CN116529680A - 用于检验三轴机床的几何偏差的测量体、三轴机床和用于补偿三轴机床的几何偏差的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及用于检验三轴机床(1)中的几何偏差的测量体，包括：基板(20)；第一壁(21)，其配置在基板(20)上并从基板(20)垂直突出；第二壁(22)，其配置在基板(20)上并从基板(20)垂直突出，其中在基板(20)中形成第一孔排(23)和第二孔排(24)，其中第一壁(21)在上部暴露区域处具有阶梯区域(25)，阶梯区域(25)具有多个阶梯(25a)，并且其中第二壁(22)在上部暴露区域处具有阶梯区域(25)，阶梯区域(25)具有多个阶梯(25a)。本发明还涉及一种具有这种测量体的三轴机床以及一种用于检验并补偿三轴机床的几何偏差的方法。

Description

用于检验三轴机床的几何偏差的测量体、三轴机床和用于补 偿三轴机床的几何偏差的方法

技术领域

本发明涉及用于一种检验三轴机床的几何偏差的测量体、以及一种具有改进的几何精度的三轴机床、以及一种用于检验并补偿三轴机床的几何偏差的方法。

背景技术

机床的几何精度一直是机床中众所周知的问题。机床的几何精度由工具相对于工件的实际位置和定向与标称位置和定向的相对偏差确定。因此，该误差导致与理想工件几何形状的偏差并从而影响机床的工作精度。为了改进几何精度，通常要考虑单轴偏差以及单轴彼此之间的位置和定向。

假设为刚体模型，三轴机床具有三种线性偏差(一种在轴向上，而两种垂直于轴向)和三种旋转偏差(偏航、俯仰和滚转)。因此，各线性轴有六种偏差，导致三个线性轴有18种偏差。另外，必须考虑线性轴彼此之间的三种垂直度偏差。因此，三轴机床在几何形状方面总共有21种可能的误差。单独的偏差可能重叠，并且因此实际上导致较大的总误差，这以不期望的方式影响着机床的几何精度。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于检验三轴机床的几何偏差的测量体、一种三轴机床以及一种用于检验并补偿三轴机床的几何偏差的方法，其中测量体和三轴机床被设计为尽可能简单且便宜，并且能够以尽可能便宜且迅速地进行该方法。

该目的将通过具有权利要求1的特征的测量体、具有权利要求9的特征的三轴机床以及具有权利要求11的特征的方法来实现。本发明的优选的其他实施方式将在相应的从属权利要求中示出。

另一方面，根据本发明的具有权利要求1的特征的用于检验三轴机床的几何偏差的测量体具有的优点是，能够使用测量体来补偿三轴机床的几何偏差，使得三轴机床不具有线性偏差且不具有垂直度偏差。这意味着然后能够使用三轴机床以最大精度对工件进行加工。基于测量体所确定的校正数据可以直接用于三轴机床的误差补偿。根据本发明，这将通过具有基板、第一壁和第二壁的测量体来实现。第一壁配置在基板上并从基板竖直突出。第二壁也配置为从基板竖直突出。在此，在基板中形成第一孔排和第二孔排。此外，第一壁形成为在背离基板的一侧具有多个阶梯的台阶形状。类似地，第二壁也形成为在背离基板的一侧具有多个阶梯的台阶形状。因此，第一壁和第二壁的阶梯区域分别位于第一壁和第一壁的上部暴露区域处。因此，第一壁和第二壁的上部暴露区域形成台阶部，在基板在X方向和Y方向上跨越基面的情况下，在该台阶部处能够被检测到在Z方向上不同的位置。由于第一壁和第二壁的上部暴露阶梯区域，第一壁和第二壁具有大致三角形形状。

优选地，第一壁沿着基板的第一边缘配置，第二壁沿着基板的第二边缘配置。此外，第一孔排沿着基板的第三边缘配置，第二孔排沿着基板的第四边缘配置。因此，矩形(优选正方形)基板具有沿着两个边缘的第一壁和第二壁，以及沿着另两个边缘的第一孔排和第二孔排。

最优选地，第一壁和第二壁配置为使得它们在基板的拐角处彼此邻接或形成拐角区域。在这种情况下，第一壁和第二壁能够配置在基板上，或替选地，第一壁与第二壁配置在基板的侧向区域上，基板的拐角位于接触的第一壁及第二壁的拐角线上。

优选地，第一壁和第二壁以相同方式形成，以便于测量体的生产。此外优选地，各壁的台阶区域的各阶梯表面具有基准孔。优选地，基准孔形成在阶梯表面的中心。此外优选地，对各阶梯表面进行磨削或铣削。优选地，基准孔是穿孔。这使得在阶梯的磨削表面用于确定Z坐标并且孔的中心点用作X和Y坐标的情况下，能够将孔和磨削表面分别作为基准元件。

此外优选地，在基板上以与第一孔排相邻的方式形成第一基准表面，在基板上以与第二孔排相邻的方式形成第二基准表面。因此，两个基准表面也是基准元件并且分别构造为用于确定Z坐标。

为了使测量工艺尽可能简单，第一孔排的孔沿第一直线配置，第二孔排的孔沿第二直线配置。第一直线优选地垂直于第二直线。

此外优选地，第一基准表面和第二基准表面以带状配置为与孔排相邻并且平行于两个孔排。最优选地，第一基准表面和第二基准表面是磨削或铣削表面。此外优选地，第一基准表面和第二基准表面平行于基板的边缘延伸。

最优选地，第一孔排和第二孔排包括相同数量的孔、相同的孔间距和相同的孔径。

测量体优选地由因瓦合金制成。因瓦合金具有非常低的热膨胀系数，并且因此特别适合于制造测量体。此外优选地，第一壁和第二壁的厚度与基板的厚度相同。

此外，本发明涉及三轴机床，三轴机床包括工具主轴；测量装置、尤其是3D测量探头，其可夹持到工具主轴中；以及用于控制三轴机床的控制单元。此外，三轴机床包括根据本发明的测量体，其中控制单元配置为基于先前确定的测量体的几何标称尺寸与在三轴机床中由测量装置确定的测量体的实际几何尺寸进行标称/实际比较，来执行三轴机床的几何数据的校正。因此，控制单元具有存储器，测量体的几何标称尺寸记录在存储器中，该几何标称尺寸在先前步骤中在测量机中确定。为了确定三轴机床中的测量体的实际几何尺寸，控制单元优选地启动用于测量测量体的NC程序，以确定测量体的实际值。因此，通过将标称值与实际值进行比较，能够对三轴机床的几何数据进行校正，这显著改进了工件被三轴机床加工的精度。因此，能够以简单的方式实现对三轴机床的几何误差的补偿。标称值优选地记录在存储器中。此外优选地，测量体包括用于将测量体放置或夹持到加工台上的三点支座。这意味着测量体立在三个脚部上，三个脚部尽可能远地配置在基板下方。

此外，本发明涉及用于检验并补偿三轴机床的几何偏差的方法，该方法包括以下步骤：

-将测量装置、尤其是3D测量探头夹持在三轴机床的主轴中，

-将测量体配置在三轴机床的工作区中，

-移动至测量体的多个不同位置，以收集测量体的几何实际数据，

-执行测量体所获取的实际数据与测量体的预确定的标称数据之间的标称/实际比较，以确定几何偏差，并且

-在三轴机床的控制单元中补偿三轴机床的几何偏差，以提高三轴机床的工作精度。

根据本发明的工艺能够以相对快速且安全的方式执行。尤其地，根据本发明的方法也可以在将三轴机床交付给客户之后的短时间内执行，使得客户那里的主要条件、尤其是客户现场的温度条件不再对操作中的三轴机床的几何精度不利。

当然，如果需要，也可以在三轴机床的制造商处执行该方法，以在三轴机床的制造商现场处优化制造工艺。

优选地，在坐标测量机中预先确定测量体的标称值，并且然后在三轴机床的工作区中将测量体配置成使得测量体的坐标系与三轴机床的坐标系一致。

此外优选地，当在三轴机床中测量测量体时，检测工作空间的温度，并且将基于检测到的工作区的温度来执行实际数据的校正。这进一步改进了几何偏差的补偿精度。

根据本发明的方法，优选地分别确定相应轴在X方向、Y方向和Z方向上的位置偏差，并且还确定相应轴的两个直线度偏差。因此，能够检测到总共九种不同的几何误差源。

此外优选地，计算分别在三个轴(即，X轴、Y轴和Z轴)之间的垂直度误差，从而进一步改进用于补偿几何偏差的精度并且能够检测到总共十二种几何偏差。

附图说明

下面将在参考附图的情况下描述本发明的优选示例性实施方式，其中：

图1为根据本发明的优选示例性实施方式的三轴机床中的测量体的示意性立体图，

图2为从另一个角度观察的图1的测量体的示意性立体图，

图3为图2的测量体的示意性俯视图，以及

图4为图1的三轴机床的示意性整体立体图。

具体实施方式

在下文中，在参考图1至图4的情况下详细描述具有用于检验三轴机床的几何偏差的测量体2的三轴机床1。

此外，在参考图1至图4的情况下，还将描述用于检验并补偿三轴机床的几何偏差的方法。

如从图1和图4可以看出，三轴机床1包括工作区3、主轴4和控制单元10。

如从图1和图4可以看出，测量体2配置在三轴机床1的加工台6上。

测量体2在图2和图3中详细示出。测量体2构造用于检验三轴机床的几何偏差。尤其地，能够使用测量体2来非常准确地确定用于定位三轴机床1的工具的坐标。

测量体2包括平面基板20，平面基板在X方向和Y方向上延展基面。此外，测量体2包括第一壁21和第二壁22。第一壁21和第二壁22配置在基板20上，并且从基板20垂直突出。

如从图2可以看出，第一壁21和第二壁22配置在基板20的基表面上。

第一壁21和第二壁22沿着基板20的边缘配置。更具体地，第一壁21沿着基板20的第一边缘20a配置，第二壁22沿着基板20的第二边缘20b配置。

第一壁21和第二壁22在基板20上由此配置成第一壁和第二壁会在基板的拐角处彼此接触。从而产生拐角线27(参见图1)，拐角线27垂直于基板20的基表面。

如从图1和图2可以看出，第一壁21和第二壁22在形状上为三角形，第一壁和第二壁中的每一者的上部自由端处形成有阶梯。因此，在在各壁上暴露阶梯区域25的情况下，形成阶梯构成的三角形。如图2所示，各阶梯25a具有基准孔26以及磨削或铣削阶梯表面26a。第一壁和第二壁的厚度优选地被选择为相同。此外优选地，基板20的厚度也与壁21、22的壁厚相同。

此外，测量体2包括在基板20中的第一孔排23和第二孔排24。第一孔排23包括沿第一直线31配置的多个孔23a。第二孔排24包括沿第二直线32配置的多个第二孔24a。在此，孔23a、24a的相应中心沿直线31、32配置。第一直线31和第二直线32相交成直角。

如从图2可以看出，第一带状基准表面28配置在第一孔排23旁边。第二带状基准表面29配置在第二孔排24旁边。基准表面分别位于第三边缘20c和第四边缘20d与孔排之间(参见图2)。

基板20为正方形形状，因此第一孔排23和第二孔排24中的孔的数量相同。两个孔排的共用孔30设置在与两壁部彼此接触的拐角相对的拐角中。

如图2所示，Z方向垂直于X方向并且Z方向垂直于Y方向。

测量体2固定在三轴机床1的加工台6上。此外，3D测量探头配置在主轴4中，用于借助于测量体2执行三轴机床的实际坐标的确定。

三轴机床1还包括控制单元10，控制单元10配置为控制三轴机床。控制单元10还配置为基于测量体2的几何尺寸的标称/实际比较来执行三轴机床1的几何数据的校正。

如上所释，三轴机床包括三个线性轴，即在X方向上的第一轴、在Y方向上的第二轴和在Z方向上的第三轴。

总的来说，三个线性轴导致二十一种偏差，其中三种偏差是线性轴彼此之间的垂直度偏差。因此，三轴机床总共产生二十一种误差参数。

因此，使用根据本发明的方法，能够对如图4所示的三轴机床(龙门式机器)的位置偏差、直线度偏差和垂直度偏差执行检验和校正。

为此目的，首先借助于未示出的坐标测量机来测量测量体2，以生成标称值。然后将这些标称值提供给三轴机床1的控制单元10并记录在存储器中。为了测量测量体2，以X-Y平面平行于基板20的方式建立坐标系。因此，基于反复确定测量体2的不同基准元件的Z位置、X位置和Y位置来确定测量体2(优选地由因瓦合金制成)的几何形状。同时，还确定了测量体2的坐标系的零点。例如，使用第一基准表面28和第二基准表面29以及磨削阶梯表面26a作为用于Z位置的基准元件。孔排23、24的孔和阶梯中的孔26充当用于X位置和Y位置的基准元件。

现在，将测量体2放置在三轴机床的工作区3中的加工台6上，以测量三轴机床的几何偏差。在此工艺期间，测量体2能够被夹持或以其他方式固定在加工台上。在这种情况下，测量体的X-Y-Z坐标系应当大致平行于三轴机床的X-Y-Z坐标系对齐。然后将使用3D测量装置5(例如3D测量探头)对三轴机床1中的测量体2执行测量。典型地，现代三轴机床具有例如用于检测部件位置和部件几何形状的3D测量探头。

因此，在测量之前，将三轴机床的坐标系与先前测量测量体2的坐标测量机的坐标系一致地对齐。

在将测量体2固定在三轴机床的工作区3中之后，控制单元10优选地能够运行全自动NC程序，以使用3D测量探头5测量测量体2，从而确定三轴机床1的实际值。

优选地，当在三轴机床1的工作区中测量测量体2时，还测量并记录三轴机床1的工作区3的温度。如果工作区的该温度与基准温度(例如20℃)不同，则在工件加工期间必须考虑待在三轴机床上加工的工件的热膨胀系数。因此在这点上必须相应地校正三轴机床的实际值。

在三轴机床1中完成测量体2的测量以及在必要时完成对实际值的热力学调节之后，三轴机床的实际值被确定并且能够与测量体的标称值比较。通过比较标称/实际值，三轴机床的形式为位置偏差、直线度偏差和垂直度偏差的几何偏差能够被计算出并且因此能够被检验并校正。图3示出了测量体2的俯视图中的直线度偏差G、垂直度偏差R和位置偏差P的示例。

例如，X轴位置偏差能够首先通过评估在基板20上沿着X轴的所测量的基准元件在X方向上的实际位置与标称位置的差异来确定。由于测量体2的零点和基准元件相对于零点的位置是已知的，因此能够将所确定的差异分配给三轴机床的X轴位置。得到三轴机床的X轴位置和在这些X轴位置处在X方向上的位置偏差的表。由此，这些位置偏差能够被记录并直接用作用于在控制单元10中的三轴机床的误差补偿的校正数据。

替选地，也可以对偏差进行数学预处理。例如，也可以用各种数学函数来粗略估算偏差。尤其是在具有很少基准元件的较小测量体2的情况下，例如，可设想用直线(补偿线)来粗略估算差异。在这种情况下，仅校正刻度误差。

由于测量体2仅覆盖三轴机床的工作区3的一部分，因此优选地借助于对应的数学函数来推断所获取的实际值。以这种方式，针对三轴机床1的整个工作区3获取偏差。

以相同的方式确定X轴的直线度偏差G。在此，Y方向和Z方向上的位置偏差P分别被分配给X轴位置。Y方向上的实际位置与标称位置之间的差异来自于阶梯区域25上的基准孔26和孔排23、24的孔所确定的中心。Z方向上的实际位置与标称位置之间的差异来自于基板20上的基准表面28、29和磨削阶梯表面26a。同样，在此，数学预处理或粗略估算是可行的。

一旦已经计算出用于X轴的位置偏差和直线度偏差的校正数据，则使用用于X轴的位置偏差、X轴在Y方向上的直线度偏差和X轴在Z方向上的直线度偏差的校正数据来调节基准元件的实际位置的所有测量数据以进一步评估。在这点上，优选地假设调节后的实际位置在X方向上不再具有任何误差。这使得能够在随后的评估中计算Z方向上的误差，而这些Z方向上的误差不受X方向上的误差的影响。这是因为在壁21沿X方向配置的情况下，必须移动X轴以便能够在不同的Z轴位置处测量基准孔26。

在下一个步骤中，能够计算出X轴与Y轴之间的垂直度误差R。为此目的计算出两条补偿线。第一补偿线由基板2上的基准元件沿着X方向的X轴位置和它们在Y方向上的位置偏差得到。第二补偿线由基板2上的基准元件沿着Y方向的Y轴位置和它们在X方向上的位置偏差得到。然后计算出两条补偿线之间的角度α(见图3)。所确定的偏差能够直接用作用于在控制单元10中的误差补偿的校正值。

随后，基于垂直度误差，根据基准元件的Y位置来调节测量数据中所有基准元件的实际位置，使得测量数据不再包含X-Y垂直度误差。

然后，以与X轴相同的方式计算出Y轴的位置偏差和直线度偏差。为此目的，评估基板2上的基准位置沿着Y轴的实际位置与标称位置的差异(见图3)。与零点一起，得到三轴机床的Y轴位置以及在这些Y轴位置处在X、Y和Z方向上的位置偏差的表。如X轴一样，数据能够被进一步处理或作为用于三轴机床的误差补偿的校正数据被直接传输到控制单元10。同样，应当用适当的数学函数来推断补偿数据以限定整个工作区3。

随后，使用用于Y轴的位置偏差和两个直线度偏差的校正数据来调节基准元件的所有实际位置以进一步评估。在这点上，优选地假设调节后的实际位置在Y方向上不再具有任何误差。这使得能够在进一步评估中计算Z方向上的误差，而这些误差不受Y方向上的误差的影响。这是因为，在第二壁22沿Y方向配置的情况下，必须移动Y轴以便能够在不同的Z轴位置处测量孔26。

在下一个步骤中，计算出X轴与Z轴之间的垂直度。为此目的，计算出两条补偿线。第一补偿线由基板2上的基准元件沿着X方向的X轴位置和它们在Z方向上的位置偏差得到。第二补偿线由第一壁21(阶梯三角形)上的基准元件沿着X方向的Z轴位置和它们在X方向上的位置偏差得到。然后计算出两条补偿线之间的角度α。所获得的偏差能够直接用作用于在控制单元10中的误差补偿的校正值。

类似地，计算出Y轴与Z轴之间的垂直度。第一补偿线由基板20上的基准元件沿着Y方向的Y轴位置和它们在Z方向上的位置偏差得到。第二补偿线由第二壁22上的基准元件沿着Y方向的Z轴位置和它们在Y方向上的位置偏差得到。这两条直线之间的垂直度偏差能够同样直接用作用于误差补偿的校正值。

然后基于垂直度误差，根据基准元件的Z位置来调节测量数据中所有基准元件的实际位置，使得测量数据不再包含X-Z垂直度误差和Y-Z垂直度误差。

在最后的步骤中，计算出Z轴的几何偏差。为此目的，使用两个三角形壁21、22的基准元件(基准孔26和磨削阶梯表面26a)。由于已经从先前评估中的测量数据计算出X轴和Y轴的误差以及三个垂直度误差，因此在该步骤中假设在X方向或Y方向上进行测量阶梯所需的工艺不会影响Z轴的几何偏差。

因此，通过评估两个壁21、22上的基准位置在Z方向上的实际位置与目标位置的差异来确定Z轴的位置偏差。由于测量体2的零点和基准元件相对于零点的位置是已知的，因此能够将所确定的差异分配给三轴机床的Z轴位置。得到Z轴位置表，其因此能够直接用作用于三轴机床的误差补偿的校正数据。如X轴和Y轴一样，该数据能够被进一步处理，或直接用作校正数据。同样，能够使用适当的数学函数来推断补偿数据。

Z轴的直线度偏差将以类似于其他轴的方式来确定。在此，将Y方向或X方向上的位置偏差分配给Z轴位置。实际位置与标称位置之间的差异由所确定的孔的中心得到。直线度偏差的进一步处理可以与Z轴位置偏差相同地执行。

以此方式，能够使用测量体2检验和校正除偏航、俯仰和滚转之外的所有几何误差。该方法尤其适合于在热工况变化后校正三轴机床几何形状，因为在这种情况下通常出现线性误差，该线性误差可以被顺利地推断出。另外，如果工作区中存在的温度与基准温度不同，则也可以使用该方法使三轴机床的几何形状适应于具有不同热膨胀系数的材料。

除了上述对本发明的书面描述外，本文还特别参考图1至图4中的本发明的图示来用于补充其公开内容。

附图标记列表

1三轴机床

2测量体

3工作区

4主轴

5测量装置(3D探头)

6加工台

10控制单元

20基板

20a第一边缘

20b第二边缘

20c第三边缘

20d第四边缘

21第一壁

22第二壁

23第一孔排

23a第一孔排的孔

24第二孔排

24a第二孔排的孔

25阶梯区域

25a阶梯

26基准孔

26a磨削阶梯区

27拐角线

28第一基准表面

29第二基准表面

30共用孔

31第一直线

32第二直线

G直线度偏差

R垂直度

P位置偏差

X X轴

Y Y轴

Z Z轴

Claims (15)

1.一种用于检验三轴机床(1)中的几何偏差的测量体，该测量体包括：

-基板(20)，

-第一壁(21)，所述第一壁(21)配置在所述基板(20)上并从所述基板(20)垂直突出，以及

-第二壁(22)，所述第二壁(22)配置在所述基板(20)上并从所述基板(20)垂直突出，

-其中在所述基板(20)中形成第一孔排(23)和第二孔排(24)，

-其中所述第一壁(21)在上部暴露区域处具有阶梯区域(25)，所述阶梯区域(25)具有多个阶梯(25a)，并且

-其中所述第二壁(22)在上部暴露区域处具有阶梯区域(25)，所述阶梯区域(25)具有多个阶梯(25a)。

2.根据权利要求1所述的测量体，其中所述第一壁(21)沿着所述基板(20)的第一边缘(20a)配置，并且其中所述第二壁(22)沿着所述基板(20)的第二边缘(20b)配置，其中所述第一孔排(23)沿着所述基板(20)的第三边缘(20c)配置，并且其中所述第二孔排(24)沿着所述基板(20)的第四边缘(20d)配置。

3.根据前述权利要求中任一项所述的测量体，其中所述第一壁(21)和所述第二壁(22)在所述基板(20)的拐角处彼此相邻。

4.根据前述权利要求中任一项所述的测量体，其中所述第一壁(21)的所述阶梯(25a)和所述第二壁(22)的所述阶梯(25a)具有相等的阶梯高度和/或相等的阶梯长度和/或相等的阶梯数量。

5.根据前述权利要求中任一项所述的测量体，其中各阶梯(25a)具有磨削或铣削阶梯表面(26a)和基准孔(26)。

6.根据前述权利要求中任一项所述的测量体，其中与所述第一孔排(23)相邻地配置有第一基准表面(28)作为用于Z方向的基准，并且与所述第二孔排(24)相邻地配置有第二基准表面(29)作为用于所述Z方向的基准，其中所述Z方向垂直于所述基板(20)。

7.根据前述权利要求中任一项所述的测量体，其中所述第一孔排(23)的所述孔位于第一直线(31)上，和/或其中所述第二孔排(24)的所述孔位于第二直线(32)上。

8.根据权利要求7所述的测量体，其中所述第一基准表面(28)和所述第二基准表面(29)配置为带状的并平行于所述第一孔排(23)和所述第二孔排(24)。

9.一种三轴机床，其包括

-工具主轴(4)，

-根据前述权利要求中任一项所述的测量体(2)，

-测量装置(5)，所述测量装置(5)能夹持到所述工具主轴(4)中并且构造为检测固定在所述三轴机床(1)中的所述测量体(2)的实际值，以及

-控制单元(10)，所述控制单元(10)配置为控制所述三轴机床(1)，

其中所述控制单元(10)还配置为基于所述测量体(2)的尺寸的几何标称值和针对所述三轴机床(1)使用所述测量装置(5)确定的固定在所述三轴机床(1)中的所述测量体(2)的实际值来执行标称-实际比较；并且在所述标称值与所述实际值之间出现偏差的情况下，执行在所述控制单元(10)的控制程序中的所述三轴机床(1)的几何数据的校正。

10.根据权利要求9所述的三轴机床，其中所述控制单元包括存储器，所述测量体(2)的所述标称值记录在所述存储器中。

11.一种用于检验并补偿三轴机床的几何偏差的方法，该方法包括以下步骤：

-将测量装置(5)夹持在所述三轴机床的工具主轴(4)中，

-将根据权利要求1至9中任一项所述的测量体(2)配置在所述三轴机床的工作区(3)中，

-移动至所述测量体(2)的多个位置，以使用所述测量体(2)收集所述三轴机床的几何实际数据，

-执行所述测量体(2)的实际几何数据与记录的标称数据的标称/实际比较，以确定几何偏差，并且

-在所述三轴机床的控制单元(10)中补偿所述几何偏差。

12.根据权利要求11所述的方法，其中所述测量体(2)的所述标称值在坐标测量机中预先被确定，并且所述测量体(2)在所述三轴机床的所述工作区(3)中配置成使得所述测量体(2)的坐标系与所述三轴机床的坐标系一致。

13.根据权利要求11或12所述的方法，其中在所述三轴机床(1)中测量所述测量体(2)期间，检测所述工作区(3)的温度，并且基于检测到的所述工作区(3)的所述温度来执行所述实际数据的校正。

14.根据权利要求11至13中任一项所述的方法，其中分别在X方向、Y方向和Z方向上确定相应轴的位置偏差和相应轴的两个直线度偏差。

15.根据权利要求11至14中任一项所述的方法，其中计算在X轴、Y轴和Z轴之间的垂直度误差。