JPH0415873A - 諭理回路シミュレーシヨン用テストパターンの管理方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、ＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ　　５ｃａｌｅ　　Ｉｎ
ｔｅｇｒａｔｉｏｎ：大規模集積回路）設計や、プリン
ト基板設計などの論理シミュレーションに用いるテスト
パターンの管理方法に係り、特に、任意の利用者が利用
する場合に、目的のテストパターンを、効率良く出力す
るのに好適な論理回路シミュレーション用テストパター
ンの管理方法に関するものである。

〔従来の技術］ 従来、半導体集積回路の設計技術等において、その論理
回路の正しさを確認する論理検証が重要なものとなって
おり、特に、集積度の増大に伴い、論理シミュレーショ
ンを用い、コンピュータにより自動的に設計結果の正し
さを確認する論理検証方法が取り入れられている。

すなわち、設計対象である集積回路の設計言語と、シミ
ュレーション実行制御データとに基づき論理シミュレー
トし、結果として動作を表すタイムチャートを出力する
。論理回路の動作の不良解析は、このタイムチャートの
内容を確認することにより行われる。

このような、論理シミュレーションに関しては、電子情
報通信学会編「電子情報通信ハンドブック」（１９８８
年、オーム社発行）のｐｐ、８５３〜８５４、および、
ｐｐ、１６５７〜１６５８に記載されている。

さて、従来、論理シミュレーションを用いて検証する為
には、その検証の対象となる論理回路と、入力信号に対
するテストパターンが必要となる。

通常、論理シミュレーションでは、対象となる論理回路
に対して、複数のテストパターンにより、動作の確認を
行なう。また、ＬＳＩなどの設計においては、ＬＳＩメ
ーカーなどでの確認、および、出荷検査の為に、テスト
パターンが必要となる。

そのために、設計者は、論理設計が終了した後、ＬＳＩ
メーカーなどに、論理回路とテストパターンを提出する
。

このテストパターンは、出力ビンで、内部動作が確認で
きるようにされている。しかし、実際の設計では、内部
動作を追うために、出力ビンに変化がないテストパター
ンや、はんの一部しか変更しておらず、同じ様なテスト
パターンなどが多数存在している。そのために、メーカ
ーへの提出は、それらの中から、必要なものだけを選択
して行なう。

この場合、どのテストパターンを提出するべきかの選択
は、−射的には、設計者自身の記憶や、設計者の作成し
た資料に基づき行なわれている。

また、特に、各テストパターンに、ある一定のルールに
基づいたファイル名を付けて管理しているものもある。

例えば、提出用は、ｒＴＰＩＪ、「ＴＰ２」等として、
確認用は、ｒＴＥｓＴＩＪ、ｒＴＥＳＴ２Ｊ等と決めて
運用しているものもある。

［発明が解決しようとする課題］ しかし、従来のＣＡＤ　（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ　　Ａｉｄ
ｅｄＤｅｓｉｇｎ　：コンピュータ支援設計）における
論理回路検証装置では、シミュレーションを行なうこと
が出来て、その速度が早ければ良いと言うものが多く、
入力となるテストパターンに関しては、その使用目的な
どの管理等、全て、テストパターン設計者に任されてい
る。

従って、テストパターン設計者が、資料などを作成し、
テストパターンの内容等を、文書で管理していない場合
は、テストパターン設計者に間合せない限り、各テスト
パターンで確認している内容や、目的が分からない。こ
のように、テストパターン設計者が、テストパターンを
、文書で管理していない場合は、他の設計者や、ＬＳＩ
メーカーなどの技術者は、必要なテストパターンと、必
要のないテストパターンとの識別が出来ない。

また、従来、ＬＳＩメーカーなどへの提出用テストパタ
ーンは、メーカー指定のフォーマットで提出する必要が
あり、通常、テストパターン設計者は、−本ずつ、メー
カー指定のフォーマットに変換している。そのために、
テストパターン設計者の時間と手間がかかり、大きな負
担となっていた。もし、バッチ処理的なファイルを、テ
ストパターン設計者が作成すれば、−度に変換すること
も可能であるが、そのファイル作成もテストパターン設
計者が行なわなければならない作業が含まれており、大
きな負荷となっていた。

本発明の目的は、これら従来技術の課題を解決し、テス
トパターンの識別を、コンピュータ上で行ない、設計者
の管理負担を低減すると共に、設計者以外のテストパタ
ーンの利用を容易にし、テストパターンの管理効率を向
上させる論理回路シミュレーション用テストパターンの
管理方法を提供することである。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するため、本発明の論理回路シミュレー
ション用テストパターンの管理方法は、（１）複数個の
テストパターンの設計者が、それぞれのテストパターン
に対応して入力した名称を、それぞれのテストパターン
に付与するステップと、さらに、この名称を付与したそ
れぞれのテストパターンに対応して、設計者が入力した
それぞれのテストパターンを識別する属性を付与するス
テップと、この属性と名称との関連付けを示すテーブル
を作成するステップと、そして、任意の操作者からの属
性で特定したテストパターンの出力要求に基づき、この
任意の操作者の特定した属性に関連付く全てのテストパ
ターン名称を、テーブルを参照して抽出するステップと
、この抽出した名称を付与したテストパターンを全て出
力するステップとを含むことを特徴とする。

また、（２）上記（１）に記載の論理回路シミュレーシ
ョン用テストパターンの管理方法において、属性で特定
したテストパターンの任意の操作者からのフォーマット
変換要求に基づき、この任意の操作者が特定した属性に
関連付く全てのテストパターン名称を、テーブルを参照
して抽出するステップと、この抽出した名称を付与した
テストパターンを全て出力するステップと、この出力し
た全テストパターンのフォーマットを変換するステップ
とを含むことを特徴とする。

〔作用〕

本発明においては、テストパターンの設計者の操作に基
づき、テストパターンの入力、および、検証時に、それ
ぞれのテストパターンに対応して名称を付与する。

同様に、設計者の操作に基づき、この名称に対応して、
それぞれのテストパターンを識別する属性、すなわち、
ＬＳＩメーカー等への提出用のテストパターンか、もし
くは、部分テスト等の確認のだめのテストパターンであ
るかなどを識別するための情報を関連付け、これらの関
連付けを、覧で示すテーブルを作成する。

そして、任意の操作者が、特定のテストパターンを再利
用する場合には、この特定のテストパターンを識別する
属性で指定する。

すると、この属性に関連付く全てのテストパターン名称
を、テーブルを参照して出力する。

また、任意の操作者の再利用が、ＬＳＩメーカー等への
提出用のテストパターンの出力であれば、この属性に関
連付く名称の全てのテストパターンのフォーマットを変
換して出力する。

［実施例］ 以下、本発明の実施例を、図面により詳細に説明する。

第１図は、本発明を施したテストパターン管理システム
の本発明に係る構成の一実施例を示すブロック図である
。

本発明であるテストパターンの処理と管理を行なうテス
トパターン処理部１０を有し、かつ、システム全体の制
御を行なうデータ処理部ｌ、オペレータが情報を入力す
る入力デバイスとしてのキーボード２とマウス３、テス
トパターンのデータや、本発明に係るテストパターンの
名称と属性との関連を示す管理テーブル６などを記憶す
る保持デバイスとしてのメモリ４、そして、データ処理
部ｌの処理結果等を表示する表示デバイスとしての画面
表示部５から構成されている。

さらに、テストパターン処理部１０は、テストパターン
を新規作成する場合に、そのテストパタンの名前を設定
するテストパターン名設定＠ｌｌ、テストパターンが、
ＬＳＩメーカーへの提出用のものか、または、星に、内
部動作の確認のためのものか、あるいは、試作で失敗し
たものかなど、それぞれのテストパターンの属性を設定
するテストパターン属性設定部１２、そして、論理回路
シミュレーションを行なう上で必要なテストパターンの
入力と、シミュレーション結果の検証を行なうテストパ
ターン入力・検証部１３、また、テストパターン名設定
部１１とテストパターン属性設定部１２からの情報に基
づき、管理テーブル６を作成してメモリ４に格納し、テ
ストパターンを管理制御するテストパターン管理部１４
、さらに、メーカーに提出する必要のあるテストパター
ンを、メーカー指定のフォーマットに変換するテストパ
ターン変換部１５から構成されている。

このような構成により、テストパターン管理システムは
、テストパターンの管理を実行し、設計者以外の者でも
、容易に、テストパターンを再利用することが可能とな
り、例えば、メーカーに提出するテストパターンのフォ
ーマット変換を行なうことが出来る。

すなわち、まず、設計者が、キーボード２を用いて、検
証の対象とするテストパターンを、メモリ４から取り出
す指示を入力すると、テストパターン処理部１０のテス
トパターン入力・検証部１３は、当該するテストパター
ンを読み込む。このテストパターンは、同時に、データ
処理部１の制御により、画面表示部５に表示される。

続いて、設計者が、画面表示部５に表示されているテス
トパターンを見ながら、キーボード２、または、マウス
３を用いて、テストパターン名を入力する。

すると、テストパターン処理部１０は、テストパターン
名設定部１１で、画面表示部５に表示しているテストパ
ターンのデータに、設計者が、入力したテストパターン
名を付与する。

同様にして、テストパターン属性設定部１２で、設計者
が、マウス３を用いて入力したテストパターンの属性、
すなわち、テストパターンが、ＬＳＩメーカーへの提出
用のものか、単に、内部動作の確認のためのものか、ま
たは、試作で失敗したものかなどを識別するための属性
を付与する。

そして、テストパターン名設定部１１と、テストパター
ン属性設定部１２からの情報に基づき、テストパターン
管理部１４は、それぞれのテストパターンを識別する名
称と属性を表わすメモリ４内の管理テーブル６の更新を
行なう。

ここで、もし、設計者、もしくは、他の者が、メモリ４
に記憶したテストパターンを、フォーマット変換する場
合には、管理テーブル６において、付与した名称と属性
に基づき、対象となるテストパターンを、容易に選出す
ることが出来る。そして、テストパターン変換部１５で
、メーカー提出する必要のあるテストパターンを、メー
カー指定のフォーマットに変換する。

このように、テストパターンの入力、および、検証時に
、設計者が、ＬＳＩメーカーなどに提出するテストパタ
ーンか、単に、内部を確認するためのテストパターンか
などを識別する情報を関連付けることにより、テストパ
ターンの識別を、コンピュータ上で行なうことが出来る
。このことにより、テストパターン設計者以外の者でも
、容易に、必要とするテストパターンを選択することが
可能であり、かつ、提出する全てのテストパターンを、
メーカー指定のフォーマットに、−度に、変換すること
が出来る。

以下、テストパターン処理部１０の処理動作を、さらに
、詳しく説明する。

第２図は、第１図におけるテストパターン処理部の本発
明に係る処理動作の一実施例を示すフローチャートであ
る。

まず、入力した論理回路の検証を開始しくステップ２０
１）、オペレータからの命令が、テストパターンの入力
・修正かを判定する（ステップ２０２）。

命令が、テストパターンの入力・修正であれば、入力さ
れたテストパターン名を当該するテストパターンに付与
する（ステップ２０３）。そして、次に、そのテストパ
ターン名が、新規作成のものかをチエツクする（ステッ
プ２０４）。

新規作成のテストパターン名であり、テストパターンの
属性、例えば、ＬＳＩメーカー等へ提出するものか否か
を示す情報が入力されれば、その属性情報を、当該する
テストパターンに付与する（ステップ２０５）。

そして、付与したテストパターン名とテストパターン属
性を、管理テーブルに書き込む（ステップ２０６）。

次に、オペレータの操作に基づくテストパターンの入力
と、修正を行なう（ステップ２０７）。

テストパターンの入力、または、修正の後に、再度、テ
ストパターン名、または、テストパターン属性の変更が
あれば（ステップ２０８）、管理テーブルの該当する項
目の内容を書き換える（ステップ２０９）。そして、ス
テップ２０２に戻り、次の操作入力の処理を行なう。

ステップ２０４で、そのテストパターン名が、新規作成
のものでなければ、ステップ２０５と、ステップ２０６
におけるテストパターンの属性の付与と管理テーブルへ
の書き込みは行なわず、ステップ２０７のオペレータの
操作に基づくテストパターンの入力と、修正に移る。

次に、ステップ２０２で、オペレータからの命令が、テ
ストパターンの入力・修正でなければ、メーカ用のフォ
ーマット変換操作か否かを判断しくステップ２１０）、
フォーマット変換操作であれば、管理テーブルから、フ
ォーマット変換の対象となる属性を持つテストパターン
名を、全て取り出す（ステップ２１１）。そして、これ
らのテストパターン名のテストパターンを、全て、メー
カー指定のフォーマットに変換して（ステップ２１２）
、ステップ２０２に戻り、次の操作入力の処理を行なう
。

ステップ２１０で、オペレータからの命令が、フォーマ
ット変換操作でなければ、全ての処理が終了したか否か
を判断し、未だであれば、残りの処理を行ない（ステッ
プ２１４）、処理を終了する。

このように、本実施例では、メーカ等に提出する必要の
あるテストパターンと、それ以外のテストパターンとの
識別を、テストパターン名に関連付けたテストパターン
属性で行なう。さらに、これらのテストパターン名と、
テストパターン属性との関連付けを、管理テーブルで管
理する。このことにより、テストパターンの設計者以外
の者でも、テストパターンの識別が可能となり、テスト
パターンの再利用時に、設計者に間合せることなく、必
要とするテストパターンを、容易に選出することが出来
る。そして、テストパターンの設計者以外の者でも、メ
ーカー等へ提出する必要のあるテストパターンを、全て
メーカー指定のフォーマットに変換することが出来る。

〔発明の効果〕

本発明によれば、テストパターンの識別を、コンピュー
タ上で行ない、設計者の管理負担を低減すると共に、設
計者以外のテストパターンの利用を容易にし、テストパ
ターンの管理効率を向上させることが可能である。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の実施例を示し、第１図は本発明を施した
テストパターン管理システムの本発明に係る構成の一実
施例を示すブロック図、第２図は第１図におけるテスト
パターン処理部の本発明に係る処理動作の一実施例を示
すフローチャー十である。 ｌ；データ処理部、２：キーボード、３：マウス。 ４：メモリ、５１画面表示部、６：管理テーブル。 １０：テストパターン処理部、１１：テストパターン名
設定部、１２：テストパターン属性設定部。 １３、テストパターン入力・検証部、１４：テストパタ
ーン管理部、１５：テストパターン変換部。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）論理回路のシミュレーションに用いる複数個のテ
   ストパターンの管理方法において、該複数個のテストパ
   ターンの設計者が、それぞれのテストパターンに対応し
   て入力した名称を、それぞれのテストパターンに付与す
   るステップと、さらに、該名称を付与したそれぞれのテ
   ストパターンに対応して、上記設計者が入力したそれぞ
   れのテストパターンを識別する属性を付与するステップ
   と、該属性と上記名称との関連付けを示すテーブルを作
   成するステップと、そして、任意の操作者からの上記属
   性で特定したテストパターンの出力要求に基づき、該任
   意の操作者の特定した属性に関連付く全てのテストパタ
   ーン名称を、上記テーブルを参照して抽出するステップ
   と、該抽出した名称を付与したテストパターンを全て出
   力するステップとを含むことを特徴とする論理回路シミ
   ュレーション用テストパターンの管理方法。
2. （２）請求項１に記載の論理回路シミュレーション用テ
   ストパターンの管理方法において、上記属性で特定した
   テストパターンの任意の操作者からのフォーマット変換
   要求に基づき、該任意の操作者が特定した属性に関連付
   く全てのテストパターン名称を、上記テーブルを参照し
   て抽出するステップと、該抽出した名称を付与したテス
   トパターンを全て出力するステップと、該出力した全テ
   ストパターンのフォーマットを変換するステップとを含
   むことを特徴とする論理回路シミュレーション用テスト
   パターンの管理方法。