JPH04157736A - 電界効果トランジスタ - Google Patents

電界効果トランジスタ

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JPH04157736A
JPH04157736A JP28179790A JP28179790A JPH04157736A JP H04157736 A JPH04157736 A JP H04157736A JP 28179790 A JP28179790 A JP 28179790A JP 28179790 A JP28179790 A JP 28179790A JP H04157736 A JPH04157736 A JP H04157736A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
diode
semi
gate
schottky
Prior art date
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Pending
Application number
JP28179790A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiichi Yamamoto
誠一 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Eneos Corp
Original Assignee
Nippon Mining Co Ltd
Nikko Kyodo Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH04157736A publication Critical patent/JPH04157736A/ja
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  • Amplifiers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、電界効果トランジスタ(以下、FETともい
う)に関し、特に入力整合回路が内蔵されX帯以上のマ
イクロ波領域で用いられるGaAsFETに関するもの
である。
[従来の技術] 一般に、G a A s F E Tを用いてマイクロ
波帯の増幅器を構成する場合、安定性かよく広帯域化が
容易であるソース接地型が使用されるが、FETとその
前、後段の回路とのインピーダンス整合をとることが重
要である。通常、この整合回路としては、π型又はπ型
の整合回路が用いられ、これをストリップラインにチッ
プコンデンサをボンディングワイヤで接続して構成した
ものが用いられている。
第6図は、このような従来のGaAsFETを用いたマ
イクロ波帯の増幅器を示している。
GaAsFET21の前段には、マイクロストリップラ
イン等で構成された低域通過フィルター型の入力整合回
路22が接続されている。
[発明が解決しようとする課題] マイクロ波帯に用いられるGaAsFETの整合には大
きな反射係数を持つ回路が必要とされる。
しかし、マイクロ波においては、マイクロストリップラ
インで大きな反射係数を持つ回路を作り出すのが困難で
整合が難しい。また、これに加えてGaAsFETのチ
ップ特性のばらつきやボンディングワイヤの長さ等のば
らつきに起因する設計とのずれを補正するために整合回
路をワイヤボンディングのカット及トライ等により調整
する必要が生じた場合には、熟練と多大な労力を必要と
し、周波数が上るとこの調整法は一層難しくなるという
問題かあった。
そこで、本発明は、電気的に調整の容易な整合回路を内
蔵して組立てのばらつき等を吸収することのできる電界
効果トランジスタを提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明は上記課題を解決するために、半導体基板と、該
半導体基板上の活性領域上に所要間隔をおいて形成され
たソース電極及びドレイン電極と、該ソース電極とドレ
イン電極との間に形成されたゲート電極と、前記半導体
基板上に形成されたダイオードと、インダクタンス分を
有し前記ダイオードのアノード電極と前記ゲート電極と
の間に接続されたゲート給電部と、前記ダイオードの力
・/−ドに接続され当該ダイオードに逆バイアス電圧を
印加する容量制御電極とを有することを要旨とする。
[作用] ダイオードの接合容量と給電部のインダクタンス分とて
内蔵の入力整合回路か構成される。この入力整合回路は
、容量制御電極から印加する逆バイアス電圧の制御によ
りダイオードの接合容量が可変されて電気的に整合調整
が可能となる。したがってチップ特性のばらつきや組立
てのばらつき等に起因する整合のずれが、電気的に容易
に調整される。
[実施例] 以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図ないし第4図は、本発明の一実施例を示す図であ
る。
まず、第1図及び第2図を用いてチップ構成を説明する
半絶縁性GaAs基板1上には、何れもGaASにより
、バッファ層2、活性領域としてのn形活性層3、高抵
抗層4及びn1コンタクト層5がエピタキシャル成長法
により順次積層されている。
このように積層されたGaAs基板は、メサエッチング
によりFET部10とショットキーダイオード部20と
に分離されている。FET部10におけるn ’i コ
ンタクト層5上には、オーミ・ツク電極によりソース電
極6とドレイン電極7とが所要間隔をおいて形成されて
いる。ソース電極6は、通常接地して用いられる。また
、ソース電極6とドレイン電極7との間における高抵抗
層4上にはゲート電極8がショットキー接触により形成
されている。
一方、ショットキーダイオード部(以下、単にショット
キーダイオードともいう)20は、高抵抗層4及びn“
コンタクト層5が除去され、n形活性層3内には部分的
に半絶縁性領域9が形成されている。そして、半絶縁性
領域9上には、ショットキー金属によりゲートパッドと
しても機能するアノード電極11か当該半絶縁性領域9
にショットキー接触するように形成されている。また、
このアノード電極11と半絶縁性領域9とて形成された
ショットキーダイオード20のカソードに接続される容
量制御電極12が、オーミック電極によりn形活性層3
にオーミック接触するように形成されている。容量制御
電極12からショットキーダイオード20に印加する逆
バイアス電圧を制御することにより、その接合容量が可
変されるようになっている。アノード電極11とFET
部10のゲート電極8とは、インダクタンス分を有する
ゲート給電部13で接続されている。14は絶縁膜であ
り、ゲート給電部13をGaAs基板から絶縁している
。15は裏面電極であり、接地されるようになっている
。容量制御電極12は、裏面電極15との間で基板部分
によりコンデンサCが形成され、またソース電極6との
間でもコンデンサCが形成されている。
第3図は、上述のように構成されたFETの等価回路を
示している。同図中、Lはゲート給電部13のインダク
タンス分てあり、このインダクタンス分りとショットキ
ーダイオード20の接合容量とで低域通過フィルター型
の入力整合回路が構成されている。16はFET部10
にゲートバイアス電圧VBを供給するバイアス電源、1
7はショットキーダイオード20に逆バイアス電圧VC
を印加する可変逆バイアス電源である。ゲートバイアス
電圧VBは、FET部10の動作条件で決められ、可変
逆バイアス電源17によるショットキーダイオード20
への逆バイアス電圧VC印加による接合容量の調整は、
ゲートバイアス電圧VBから独立して行うことができる
ようになっている。
次に、第4図のスミス図表を用いて、入力整合回路の調
整作用を説明する。いま、FET部10の動作部分の入
力インピーダンスが第4図中のA点であったとすると、
ゲート給電部13のインダクタンス分りによって例えば
B点に変化し、さらにショットキーダイオード20の接
合容量により例えば01点に移る。ショットキーダイオ
ード20の接合容量は、可変逆バイアス電源17からの
逆バイアス電圧■cの制御により可変であるから、この
接合容量の可変範囲に対応してスミス図表上で調整範囲
かC1〜C2に広がる。つまり、入力整合回路の整合調
整が電気的に可能となり、チップ特性のばらつきや組立
てのばらつき等に起因する整合のずれか、容易に調整で
き、さらには、使用中においても、随時再調整か可能と
なる。
次いて、製造方法の一例を説明する。
半絶縁性GaAs基板1に、何れもGaAsにより、バ
ッファ層2、n形活性層3、高抵抗層4及びn“コンタ
クト層5を順次エピタキシャル成長させる。メサエッチ
ングによりFET部]0とショットキーダイオード部2
0とを分離し、ショットキーダイオード部20は、高抵
抗層4及びn+コンタクト層5を除去する。ショットキ
ーダイオード部20のn形活性層3内におけるアノード
電極形成領域に、プロトンH4をイオン注入して高抵抗
化した半絶縁性領域9を形成する。それぞれショットキ
ー金属により、FET部1oのゲート電極8を高抵抗層
4上に、またショットキーダイオード部20のアノード
電極11を半絶縁性領域9上に形成し、ショットキー接
合させる。それぞれオーミック電極により、FET部1
0のソース電極6及びドレイン電極7をn+コンタクト
層層上上、ショットキーダイオード部20の容量制御電
極12をn形活性層3上に形成し、オーミック接触させ
る。基板上に絶縁膜14を形成し、その上にアノード電
極11とゲート電極8とを接続するゲート給電部13を
形成する。また、半絶縁性GaAs基板1の裏面には、
裏面電極15を形成する。
なお、上述の実施例では、ゲート給電部13を直線状に
形成したが、例えばジグザグ状など直線以外の形状とし
てインダクタンス分りの値を適宜に設定するようにして
もよい。また、入力整合回路は、第3図の等価回路に示
したように、ゲート給電部13のインダクタンス分とシ
ョットキーダイオード20の接合容量によりL型の低域
通過フィルターとしたか、ショットキーダイオード20
a、20bを2個形成して第5図に示すように、π型の
低域通過フィルターとしてもよい。さらに、内蔵の整合
回路は、人力整合回路の一部として、第3図、第5図に
示す整合回路の前段に、さらに外付けの整合回路を接続
し、外付けと内蔵のもの全体で人力整合回路が構成され
るようにしてもよい。このように、内蔵の整合回路を入
力整合回路の一部として構成しても、全体の整合調整を
電気的に容易に行うことができる。また、この実施例の
FETはGaAs化合物半導体を用いたが、InP等の
他の化合物半導体、または、Si等の半導体を用いて構
成することもてきる。ダイオードとしてショットキーダ
イオードを用いたが、p / n接合型ダイオード等の
ダイオードを用いて構成することもできる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、ダイオードの接
合容量と給電部のインダクタンス分とで内蔵の入力整合
回路が構成され、この入力整合回路は、容量制御電極か
らダイオードに印加する逆バイアス電圧の制御によりそ
の接合容量か可変されて整合調整ができるため、チップ
特性のばらつきや組立てのばらつき等に起因する整合の
ずれを電気的に容易に調整することかでき、さらに使用
中においても随時再調整することができるという利点が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第4図は本発明に係る電界効果トランジス
タの一実施例を示すもので、第1図は平面図、第2図は
第1図の■−■線断面図、第3図は等価回路を示す回路
図、第4図は入力整合回路の調整作用を説明するための
スミス図表、第5図は人力整合回路の他の構成例を示す
回路図、第6図は従来のGaAsFETを用いたマイク
ロ波帯の増幅器を示す回路図である。 に半絶縁性GaAs基板、 3:GaAsn形活性層、  6:ソース電極、7:ト
レイン電極、   8・ゲート電極、10:FET部、
  11ニアノート電極、12:容量制御電極、  1
3:ゲート給電部、20・ショットキーダイオード。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体基板と、該半導体基板上の活性領域上に所要間隔
    をおいて形成されたソース電極及びドレイン電極と、該
    ソース電極とドレイン電極との間に形成されたゲート電
    極と、前記半導体基板上に形成されたダイオードと、イ
    ンダクタンス分を有し前記ダイオードのアノード電極と
    前記ゲート電極との間に接続されたゲート給電部と、前
    記ダイオードのカソードに接続され当該ダイオードに逆
    バイアス電圧を印加する容量制御電極とを有することを
    特徴とする電界効果トランジスタ。
JP28179790A 1990-10-22 1990-10-22 電界効果トランジスタ Pending JPH04157736A (ja)

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