JPH04137666A - 有機薄膜素子 - Google Patents

有機薄膜素子

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JPH04137666A
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俊 江草
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は各種の機能を有する有機薄膜素子に関する。
(従来の技術) 近年、有機分子の薄膜技術を用いて新しい機能素子を実
現しようという研究が活発化している。
様々な機能を持つ有機分子の配列を人工的に制御し、薄
膜化することによって新たな物性を見いたし、将来の情
報技術分野が要請する高度な複合機能を持つ電子素子や
光学素子として利用することが考えられている。例えば
、蒸着法により形成された有機薄膜を用いた有機エレク
トロルミネッセンス素子、ラングミュア・プロジェット
法(以下、LB法という)により形成された有機薄膜を
用いたMIS素子の研究を代表として、この種の研究か
各所で行われている。しかし、応用上不可欠である膜物
性の評価解析という面では、まだ研究が緒についた段階
であり、バルク素材に比べて検討例が極めて少ない。こ
のため、現状では、有機薄膜の性質を有効に利用した新
しい機能を有する素子は未だ実現されていない。
素子への応用の面から見て、有機材料において特に注目
されるのは、分子間の電荷移動の現象である。有機材料
には、イオン化ポテンシャルが小さく他の分子に電子を
供給して自らは正のイオンになりやすいドナー性分子(
D分子)と、電子親和力か大きく他の分子から電子を受
取って自らは負のイオン状態になりやすいアクセプタ性
分子(A分子)とがある。これら2種の分子間には、電
荷移動錯体と称される化合物が形成されることはよく知
られている。例えば、ペリレンとテトラシアノキノジメ
タン(T CN Q)との錯体ては電荷が移動せず中性
であるが、テトラメチルフェニレンジアミン(TMPD
)とTCNQとの錯体はそれぞれの分子が正と負になり
イオン性である。
また、テトラチアフルバレン(TTF)とクロラニル(
CA)との錯体のように、温度や圧力によって中性−イ
オン性転移が起こり、非線形な電気応答性などが観測さ
れるものも知られている(J、B、Torrance 
et al、:Phys、Rev、Lett、、46,
253(1981))。
このように電荷移動錯体が注目されるのは、0分子とA
分子との組み合わせが多岐にわたり機能設計の自由度が
極めて大きいこと、及び電場や光などの外部エネルギー
によってその機能を自在に制御できること、などの理由
による。素子への応用にあたっては、電荷移動錯体の中
性−イオン性転移現象を、電界、光により容易に起こす
ことができることか重要となる。
電界により、中性−イオン性転移現象を起こすための条
件としては次のようなものが考えられる。
(A)基底状態である中性状態と、励起状態であるイオ
ン性状態とのエネルギー差が小さいこと。
(B)電荷移動錯体に高い電界を印加し得るような素子
構造にすること。
(B)の条件を満たす素子を実現するためには、次のよ
うな対策、すなわち;電荷移動錯体のバルク結晶ではな
く薄膜を用いる:電極と電荷移動錯体との間に絶縁層を
設けて電荷移動錯体の薄膜に電流が流れないようにする
:絶縁膜として比誘電率の高いものを用いる;が採用さ
れる。
(A)の条件を満たすための対策としては、錯体の構成
分子として最適な分子を選択することか考えられる。し
かし、実際には(A)の条件を実現することは困難であ
る。以下、(A)の条件に関して更に詳細に検討する。
中性−イオン性転移が起こるしきい値電界E lkは、
次式によって決定される。
E I  E N −e E + b d(式中、eは
電荷の素置、Elはイオン性状態1こおけるD″″−A
″ 1ベア当りのエネルギー ENは中性状態における
D−A lペア当りのエネルギdは0分子とA分子との
距離であり、おおよそ3,0〜3.5人である)。
この式かられかるように、中性状態とイオン性状態との
エネルギー差が小さ0はど、しき(1値電界E lhO
値が低下する。この場合、E 、、+よ、電荷移動錯体
の耐圧電界、又は絶縁層の耐圧電界よりも低いことか必
要であり、現実的ζこCd 2〜3×10′″■/印オ
ーダー以下であること力へ好まし0゜したがって、 EI  −EN<Q、leV の範囲であることか好ましい。
EI  ENの値が小さい電荷移動錯体の候補としては
、圧力印加や温度低下により中性力)らイオン性へ転移
するものや、電荷移動吸収帯の波長が0.8−以上に存
在するものが考えられる。より具体的には、PTZ−T
CNQ、TMDAP−TCNQ、   TTF−CA 
 S  TTF  −フ ル オ ラ ニ ル 、ジベ
ンゾTTF−TCNQSDEDMTSeF−ジメチルT
CNQ、TMDAP−フルオラニル、TTF−ジクロロ
ベンゾキノン、ペリレン−テトラフルオロTCNQ、ペ
リレン−DDQ、べ1ルンーTCNE、ペリレン−TC
NQ、ペリレンフルオラニルなどが挙げられる。
しかし、これらの錯体の中で、実際1こEEN<O,l
eVという条件を満足するもの1よ、わずカニP T 
Z −T CN Q 、 T T F −CA f:+
すである。また、これらの錯体でも、El−ENの値(
ま0、leVより小さいけれども、0.1eVIこ近(
1値である。このため、E、h’D値は101′V/c
miこ近(1値となり、かなり高い電界を必要とすると
0う問題がある。
(発明が解決しようとする課題) 本発明の目的は、低い電界によって電荷移動錯体の中性
からイオン性への転移を起こすこと力くでき、各種の機
能を容易に発現すること力くできる有機薄膜素子を提供
することにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段と作用) 本発明の有機薄膜素子は、ドナー性有機分子及びアクセ
プタ性有機分子の交互積層型電荷移動錯体からなる有機
薄膜を有する有機薄膜素子において、前記有機薄膜が、
バルク状態ではイオン性である交互積層型電荷移動錯体
を膜厚1000Å以下の薄膜状態に形成して中性とした
ものからなることを特徴とするものである。
本発明において、バルク状態とは、粉末、結晶又は11
以上の厚膜を意味する。バルク状態において錯体がイオ
ン性であるか否かは、次式で定義される電荷移動度の大
きさによって決定される。
Eg  −p  [ρlEJ −II p−Ealコ(
式中、ρはDA分子間の電荷移動度、Egは実効的DA
結合エネルギー EMはマーデルングエネルギー Ip
は0分子のイオン化ポテンシャル、EaはA分子の電子
親和力である)。
バルク状態においてイオン性を示す交互積層型電荷移動
錯体は、電荷移動度ρか05以上である。
本発明者らは、このような錯体ても膜厚1000Å以下
の薄膜状態に形成すれば、電荷移動度ρは0.1以下と
なり、その電気的性質は中性となることを見出した。バ
ルク状態においてイオン性の錯体か中性となる膜厚d“
は、錯体の種類に応じて異なり、いずれも1000Å以
下であるが、200Å以下のものが多い。
バルク状態ではイオン性を示す錯体が、薄膜状態では中
性となる理由について説明する。ここで、イオン性の錯
体のエネルギーE、と中性の錯体のエネルギーENとの
差は、次式で表わされる。
E夏 −EN−IF    EA    EM式中、I
Pはドナー性分子のイオン化ポテンシャル、EAはアク
セプタ性分子の電子親和力、EMはイオン化したD” 
−A−1ベア当りのマーデルング・エネルギー すなわ
ちD゛イオンA−イオンとからなる結晶格子のクーロン
ポテンシャルである。マーデルング・エネルギーEうは
次式で表わされる。
(式中、1、jは分子のサイトを表わす。qq、はそれ
ぞれサイト11jでの電荷、r6.はサイト11j間の
距離、Nはサイト数である)。また、EMは、通常、次
式のようにマーデルング定数αを用いて表わされる。
(式中、dは最近接のD−A間距離、qはイオン性のD
゛分子電荷であり、この電荷はA−分子の電荷の絶対値
に等しい)。
イオン性交互積層型電荷移動錯体のマーデルング・エネ
ルギーについては、Metzgerらにより計算された
例がある(J、 CheLPhys、、 57.p、1
87B(1972))。この文献によると、マーデルン
グ定数は1.30である。これは、正イオンと負イオン
との1次元無限チェーンのマーデルング定数1.38に
極めて近い。このことから、イオン性交互積層型電荷移
動錯体の物性は、D”A−カラム内の相互作用によって
ほぼ決定されると考えられる。カラム間の相互作用は斥
力的であるが、その寄与は極めて小さい。実際に、結晶
構造から判断すれば、D”A−カラムに垂直な面内ては
、ある分子に対して同種の分子と異種の分子とかほぼ等
距離に位置し、相互作用はほぼ無視できる程度に解消さ
れる。したがって、錯体を薄膜化したときの電界などの
外部エネルギーに対する応答、及び物性変化についても
、1次元のD”A−カラムだけを考えればよい。
本発明者らが、カラム内のD”A−ベア数(これは錯体
薄膜の膜厚に対応する)と、D″A″1A″1ベア当デ
ルング・エネルギーとの関係を計算した結果を第16図
に示す。0分子とA分子との間の距離は3.2〜3.5
人であり、D″A−1ベア当りでは6.4〜7.0人の
膜厚に対応している。
また、D”A−間のクーロン相互作用の大きさは約3.
OeVであり、マーデルング定数の0,1が0.3eV
のエネルギーに対応している。第16図に示されるよう
に、クーロン相互作用の長距離性を反映して、D″A−
ベアの数が増加しても無限チェーンすなわちバルク結晶
のマーデルング定数の値には収束しない。バルク結晶と
薄膜とのマーデルング・エネルギーの差は、5ベア(約
33人)で0.30e V、 10ベア(約67人)で
O,1,5e V、 15ベア(約11) 0λ)でり
、lOe V、 45ペア(約300人)でも0.03
e Vと大きな差がある。このように、バルク状態では
イオン性の方が安定(E、−EN< 0)でも、超薄膜
化するとマーデルング・エネルギーが低下するため中性
の方か安定(EI  EN>O)となる。バルク状態で
はイオン性を示す交互積層型電荷移動錯体が中性となる
膜厚d l、は、前述したように錯体の種類に応じて異
なるが、具体的には工、及びEAに依存する。
このようにバルク状態においてイオン性である錯体を、
中性となる膜厚d”′よりも薄くd“′に極めて近い薄
膜状態に形成した有機薄膜(以下、特に区別を必要とし
ない場合にはこのような有機薄膜を錯体薄膜という)は
、103〜105V / CIl+という従来と比較し
て極めて低い電界により、中性からイオン性へと転移す
る。103〜105V/cn+の電界に対応する外部エ
ネルギーは、後述するように、光電場、特定のイオン種
又は分子種に感応する感応膜の膜電位などとして与える
こともできる。錯体薄膜を中性からイオン性へ転移させ
るのに要する外部エネルギーの値は、薄膜の膜厚、及び
錯体の種類に依存する。一方、錯体薄膜は、外部エネル
ギーが与えられて中性からイオン性へと転移することに
より、分極状態、吸収波長などの物性が変化する。した
がって、目的とする機能に応じて、錯体薄膜を中性から
イオン性へ転移させるための外部エネルギー、及びそれ
に伴う錯体薄膜の物性変化を考慮し、適当な素子構造を
採用することにより、優れた機能を有する有機薄膜素子
を容易に作製することができる。
本発明に係る錯体薄膜を各種素子に応用するにあたって
は、種々の素子構造が考えられる。錯体薄膜は1層だけ
て用いてもよい。ただし、所望の物性変化を得るために
は、錯体薄膜の合計の膜厚が数100〜数1000人で
あることか好ましいことが多く、このような場合には1
種又は2種以上の錯体薄膜と1種又は2種以上の他の有
機分子からなる薄膜とを複数層ずつ繰り返して積層した
超格子構造とすることが好ましい。他の分子としては、
絶縁性分子、ドナー性分子、アクセプタ性分子、バルク
状態において中性を示す交互積層型電荷移動錯体などが
挙げられる。
超格子構造を形成する場合、錯体に対して構造の大きく
異なる分子を積層すると構造が乱れやすくなるので、な
るべく構造の近い分子を積層して膜構造が乱れないよう
にすることが好ましい。また、隣接する薄膜間に電子的
な相互作用が働くと、錯体薄膜単独の場合と比較して、
電子状態か修飾されるおそれがある。したがって、錯体
薄膜に積層される他の分子の分子構造、電子状態を考慮
して組み合わせないと、所望の機能が得られないことが
ある。
バルク状態でイオン性の交互積層型錯体に構造が最も類
似しているのは、異種の交互積層型錯体である。ただし
、錯体としてバルク状態でイオン性のものを用いると、
錯体と錯体との相互作用が強いため全体がイオン性薄膜
となり、中性の薄膜が得られない。したかって、他の分
子として錯体を用いる場合には、バルク状態で中性の交
互積層型錯体を用いることが好ましい。その他の分子で
錯体薄膜と組み合わせるのが適当なものでは、ドナー性
分子、又はアクセプタ性分子が挙げられる。
錯体薄膜を構成する、バルク状態においてイオン性を示
す交互積層型電荷移動錯体を具体的に例示すると以下の
ようなものか挙げられる。
DAD−TCNQ、DAD−TCNQF4、D A D
 −M e T CN Q 、 D A D −D M
 e T CN Q 。
DAD−DDQ、DAD−CA、DAD−BA。
TMPD−TCNQ、TMPD−MeTCNQ。
TMPD−DMeTCNQSTMPD−DDQ。
TMPD−CA、TMPD−BASPD−TCNQ、P
D−DDQ、PD−CA、PD−BA、PTZ−DDQ
、N−MePTZ−TCNQ。
M2P−TCNQ、M2 P−TCNQF4、M2P−
DDQSM2 P−TCNE、M2 P−CA、  M
2 P−DTF、  HMD−TCNQ。
TMB−TCNQ、TMB−TCNQF4 、TMB−
DDQSDBTTF−TCNQなどである。
(DAD:ジアミノデュレン、 TCNQ :テトラシアノキノジメタン、TCNQF4
 :テトラシアノテトラフルオロキノジメタン、 M e T CN Q :メチルテトラシアノキノジメ
タン、 D M e T CN Q ニジメチルテトラシアノキ
ノジメタン、 DDQ ニジクロロジシアノキノン、 CA+クロラニル、BA:ブロマニル、TMPD :テ
トラメチルバラフエニレンジアミン、 PD:パラフェニレンジアミン、 PTZ :フェノチアジン、 N−MePTZ:N−メチルフェノチアジン、Pニジメ
チルフェノチアジン、 TCNE :テトラシアノエチレン、 HMD :ヘキサメチルジアミノジュレン、TMB:3
.3“、5.5’−テトラメチルヘンジシシ、TTF:
テトラチアフルバレン、 DBTTF :ジヘンゾテトラチアブルバレン)このよ
うにバルク状態においてイオン性を示す交互積層型電荷
移動錯体としては多数の種類かあり、そのいずれても薄
膜状態に形成することにより中性となるので、素子を構
成する材料の選択の枠か広がる。
錯体薄膜に積層される絶縁性分子としては、ポリフッ化
ビニリデン(PVDF)などが挙げられる。
錯体薄膜に積層される0分子又はへ分子を具体的に例示
すると、下記の構造式で示されるものか挙げられる。
0分子 C N S、、、、  、、、、 S S・パ ゛S X= O (ii)A分子 F 0□H NO□ C N C N NO□ ot NO□ N N I t 錯体薄膜に積層される、バルク状態において中性を示す
交互積層型電荷移動錯体を具体的に例示すると、PTZ
−TCNQ、TMDAP−TCNQ、TTF−CAST
TF−フル、tラニル、DBTTF−TCNQ、DED
MTSeF−DMeTCNQ、TMDAP−フルオラニ
ル、TTF−ジクロロベンゾキノン、ペリレンT CN
 Q F 4 、ペリレン−DDQ、ペリレン−TCN
E、ペリレン−TCNQ、ペリレンーフルオラニル、P
Z−TCNQなどか挙げられる。
以下、本発明に係る各種機能を有する有機薄膜素子の構
造及び動作原理を簡単に説明する。
表示素子 1対の電極間に錯体薄膜を含む有機薄膜を設けた基本構
造を有する。有機薄膜に電界を効果的に印加できるよう
にするために、電極と有機薄膜との間に絶縁膜を設ける
のが一般的である。有機薄膜は、例えば錯体薄膜と絶縁
性薄膜とを繰り返し積層した超格子構造となっている。
この表示素子では、電極から有機薄膜に電界を印加する
ことにより、錯体薄膜が中性からイオン性へと転移し、
錯体薄膜による光の吸収波長が変化するので、表示機能
を得ることかできる。
錯体薄膜のE、−ENの大きさは、膜厚に依存するので
、これを利用して多値機能を有する表示素子を作製する
ことかできる。この表示素子では、少なくとも2つ以上
の異なる膜厚d1  d2、・・・を有する錯体薄膜が
少なくとも2層以上含まれている。膜厚d、の錯体薄膜
におけるE、−ENの値と、膜厚d2の錯体薄膜におけ
るE、−ENの値とが異なるので、両者では中性からイ
オン性へと転移する電界の強度が異なる。したがって、
例えばd、<d2<d“′とした場合、外部から印加す
る電圧を増加していくと最初に膜厚d2の錯体薄膜が中
性からイオン性へと転移し、更に電圧を増加すると膜厚
d、の錯体薄膜も中性からイオン性へと転移する。この
ように、多値の印加電圧に対して応答する表示素子を実
現することができる。
錯体薄膜のEI−ENの大きさは、錯体の種類にも依存
するので、これを利用して多値機能を有する素子を作製
することができる。この表示素子では、少なくとも2種
以上の錯体を用いて、錯体薄膜か少なくとも2層以上形
成されている。1つの種類の錯体薄膜におけるEI  
ENの値と、他の種類の錯体薄膜におけるE、−ENの
値とか異なるので、両者では中性からイオン性へと転移
する電界の強度が異なる。したかって、外部から印加す
る電圧を増加していくと最初に例えば1つの種類の錯体
薄膜が中性からイオン性へと転移し、更に電圧を増加す
ると他の種類の錯体薄膜も中性からイオン性へと転移す
る。このようにして多値の印加電圧に対して応答する表
示素子を実現することができる。
錯体薄膜と、この錯体とは吸収帯の異なる分子からなる
薄膜を積層した超格子構造を採用することもできる。光
吸収特性に関しては、バルク状態でイオン性を示す錯体
を中性化すると、はとんどのものが400〜450nt
xに吸収帯を持ち、黄色を示す。これを電界によりイオ
ン化させると、5[)0〜800r+a+以上の長波長
域に大きな吸収帯を持ち、青色又は緑色を示す。一方、
バルクで中性の錯体のうち、例えばPTZ−TCNQや
PZ−TCNQは400〜600nmに吸収帯を持ち、
赤色を示す。したかって、これらの錯体を用いて超格子
構造を形成すれば、多値の印加電圧に対して応答する表
示素子か実現でき、かつ表示色の選択の幅か広がる。
電界効果トランジスタ(FET) 半導体基板表面に形成されたソース、ドレイン領域間の
チャネル領域上に、ゲート絶縁膜、錯体薄膜を含む積層
膜、及びゲート電極を順次形成した基本構造を有する。
このFETでは、基板とゲート電極との間に印加する電
圧値を徐々に増加させていくと、錯体薄膜が中性のとき
にでは単なる絶縁層として作用するが、中性からイオン
性へ転移すると大きな分極が生じて、錯体薄膜内の電場
は転移前と比較して小さくなる。この転移に伴い、半導
体表面の電位が変化し、チャネル領域のキャリア密度が
不連続に増加する。ゲート電圧とドレイン電流との関係
でいえば、錯体薄膜が中性から斜 イオン性へ転移するのに対応するゲート電圧V6のとこ
ろでドレイン電流が急激な増加を示し、オフからオンへ
のスイッチング機能を示す。
錯体薄膜か中性からイオン性へ転移するときの電界は、
錯体薄膜の膜厚、及び錯体の種類にも依存する。したが
って、有機薄膜層を錯体薄膜と絶縁性薄膜との超格子構
造とし、錯体層を構成する錯体層を変化させるか、又は
錯体層の膜厚を変化させることにより、多段階のスイッ
チング機能を有するFET素子を実現することができる
焦電素子 1対の電極間に錯体薄膜を設けた構造を有し、電圧を印
加することにより錯体薄膜を分極化処理した状態で使用
される。錯体薄膜に電圧を効果的に印加するために、電
極と錯体薄膜との間に絶縁性薄膜を設けることが好まし
い。この焦電素子では、錯体薄膜に電圧を印加するとい
う極めて制御性のよい手段で分極化処理ができ、薄膜中
に効率よく分極状態を実現することができる。そして、
錯体薄膜の積層方向に非常に大きな双極子を高密度に形
成できるため、単位体積当りの分極(P−NΔμ/Vl
 も大きな値となる。また、これらの錯体の多くは、中
性からイオン性への転移によって、800nm以上の赤
外波長域に錯体分子特有の電荷移動吸収を持つことから
、錯体分子の選択によっては、特定の波長にのみ感応す
る薄膜を提供することかできる。
従来の焦電素子には、強誘電性の無機結晶やセラミック
スが用いられている。しかし、これらの材料を用いた場
合、素子の大面積化が困難であったり、膜厚か厚いため
、素子の応答速度が遅いという欠点があった。その結果
、例えば焦電素子の最も大きな用途である赤外センサー
などでは、ボロメータ−のような波長分解能が得られず
、しかも応答性も悪いという欠点がある。このため、H
gCdTeなどの半導体結晶材料を用いた光量効果型の
センサーに対抗できなかった。また、無機物は、焦電係
数が比較的大きなものであっても、熱容量が大きすぎた
り、誘電率か大きすぎたりするため、結果的にセンサー
の性能指数か小さくなり、その応用範囲が極めて限定さ
れていた。
一方、ポリフッ化ビニリデンのような有機^分子からな
る圧電性材料は、3 X 10−”C/(至)2という
、無機物に匹敵する焦電係数を有し、しかも熱容量も小
さいことから、その応用か検討されてきた。しかし、こ
れらの材料は、分極化処理のために、延伸、ポーリング
などの機械的処理が必要であるが、これらの処理によっ
てクリープ現象が生じるため、焦電特性の安定性に問題
かあった。また、有効な焦電性を示すには、10〇−程
度の厚さが必要であるため、FETやCCDなどの半導
体集積回路と組み合わせて、例えば赤外光をドレイン電
流変化として検出するなどの高度なセンシングシステム
に適用することは困難であった。
これに対して、本発明に係る焦電素子では、以上のよう
な問題を解消できる。
溶液センサー 錯体薄膜の中性からイオン性への転移は、特定の化学種
に感応する感応膜の膜電位によっても起こすことができ
る。
感応膜上で反応が進行した場合、膜表面に種々の物理化
学的変化が誘起される結果として、膜電位は一般に以下
のように表わされる。
(式中、θは電荷密度、tはイオンの輸率、C1C2は
電解溶液の濃度、γ−C+/C2、Fはファラデー数で
ある)。
感応膜の表面での化学反応の進行具合によって、この膜
電位が変化し、 Δ曹−μψl−Δψ2 となる。この電位の大きさは、感応膜の種類、目的とす
る成分の濃度、反応率によって異なるが、1〜500m
 V程度の大きさである。したがって、これらの感応膜
から錯体薄膜に加えられる電界強度は約104〜lO’
V/cXn程度となる。この電界は、錯体薄膜を中性か
らイオン性へ転移させるのに充分な大きさである。
本発明に係る溶液センサは、基板上に錯体薄膜及び感応
膜を順次積層した構造を有する。この溶液センサは、測
定されるべき成分を含む溶液中に浸漬されて使用される
。この溶液センサでは、感応膜の表面での化学反応によ
り膜電位か変化すると、錯体薄膜のイオン化率か急激に
増加し、使用されている錯体種に特育の電荷移動吸収を
示す。
この吸収変化は、許容遷移であるため、膜厚が200人
と極めて薄い場合であっても充分大きな値を示し、ホト
ダイオードなどの検出器を用い、光学的に検出すること
ができる。
従来、バイオセンサ、イオンセンサとしては、感応膜と
電極とから構成される電極型と称されるものが使用され
ている。これらのセンサは、感応膜上での反応により生
成又は消滅する分子が電極活物質と相互作用することに
よって生じる膜電流や膜電位の変化を、ポテンショメト
リ一方式又はアンベロメトリ一方式で検出するものであ
る。しかし、電極型のセンサでは、溶液中に比較電極を
設置しなければならず、小形化か困難である。特に、多
種の化学種を同時に計測できるシステムを構成しようと
する場合には、小形化か極めて困難である。また、最近
では、多機能・高速化を図るために、半導体トランスデ
ユーサを利用したイオンセンサ(ISFET)か検討さ
れている。このl5FETは絶縁ゲート型電界効果トラ
ンジスタとほぼ同じ構造を有し、ゲート電極を設ける代
わりに、ゲート絶縁膜に電解液を接触させて、チャネル
領域の導電率の変化を検出するものである。
l5FETは、電極型のセンサと比較して、小形化及び
応答性の改善が期待されているか、やはり溶液中に比較
電極を設置しなければならず、小形化を達成することは
困難である。また、いずれのセンサでも応答性は充分で
はない。
これに対して、本発明の溶液センサは、基板上に複数の
錯体薄膜及び感応膜を集積化でき、比較電極なども必要
がないので、小形化を図ることかできる。また、本発明
の溶液センサは、応答性にも優れている。
光記録素子 錯体薄膜の中性からイオン性への転移は、光電場によっ
ても起こすことかできる。
まず、錯体薄膜を電場により中性からイオン性へ転移さ
せた場合を考えると、イオン化した錯体分子の面密度は
、 Q/S1mεεoV/ed である。錯体薄膜の比誘電率を50程度とすると、この
値は約10” electrons/ cm 2となる
0次に、光の強度Pと対応する光電場の強度Eとの間に
は、一般に、 E= (2F/ εεo S) ”2 (式中、Sはビームサイズである) の関係がある。また、単位時間当りの光子密度Npは、 Np−P (ω)/力ω である。したがって、光電場強度は、 E−(2Np−力ω/εε。5)12 となる。光記録用の光源としては、指向性・単色性のよ
いレーザが用いられる。例えば、波長500nl ビー
ム径3um、出力100mWのレーザビームでは、光子
密度Npは約10′7(photons/ 5ee)と
なる。したがって、光電場強度は、約LO’V/am程
度であると見積もることができる。
一方、分子の光吸収の遷移強度(放射エネルギー密度と
Einsteinの吸収遷移確率(B mn)との積)
は、振動子強度(f)によって見積もることができる。
実験的には、fは分子吸収係数ε(ν)を用いて、 f=A0fε(ν)dν (式中、A1は定数である) より求められる。
一般に、許容遷移の場合には、f>0.1であり、モル
吸収係数ε(ν)が約10’  (M −’co+−’
)であれば、薄膜の吸光度は少なくとも10−2程度と
なる。
吸収される光子密度は約10 ” (photons/
 5ee)であるから、光電場強度は10’〜10’V
/cmとなる。
この光電場強度は、錯体を直接光励起し、中性からイオ
ン性への転移を起すのに充分な大きさとなる。
本発明の光記録素子では、錯体薄膜をトナー性分子から
なる薄膜(D分子薄膜)とアクセプタ性分子からなる薄
膜(へ分子薄膜)とで挟んだ、D/ [DA] /Aと
いう3層構造を記録単位として含んでいる。
この光記録素子への記録は、外部情報信号に応じて、特
定波長の光をオン・オフさせて照射することにより行わ
れる。光か照射された部位の記録単位では以下に述べる
いずれかの原理に基づいて情報が保持される。■錯体か
中性からイオン性へと転移した後、隣接する0分子及び
へ分子へ電荷が移動し、情報が保持される。■D分子が
光励起し、錯体薄膜を介してへ分子薄膜への電子移動が
起こり、0分子及びA分子がそれぞれイオン化すること
により情報が保持される。00分子及びへ分子がイオン
化し、これらの分極場の作用により錯体が中性からイオ
ン性へと転移することにより情報が保持される。
この記録素子に記録された情報の読み出し方法について
説明する。光か照射された部位の記録単位では、錯体薄
膜が中性からイオン性へ転移している。錯体の光吸収は
、イオン性の場合と中性の場合とで大きく異なっている
ので、情報か記録されているか否かは容易に識別できる
。したがって、低出力の参照光を照射し、錯体薄膜から
の透過光を検出することにより、情報を読み出すことか
できる。
また、D/ [DA] /Aという3層構造を構成する
分子の種類の組み合わせを変化させて、互いに波長の異
なる特定波長の光に応答する複数の記録単位を構成し、
これらの記録単位を複数段積層すれば、多重記録素子を
作製することができる。
この多重記録素子への記録は、複数の異なる波長の光を
照射することができる多重光源を用い、各々の波長の光
をオン・オフさせて、光学系を通して記録素子へ照射す
ることにより行われる。光が照射された部位において、
対応する波長の光が照射された記録単位では、前述した
いずれかの原理に基づいて情報が保持される。
この多重記録素子に記録された情報の読み出しは、波長
域の広い低出力の参照光を一括照射し、透過光を走査型
分光検出器によって検出することにより行われる。この
操作により、特定の記録部位に記録された多重情報を同
時並列的に読み出すことができる。
現行の各種メモリ媒体としては、半導体メモリ、光ディ
スク、磁気ディスクなどがある。バイポーラRAMなと
の半導体メモリは、アクセスタイムの面で圧倒的に優れ
ている。一方、光ディスクは、ビット単価が安く、磁気
ディスクなどの他の外部メモリと比較して記録密度が高
いという特長があるため、実用化が急速に進んでいるが
、書き換え性、信頼性などの点でなお克服すべき課題が
多い。
更に、超高密度記録という点では、ヒートモードに比べ
てフォトンモードでの記録方式が優位であるという観点
から、有機分子のフォトクロミック材料などが精力的に
研究されてきている。最近では、フォトケミカル・ホー
ル拳バーニング(PHB)現象などの新しい物性現象を
利用した記録技術の研究開発も活発に検討されている。
しかし、有機分子例えばフォトクロミック材料を用いた
従来のフォトンモード記録方式では、分子内結合の開裂
や、大きな構造的変質を伴うため、情報の保持特性か極
めて悪いという欠点がある。
これに対して、本発明の光記録素子では、錯体薄膜にお
ける中性からイオン性への転移を利用しており、単に分
子間での電荷再分布が生じるだけであるため、従来のフ
ォトンモード記録方式で問題となっている結合開裂など
による保持特性の劣化という欠点を回避できる。
(実施例) 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
実施例1〜4(表示素子) 第1図は本発明に係る表示素子の基本構造を示す断面図
である。第1図に示されるように、石英ガラス基板1上
に、膜厚4000人のITO透明電極2、絶縁膜として
膜厚2000人のSrTiO3層3、有機薄膜層4、絶
縁層として膜厚220へのポリイソブチルメタクリレ−
)(PiBMA)層5、膜厚200人の半透明のAu電
極6か順次形成された構造を有している。
ITO電極2はスパッタ法により形成された。
SrTi03層3はITO電極2が形成された石英ガラ
ス基板1を500℃に保持した状態で、スパッタ法によ
り形成された。有機薄膜層4は錯体薄膜及び他の分子か
らなる薄膜を複数層積層した超格子構造を有し、これを
構成する各薄膜は真空蒸着法により形成された。PiB
MA層5はLB法(垂直浸漬法)により膜厚11人の単
分子膜を20層累積することにより形成された。Au電
極6は蒸着法により形成された。
実施例1(表示素子) 本実施例の表示素子ては、第1図中の有機薄膜層4が、
第2図に示されるように、膜厚100人の〜1゜P−T
CNQ薄膜11と膜厚50人のポリフッ化ビニリデン(
PVDF)薄膜12とが交互に15周期繰り返して積層
された超格子からなっており、合計の膜厚は2250人
である。
この素子は、印加電圧y apの値に応じ、て、以下の
ような表示色を示した。
V、、<5Vで黄色、 ■、、≧5Vで黒紫色。
実施例2(表示素子) 本実施例の多値(多色)表示素子では、第1図中の有機
薄膜層4が、第3図に示されるように、膜厚80人のM
2P−TCNQ薄膜21と膜厚50人のポリフッ化ビニ
リデン(PVDF)薄膜22とか交互に10周期繰り返
して積層された超格子と、膜厚100人のM2P−TC
NQ薄膜23と膜厚50人のポリフッ化ビニリデン(P
VDF)薄膜22とが交互に10周期繰り返して積層さ
れた超格子とからなっている。
この素子は、印加電圧V、l、の値に応じて、以下のよ
うな表示色を示した。
V、、<5Vで淡黄色、 5■≦v、p≦8vで浅黒紫色、 V、、>gVで濃黒紫色。
実施例3(表示素子) 本実施例の多値(多色)表示素子では、第1図中の有機
薄膜層4が、第4図に示されるように、膜厚80人のM
2P−DDQ薄膜31と膜厚50人ノポリフッ化ビニリ
デン(PVDF)薄膜33とが交互に10周期繰り返し
て積層された超格子と、膜厚100人のM2P−TCN
Q薄膜32と膜厚5o人のポリフッ化ビニリデン(PV
DF)薄膜33とが交互に10周期繰り返して積層され
た超格子とがらなっている。
この素子は、印加電圧v、pの値に応じて、以下のよう
な表示色を示した。
v、、<5vて黄色、 5v≦V ap≦8Vで青色、 V、、>3Vで濃青緑色。
実施例4(表示素子) 本実施例の多値(多色)表示素子では、第1図中の有機
薄膜層4が、第5図に示されるように、膜厚100人の
PZ−TCNQ薄膜41と膜厚100人のDAD−TC
NQ薄膜42とが交互に10周期繰り返して積層された
超格子と、絶縁膜として膜厚100人のポリフッ化ビニ
リデン(PVDF)薄膜43と、膜厚100人のPTZ
−TCNQ薄膜44と膜厚100人のM2P−TCNQ
薄膜45とが交互に10周期繰り返して積層された超格
子とからなっている。
この素子は、印加電圧V、、の値に応じて、以下のよう
な表示色を示した。
V、、<5Vで赤色、 5V≦V、l、≦8vで緑色、 V、、>8Vで黒色。
実施例5〜6 (FET) 第6図は本発明に係るnチャネルM OS F E T
の基本構造を示す断面図である。p型シリコン基板51
にはn型ソース、ドレイン領域52.53か形成されて
いる。ソース、ドレイン領域52.53間のチャネル領
域上に膜厚約100人の熱酸化膜からなるゲート酸化膜
54を介して有機薄膜層55が形成され、その上にゲー
ト電極56か形成されている。ソース、ドレイン領域5
2.53上にはソース、ドレイン電極57.58が形成
されている。
実施例5 (FET) 本実施例においては、第6図中の有機薄膜層55か、第
7図に示されるように、膜厚80人のM2P−TCNQ
薄膜61、膜厚50人のPVDF薄膜62、膜厚100
人のM2P−TCNQ薄膜63、膜厚50人のPVDF
薄膜62の4層からなっている。これらの各層は真空蒸
着法により形成された。
この素子は、第9図に示されるように、ゲートy 電圧が1−5V (V c+)と2− IV (V C
2) l:なツタときに、ソース・ドレイン電流が急激
に増加し、多段階のスイッチング機能を示した。
実施例6 (FET) 本実施例においては、第6図中の有機薄膜層55が、第
8図に示されるように、膜厚100人のDAD−TCN
Q薄膜71、膜厚50人のPvDF薄膜72、膜厚10
0人のM2P−TCNQ薄膜73、膜厚50人のPVD
F薄膜72の4層からなっている。
これらの各層は真空蒸着法により形成された。
この素子は、第9図に示されるように、ゲートr 電圧が1−5V (VGI)と1.8V (VO2)に
なったときに、ソース・ドレイン電流か急激に増加し、
多段階のスイッチング機能を示した。
実施例7(焦電素子) 第10図は本発明に係る焦電素子の基本構造を示す断面
図である。ガラス基板81上にAg電極82、膜厚20
0人のポリブチルメタクリレート(PBMA)薄膜83
、膜厚100人の錯体薄膜84、膜厚200人のPBM
A薄膜85、ニクロム電極8Bが順次形成されている。
錯体薄膜84を構成する錯体として、第1表に示される
バルク状態ではイオン性を示す電荷移動錯体を用いて、
焦電素子を作製した。比較のために、錯体薄膜84の代
わりに、従来使用されているポリフッ化ビニリデン(P
VDF)又はBaTiO2を用いて、焦電素子を作製し
た。
これらの焦電素子について、温度制御装置によって一8
0〜300℃の範囲で温度を変化させながら、電荷量針
により電極面に蓄積した総電荷量を求めて、焦電係数を
算出した。これらの結果を第1表にまとめて示す。
第1表かられかるように、本実施例の焦電素子の焦電係
数pは、有機高分子のうちで最も高い値を示すPVDF
を用いたものと同等又はそれ以上の高い値となっている
。また、各々の錯体の電荷移動吸収が赤外領域にあるた
め、特定の波長にのみ感応する焦電素子を作製すること
ができる。
第    1    表 実施例8(溶液センサー) 第11図は本実施例の溶液センサーのセンサーヘッド9
0の断面図、第12図はこの溶液センサーの使用状態を
示す図である。第11図に示されるように、透明ガラス
板91上に、3種の錯体からなる膜厚100人の錯体薄
膜92.93.94か直径l關の円形に形成されている
。錯体薄膜92.93.94を構成する錯体としては、
それぞれDAD−TCNQ。
TMPD−CA、3.3°、5,5°−T M B −
D D Qか用いられている。これらの錯体薄膜92.
93.94の上に、感応膜95が形成されている。この
感応膜95としては、アンモニウムイオンに感応性を有
する硝化菌微生物を固定化したコラーゲン膜、又は尿素
分子に特異的に作用するウレアーゼ膜か用いられている
。このガラス板91は、固定治具96によりガラスファ
イバー束97の先端部に固定され、3つの感応部位に対
してファイバー束97の分割された3つの領域の光学軸
が軸合わせされている。第12図に示されるように、フ
ァイバー束97の後方部にはフォトダイオードからなる
光検出器98の所定チャネル部が接続され、更にこの光
検出器98はデータ解析処理系99に接続されている。
このセンサーへラド90の3つの感応部位からの光は、
ファイバー束97の後方部に配置されたフォトダイオー
ドからなる光検出器98の所定チャネル部に誘導される
ようになっている。また、センサーヘッド90に対向し
て、約5 mm離れた位置にプローブ光導入ファイバー
ヘッド100が光学軸を軸合わせして配置されている。
このプローブ光導入ファイバーヘッド100の後方部に
はプローブ光源101か配置されている。センサーヘッ
ド90及びプローブ光導入ファイバーへラド100は、
容器102内に収容された検体溶液103中に浸漬され
る。溶液を撹拌するか、又はフローセル型の容器に収容
して溶液を流して測定すると、静止状態で測定する場合
と比較して、感応膜の膜電位の変化速度が大きいので、
分析時間を短縮することかできる。
この溶液センサーでは、検体溶液103中の試料の濃度
変化に伴う感応膜の膜電位の変化に応じて、有機薄膜層
92.93.94を構成する錯体が中性からイオン性へ
と転移して電荷移動吸収か出現するので、測定対象とな
るイオン又は分子種を検出することができる。この溶液
センサーで測定に要した時間は約5〜40秒であった。
それぞれの感応部位の測定感度は、従来の電極型方式に
比べて2〜10倍高い値であった。
実施例9(光記録素子) 第13図は本実施例の光記憶素子の断面図である。
第13図に示されるように、ガラス基板111上に、A
分子薄膜112として膜厚300人のDDQ薄膜、錯体
薄膜113として膜厚100人のM2P−TCNQ錯体
薄膜、D分子薄膜114として膜厚200人のテトラア
ザアヌレンニッケル錯体薄膜を順次積層することにより
、3層構造の記録単位が形成されている。
この光記録素子に、0分子であるテトラアザアヌレンニ
ッケル錯体にだけ特異的な吸収波長である4 B 0n
Ilのレーザー光を、光学系を通してスポット径51、
aカ100m Wの条件で照射して、情報の書き込みを
行った。この場合、0分子が光励起し、錯体薄膜を介し
て大分子薄膜への電子移動が生じ、0分子及び大分子が
それぞれイオン化することにより情報が保持される。
イオン性のM2P−TCNQ錯体には750n1こ吸収
か認められるが、中性のM2P−TCNQ錯体には75
0rv+こ吸収は認められない。そこで、白色光をバン
ドフィルターを通過させ、700〜800rvにだけ光
強度分布を持つように調整した出力0.2mWの参照光
を記録部位に照射し、750n1こおける光透過強度を
増幅して検出し、書き込みを行わなかった部位の透過光
強度と比較した。
その結果、雑音レベルの強度変化ΔTnに対して、極め
て大きい信号強度変化ΔTsか検出された。
実施例10(多重光記録素子) 第14図は本発明に係る多重光記録素子への記録方法を
示す図、第15図は同多重光記録素子に記録された情報
を読み出す方法を示す図である。
第14図に示されるように、ガラス基板Ill上には、
D、/ [DAコ、、/A、(mは1〜n )という3
層構造からなる記録単位(各記録単位の構成分子の組み
合わせは異なる)かn段階にわたって積層されて多重光
記録素子121が形成されている。
各記録単位を構成するり、、(mは1〜n)分子は、互
いに異なる波長λm  (mは1〜n)の光に特異的に
感応する。外部情報は、信号割当て回路122によって
、多重光源123を構成する波長λ□(mは1〜n)の
光を照射する各光源に割り当てられ、各光源のオン・オ
フが制御される。外部情報に対応する光は、光学系12
4を通して多重光記録素子121の記録部位(x y)
へ照射される。記録部位(x y)では、照射された光
に感応する記録単位の0分子が励起され、中性の[D 
A]薄膜を介してへ分子に電子移動が起こり、0分子及
びA分子がイオン化され、これらの分極基の作用によっ
て錯体がイオン化される。このため、記録部位(x y
)では、各記録単位が形成されている階層毎に情報か記
録される。
第15図に示されるように、記録かなされた記録単位で
は、錯体が中性からイオン性へ転移して[D“A]、(
mは1〜n)となった状態で情報が保持されている。こ
れらのイオン性の[D”A−]。錯体は、中性の[DA
]錯体よりも長波長側に、光吸収λ−(mは1〜n)を
有する。参照光源125から、波長域の広い低出力の参
照光を一括照射し、多重光記録素子121の下方に配置
され、走査回路127によって走査される走査型分光検
出器12Bにより、記録部位の情報を同時並列的に読み
出すことができる。そして、信号処理回路128により
元の情報と等価な情報に変換することができる。
[発明の効果コ 以上詳述したように本発明によれば、各種の機能を容易
に発現することができる有機薄膜素子を提供することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る表示素子の基本構造を示す断面図
、第2図は本発明の実施例1における表示素子を構成す
る有機薄膜層を示す説明図、第3図は本発明の実施例2
における表示素子を構成する有機薄膜層を示す説明図、
第4図は本発明の実施例3における表示素子を構成する
有機薄膜層を示す説明図、第5図は本発明の実施例4に
おける表示素子を構成する有機薄膜層を示す説明図、第
6図は本発明に係るFETの基本構造を示す断面図、M
7図は本発明の実施例5におけるFETを構成する有機
薄膜層を示す説明図、第8図は本発明の実施例6におけ
るFETを構成する有機薄膜層を示す説明図、第9図は
本発明の実施例5.6におけるFETのゲート電圧とド
レイン電流との関係を示す特性図、第10図は本発明の
実施例7における焦電素子の基本構造を示す断面図、第
11図は本発明の実施例8における溶液センサーのセン
サーヘッドを示す断面図、第12図は同溶液センサーの
使用状態を示す断面図、第13図は本発明の実施例9に
おける光記録素子の断面図、第14図は本発明の実施例
10における多重光記録素子への記録方法を示す説明図
、第15図は同多重光記録素子からの記録の読み出し方
法を示す説明図、第16図は交互積層型電荷移動錯体の
カラム内のDAペア数とマーデルング定数との関係を示
す特性図である。 1・・・石英ガラス基板、2・・・ITO透明電極、3
・・・5rTiO,層、4・・・有機薄膜層、5・・・
PiBMA層、6・・・Au電極、51・・・p型シリ
コン基板、52.53・・・n型ソース、ドレイン領域
、54・・・ゲート酸化膜、55・・・有機薄膜層、5
6・・・ゲート電極、57.58・・・ソース、ドレイ
ン電極、1111・・・ガラス基板、82・・・Afi
電極、83・・・PBMA薄膜、84・・・錯体薄膜、
85・・・P B M A R膜、86・・・ニクロム
電極、9o・・・センサーヘッド、91・・・透明ガラ
ス板、92.93.94・・・錯体薄膜、95・・・感
応膜、96・・・固定治具、97・・・ガラスファイバ
ー束、98・・・光検出器、99・・・データ解析処理
系、100・・・プローブ光導入ファイバーヘッド、f
(11・・・プローブ光源、102・・・容器、10g
・・・検体溶液、111・・・ガラス基板、112・・
・A分子薄膜、113・・・錯体薄膜、114・・・D
分子薄膜、121・・・多重光記録素子、122・・・
信号割当て回路、123・・・多重光源、124・・・
光学系、125・・・参照光源、12B・・・走査型分
光検出器、127・・・走査回路、128・・・信号処
理回路。 第 図 第 2図 /− 第 図 1i4図 第 図 第6図 1g7図 )゛ルイ〉ミコを 第 図 第10図 第 11図 1t3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ドナー性有機分子及びアクセプタ性有機分子の交互積層
    型電荷移動錯体からなる有機薄膜を有する有機薄膜素子
    において、前記有機薄膜が、バルク状態ではイオン性で
    ある交互積層型電荷移動錯体を膜厚1000Å以下の薄
    膜状態に形成して中性としたものからなることを特徴と
    する有機薄膜素子。
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