JPH04142057A - ウエハ供給方式およびウエハ自動供給システム - Google Patents

ウエハ供給方式およびウエハ自動供給システム

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JPH04142057A
JPH04142057A JP26485190A JP26485190A JPH04142057A JP H04142057 A JPH04142057 A JP H04142057A JP 26485190 A JP26485190 A JP 26485190A JP 26485190 A JP26485190 A JP 26485190A JP H04142057 A JPH04142057 A JP H04142057A
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JP
Japan
Prior art keywords
wafer
dummy
cartridge
cvd apparatus
supply
Prior art date
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Pending
Application number
JP26485190A
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English (en)
Inventor
Kiwamu Taira
平 究
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明はウェハ供給方式とウェハ自動供給システムに
関し、詳しくは、バッジ弐CVD1置に対する供給カー
トリッジに、処理ウェハの欠落による空席かあるとき、
その位置にダミーウェハを挿入して補完するウェハ供給
方式と、これを適用したウェハ自動供給システムに関す
る。
[従来の技術] 半導体ICの製造においては、シリコンなどのウェハに
対して酸化シリコン膜などを蒸着する工程がある。蒸着
にはCVD (化学的気相成長法)が広(用いられてい
る。CVL)装置にはウェハを1枚づつ処理する枚葉式
と、複数枚を一括して並列処理するバッジ処理式がある
第2図(a)、(b)は、常圧で複数枚のウェハをバッ
ジ処理するCVD装置の概略の構造を示し、図(a)は
側面図、図(b)は平面図である。両図において、複数
枚の被処理のウェハ2を収納した供給カートリッジ1が
昇降台4に載置される。昇降台4が駆動機構により上昇
してウェハはL側より1枚づつ取り出され、図示しない
ハンドリング機構によりゲー)3aより反応炉3の内部
に挿入され、各載置台3bに順次に載置される。すべて
の載置台に対してウェハが載置されると、全@置台は矢
印CI の方向に公転し、また各載置台はそれぞれ矢印
C2の方向に自転する。これに対して、反応炉3の頂点
より圧入された反応ガスGが、バ1.ファ3cにより均
等に拡散し、各ウェハの表面に反応して酸化シリコン膜
が蒸着される。
さて、ウェハの処理工程には多段階があり、−L程中で
は欠陥品などの理由でウェハが廃棄されることがあって
供給カートリッジに空席ができる。
CVD装置に対するウェハの挿入は供給カートリッジに
収納された順序に行われるので、供給カートリッジに空
席があると、その位置に対応する載置台も空席となる。
一方、CVD処理中は、すべての載置台3bにウェハ2
を載置することが必要である。その理由は、空席の載置
台に対しても反応ガスが蒸着して異物となり、次回以降
のウェハのCVD処理に支障するからである。これに対
して、従来においては供給カートリッジの空席を目視に
より見出し、用意されているダミーウェハを手作業によ
りその位置に挿入して、載置台に空席が生じないように
なされている。
[解決しようとする課題] 最近においては、ICの需要の増加に伴ってCVD装置
の効率化が要請され、これに対して、を記した目視によ
る供給カートリッジの空席の検出と、手作業によるダミ
ーウェハの挿入がネックであり、これを自動化すること
が必要である。さらに各カートリッジの搬送などすべて
を自動化すれば、CVD装置に対して昼夜連続無人運転
によりウェハを自動供給するシステムを構成することが
できる。
この発明は以りに鑑みてなされたもので、供給カートリ
ッジの空席の検出とダミーウェハの挿入とを自動化した
ウェハ供給方式を提供し、さらに各カートリッジの搬送
を全自動化したウェハ自動供給システムを提供すること
を目的とするものである。
[課題を解決するための手段コ この発明は、供給カートリッジより被処理のウェハを搬
送し、複数の載置台にローディングして並列処理するバ
ッジ処理式のCVDa置に対するウェハ供給方式と、ウ
ェハ自動供給/ステムである。
ウェハ供給方式においては、供給カートリッジのウェハ
の空席位置をウェハ検出手段により検出してメモリに記
憶する。一方、マイクロプロセッサにより制御され、ダ
ミー用カートリッジに収納されたダミーウェハをチャッ
クし、供給カートリッジまで移動して空席位置に挿入す
るチャック移動手段を具備する。これにより空席位置が
ダミーウェハにより補完され、CVD装置の載置台のす
べてに上記被処理ウェハまたはダミーウェハのいずれか
がローディングされて記並列処理が行われる。並列処理
の終了後、メモリに記憶されている空席位置を参照し、
CVD装置より取り出した処理済みウェハより、ダミー
ウェハを選択してダミーカートリッジに収納するもので
ある。
自動供給システムは、供給カートリッジの空席位置を検
出するウェハ検出センサを具備し、供給カートリッジと
ダミー用カートリッジをそれぞれ載置し、マイクロプロ
セッサの制御により−F昇/r降する2個の昇降台と、
この2個の昇降台の間にダミーウェハをチャックして移
動するウェハチャック移動機構とを設ける。さらに、2
個の昇降台、CVD装置、供給カートリッジ、ダミー用
カートリッジおよび処理済みウェハ用カートリッジのそ
れぞれの置き場所の間に、マイクロプロセッサの制御に
より各カートリッジを搬送するカートリッジ搬送機構を
設けたものである。
[作用] 以上の構成によるウェハ供給方式においては、供給カー
トリッジの空席位置はウェハ検出手段により検出されて
メモリに記憶される。一方、マイクロプロセッサにより
制御されるウェハチャック移動手段により、ダミー用カ
ートリッジのダミーウェハがチャックされて供給カート
リッジまで移動し、ウェハの空席位置に挿入される。こ
れにより空席位置がダミーウェハにより補完され、CV
D装置の載置台のすべてにウェハがローディングされて
並列処理が行われる。処理の終了後、メモリの空席位置
データを参照してCVD装置より取り出された処理済み
ウェハより、ダミーウェハを選択してダミーカートリッ
ジに収納する。以上により、供給カートリッジの空席の
検出と、これに対するダミーウェハの挿入が自動化され
、自動供給システムの構成が可能となる。
自動供給システムにおいては、マイクロプロセッサの制
御により、昇降台に載置された供給カートリッジが一ト
昇し、ウェハ検出センサにより空席が検出される。これ
に対して、ウェハチャック機構により、上昇したダミー
用カートリッジよりダミーウェハを1枚づつ順次に取り
出し、メモリに記憶されている空席位置に挿入する。さ
らに、マイクロプロセッサにより制御されたカートリッ
ジ搬送機構により、各置き場所間を各カートリッジが搬
送されるもので、CVD装置に対するウェハの供給が完
全に自動化され、稼働効率が向トするものである。
[実施例] 第1 図(a)、(b)は、この発明によるウェハ供給
方式およびウェハ自動供給システムの実施例における機
器配置構成図と、制御系のブロック構成図である。2図
(a)において、L  1’   l”はそれぞれ供給
カートリッジ、ダミー用カートリッジ、処理済みウェハ
用カートリッジをそれぞれ示し、2.2′、2#は被処
理ウェハ、ダミーウェハおよび処理済みウェハをそれぞ
れ示す。また、8.9′および9#はそれぞれ供給カー
トリッジ1、ダミー用カートリッジ1′および処理済み
ウェハ用カートリッジ1#に対する置き場所を示し、3
は前記したバッジ処理式CVD装置を示す。
次に、置き場所1,1′ とCVD装置3の間に、供給
カートリッジ1とダミー用カートリッジ1′を載置する
2個の昇降台6a、6bを設ける。昇降台6aには投光
部7aと検出部7bよりなるウェハ検出センサ7を取り
付け、また、昇降台6a、6bの間に、ガイドレール8
aとこれに沿って移動するウェハチャック移動機構8と
を設ける。さらに、各カートリッジの置き場所1,1’
   1”と、昇降台6a、E3bおよびCVD装置3
の間に、ガイドレールlOaとこれに沿って移動するカ
ートリッジ搬送機構10を設けて構成される。
第1図(a)のウェハ自動供給システムの動作を、図(
b)の制御系を併用して説明すると、マイクロプロセッ
サ(MPU)5の制御により、カートリッジ搬送機横凰
0が置き場所9より供給カートリッジ1を、また置き場
所9′よりダミー用カートリッジ1′を搬送して昇降台
6a、8bにそれぞれ載置する。MPUの制御により昇
降台6aを逐次上昇してウェハ検出センサ7により供給
カートリッジの空席位置を検出し、その位置をメモリ5
aに記憶する。これとともに昇降台6bを上昇し、ウェ
ハチャック機構8により、ダミー用カートリッジ1′か
らダミーウェハ2′を1枚づつ取り出して検出された空
席に挿入する。これにより空席がすべて補完された供給
カートリッジは、カートリッジ搬送機構lOによりCV
D装置3の昇降台4まで搬送されて載置される。ここで
、供給カー) IJッジより被処理ウェハまたはダミー
ウェハが1枚づつ取り出され、ゲート3aよりCVD3
に挿入されて各載置台3bに載置される。この場合、供
給カートリッジには空席がないので、載置台にも空席が
生じない。CVD装置の処理が終丁すると、処理済みウ
ェハ2#は処理済みウェハ用カートリッジ1#に一日。
収納されて昇降台6aに搬送され、ここで、前記のメモ
’J5aに記憶されている空席位置のデータを参照して
ダミーウェハ2′をHA 別し、これをウェハチャック
機構8によりダミー用カートリッジ1′に返却するか、
または所定位置に廃棄する。ダミーウェハが取り去られ
た処理済みウェハ用カートリンジは、カートリッジ搬送
機構により、置き場所9#に搬送されるものである。
[発明の効果コ 以ヒの説明により明らかなように、この発明によるウェ
ハ供給方式においては、供給カートリッジのウェハの空
席位置の検出と、その位置に対するダミーウェハの挿入
作業とが自動化されてシステムの自動化を可能とするも
のであり、またウェハ自動供給システムは上記の供給方
式を適用し、さらに各カートリッジの搬送を自動化した
もので、バッジ弐CVD装置に対するウェハの供給を無
人化して省力化できる効果には大きいものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)および(b)は、この発明によるウェハ供
給方式およびウェハ自動供給システムの実施例における
、各部の配置図と制御系のブロック構成図、第2図(a
)および(b)は、バッジ処理式CVD装置の動作を説
明する構造図である。 t、t’、i”・・・ウェハカートリッジ、2.2’ 
、2”・・・ウェハ、 3・・・バッジ処理式CVD装置(または反応炉)、3
a・・・ゲート、     3b・・・載置台、3c・
・・バッファ、   4・・・昇降台、5・・・マイク
ロプロセッサ(MPU)、5a・・・メモリs    
  8 a 、 (3b・・・昇降台、7・・・ウェハ
検出センサ、7a・・・投光器、7b・・・検出器、 
8・・・ウェハチャック移動機構、8a、10a・・・
ガイドレール、 9.9’ 、9”・・・置き場所、 lO・・・カートリーフ機構送機横。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)供給カートリッジより被処理のウェハを取り出し
    、複数の載置台に逐次ローディングして並列処理するバ
    ッジ処理式のCVD装置に対する該ウェハの供給におい
    て、該供給カートリッジの該ウェハの空席位置をウェハ
    検出手段により検出してメモリに記憶し、マイクロプロ
    セッサにより制御され、ダミー用カートリッジに収納さ
    れたダミーウェハをチャックし、前記供給カートリッジ
    まで移動して前記空席位置に挿入するチャック移動手段
    を具備し、該手段により前記空席位置を前記ダミーウェ
    ハにより補完し、前記CVD装置のすべての載置台に対
    して、前記被処理ウェハまたはダミーウェハのいずれか
    をローディングして前記並列処理を行い、該並列処理の
    終了後、前記メモリの空席位置を参照し、前記CVD装
    置より取り出した処理済みウェハより前記ダミーウェハ
    を選択して前記ダミーカートリッジに収納することを特
    徴とする、ウェハ供給方式。
  2. (2)供給カートリッジより被処理のウェハを取り出し
    、複数の載置台に逐次ローディングして並列処理するバ
    ッジ処理式のCVD装置に対する該ウェハの供給におい
    て、該供給カートリッジの該ウェハの空席位置をウェハ
    検出手段により検出してメモリに記憶し、マイクロプロ
    セッサにより制御され、ダミー用カートリッジに収納さ
    れたダミーウェハをチャックし、前記供給カートリッジ
    まで移動して前記空席位置に挿入するチャック移動手段
    を具備し、該手段により前記空席位置を前記ダミーウェ
    ハにより補完し、前記CVD装置のすべての載置台に対
    して、前記被処理ウェハまたはダミーウェハのいずれか
    をローディングして前記並列処理を行い、該並列処理の
    終了後、前記メモリの空席位置を参照し、前記CVD装
    置より取り出した処理済みウェハより前記ダミーウェハ
    を選択して前記ダミーカートリッジに収納し、前記供給
    カートリッジの空席位置を検出するウェハ検出センサを
    具備し、前記供給カートリッジと前記ダミー用カートリ
    ッジをそれぞれ載置し、前記マイクロプロセッサの制御
    により上昇/下降する2個の昇降台と、該2個の昇降台
    の間に前記ダミーウェハをチャックして移動するウェハ
    チャック移動機構とを設け、かつ、該2個の昇降台、前
    記CVD装置、前記供給カートリッジ、前記ダミー用カ
    ートリッジおよび前記処理済みウェハ用カートリッジの
    それぞれの置き場所の間に、前記マイクロプロセッサの
    制御により前記各カートリッジを搬送するカートリッジ
    搬送機構を設けたことを特徴とする、ウェハ自動供給シ
    ステム。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013133101A1 (ja) * 2012-03-07 2013-09-12 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法及び基板処理方法

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