JPH04156629A - メモリクロックの制御方式 - Google Patents
メモリクロックの制御方式Info
- Publication number
- JPH04156629A JPH04156629A JP2282205A JP28220590A JPH04156629A JP H04156629 A JPH04156629 A JP H04156629A JP 2282205 A JP2282205 A JP 2282205A JP 28220590 A JP28220590 A JP 28220590A JP H04156629 A JPH04156629 A JP H04156629A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- clock
- memory clock
- ram
- distribution control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims abstract description 161
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
メモリクロックの制御方式に関し、
アクセスタイムに無駄な待ち時間が生じないようにする
ことを目的とし、 nτ同周期nは2以上の整数、 1τはマシンサイクル
の周期)のメモリクロックによって動作を開始するメモ
リからなる記憶装置のメモリクロックの制御方式におい
て、それぞれ周期がnτで、順次、略1τ分だけ位相の
異なるn組のメモリクロック用パルスを発生するメモリ
クロック用パルス作成部と、前記記憶装置に取り込んだ
起動信号に基づいて前記n組のメモリクロック用パルス
の位相状態を調べ、これらの中からアクセス対象メモリ
の動作開始タイミングに対応するものを選択して取り出
す分配制御部とを設け、当該分配制御部の出力を前記メ
モリクロックとして前記メモリに与える構成を有する。
ことを目的とし、 nτ同周期nは2以上の整数、 1τはマシンサイクル
の周期)のメモリクロックによって動作を開始するメモ
リからなる記憶装置のメモリクロックの制御方式におい
て、それぞれ周期がnτで、順次、略1τ分だけ位相の
異なるn組のメモリクロック用パルスを発生するメモリ
クロック用パルス作成部と、前記記憶装置に取り込んだ
起動信号に基づいて前記n組のメモリクロック用パルス
の位相状態を調べ、これらの中からアクセス対象メモリ
の動作開始タイミングに対応するものを選択して取り出
す分配制御部とを設け、当該分配制御部の出力を前記メ
モリクロックとして前記メモリに与える構成を有する。
本発明は、メモリクロックの制御方式、特にnτ(nは
2以上の整数、 1τはマシンサイクルの周期で、以下
同じである)のメモリクロックによって動作を開始する
メモリからなる記憶装置のメモリクロックの制御方式に
関する。
2以上の整数、 1τはマシンサイクルの周期で、以下
同じである)のメモリクロックによって動作を開始する
メモリからなる記憶装置のメモリクロックの制御方式に
関する。
一般に、記憶装置(以下、MSUという)はメモリバン
クと呼ばれる複数のブロックからなり、各メモリバンク
は小容量のメモリ、例えばセルフタイミングRAM (
以下、ST−RAMという)で構成されている。また、
メモリに与えるメモリクロックの必要パルス幅は対象メ
モリの特性によって決まり、17周期のクロックよりも
大きなパルス幅のものが必要になることがある。このよ
うな場合には、2τ周期以上のメモリクロックを作成し
ている。また、通常の1τ周期のクロックは、MSUを
使用する側(以下、MCUという)で作成。
クと呼ばれる複数のブロックからなり、各メモリバンク
は小容量のメモリ、例えばセルフタイミングRAM (
以下、ST−RAMという)で構成されている。また、
メモリに与えるメモリクロックの必要パルス幅は対象メ
モリの特性によって決まり、17周期のクロックよりも
大きなパルス幅のものが必要になることがある。このよ
うな場合には、2τ周期以上のメモリクロックを作成し
ている。また、通常の1τ周期のクロックは、MSUを
使用する側(以下、MCUという)で作成。
制御されており、MCUよりMSUの周辺回路などの各
部にこのクロックを供給している。
部にこのクロックを供給している。
第4図は、従来の、2τ周期のメモリクロックで動作を
開始するST−RAMにおけるタイムチャートを示す説
明図である。
開始するST−RAMにおけるタイムチャートを示す説
明図である。
ここで、各クロックは立ち下がりが有効であり、ST−
RAM 41のサイクルタイムは4τである。また、M
CUからのアクセス起動信号(リクエスト、ウェイアド
レス、メモリアドレス、チップセレクト信号など)53
を、01番目位置のクロック51でMSU側のインタフ
ェース42に取り込み、続いて02番目位置のクロック
51でアクセス対象メモリバンク40のアドレスレジス
タ43などに取り込み、続いて03番目位置のメモリク
ロック52でST−RAM 41内のレジスタ44に取
り込んでST−RAM 41は動作を開始すること、そ
して、読み出しモードのとき、077番目置のクロック
51でST−RAM 41の出力をデータレジスタ45
に取り込むことを示している。なお、アドレスレジスタ
43は、02番目位置のクロック51で取り込んだメモ
リアドレス54を2τの期間ST−RAM41に与え、
またライトイネーブル信号、ライトデータなどもメモリ
アドレス54と同じ時間関係でRAM41に与えられる
。そして、この2τの期間にメモリクロックが入ること
によってST−RAM41内のラッチ(図示省略)にこ
れらの信号を格納する。ST−RAM41内部ではこの
格納した信号により読み出し、書き込みに必要なタイミ
ングを自身で作成しながらアクセスを開始する。
RAM 41のサイクルタイムは4τである。また、M
CUからのアクセス起動信号(リクエスト、ウェイアド
レス、メモリアドレス、チップセレクト信号など)53
を、01番目位置のクロック51でMSU側のインタフ
ェース42に取り込み、続いて02番目位置のクロック
51でアクセス対象メモリバンク40のアドレスレジス
タ43などに取り込み、続いて03番目位置のメモリク
ロック52でST−RAM 41内のレジスタ44に取
り込んでST−RAM 41は動作を開始すること、そ
して、読み出しモードのとき、077番目置のクロック
51でST−RAM 41の出力をデータレジスタ45
に取り込むことを示している。なお、アドレスレジスタ
43は、02番目位置のクロック51で取り込んだメモ
リアドレス54を2τの期間ST−RAM41に与え、
またライトイネーブル信号、ライトデータなどもメモリ
アドレス54と同じ時間関係でRAM41に与えられる
。そして、この2τの期間にメモリクロックが入ること
によってST−RAM41内のラッチ(図示省略)にこ
れらの信号を格納する。ST−RAM41内部ではこの
格納した信号により読み出し、書き込みに必要なタイミ
ングを自身で作成しながらアクセスを開始する。
このように、O11番目置のクロック51でMSUに起
動がかかり、2τ後の、03番目位置のメモリクロック
52でST−RAM 41は動作を開始する。ところが
、000番目置のクロック51でMSUに起動がかかっ
ても2τ後の02番目位置にはメモリクロック52は存
在しないため、ST−RAM 41は動作を開始できな
い。そして、このこと、すなわちMSUに起動がかかっ
ても中のメモリが動作を開始できないといったことは、
第4図で例示したST−RAMに特有なものではなく、
nτ同周期メモリクロックで動作を開始する各種メモリ
、例えばMSUに起動がかかってから1τ後の位置のメ
モリクロックで動作を開始する通常のRAMなどにも共
通していえることである。
動がかかり、2τ後の、03番目位置のメモリクロック
52でST−RAM 41は動作を開始する。ところが
、000番目置のクロック51でMSUに起動がかかっ
ても2τ後の02番目位置にはメモリクロック52は存
在しないため、ST−RAM 41は動作を開始できな
い。そして、このこと、すなわちMSUに起動がかかっ
ても中のメモリが動作を開始できないといったことは、
第4図で例示したST−RAMに特有なものではなく、
nτ同周期メモリクロックで動作を開始する各種メモリ
、例えばMSUに起動がかかってから1τ後の位置のメ
モリクロックで動作を開始する通常のRAMなどにも共
通していえることである。
以上のように、従来の、nτ同周期メモリクロックで動
作を開始するメモリの場合には、MCUが発行するアク
セスを受けてMSUに起動がかかっても中のメモリが動
作を開始できないことがある。したがって、MCUのほ
うではメモリクロックの状態を監視しておき、メモリに
アクセスしようとするときにメモリクロックが存在する
ようなタイミングで起動をかけなければならない。すな
わち、第4図の場合では、奇数番目のクロックでメモリ
に起動がかかるようにする必要がある。このことは、M
CUからみた記憶装置のアクセスタイム、ビイシイタイ
ムは半分の確率で1τ増加することであり、性能を低下
させていた。
作を開始するメモリの場合には、MCUが発行するアク
セスを受けてMSUに起動がかかっても中のメモリが動
作を開始できないことがある。したがって、MCUのほ
うではメモリクロックの状態を監視しておき、メモリに
アクセスしようとするときにメモリクロックが存在する
ようなタイミングで起動をかけなければならない。すな
わち、第4図の場合では、奇数番目のクロックでメモリ
に起動がかかるようにする必要がある。このことは、M
CUからみた記憶装置のアクセスタイム、ビイシイタイ
ムは半分の確率で1τ増加することであり、性能を低下
させていた。
そこで、本発明では、それぞれ周期がnτで、順次、略
lτ分だけ位相の異なるn組のメモリクロック用パルス
を発生させ、これらの中からアクセス対象メモリの動作
開始タイミングに対応するものを選択してメモリクロッ
クに用いることにより、MCUが任意のタイミングでM
SUに起動をかけてもメモリは必ず動作を開始できるよ
うにして、アクセスタイムに無駄な待ち時間が生じない
ようにすることを目的とする。
lτ分だけ位相の異なるn組のメモリクロック用パルス
を発生させ、これらの中からアクセス対象メモリの動作
開始タイミングに対応するものを選択してメモリクロッ
クに用いることにより、MCUが任意のタイミングでM
SUに起動をかけてもメモリは必ず動作を開始できるよ
うにして、アクセスタイムに無駄な待ち時間が生じない
ようにすることを目的とする。
第1図は本発明の原理説明図である。
本発明は、nτ同周期メモリクロックで動作を開始する
メモリで構成されるメモリバンクの場合に適用できるが
、第1図においては「n=2」で、MSUに起動信号を
取り込んでから(第4図とは異なり)1τ後の位置のメ
モリクロックで動作を開始するメモリの場合について説
明する。
メモリで構成されるメモリバンクの場合に適用できるが
、第1図においては「n=2」で、MSUに起動信号を
取り込んでから(第4図とは異なり)1τ後の位置のメ
モリクロックで動作を開始するメモリの場合について説
明する。
第1図において、
lは、メモリクロック用パルス作成部であり、それぞれ
周期が2τで、略1τ分だけ位相の異なる2組のメモリ
クロック用パルスを発生する。
周期が2τで、略1τ分だけ位相の異なる2組のメモリ
クロック用パルスを発生する。
2は、分配制御部であり、メモリバンク毎に設けられて
それぞれが独立に動作し、M−5Uに取り込んだ起動信
号に基づいてアクセスメモリの動作開始タイミングに対
応する組のメモリクロック用パルスを選択してメモリク
ロックにする。
それぞれが独立に動作し、M−5Uに取り込んだ起動信
号に基づいてアクセスメモリの動作開始タイミングに対
応する組のメモリクロック用パルスを選択してメモリク
ロックにする。
3は、メモリバンクであり、RAM、 ST−RAMな
どのメモリで構成され、メモリバンク数は1個。
どのメモリで構成され、メモリバンク数は1個。
複数個いずれの場合もある。
4は、メモリクロック用パルスであり、それぞれ周期が
2τで、略1τ分だけ位相が異なっている。
2τで、略1τ分だけ位相が異なっている。
5は、起動信号であり、アクセス対象メモリバンクの分
配制御部を選択する。
配制御部を選択する。
6は、メモリクロックであり、分配制御部の出力を用い
ている。
ている。
ここで、01番目位置のクロック51でMSUに取り込
んだ起動信号で選択された分配制御部2は、直後の立ち
下がり7を持つメモリクロック用パルス4Bを選択して
出力し、この出力を02番目位置のメモリクロック6と
してメモリバンク3に与える。
んだ起動信号で選択された分配制御部2は、直後の立ち
下がり7を持つメモリクロック用パルス4Bを選択して
出力し、この出力を02番目位置のメモリクロック6と
してメモリバンク3に与える。
また、02番目位置のクロック51でMSUに取り込ん
だ起動信号で選択された分配制御部2は、直後の立ち下
がり8を持つメモリクロック用パルス4^を選択して、
この出力を03番目位置のメモリクロック6としてメモ
リバンク3に与えることになる。
だ起動信号で選択された分配制御部2は、直後の立ち下
がり8を持つメモリクロック用パルス4^を選択して、
この出力を03番目位置のメモリクロック6としてメモ
リバンク3に与えることになる。
本発明においては、nr同周期メモリクロック用パルス
を、n組、1τ分だけ位相をずらして発生させ、nτ同
周期メモリクロックによって動作を開始するメモリバン
クのそれぞれに送ることにより、各メモリバンクは、毎
τいずれかの組のメモリクロック用パルス信号を受ける
ことができるようにしている。また、メモリバンクは固
有のサイクルタイムを有し、いったんあるメモリバンク
が起動されたら、サイクルタイム期間中にはこのメモリ
バンクは起動されないようにMCU側で制御しており、
1つのメモリバンクを起動するためには、当該メモリバ
ンクのメモリ全部にサイクルタイムを通して最初のメモ
リクロックのみを与えればよいことになる。
を、n組、1τ分だけ位相をずらして発生させ、nτ同
周期メモリクロックによって動作を開始するメモリバン
クのそれぞれに送ることにより、各メモリバンクは、毎
τいずれかの組のメモリクロック用パルス信号を受ける
ことができるようにしている。また、メモリバンクは固
有のサイクルタイムを有し、いったんあるメモリバンク
が起動されたら、サイクルタイム期間中にはこのメモリ
バンクは起動されないようにMCU側で制御しており、
1つのメモリバンクを起動するためには、当該メモリバ
ンクのメモリ全部にサイクルタイムを通して最初のメモ
リクロックのみを与えればよいことになる。
したがって、指定されたメモリバンクが起動された場合
、毎τ受けているメモリクロック用パルスの中の、当該
メモリバンクの動作開始タイミングに対応するものを選
択してメモリクロックに用いることにより、各メモリバ
ンクには独立したタイミングで1τ周期のメモリクロッ
クが入力されているように見え、これによって各メモリ
バンクを毎τ起動することが可能となる。
、毎τ受けているメモリクロック用パルスの中の、当該
メモリバンクの動作開始タイミングに対応するものを選
択してメモリクロックに用いることにより、各メモリバ
ンクには独立したタイミングで1τ周期のメモリクロッ
クが入力されているように見え、これによって各メモリ
バンクを毎τ起動することが可能となる。
また、以上のことはメモリバンクが1個のMSUの場合
にも適用できる。
にも適用できる。
第2図〜第3図を参照して本発明の詳細な説明する。
第2図は、本発明の、2τ周期のメモリクロッりで動作
を開始するST−RAMにおけるタイムチャートを示す
説明図である。
を開始するST−RAMにおけるタイムチャートを示す
説明図である。
ここで、各クロックは立ち下がりが有効であり、ST−
RAM 41のサイクルタイムは4τであること、また
、MCUからの起動信号(メモリアドレス信号、チップ
セレクト信号など)53を、01番目位置のクロックで
MSU側イフィンタフエース42り込み、続いて02番
目位置のクロックでアクセス対象メモリバンク40のア
ドレスレジスタ43などに取り込み、続いて03番目位
置のメモリクロックでST−RAM 41のレジスタ4
4に取り込んでST−RAM 41は動作を開始するこ
と、そして、読み出しモードのとき、077番目置のク
ロック51(第4図参照)でST−RAM41の読み出
し信号をデータレジスタ45に取り込むことなどについ
ては、第4図の従来例の場合と同じである。
RAM 41のサイクルタイムは4τであること、また
、MCUからの起動信号(メモリアドレス信号、チップ
セレクト信号など)53を、01番目位置のクロックで
MSU側イフィンタフエース42り込み、続いて02番
目位置のクロックでアクセス対象メモリバンク40のア
ドレスレジスタ43などに取り込み、続いて03番目位
置のメモリクロックでST−RAM 41のレジスタ4
4に取り込んでST−RAM 41は動作を開始するこ
と、そして、読み出しモードのとき、077番目置のク
ロック51(第4図参照)でST−RAM41の読み出
し信号をデータレジスタ45に取り込むことなどについ
ては、第4図の従来例の場合と同じである。
しかしながら、03番目位置のメモリクロック23を求
める手法が基本的に相違している。すなわち、本発明で
は、それぞれ2τ周期で、位相が略1τ分異なっている
2組のメモリクロック用パルス21^、21Bを発生さ
せ、この中のどちらかを選択信号22により取り出し、
これを03番目位置のメモリクロック23にしている。
める手法が基本的に相違している。すなわち、本発明で
は、それぞれ2τ周期で、位相が略1τ分異なっている
2組のメモリクロック用パルス21^、21Bを発生さ
せ、この中のどちらかを選択信号22により取り出し、
これを03番目位置のメモリクロック23にしている。
また、選択信号22は、01番目位置のクロックでMS
U側イフィンタフエース42り込んだ起動信号53に基
づいて作成する。
U側イフィンタフエース42り込んだ起動信号53に基
づいて作成する。
第3図は、メモリクロック作成回路を示す説明図である
。
。
1はメモリクロック用パルス作成部、2は分配制御部、
40はST−RAM 41からなるメモリバンクである
。また、分配制御部2は各メモリバンクに対応して設け
られており、この出力がメモリバンク40のメモリクロ
ックになる。分配制御部2は、ANDゲー)31.’3
4.35、ラッチ32.33およびORゲート36で構
成されている。そして、MCUから発行される起動信号
中のリクエスト26とウェイアドレス27とがANDゲ
ート31に入り、ANDゲート31の出力はラッチ32
.33のそれぞれに供給されてメモリクロック用パルス
21^、21Bのそれぞれで取り込まれる。ANDゲー
ト34の入力にはメモリクロック用パルス21Aとラッ
チ32の出力とが、またANDゲート35の入力にはメ
モリクロック用パルス21Bとラッチ33の出力とが入
り、それぞれの出力はORゲート36に入っている。
40はST−RAM 41からなるメモリバンクである
。また、分配制御部2は各メモリバンクに対応して設け
られており、この出力がメモリバンク40のメモリクロ
ックになる。分配制御部2は、ANDゲー)31.’3
4.35、ラッチ32.33およびORゲート36で構
成されている。そして、MCUから発行される起動信号
中のリクエスト26とウェイアドレス27とがANDゲ
ート31に入り、ANDゲート31の出力はラッチ32
.33のそれぞれに供給されてメモリクロック用パルス
21^、21Bのそれぞれで取り込まれる。ANDゲー
ト34の入力にはメモリクロック用パルス21Aとラッ
チ32の出力とが、またANDゲート35の入力にはメ
モリクロック用パルス21Bとラッチ33の出力とが入
り、それぞれの出力はORゲート36に入っている。
次に、第2図を参照しながら第3図の動′作について説
明する。
明する。
■ANDゲート31により、O11番目置のクロックで
取り込んだ起動信号中のウェイアドレス27で特定され
るメモリバンク40の分配制御部2を選択する。このと
き、ANDゲート31の出力は“0”になる。
取り込んだ起動信号中のウェイアドレス27で特定され
るメモリバンク40の分配制御部2を選択する。このと
き、ANDゲート31の出力は“0”になる。
■ANDゲート31の出力を、メモリクロック用パルス
21^の立ち下がり28でラッチ33に取り込んで選択
信号22を”0”にセットする。そして、次の立ち下が
りまでこの出力を保持する。
21^の立ち下がり28でラッチ33に取り込んで選択
信号22を”0”にセットする。そして、次の立ち下が
りまでこの出力を保持する。
■この選択信号22はANDゲート35に入り、ORゲ
ート36はメモリクロック用パルス21Bを出力する。
ート36はメモリクロック用パルス21Bを出力する。
そして、このパルス21Bは、ST−RAM 41が動
作を開始するために必要とする03番目位置のメモリク
ロック23である。
作を開始するために必要とする03番目位置のメモリク
ロック23である。
このパルス21Bにより、ST−RAM 41に対して
必要とするタイミングに1発のみのメモリクロック23
の供給が可能になる。なお、このメモリクロック23の
立ち下がり23′でメモリアドレスを、立ち上がり23
′でデータをST−RAM 41に取り込んでいる。ま
た、第2図のメモリクロック用パルス21^。
必要とするタイミングに1発のみのメモリクロック23
の供給が可能になる。なお、このメモリクロック23の
立ち下がり23′でメモリアドレスを、立ち上がり23
′でデータをST−RAM 41に取り込んでいる。ま
た、第2図のメモリクロック用パルス21^。
21Bの位相はアーリイの状態で示している。
なお、MCUからの起動信号を02番目位置のクロック
で取り込むようなタイミングの場合には、メモリクロッ
ク用パルス21Bの立ち下がり29で選択信号(ラッチ
32の出力)を”0”にセットし、ORゲート36はメ
モリクロック用パルス21^を出力することになる。
で取り込むようなタイミングの場合には、メモリクロッ
ク用パルス21Bの立ち下がり29で選択信号(ラッチ
32の出力)を”0”にセットし、ORゲート36はメ
モリクロック用パルス21^を出力することになる。
本発明は、それぞれ周期がnτで、順次、略1τ分だけ
位相の異なるn組のメモリクロック用パルスを、nτ同
周期メモリクロックによって動作するメモリからなるメ
モリバンクのそれぞれに送り、各メモリバンクに設けた
分配制御部で、毎τ送られるいずれかの組のメモリクロ
ック用パルスの中、メモリが動作を開始するタイミング
のものを選択してメモリクロックに用いる構成をしてい
るため、MCUはメモリクロックの状態を監視すること
なしに任意の時点でメモリ側に起動をかけることができ
る。更に、ウェイアドレスを同時選択することによって
複数のメモリバンクを同時にアクセスすることができ、
またメモリクロックを常に入れていないので消費電力の
削減を図ることができる。なお、本発明においては、メ
モリバンクごとにメモリクロックを分配することになる
が、もともと多数の分配回路を用いて数個のRAM単位
に1つのメモリクロックを与えており、従来の1系統の
メモリクロック分配に比べて金物量が増加することもな
い。
位相の異なるn組のメモリクロック用パルスを、nτ同
周期メモリクロックによって動作するメモリからなるメ
モリバンクのそれぞれに送り、各メモリバンクに設けた
分配制御部で、毎τ送られるいずれかの組のメモリクロ
ック用パルスの中、メモリが動作を開始するタイミング
のものを選択してメモリクロックに用いる構成をしてい
るため、MCUはメモリクロックの状態を監視すること
なしに任意の時点でメモリ側に起動をかけることができ
る。更に、ウェイアドレスを同時選択することによって
複数のメモリバンクを同時にアクセスすることができ、
またメモリクロックを常に入れていないので消費電力の
削減を図ることができる。なお、本発明においては、メ
モリバンクごとにメモリクロックを分配することになる
が、もともと多数の分配回路を用いて数個のRAM単位
に1つのメモリクロックを与えており、従来の1系統の
メモリクロック分配に比べて金物量が増加することもな
い。
第1図は本発明の原理説明図、第2図は本発明の2τ周
期のメモリクロックで動作を開始するST−RAMにお
けるタイムチャートを示す説明図、第3図はメモリクロ
ック作成回路を示す説明図、第4図は従来の2τ周期の
メモリクロックで動作を開始するST−RAMにおける
タイムチャートを示す説明図である。 第1図において、 1・・・メモリクロック用パルス作成部2・・・分配制
御部 3・・・メモリバンク 4^、4B ・・・メモリクロック用パルス 5・・・起動信号 6・・・メモリクロック
期のメモリクロックで動作を開始するST−RAMにお
けるタイムチャートを示す説明図、第3図はメモリクロ
ック作成回路を示す説明図、第4図は従来の2τ周期の
メモリクロックで動作を開始するST−RAMにおける
タイムチャートを示す説明図である。 第1図において、 1・・・メモリクロック用パルス作成部2・・・分配制
御部 3・・・メモリバンク 4^、4B ・・・メモリクロック用パルス 5・・・起動信号 6・・・メモリクロック
Claims (2)
- (1)nτ周期(nは2以上の整数、1τはマシンサイ
クルの周期)のメモリクロックによって動作を開始する
メモリからなる記憶装置のメモリクロックの制御方式に
おいて、 それぞれ周期がnτで、順次、略1τ分だけ位相の異な
るn組のメモリクロック用パルスを発生するメモリクロ
ック用パルス作成部と、 前記記憶装置に取り込んだ起動信号に基づいて前記n組
のメモリクロック用パルスの位相状態を調べ、これらの
中からアクセス対象メモリの動作開始タイミングに対応
するものを選択して取り出す分配制御部とを設け、 当該分配制御部の出力を前記メモリクロックとして前記
メモリに与えることを特徴とするメモリクロックの制御
方式。 - (2)メモリにセルフタイミングRAMを用い、記憶装
置を複数のメモリバンクで構成し、分配制御部を当該メ
モリバンクのそれぞれに設けるとともに、起動信号中の
リクエストとウェイアドレスとが入るANDゲートを各
分配制御部の入力部に設けたことを特徴とする請求項1
記載のメモリクロックの制御方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2282205A JPH04156629A (ja) | 1990-10-20 | 1990-10-20 | メモリクロックの制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2282205A JPH04156629A (ja) | 1990-10-20 | 1990-10-20 | メモリクロックの制御方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04156629A true JPH04156629A (ja) | 1992-05-29 |
Family
ID=17649437
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2282205A Pending JPH04156629A (ja) | 1990-10-20 | 1990-10-20 | メモリクロックの制御方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04156629A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5916311A (en) * | 1996-03-27 | 1999-06-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Bus controller and information processing device providing reduced idle cycle time during synchronization |
-
1990
- 1990-10-20 JP JP2282205A patent/JPH04156629A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5916311A (en) * | 1996-03-27 | 1999-06-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Bus controller and information processing device providing reduced idle cycle time during synchronization |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6111814A (en) | Synchronous DRAM memory with asynchronous column decode | |
KR100225662B1 (ko) | 동기형 다이나믹 ram | |
US6424594B1 (en) | Method and apparatus for multiple latency synchronous dynamic random access memory | |
KR100232322B1 (ko) | 동기형 반도체 기억 장치 | |
JP4084428B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR100627986B1 (ko) | 동기식 파이프라인 버스트 메모리 및 그 동작 방법 | |
KR100233973B1 (ko) | 동기형 반도체 기억 장치 | |
JP4809398B2 (ja) | フラッシュメモリ装置 | |
EP0432575B1 (en) | Data processor having wait state control unit | |
JP2000276877A (ja) | ポステッドcasラテンシ機能を備えた同期式半導体メモリ装置及びcasラテンシ制御方法 | |
JPH1031886A (ja) | ランダムアクセスメモリ | |
KR920003161A (ko) | 메모리의 페치 시간 단축 방법 및 수단 | |
JPH10207760A (ja) | 可変待ち時間メモリ回路 | |
JPH09106682A (ja) | 同期式メモリのデータ出力バッファ制御方法 | |
JP2987809B2 (ja) | シンクロナスdramのcas信号発生器 | |
US6834015B2 (en) | Semiconductor memory device for reducing data accessing time | |
JPH04156629A (ja) | メモリクロックの制御方式 | |
JPH08212778A (ja) | 同期型半導体記憶装置およびそのデータ読出方法 | |
EP1122736B1 (en) | ATD generation in a synchronous memory | |
JPH07307090A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2569531B2 (ja) | メモリ制御回路 | |
JPH047761A (ja) | メモリアクセス方法 | |
JP2972934B2 (ja) | マイクロコンピュータにおける外部コマンド生成装置 | |
JPH02500143A (ja) | コンピユータ・システム | |
JPS5856196B2 (ja) | 記憶装置のタイミング制御方式 |