JPH04157415A - 共焦点走査型干渉顕微鏡 - Google Patents

共焦点走査型干渉顕微鏡

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JPH04157415A
JPH04157415A JP2282350A JP28235090A JPH04157415A JP H04157415 A JPH04157415 A JP H04157415A JP 2282350 A JP2282350 A JP 2282350A JP 28235090 A JP28235090 A JP 28235090A JP H04157415 A JPH04157415 A JP H04157415A
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light
optical system
sample
scanning
illumination light
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Osamu Iwasaki
修 岩崎
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Fuji Photo Film Co Ltd
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    • GPHYSICS
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は共焦点走査型顕微鏡、特に詳細には、透明試料
の位相情報を可視化する共焦点走査型干渉顕微鏡に関す
るものである。
(従来の技術) 従来より、照明光を微小な光点に収束させ、この光点を
試料上において2次元的に走査させ、その際該試料を透
過した光あるいはそこで反射した光、さらには試料から
発せられた蛍光を光検出器で検出して、試料の拡大像を
担持する電気信号を得るようにした光学式走査型顕微鏡
が公知となっている。
なかでも、照明光を光源から発生させた上で試料上にお
いて光点に結像させる一方、この試料からの光束を再度
点像に結像させてそれを光検出器で検出するように構成
した共焦点走査型顕微鏡は、試料面上にピンホールを配
する必要が無く、実現容易となっている。
この共焦点走査型顕微鏡は基本的に、 照明光を発する光源と、 試料が載置される試料台と、 この照明光を試料上において微小な光点として結像させ
る送光光学系と、 上記試料からの光束(透過光、反射光あるいは蛍光)を
集光して点像に結像させる受光光学系と、この点像を検
出する光検出器と、 上記光点を試料上において2次元的に走査させる走査機
構とから構成されるものである。なお特開昭62−21
7218号公報には、この共焦点走査型顕微鏡の一例が
示されている。
一方従来より、透明な物体(位相物体)を観察するため
の顕微鏡の一つとして、干渉顕微鏡が提供されている。
この干渉顕微鏡は基本的に、位相物体である試料を照明
する照明光を試料に入射する前に2系統に分岐し、試料
を経た光とそうでない光(参照光)とを合波させ、その
際双方の光路差により生じた干渉像を観察するように構
成したものである。
(発明が解決しようとする課題) 3次元情報が容易に得られる等の長所を有する共焦点走
査型顕微鏡を干渉顕微鏡として形成できれば、位相物体
を観察する上で極めて便利であるが、従来、実用レベル
で、そのような共焦点走査型干渉顕微鏡は全く提供され
ていなかった。すなわち、照明光および参照光を走査さ
せると、両者の光路長に変動が生じやすいことが、上記
のような走査型干渉顕微鏡の実現を妨げていた。
そこで本発明は、十分実用に供することができる共焦点
走査型干渉顕微鏡を提供することを目的とするものであ
る。
(課題を解決するための手段及び作用)本発明による共
焦点走査型干渉顕微鏡は、先に述べたような試料台と、
光源と、送光光学系と、受光光学系と、光検出器と、光
点の2次元走査機構とを備えた共焦点走査型顕微鏡にお
いて、試料に入射する前の照明光の一部を参照光として
分岐させる分岐手段と、 上記参照光と試料を経た照明光とを合波させる合波手段
と、 上記送光光学系および受光光学系と同等に形成されて参
照光の光路に配された参照光用光学系と、上記送光光学
系と受光光学系と参照光用光学系とを一体的に保持する
保持台とを設けた上で、この保持台と試料台とを相対移
動させる手段により、照明光光点の2次元走査機構を構
成したことを特徴とするものである。
なお上述の走査手段は、保持台を移動させるものであっ
てもよいし、それとは反対に、試料台を移動させるもの
であってもよい。
上記の構成においては、光点走査のために照明光および
参照光が振られることがないから、前述した両光の光路
長変動が起こらず、その上、光学系の設計は光軸上の光
線のみを考えて行なえばよいことになり、該光学系の設
計は非常に容易となる。
(実 施 例) 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。
第1図は、本発明の第1実施例による透過型の共焦点走
査型干渉顕微鏡を示すものであり、また第2および3図
は、それに用いられた走査機構を詳しく示している。
第1図に示されるように、単色光レーザlOからは、直
線偏光した照明光としてのレーザビーム11が射出され
る。この照明光11は偏波面調整用のλ/2板9を通過
し、屈折率分布型レンズ13で集光されて偏波面保存光
ファイバー14内に入射せしめられる。
この偏波面保存光ファイバー14としては、第4図に断
面形状を示すように、クラッド14a内にコア14bが
配され、このコア14bの両側に応力付与部14Cs 
14cが形成されてなる、いわゆるPANDA型のもの
か用いられている。そして直線偏光した照明光11は、
λ/2板9を適宜回転させることにより、偏波面の向き
か応力付与部14c、14Cの並び方向(矢印V方向)
、あるいはそれに直交する方向(矢印U方向)と揃う状
態にして、該光フアイバー14内に入射せしめられる。
この光ファイバー14の一端は移動台15に固定されて
おり、該光フアイバー14内を伝搬した照明光11はこ
の一端から出射する。この際光ファイバー14の一端は
、点光源状に照明光11を発することになる。移動台1
5には、コリメーターレンズ16および対物レンズ17
からなる送光光学系18と、対物レンズ19および集光
レンズ20からなる受光光学系21とが固定されている
。対物レンズ17と19は、互いに光軸を一致させて固
定されている。また両光学系18.21の間には、移動
台15と別体とされた試料台22が配されている。
さらに移動台15には、上記コリメーターレンズ16で
平行光化された照明光11の一部を、参照光11Rとし
て分岐させる第1のビームスプリッタ1が固定されてい
る。この第1のビームスプリッタ1は図示のように、高
さか相等しい2個の光学ブロックが接合された形状のも
のである。
上記光学ブロックの接合面1aにP偏光あるいはS偏向
の状態で入射した照明光11は、この接合面1aにおい
て一部が反射して参照光11Rとなり、残余の照明光1
1がそこを透過する。
接合面1aを透過した照明光11は、第1のビームスプ
リッタ1と周囲空気との界面でさらに2回全反射して、
上記対物レンズ17に入射する。一方接台面1aで反射
した参照光11Rは、第1のビームスプリッタ1と周囲
空気との界面で1回全反射し、該第1のビームスプリッ
タコから、上記照明光11と平行な向きに出射する。
また移動台15には、上記対物レンズ17.19とそれ
ぞれ同等の参照光用レンズ17R,19Rが、互いに光
軸を一致させて固定されている。参照光用レンズ17R
は、その先軸が対物レンズ17の光軸と平行となる状態
で、かつ対物レンズ17と光軸方向位置を揃えて配設さ
れている。対物レンズ19と参照光用レンズ19Rとの
関係も同様である。さらに移動台15には、上記第1の
ビームスプリッタ1と同様の形状の第2のビームスプリ
ッタ2が固定されている。
上記の照明光11はコリメーターレンズ16によって平
行光とされ、第1のビームスプリッタ1内を前述のよう
に通過し、次に対物レンズ17によって集光されて、試
料台22に載置された透明試料23上で(表面あるいは
その内部で)微小な光点Pに結像する。試料23を透過
した透過光11′の光束は、受光光学系21の対物レン
ズ19によって平行光とされた後、第2のビームスプリ
ッタ2に入射してその内部で2回全反射した後、前記接
合面1aと同様の接合面2aを透過して該第2のビーム
スプリッタ2から出射する。
一方第1のビームスプリッタ1から出射した参照光LI
Rは、レンズ17R,19Rにより、透過光11゜と同
じ状態に集光、平行光化されて、第2のビームスプリッ
タ2に入射する。該参照光11Rは第2のビームスプリ
ッタ2内で1回全反射した後、接合面2aで反射し、こ
こを透過する上記透過光11′と合波される。
この合波されたレーザビーム(合波光)11Cは第2の
ビームスプリッタ2から出射し、次に集光レンズ20に
よって集光されて、偏波面保存光ファイバー24の一端
から該光フアイバー24内に入射せ    ゛しめられ
る。この光ファイバー24の上記一端は移動台15に固
定されており、またその他端には屈折率分布型レンズ2
5が接続されている。先ファイバー24内を伝搬した合
波光11Cはその他端から出射し、上記屈折率分布型レ
ンズ25によって平行光とされる。
この合波光11Cは、収束用レンズ26によって収束さ
れ、迷光および外部光をカットするためのピンホール板
47を通して、光電子増倍管等の光検出器27によって
検出される。ここで第1のビームスプリッタ1は、2つ
の光出射面1b、lcが同一平面内にあり、そして照明
光11の分岐点から光出射面1b、lcまでの光路長が
互いに等しくなる形状とされている。また第2のビーム
スプリッタ2も、2つの光入射面2b、2cか同一平面
内にあり、そして各光入射面2b、2cから、参照光1
1Rと透過光11° との合波点までの光路長が互いに
等しくなる形状とされている。
このように構成されていると、照明光11が透明試料2
3を透過する際にその位相が変化するので、透過光11
’ と、何も透過しなかった参照光11Rとが合波され
ると、試料23の位相情報に応じた干渉像が生しる。し
たかって光検出器27は試料23の位相情報を合波光1
1Cの光量変化として検出し、該光検出器27からはこ
の位相情報を示す信号Sが出力される。
次に、照明光11の光点Pの2次元走査について、第2
.3図を参照して説明する。第2図と第3図はそれぞれ
、移動台15の周辺部分を、第1図の上方側、右方側か
ら見た状態を示している。
この移動台15は架台32に、積層ピエゾ素子33を介
して保持されている。積層ピエゾ素子33はピエゾ素子
駆動回路34から駆動電力を受けて、移動台15を矢印
X方向に高速で往復移動させる。この往復移動の振動数
は、例えば10k Hzとされる。その場合、主走査幅
を100μmとすると、主走査速度は、 1oXlo3x1.oo xlO−6X2=2m/Sと
なる。なお、光ファイバー14.24は屈曲可能である
ので、それぞれ照明光11、白波光11Cを伝搬させつ
つ、移動台15の振動を許容する。
一方試料台22は、2次元移動ステージ35に固定され
ている。この2次元移動ステージ35は、モータ駆動回
路36から駆動電流を受けるパルスモータ37により、
マイクロメータ38を介して矢印Y方向に往復移動され
る。それにより試料台22は移動台15に対して相対移
動され、前記光点Pが試料23上を、前記主走査方向X
と直交するY方向に副走査する。なおこの副走査の所要
時間は例えば1/20秒とされ、その場合、副走査幅を
100μmとすると、副走査速度は、 20X100 XIO°6−0.002 m/ s閤2
mm/S と、前記主走査速度よりも十分に低くなる。この程度の
副走査速度であれば、試料台22を移動させても、試料
23が飛んでしまうことを防止できる。
以上のようにして光点Pが試料23上を2次元的に走査
することにより、該試料23の2次元干渉像を担持する
連続的な信号Sが得られる。この信号Sは、例えば所定
周期毎にサンプリングする等により、画素分割された信
号とされる。
また本実施例においては2次元移動ステージ35が、モ
ータ駆動回路39から駆動電流を受けるパルスモータ4
0により、主、副走査方向X、Yと直交する矢印Z方向
(すなわち光学系18.21の光軸方向)に移動される
。こうして2次元移動ステージ35を2方向に所定距離
移動させる毎に前記光点Pの2次元走査を行なえば、3
次元位相情報を担う信号を得ることが可能となる。
なおピエゾ素子駆動回路34およびモータ駆動回路36
.39には、制御回路41から同期信号が入力され、そ
れにより、光点Pの主、副走査および試料台22のZ方
向移動の同期が取られる。
また本装置においては、照明光11、合波光11Cを伝
搬させる光ファイバーとして、それぞれ偏波面保存光フ
ァイバー14.24を用いているので、それらの光IL
 IIcのゆらぎか抑えられるようになる。したがって
、合波光11Cを検出した出力Sに基づいて再生される
干渉像は、歪みの無いものとなりうる。
以上説明した実施例においては、種々の変更か可能であ
る。例えば屈折率分布型レンズ13.25の代わりに、
顕微鏡対物レンズ等を用いてもよい。
そして、2次元移動ステージ35に固定された試料台2
2をY方向に往復移動(副走査)させるための駆動源で
あるパルスモータ37は、エンコーダ(1のDCモータ
でもよく、またこのように試料台22を移動させること
によって光点Pの副走査を行なう代わりに、移動台15
を移動させることによって光点Pの副走査を行なうよう
にしてもよい。さらに移動台15の移動は積層ピエゾ素
子33を利用して行なう他、例えばボイスコイル、音叉
および超音波による固体の固有振動を利用した走査方式
等を用いて行なうことも可能である。
次に、第5図を参照して本発明の第2実施例について説
明する。なおこの第5図において、前記第1図中の要素
と同等の要素には同番号を付し、それらについての説明
は必要の無い限り省略する。
この実施例では、照明光11を発する光源として、単色
のレーザビームを発するレーザダイオード70が用いら
れている。そして光検出器71としては、例えばフォト
ダイオード等の小型のものが用いられている。この光検
出器71およびレーザダイオード70は移動台15に固
定されており、それにより、第1実施例装置よりも小型
の共焦点走査型干渉顕微鏡が実現されている。
なお光分岐手段と合波手段としては、第6図図示のよう
なものも使用可能である。この構成において、光分岐手
段は4個の直角プリズム60.61.62.63から構
成され、一方合波手段も4個の直角プリズム64.65
.6B、67から構成されている。直角プリズム600
面60aは、照明光11の50%を反射させるハーフミ
ラ−面とされている。それ以外のプリズム61〜67の
光反射面は、すべて全反射面である。そして直角プリズ
ム67の面67aには、参照光11Rの反射を防止し照
明光11の透過を最小とするコーティングが施されてい
る。
上述のような構成においても、光分岐点から合波点まで
における、参照光11Rと照明光11との光路長を相等
しくすることができる。そしてこの構成においては、上
記のコーティングが良好なものとなってさえいれば、参
照光11Rや透過光11′がプリズムの各面で不要に反
射したりあるいは透過してしまうことがなくなり、よっ
て参照光11Rと透過光11°とを1=1に近い光量比
の下に合波することも可能となる。そうなっていれば、
試料像の干渉縞の鮮明度を高めることができる。
また、以上説明した実施例の共焦点走査型干渉顕微鏡は
、ともにモノクロ型のものであるが、本発明の共焦点走
査型干渉顕微鏡は、カラー像を撮像するように構成する
ことも可能である。
(発明の効果) 以上詳細に説明した通り、本発明の共焦点走査型干渉顕
微鏡においては、送光光学系と受光光学系と参照光用光
学系とを一体的に保持台に保持させ、この保持台と試料
台とを相対移動させて光点の走査を行なうように構成し
たから、光点走査のために照明光と参照光との間で光路
長が変動してしまうことを防止可能となる。よって本発
明の共焦点走査型干渉顕微鏡は、試料の位相情報を極め
て正確に可視像化できるものとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の第1実施例による共焦点走査型干渉
顕微鏡を示す概略正面図、 第2図と第3図はそれぞれ、上記共焦点走査型干渉顕微
鏡の要部を示す平面図と側面図、第4図は、上記共焦点
走査型干渉顕微鏡に用いられた偏波面保存光ファイバー
の断面図、第5図は、本発明の第2実施例による共焦点
走査型干渉顕微鏡を示す概略正面図、 第6図は、本発明に用いられる光分岐手段および合波手
段の別の例を示す正面図である。 1・・・第1のビームスプリッタ 2・・・第2のビームスプリッタ 10・・・単色光レーザ    11・・・照明光11
°・・・透過光      11c・・・合波光11R
・・・参照光 14.24・・・偏波面保存光ファイバー15・・・移
動台      16・・・コリメーターレンズ17.
19・・・対物レンズ 17R,19R・・・参照光用レンズ l8・・・送光光学系     20・・・集光レンズ
21・・・受光光学系     22・・・試料台23
・・・試料        27.71・・・光検出器
32・・・架台        33・・・積層ピエゾ
素子34・・・ピエゾ素子駆動回路 35・・・2次元移動ステージ 3B、39・・・モータ駆動回路 37.40・・・パ
ルスモータ38・・・マイクロメータ   41・・・
制御回路47・・・ピンホール板    60〜67・
・・直角プリズム70・・・レーザダイオード 第1図 第4図 U 第5図 第6図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 試料が載置される試料台と、 照明光を発する光源と、 この照明光を試料上において微小な光点として結像させ
    る送光光学系と、 前記試料からの光束を集光して点像に結像させる受光光
    学系と、 この点像を検出する光検出器と、 前記試料に入射する前の照明光の一部を参照光として分
    岐させる分岐手段と、 前記参照光と試料を経た照明光とを合波させる合波手段
    と、 前記送光光学系および受光光学系と同等に形成されて前
    記参照光の光路に配された参照光用光学系と、 前記送光光学系と受光光学系と参照光用光学系とを一体
    的に保持する保持台と、 この保持台と試料台とを相対移動させて、前記光点を試
    料上において2次元的に走査させる走査手段とからなる
    共焦点走査型干渉顕微鏡。
JP2282350A 1990-10-20 1990-10-20 共焦点走査型干渉顕微鏡 Pending JPH04157415A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001147376A (ja) * 1999-09-15 2001-05-29 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh レーザー走査型顕微鏡およびその参照補正方法

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5218195A (en) * 1991-06-25 1993-06-08 Fuji Photo Film Co., Ltd. Scanning microscope, scanning width detecting device, and magnification indicating apparatus
WO1994006041A1 (en) * 1992-09-07 1994-03-17 Nikon Corporation Optical waveguide device and optical instrument using the same
US5604591A (en) * 1994-04-11 1997-02-18 Olympus Optical Co., Ltd. Method of measuring phase difference and apparatus for carrying out the same
US6548796B1 (en) * 1999-06-23 2003-04-15 Regents Of The University Of Minnesota Confocal macroscope
US7151632B2 (en) * 2001-01-12 2006-12-19 University Of Rochester Apparatus for production of an inhomogeneously polarized optical beam for use in illumination and a method thereof
US7130042B2 (en) * 2003-03-06 2006-10-31 Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Dual axis fluorescence microscope with modulated input
JP2005189475A (ja) * 2003-12-25 2005-07-14 Fujinon Corp 顕微鏡装置
US7242521B2 (en) * 2004-05-27 2007-07-10 Optical Biopsy Technologies, Inc. Dual-axis confocal microscope having improved performance for thick samples
TWI467154B (zh) * 2011-08-31 2015-01-01 Univ Nat Taiwan 干涉成像裝置及其系統

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2950649A (en) * 1955-08-02 1960-08-30 Leitz Ernst Gmbh Interference microscope with transmitted illumination
US3013467A (en) * 1957-11-07 1961-12-19 Minsky Marvin Microscopy apparatus

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4627730A (en) * 1984-07-06 1986-12-09 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Optical scanning microscope
JPH0682173B2 (ja) * 1986-03-19 1994-10-19 レーザーテック株式会社 透過型顕微鏡撮像装置
GB8820761D0 (en) * 1988-09-02 1988-10-05 Tyrer J R Interferometry
DE69026780T2 (de) * 1989-09-22 1996-11-07 Fuji Photo Film Co Ltd Rastermikroskop und Rastermechanismus dafür
US5065008A (en) * 1989-10-18 1991-11-12 Fuji Photo Film Co., Ltd. Scanning microscope and scanning mechanism for the same
US5084612A (en) * 1989-10-20 1992-01-28 Fuji Photo Film Co., Ltd. Imaging method for scanning microscopes, and confocal scanning microscope
JP2561160B2 (ja) * 1989-11-06 1996-12-04 富士写真フイルム株式会社 走査型顕微鏡

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2950649A (en) * 1955-08-02 1960-08-30 Leitz Ernst Gmbh Interference microscope with transmitted illumination
US3013467A (en) * 1957-11-07 1961-12-19 Minsky Marvin Microscopy apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001147376A (ja) * 1999-09-15 2001-05-29 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh レーザー走査型顕微鏡およびその参照補正方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5162648A (en) 1992-11-10

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