記載の機械の静的精度
計測用のマスター計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28445990A JP2858926B2 (ja) | 1990-10-24 | 1990-10-24 | 機械の静的精度計測用のマスター計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28445990A JP2858926B2 (ja) | 1990-10-24 | 1990-10-24 | 機械の静的精度計測用のマスター計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04160301A true JPH04160301A (ja) | 1992-06-03 |
JP2858926B2 JP2858926B2 (ja) | 1999-02-17 |
Family
ID=17678810
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28445990A Expired - Fee Related JP2858926B2 (ja) | 1990-10-24 | 1990-10-24 | 機械の静的精度計測用のマスター計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2858926B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6782730B2 (en) | 2000-02-22 | 2004-08-31 | Asanuma Giken Co., Ltd. | Inspection master block and method of producing the same |
JP2010085237A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Topcon Corp | 玉型形状測定方法及びその装置 |
JP2010085360A (ja) * | 2008-10-02 | 2010-04-15 | Ntn Corp | 自動寸法測定装置 |
JP2014506989A (ja) * | 2011-03-01 | 2014-03-20 | 新東工業株式会社 | 立方体基準器 |
US8999162B2 (en) | 2010-02-04 | 2015-04-07 | Econopure Water Systems, Llc | Water treatment systems and methods |
JP2016151520A (ja) * | 2015-02-18 | 2016-08-22 | 株式会社浅沼技研 | 直角ステップゲージ |
US10513446B2 (en) | 2014-10-10 | 2019-12-24 | EcoDesal, LLC | Depth exposed membrane for water extraction |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004333368A (ja) * | 2003-05-09 | 2004-11-25 | Photron Ltd | 移動物体撮影系の三次元定数取得用キャリブレーション治具 |
-
1990
- 1990-10-24 JP JP28445990A patent/JP2858926B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6782730B2 (en) | 2000-02-22 | 2004-08-31 | Asanuma Giken Co., Ltd. | Inspection master block and method of producing the same |
JP2010085237A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Topcon Corp | 玉型形状測定方法及びその装置 |
JP2010085360A (ja) * | 2008-10-02 | 2010-04-15 | Ntn Corp | 自動寸法測定装置 |
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JP2014506989A (ja) * | 2011-03-01 | 2014-03-20 | 新東工業株式会社 | 立方体基準器 |
US10513446B2 (en) | 2014-10-10 | 2019-12-24 | EcoDesal, LLC | Depth exposed membrane for water extraction |
JP2016151520A (ja) * | 2015-02-18 | 2016-08-22 | 株式会社浅沼技研 | 直角ステップゲージ |
WO2016132407A1 (ja) * | 2015-02-18 | 2016-08-25 | 株式会社浅沼技研 | 直角ステップゲージ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2858926B2 (ja) | 1999-02-17 |
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