JPH04136506U - 回転変位量検出装置 - Google Patents

回転変位量検出装置

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JPH04136506U
JPH04136506U JP5160391U JP5160391U JPH04136506U JP H04136506 U JPH04136506 U JP H04136506U JP 5160391 U JP5160391 U JP 5160391U JP 5160391 U JP5160391 U JP 5160391U JP H04136506 U JPH04136506 U JP H04136506U
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秀明 小川
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大日本スクリーン製造株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 測定感度を向上させたコンパクトな回転変位
量検出装置の提供を目的としている。 【構成】 第1の光学系2とミラー402の間で且つ第
2の光学系4とミラー402の間である位置にビームエ
キスパンダ3を設けることにより、発振器1の出射方向
変動によるレーザビームLs の偏向角を拡大せずに被検
出体402の回転変位による偏向角を拡大し、もってP
SD5における位置変位の検出感度を向上させている。 【効果】 誤差要因を相対的に小さくした状態で測定感
度を向上させることができる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、光ビーム走査記録装置に用いられる光学素子の微動機構、精密ス テージ、あるいは角度測定装置において、被検出体の回転変位量を検出するため に設けられる回転変位量検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
所望の画像を白/黒の2値画像として感材上に記録するレーザプロッタや、網 点を用いた階調画像として感材上に記録する製版用スキャナなどの光ビーム走査 記録装置においては、描画時間の短縮を目的として、複数のレーザビームを用い た走査光学系が使用される。こうした走査光学系として例えば特開平2−267 515号公報に開示されるものがある。
【0003】 ところで、上記のような光ビーム走査記録装置では描画密度に応じて光ビーム の間隔を変更させる必要があり、このため、特開平2−267515号公報に開 示される光ビーム走査記録装置は、図6に示すようなビーム間隔調整原理に基づ いて光ビームの間隔を調整する光ビーム間隔調整装置を備えている。この特開平 2−267515号に開示される光ビーム間隔調整装置の調整原理は以下のよう なものである。
【0004】 まず、ほぼ直交する2つのビームB1 ,B2 をビームスプリッタと同構成のビ ーム方向転換素子301に入射すると、第1のビームB1 の一部がこのビーム方 向転換素子301のハーフミラー面302を透過して直進ビームBa となるとと もに、第2のビームB2 の一部がハーフミラー面302で反射して反射ビームB b となる。したがって、ビーム方向転換素子301に所定の回転変位を与えてお くことにより、2つのビームBa ,Bb はビーム方向転換素子301の後段側交 差点Pc において交差角θで交差する。交差点Pc には、前記2つのビームBa ,Bb を周期的に偏向するためのAOD(音響光学偏向器)303が配置されて おり、AOD303による偏向を受けた後のビームBa ,Bb が、走査レンズ3 04によって平行ビーム群に変換される。交差点Pc と走査レンズ304の間の 距離は、走査レンズ304の焦点距離fと同一に設定されている。
【0005】 この図6から分かるように、走査レンズ304後段側の平行ビームBa ,Bb の間隔l0 ,交差角θ、および走査レンズ304の焦点距離fの間には数1の式 が成立する。
【0006】
【数1】
【0007】 したがって、交差角θを変更することによって平行ビームBa ,Bb の間隔l0 を適当に調整することができる。但し、この場合、交差角θを変更したとしても 両ビームBa ,Bb が常にAOD303内を通過するように、両ビームBa ,B b を交差点Pc で交わるようにしなければならない。上記特開平2−26751 5号公報には、両ビームBa ,Bb が常にAOD303内を通過するように交差 角θを変更するには、AOD303後方の所定位置に設定した回転中心の回りに ビーム方向転換素子301を回転させることにより、このビーム方向転換素子3 01を並進および回転運動させればよいことが開示されている。
【0008】 上述のように、ビームBa ,Bb 間の間隔を変更するためには、ビーム方向転 換素子301を所望量だけ回転変位させる必要がある。本願出願人は、この出願 に先立って出願した特願平2−197449号に、前記回転変位を正確に設定す るための図5に示すような回転角制御部400を備える光ビーム走査記録装置を 記載している。
【0009】 この回転角制御部400は、ミラー402の回転変位量を検出する回転変位量 検出装置401を備えている。このミラー402は、図4に示すように、前記ビ ーム方向転換素子301(図4には不図示)に回転変位を与える一体型切り欠き リンク機構403に設けられたビーム方向転換素子301の取付部404に固定 されている。このリンク機構403は、図4に仮想線で示すように、リンク変形 することによってビーム方向転換素子301を矢符X方向に並進移動させるとと もに、このリンク変形に伴って板ばね405を撓ませることによってビーム方向 転換素子301を矢符R方向に回転変位させることができるものである。このリ ンク機構403はピエゾ素子等の駆動源を活性化させることによりリンク変形す る。前記取付部404はビーム方向転換素子301と一体的に同変位量回転し、 したがって、ビーム方向転換素子301が回転角γだけ回転すると取付部404 に固定されたミラー402も回転角γだけ回転する。なお、リンク機構403は その下部が保持基部406に固定されている。
【0010】 図4に示すように、回転変位量検出装置401は、レーザ発振器407、偏光 ビームスプリッタ408、1/4 波長板409、レンズ410、プリズム411, 112を備えており、これらは前記保持基部406に固設された断面L字形状の 支持部材413に取り付けられている。レーザ発振器407は半導体レーザ素子 とコリメータレンズを含む。回転変位量検出器401はまたPSD(Position S ensing Device )414を備えている。このPSD414は前記保持基部406 に固定された支持部材415に固定されている。
【0011】 この回転変位量検出装置401のレーザ発振器407から出射したレーザビー ムLs は、偏光ビームスプリッタ408および1/4 波長板409を透過した後に 、回転変位の被検出体であるミラー402に到達する。ミラー402で反射した レーザビームLs は、1/4 波長板409を介して偏光ビームスプリッタ408に 入射される。この時、レーザビームLs は1/4 波長板409を2度通過すること により偏光面が90度ずれている。したがって、再度偏光ビームスプリッタ40 8に入射したレーザビームLs はこの偏光ビームスプリッタ408のハーフミラ ー面で反射してレンズ410に入射する。レンズ410を通過したレーザビーム Ls は、プリズム411、412に反射されて、PSD414へ入射する。
【0012】 上記回転変位量検出装置401によると、レーザ発振器407から出射したレ ーザビームLs が上記のような光路を経てPSD414に入射することにより、 ミラー402すなわちビーム方向転換素子301の回転変位量γを検出すること ができる。すなわち、図5に示すように、ミラー402すなわちビーム方向転換 素子301が矢符R方向に回転すると、PSD414の一対の電極から出力され る一対の検出信号S1 ,S2 に基づき、PSD処理回路415において周知の方 法で基準位置に対するレーザービームLs の位置変位Δtが演算される(なお、 図5では簡略のため前記プリズム411,412を省略して示している)。上記 数1の式と同様の関係式を適用することにより、前記位置変位Δtをレンズ41 0の焦点距離f1 で除することでレーザビームLs の偏向角2γを求めることが できる。そして、この偏向角2γを2で割ることにより回転変位γを求めること ができる。したがって、除算器416において次の数2の演算を行うことにより ビーム方向転換素子301の回転変位γを求めることができる。
【0013】
【数2】
【0014】 図5の回転角制御部400は、上記のようにしてなる回転変位量検出装置40 1に加え、指令値発生回路417、PID制御回路418、および駆動回路41 9を備えている。指令値発生回路417は、外部から与えられたビーム間隔指令 値に基づいて指令回転変位γ0 を演算する。PID制御回路418は、上記のよ うにして検出した回転変位γと指令回転変位γ0 の偏差Δγ=(γ0 −γ)を演 算し、この偏差ΔγについてのPID制御信号を形成する。駆動回路419は、 前記PID制御信号によって前記リンク機構403の駆動源(例えばピエゾ素子 )を活性化させてリンク機構403をリンク変形させる。
【0015】 上述のような、レーザ発振器407、偏光ビームスプリッタ408、1/4 波長 板409、レンズ410およびPSD414を備える回転変位量検出装置は、上 記のような光ビーム走査記録装置ばかりではなく、精密ステージにおける姿勢補 正用の回転変位量検出のような他の装置の回転偏位量の検出にも採用することが できる。
【0016】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のような従来の回転変位量検出装置では、測定感度を向上 させたい場合に以下のような不都合が発生するという問題があった。
【0017】 まず、測定感度を向上させる最も簡単な手段として、焦点距離の大きなレンズ 410を採用し、このレンズ410とPSD414の間隔を大きくすることが考 えられる。しかし、このようにすると、レンズ410とPSD414の間の距離 を確保するために大きなスペースを必要とし、装置が大型化するという問題があ る。また、レンズ410とPSD414の間隔を大きくして光路を長くすると、 空気のゆらぎにより光ビームが屈折し、それによって検出誤差が生じるという問 題も生じる。さらに、上記図4および図5の回転変位量検出装置に光源として用 いたレーザ発振器407は、レーザビームLs の出射方向がわずかに変動する場 合があるが、レンズ410とPSD414の間隔を大きくすると、前記のような 出射方向変動も増幅されてしまい、このことによっても検出誤差が大きくなると いう問題がある。
【0018】 また、図4および図5の回転変位量検出装置において測定感度を向上させる他 の手段として、レンズ410を凹凸レンズを組み合わせてなる複数のレンズ群に 置換する手段がある。このようにすると、光路長が短いまま焦点距離を伸ばすこ とができるため、大きなスペースを必要とすることなく測定感度を向上させるこ とができる。しかし、複数のレンズを用いて光ビームのスポットをPSD414 の上に形成しようとすると、スポット部分での光線と光軸間の角度が小さくなる ため、スポットの大きさを小さくすることが難しいという問題があった。このよ うに、PSD413上の光スポット径が大きいと、被検出体の回転変位以外の要 因による誤差が入り込みやすく、結果として検出誤差が大きくなるという問題が ある。また、この場合も、レーザ発振器407の出射方向変動の誤差が増幅され る問題が生じる。
【0019】 この考案は上記のような事情に鑑みなされたものであって、大きなスペースを 必要とすることがなく、しかも微小な変動を精度良く確実に検出することができ る回転変位量検出装置を提供することを目的としている。
【0020】
【課題を解決するための手段】
この考案の回転変位量検出装置は、被検出体の回転変位量を検出する回転変位 量検出装置であって、光源と、基準位置に対する光スポットの位置変位量を検出 する位置検出器と、検出された位置変位量に基づいて回転変位量を得る演算手段 と、前記光源から出射された光ビームを被検出体に向ける第1の光学系と、被検 出体に当たって反射した光ビームの光スポットを位置検出器上に形成する第2の 光学系と、第1の光学系と被検出体の間であるとともに第2の光学系と被検出体 の間である位置に配設され、且つ被検出体側の光ビームの径を第1および第2の 光学系側の光ビームの径よりも大きくするビームエキスパンダとを備えることを 特徴としている。
【0021】
【作用】
この考案による回転変位量検出装置では、光源から出射された光ビームは第1 の光学系およびビームエキスパンダを経て被検出体に入射される。被検出体に当 たって反射する光ビームはビームエキスパンダおよび第2の光学系を経て位置検 出器に光スポットを結ぶ。光源の出射方向変動による偏向角は第1の光学系から ビームエキスパンダを経て被検出体に至る光路において縮小され、光ビームが被 検出体で反射した後、再度ビームエキスパンダを通過することにより元の角度に 復元される。これに対し、被検出体の回転変位による偏向角は被検出体で反射し た光ビームがビームエキスパンダを通過することにより拡大される。したがって 、位置検出器により検出される光スポットの位置変位は、被検出体の回転変位に よる偏向角分のみが拡大された変位となり、この変位に基づいて演算手段により 回転変位量を得る。
【0022】
【実施例】
図1の回転変位量検出装置は、図4の回転変位量検出装置と同様、図6の方向 転換素子301の回転変位を検出するために構成されたものである。したがって 、この回転変位量検出装置は、前記方向転換素子301の取付部404に固定さ れたミラー402を被検出体とし、その回転変位量を検出する。この回転変位量 検出装置は、レーザ発振器1、第1の光学系2、ビームエキスパンダ3、第2の 光学系4およびPSD5を備えている。レーザ発振器1は半導体レーザ素子とコ リメータレンズとから成る。
【0023】 第1の光学系2は、プリズム6、偏光ビームスプリッタ7および1/4 波長板8 からなる。この第1の光学系2はレーザ発振器1から出射された光ビームを被検 出体であるミラー402に向ける光学系である。一方、第2の光学系4は、1/4 波長板8、偏光ビームスプリッタ7、レンズ9およびプリズム10,11からな る。すなわち、この第2の光学系4は偏光ビームスプリッタ7と1/4 波長板8を 前記第1の光学系と兼用している。この第2の光学系4は、ミラー402で反射 した光ビームをPSD5に向け、このPSD5上で光スポットを結ぶ光学系であ る。この第2の光学系4のレンズ9からプリズム10→プリズム11→プリズム 10を経てPSD5に至る光路長は、レンズ9の焦点距離f2 と致するように設 定されている。
【0024】 ビームエキスパンダ3は、1/4 波長板8と被検出体であるミラー402との間 において、前記第1の光学系2を経てミラー402に至る光ビームの径を拡大す る状態で配置されている。
【0025】 この回転変位量検出装置では、レーザ発振器1、第1の光学系2、ビームエキ スパンダ3および第2の光学系4は支持部材12に固定されている。この支持部 材12は、図4の回転変位量検出装置における支持部材413と同様、方向転換 素子301に回転変位を与えるために設けられたリンク機構(図1では省略)の 下部に一体的に固定されている。但し、この図1の支持部材12は、リンク機構 の下部に固定された保持基部406と一体に形成されている。レーザ発振器1、 偏光ビームスプリッタ7、1/4 波長板8およびレンズ9は支持部材12に固定さ れた保持ブロック13に取り付けられている。保持ブロック13は、レーザ発振 器1からのレーザビームLs の正規の出射方向(変動がない場合の出射方向)と 偏光ビームスプリッタ7のハーフミラー面とが45°で交差し、前記出射方向と レンズ9の中心軸が平行になるようにレーザ発振器1、偏光ビームスプリッタ7 、レンズ9を固定している。また、ビームエキスパンダ3は取付部材14を介し て前記支持部材12に固設されている。前記支持部材12の後端に、この支持部 材12および前記保持基部406と一体形成された支持部材15が設けられてい る。この支持部材15には第2の光学系4からPSD5に向かう光ビームの通路 孔15aが形成されている。また、この支持部材15の後方で且つ通路孔15a に対応する位置に前記PSD5が配設されている。PSD5は、このPSD5を 装着した取付部16を介して支持部材15に固定されている。
【0026】 図3に示すように、PSD5の検出信号S1 ,S2 はPSD処理回路17に送 られる。PSD処理回路17は図5のPSD処理回路415と全く同様の周知の 方法でPSD5上の基準位置に対する光スポットの位置変位Δtを演算する。ま た、演算された位置変位Δtは除算器18に送られる。この除算器18も図5の 除算器416と全く同様にして回転変位γを演算する。
【0027】 以上のような回転変位量検出装置においては、レーザ発振器1から出射したレ ーザビームLs はプリズム6で反射して直角に方向を変え、偏光ビームスプリッ タ7に入射する。偏光ビームスプリッタ7に入射したレーザビームLs は、この 偏光ビームスプリッタ7のハーフミラー面を透過して1/4 波長板8に至る。1/4 波長板8を通過したレーザビームLs はビームエキスパンダ3を介してミラー4 02に到達し、このミラー402で反射する。ミラー402で反射したレーザビ ームLs は再びビームエキスパンダ3および1/4 波長板8を通過して偏光ビーム スプリッタ7に入射する。この時点でレーザビームLs は1/4 波長板8を2度通 過しており偏光面が90度ずれている。このため、1/4 波長板8を通過して偏光 ビームスプリッタ7に入射したレーザビームLs は、この偏光ビームスプリッタ 7のハーフミラー面で反射し直角に進行方向を変える。このようにして偏光ビー ムスプリッタ7のハーフミラー面で反射したレーザビームLs はレンズ9に向い 、このレンズ9を通過した後プリズム10,11で反射されてPSD5へと至る 。
【0028】 ところで、第1の光学系2を出てミラー402に向かうレーザビームLs は、 この間に配置されたビームエキスパンダ3によりビーム径が拡大される。同時に 、第1の光学系2を出てミラー402に向かうレーザビームLs が正規の進行方 向から偏向している場合、その偏向角はビームエキスパンダ3を通過することに よって縮小される。この場合、ビーム径の拡大率がmであるとき、偏向角の縮小 率は1/mである。一方、ミラー402で反射して第2の光学系4に向かうレー ザビームLs はビームエキスパンダ3によりビーム径d(図2参照)が1/m倍 に縮小されるとともに、ビームエキスパンダ3への入射角に対して出射角がm倍 に拡大される。すなわち、ミラー402の回転変位による偏向角がm倍に拡大さ れる。
【0029】 以上から明らかなように、ビーエキスパンダ3を出て第2の光学系4に向かう レーザビームLs のビーム径は、第1の光学系2からビームエキスパンダ3に向 かうレーザビームLs のビーム径と等しくなる。また、レーザ発振器1の出射方 向変動等により、第1の光学系2からビームエキスパンダ3に向かうレーザビー ムLs が正規の進行方向に対して偏向していても、この偏向を伴ったレーザビー ムLs はPSD5に到達するまでにビームエキスパンダ3を往復するため、前記 変動によるレーザビームLs の偏向角は拡大されることはない。
【0030】 一方、ミラー402が回転変位することによって図2に示すようにミラー40 2から第2の光学系4に向かうレーザビームLs が基準方向に対し偏向角2γだ け偏向した場合、この偏向角2γは、レーザビームLs がミラー402から第2 の光学系4に向かう過程においてビームエキスパンダ3を通過することよりm倍 に拡大され2mγとなる。したがって、PSD5の検出信号S1 ,S2 に基づい てPSD処理回路17で演算される位置変位がΔtである時、レンズ9の焦点距 離をf2とすると、除算器18において演算されるミラー402の回転変位量γ は数3のようになる。
【0031】
【数3】
【0032】 一方、もしビームエキスパンダ3を設けていなければ前記回転変位量γは数4の ようになる。
【0033】
【数4】
【0034】 数3と数4を比較すれば明らかなように、ビームエキスパンダ3を設けたことに より、m倍の感度で回転変位量γを測定することが可能になり、きわめて微小な 回転変位量をも検出することができる。しかも、m倍されるのはミラー402の 回転変位による偏向角だけでありレーザ発振器1の出射方向変動による偏向角は 拡大されない。すなわち、誤差要因を相対的に小さくした状態でミラー402の 回転変位量を検出しているので高い検出精度を得ることができる。
【0035】 以上のように、上記回転変位量検出装置は被検出体であるミラー402の回転 変位量を高い感度且つ精度良く検出することができる。しかも、ビームエキスパ ンダ3のビーム径の拡大率を調整するだけで回転変位測定の感度も調整すること ができ、この感度の調整にあたって他の部位を調整する必要はない。
【0036】 なお、上記実施例は光ビーム走査装置における方向転換素子301の回転変位 を検出する場合を示したが、この考案は精密ステージ等の他の被検出体の角度を 検出する場合にも適用できることはいうまでもない。また、被検出体により反射 した光ビームの位置を検出することにより被検出体の回転偏位量を検出するもの であれば、光源および位置検出器の種類は実施例のものに限定されない。
【0037】
【考案の効果】
以上のように、この考案の回転変位量検出装置によると、光源の出射方向変動 による偏向角に対して被検出体の回転変位による偏向角を相対的に大きくするこ とができるから、被検出体の微小な回転変位を誤差を少なく且つ確実に検出する ことができるという効果を奏する。また、測定感度を向上させることができるに も拘らず焦点距離の長いレンズを用いたりする必要がなく、コンパクトな構成と することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案による回転変位量検出装置の実施例の概
略側面図である。
【図2】ビームエキスパンダの作用を示す説明図であ
る。
【図3】実施例の回転変位量検出装置の構成図である。
【図4】従来の回転変位量検出装置の概略側面図であ
る。
【図5】図3の回転変位量検出装置を備える回転角制御
装置の構成図である。
【図6】ビーム間隔調整原理の説明図である。
【符号の説明】
1 レーザ発振器(光源) 2 第1の光学系 3 ビームエキスパンダ 4 第2の光学系 5 PSD 17 PSD処理回路 18 除算器

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検出体の回転変位量を検出する回転変
    位量検出装置であって、光源と、基準位置に対する光ス
    ポットの位置変位量を検出する位置検出器と、検出され
    た位置変位量に基づいて回転変位量を得る演算手段と、
    前記光源から出射された光ビームを被検出体に向ける第
    1の光学系と、被検出体に当たって反射した光ビームの
    光スポットを位置検出器上に形成する第2の光学系と、
    第1の光学系と被検出体の間であるとともに第2の光学
    系と被検出体の間である位置に配設され、且つ被検出体
    側の光ビームの径を第1および第2の光学系側の光ビー
    ムの径よりも大きくするビームエキスパンダと、を備え
    ることを特徴とする回転変位量検出装置。
JP5160391U 1991-06-06 1991-06-06 回転変位量検出装置 Pending JPH04136506U (ja)

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