JPH04132004A - 磁気ディスク記憶装置の最適書込電流試験方法および試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は固定ディスク装置等の磁気ディス沙記憶装置の
ディスクにデータを書き込む際にヘッドに与えるべき書
込電流の最適値を試験するための方法および装置に関す
る。

〔従来の技術〕

周知のように、磁気記録においては、ヘッド等のトラン
スデエーサのコイルに電流を流して発生させた磁界によ
りディスクの磁気媒体を磁化してデータを書き込むが、
この際の書込電流の大きさによりデータを表す所定のコ
ードパターンによる磁気記録特性が大きく影響される。

すなわち、書込電流が過少であれば磁気記録がもちろん
不確実になるが、逆に過大であるとそのコードパターン
記録上の分解能が低下して来る。

また、実際には単純な記録だけではな（データを重ね書
きないしオーバライトするので、その前のデータの消し
残りが発生しないように書込電流を設定することが大切
になる。

このため、ディスクに使用する磁気記録媒体の材料や製
造方法が異なるつど、従来からディスク記憶装置に紐み
込むに前に精密な磁気特性試験が行なわれており、種々
な大きさの書込電流につき磁気媒体の分解能とオーバラ
イト特性を評価した結果から書込電流を総合的に最適と
判Ｗｒされる値に設定するのが常であった。さらに、媒
体の磁気特性は温度の影響を受けやすいので、かかる書
込電流の最終的な設定は少なくとも２種の温度下で評価
試験を行なった結果から総合判断して決めるのが望まし
い。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述のように種々な磁気記録媒体につき事前に磁気特性
を精密に評価することにより、ディスク記憶装置に最適
な書込電流値を設定できるはずであるが、実際に量産さ
れたディスク記憶装置から品質管理のために若干側をサ
ンプリングしてその書込電流の妥当性を確かめて見ると
、その設定が必ずしも理想的になされているとはいい切
れないことが判明して来た。

二の原因の一半はもちろん媒体の磁気記録特性が製造ロ
ットごとに若干変動し得る点にあるが、詳しい原因調査
結果によればヘッドのデータ読み書き特性の変動の影響
分の方がむしろ大きいことがわかった。とくに、固定磁
気ディスク装置ではヘッドが空気力浮上されるので、−
それを支承するばねの特性等により浮上特性に微妙なば
らつきが出て、書込電流の最適値がずれて来ることが考
えられる。また、各磁気ディスク記憶装置のデータ読取
回路の信号処理特性のばらつきにより、さらにはデータ
の磁気記録上のコードパターン方式によっても、書込電
流の設定が若干であるが最適値からずれて来ることがあ
る。

これから、磁気ディスク記憶装置の量産に際しては書込
電流を少なくともロフトごとに設定するのが品質管理上
望ましいことがわかるが、今までのように分解能とオー
バライト特性を精密に評価するのでは実用性に乏しく、
まして温度を変えてこれらを評価するのはそれに掛かる
時間や手間の点からいって非常に困難である。

かかる事情に立脚して、本発明は磁気ディスク記憶装置
の品質管理のためそのデータ書込電流の最適［を量産装
置に則した形で簡単に試験できるようにすることを課題
とする。

〔課題を解決するための手段〕

この課題は本発明による磁気ディスク記憶装置の最適書
込電流試験方法では、データの書込電流を所定値に保ち
かつディスクのトラックにヘッドをオントラックさせた
状態で所定の試験データを書き込み、このトラックに対
しヘッドをオンおよびオフトラックさせた状態でそのつ
ど試験データを読み取って読取エラーの有無を検定した
上で、読取エラー回数の総和を書込電流値に対応させて
記憶し、書込電流を所定範囲内に変化させながらその値
ごとに記憶された読取エラー回数中の最低回数に対応す
る書込電流を最適書込電流値として選定することにより
解決される。

なお、上記の試験データは所定のデータ例えば書込周波
数が最低のデータを書き込んだ後オーバライトにより書
き込むのが望ましい。

さらに、上の！！ｌ！ｌは本発明の磁気ディスク記憶装
置の最適書込電流試験装置によれば、ヘッドを介してデ
ィスク内のトラックにデータを書き込む電流値を調整す
る書込電流調整回路と、この書込電流調整回路に書込電
流を指定する書込電流指定手段と、トラックに対するヘ
ッド位置を制御可能なヘッド位置制御手段と、ヘッド位
置制御手段によりヘッドをオントラックさせた状態で書
込電流指定手段により指定される書込電流で試験データ
を書き込む試験データ書込手段と、このトラックに対し
てヘッド位置制御手段によりヘッドをオンおよびオフト
ラックさせてそのつと試験データを読み取って読取エラ
ーの有無を検定しながら読取エラー回数を計数した上で
読取エラーの回数の和を記憶する読取試験手段とにより
これを構成し、書込電流指定手段により試験データの書
込電流を切り換えながらそのつど読取試験手段により読
取エラー回数の和を記憶させてこの記憶値中の最低値に
対応する書込電流を最適書込電流として選定することに
より解決される。

なお、上記の書込電流調整回路を複数個の書込抵抗の直
列回路と各書込抵抗に並列に接続されたスイッチとで構
成し、書込電流指定手段から複数ビットの書込電流指定
コードをこれに与えてその各ビットの内容に応じて対応
するスイッチを開閉させるのが有利である。

〔作用〕

本発明は、各磁気ディスク記憶装置がそれ用のコードパ
ターン方式でデータを実際に読み書きをするヘッドや回
路を用いながら、装置自体によりかつその読み書き特性
に則した形で最適書込電流試験を自動的に進め得るよう
にすることによって上述の課題を解決するものである。

このため本発明では、書込電流を所定値に保ちヘッドを
オントラックさせた状態で試験データを所定のコードパ
ターン方式で書き込み、そのつとこの試験データをヘッ
ドを介して読み取って読取エラーの有無を検定した上で
、読取エラー回数を書込電流値に対応して記憶させ、こ
の動作を書込電流を順次変化させなから゛綴り返えす。

この際、各書込電流値で書き込んだ試験データの読み取
りをヘッドのオントラック状態だけでなくオフトラック
状態でも行なうことにより、その電流値での磁気記録媒
体のコードパターン記録上の分解能を装置用のヘッドや
回路の特性を含めた形で鋭敏にかつ実際に則した形で評
価した上で、その電流値に対する読取エラー回数を双方
の状態でのエラー回数の総和の形で記憶させる。

さらに、各書込電流での試験データの書き込みを例えば
最低書込周波数のデータを書き込んだ後に行ない、ある
いは試験データの書き込みと読み取りとをデータ内容を
切り換えて複数回繰り返すことにより、評価試験をその
電流値における磁気記録媒体のオーバライト特性を含め
た形で行なうことができる。

かかる動作を書込電流を所定範囲内で順次切り換えなが
ら繰り返した後、書込電流値ごとに記憶されている読取
エラー回数中の最低回数に対応する書込電流値を選定す
ることにより最適書込電流として容易に決定することが
できる。

〔実施例〕

以下、図を参照しながら本発明の具体実施例を詳しく説
明する。第１図に本発明を実施した磁気ディスク記憶装
置９０として固定磁気ディスク装置の構成例を示す。

図の左上部に示されたディスクｌはスピンドルモータ２
により定速駆動される。このディスク１の各面ごとに設
けられるヘッド３は、例えば図のような揺動アーム４に
支承されて、ボイスコイルモータ等のアクチエエータ５
によってその位置が操作される。なお、このヘッド３の
各トラック上への位置決めは、通例のようにディスク１
に書き込まれているサーボ情報をスピンドルモータ２の
パルス発生器２ａが発するインデックスパルス１χに同
期して読み取りながら、後述のヘッド位置制御手段５０
からアクチエエータ５をその駆動回路５ａを介して制御
することによって行なわれる。また、磁気ディスク記憶
装ｆｆ１９Ｇ内のすべてのへラド３は図で細線で示した
ように可撓性リード等を介してリードライト回路６と接
続される。

このリードライト回路６はふつう磁気ディスク記憶装置
８０内に組み込まれるもので、ヘッド選択指令Ｉｓによ
り指定されたヘッド３をリードライト指令Ｒ−に応じて
読み取り状態または書き込み状態に置（とともに、読取
信号Ｒ５と書込信号ＷＳを増幅するものであるが、本発
明との関連では書込電流調整回路３０がこれに接続され
る。

リードライト回路６には電流設定端子があってヘッド３
に流す書込電流をそれに接続する抵抗値で設定できるの
で、書込電流調整回路３０は例えば第２図のように高抵
抗３１と３個の低抵抗３２〜３４の直列回路および各低
抵抗に並列に接続したトランジスタ等のスイッチ３５〜
３７とで構成でき、これに例えば３ビツト構成の電流指
定コードｉを与え、その０〜７の値に応じスイッチ３５
〜３７を選択的に開閉させるのが便利である。

リードライト回路６から出力される読取信号Ｒ５は、這
例のように復調回路７とデータ分Ｓ回路８とエンコーダ
・デコーダ回路９とを介してデータ回路ｌＯに与えられ
る。

データ回路ｌＯはデータ専用の小形のプロセッサであり
、エンコーダ・デコーダ回路９から受けた読取信号Ｒ５
をディジタルなデータに変換して内部バス１２に乗せ、
または逆に内部バス１２からデータを読み込んでデータ
を書込信号−３に変換した上でエンコーダ・デコーダ回
路９を介しリードライト回路６に与えるが、本発明との
関連ではディスクから読み取ったふつう１トラック分の
試験データを一時記憶し、その読取エラーの有無を検定
してエラー回数を計数する役目を果たす。

このほか、磁気ディスク記憶装置９０内にはその全体制
御のためプロセッサ１１が組み込まれ、内部バス１２．
　インタフェース回路１３および外部バス１４を介して
計算機と接続され、データ回路ｌＯとも連絡バス１５を
介して接続されている。

また、磁気ディスク記憶装置９０にオフトラック検出回
路２０がこの実施例では専用に組み込まれており、読取
信号１？ｓを受けてそのサーボ情報の読み取り部分から
ヘッド３の各トラックの中心からのオフトラック量ｄを
検出する役目を果たす。

さて、本発明による最適書込電流試験に際しては、前述
の書込電流調整回路３０をプロセッサ１１にその出力ボ
ート等を介して接続し、かつ書込電流指定手段４０とヘ
ッド位置制御手段５０と試験データ書込手段６０と読取
試験手段７０とをいずれもソフトウェアの形で図示のよ
うにプロセッサ１１内に装荷して、これら手段を動作さ
せることにより試験を自動的に進める。なお、この動作
に関連して磁気ディスク記憶装置９０に組み込まれてい
るＬＥＤ等の表示灯１６を利用し、あるいは試験に際し
一時的に接続して置くのが便利である。

以下、第３図に示すこれら手段４０〜７０の動作例を参
照して本発明の全体動作を説明する。なお、図には各手
段の動作がそれぞれ一点鎖線で囲んで示されている。最
適書込電流試験は例えば量産時の品賞管理のため組み立
てが完了したロフトから抜き取った磁気ディスク記憶装
宣に対して行なわれ、そのディスクｌにサーボ情報を書
き込みかつ望ましくはそれ以外の部分の全面をイレーズ
した後に図示の流れが起動される。

試験開始後にはます書込電流指定手段４０が起動され、
その最初のステップ４１では前述の電流指定コード用の
変数ｉに０を入れ、次のステップ４２でこの値を書込電
流調整回路３０に出力して第２図のスイッチ３５〜３７
を例えばすべてオフさせることにより、試験データの書
き込み時にヘッド３に流すべき書込電流を最低値に設定
する。なお、これらスイッチにより短絡可能な低抵抗３
２．３３．３４の値は例えば１，２．４の比率に設定さ
れ、３ビツトの電流指定コードｉの値に応じて書込電流
が高抵抗３１の値と３個の低抵抗３２〜３４の全抵抗値
の比で決まる変化範囲内で指定される。

この後の流れは試験データ書込手段６０の動作に入る。

この実施例では試験データをオーバライトにより常に書
き込むので、その最初のステップ６１では試験データＴ
Ｄとして被消去データＤＯを指定する。この被消去デー
タＤＯは例えばその書込周波数が最低のデータとするの
がよく、データ記録方式がＲＬＬ方式の１／７コードの
場合は８８のハイドデータの繰り返しとされる。

またこのステップ６１では以後の流れの制御用のフラグ
Ｆに１を立て、続くステップ６２ではリードライト回路
６に対するリードライト指令Ｒ＠を０にしてヘッド３を
読み取り状態に置いた上で流れをヘッド位置制御手段５
０に入れる。

ヘッド位置制御手段５０の動作ステップ５１〜５４はへ
ラド３をオントラックさせるためのもので、その最初の
ステップ５１ではインデックスパルス■χの到来を待ち
、その到来と同時に動作をステップ５２に移して、オフ
トラック量ｄをオフトラック検出回路２０から読み込む
０次のステップ５３はこのオフトラック量ｄの値がその
許容限度ｄ−より小か否かを判定するもので、否の場合
は続くステップ５４でアクチュエータ５を駆動回路５ａ
を介して制御することにより、ヘッド３の位置をオフト
ラック量ｄが０になるように補正した上で流れをステッ
プ５１に戻して同じ動作を繰り返す、ステップ５３の判
定が然りの場合つまりヘッド３がオントラック状態にあ
るかそうなった場合、動作は試験データ書込手段６０の
ステップ６３に移る。

二のステップ６３ではリードライト指令■を１にしてヘ
ッド３を書き込み状態にすることにより、ステップ６１
で指定した試験データＤＯの書込信号−５をデータ回路
ｌＯからエンコーダ・デコーダ回路９とリードライト回
路６を介してヘッド３に与え、ステップ４２で指定され
た書込電流での書き込みを開始する。ステップ６４はイ
ンデックスパルス１χの到来待ち用で、その到来時にト
ラックへの被消去データＤｏの書き込みが終了したこと
になる。続くステップ６５ではフラグＦが０か否かを調
べるが、いまは工なので動作はステップ６６に移る。

このステップ６６から真の試験データの書き込みに移り
、試験データ番号ｊに１を入れ、フラグＦを０に戻した
上で、電流指定コードｉに対応する読取エラー回数ｃ＋
ｔ−ｏに置く１次のステップ６７では試験データ丁ＤＴ
Ｐ−ｊ番目の試験データＤｊを指定する０本発明の実施
上は試験データに読み取り難いいわゆるパッドパターン
のデータを２〜３個指定するのが望ましく、試験データ
番号ｊはこれらを順次に指定するためのものである。

ステップ６７の後は流れをステップ６２に戻すことによ
り、ヘッド位置制御手段５０によりヘッド３を再びオン
トラックさせ、かつステップ６３と６４とで上述の試験
データＤｊをトランクに書き込んだ上で動作をステップ
６５に移すが、今度はフラグＦがＯに戻っているので流
れはこれから読取試験手段７０としての動作に入る。

その最初のステップ７１では、まずリードライト指令Ｒ
−を０にしてヘッド３を読み取り状態にした上で、オフ
トラック量ｄに対する目標値ｄａに−δを入れて、ヘッ
ドを負方向にオフトランクさせた状態で読取試験を開始
すべきことを指定する。この実施例では読取試験をオン
トラック状態と正負のオフトラック状態の３個の状態に
ついて行なうものとする。なお、オフトラック用の上の
δの値はトラック間ピッチが１０ａ程度の場合に２〜３
ｉｍ程度に設定するのがよい、このステップ７１の後は
へラド３をこのオフトラック目標値ｄａの所に位置決め
するため動作をヘッド位置制御手段５０としてのステン
１５５〜５８の動作に移す。

最初のステップ５５ではインデックスパルスＩＸを待ち
、その到来と同時にステップ５６で現在のオフトラック
量ｄをオフトラック検出回路２０から読み込んだ上で目
標値ｄａとの偏差ｄｄを求める。つづくステップ５７で
はこの偏差ｄｄの値が許容限度ｄ−より小か否かを調べ
、否である限りステップ５８で前述と同様に偏差ｄｄを
０にするようにヘッド３の位置を補正して流れをステッ
プ５５に戻す、ヘッド３が目標値ｄａに位置決めされた
時、動作はステップ５７から読取試験手段７０のステッ
プ７２に移る。

このステップ７２では、試験データＴＯ，すなわち前に
ステップ６７で指定したｊ番目の試験データＯｊをデー
タ回路１０内に読み取らせる。データ回路１０はこの試
験データＤｊを読み取った上で前述のように読取エラー
の有無を検定して読取エラー回数を計数するので、読取
試験手段７０は次のステップ７３でインデックスパルス
ＩＸを待ち、それに同期してステップ７４でｊ番目の試
験データＤＪに対する読取エラー回数Ｃｊをデータ回路
１０から読み込んで前述の読取回数変数Ｃｉに加算する
。

次の゛ステヅプ７５ではオフトラック目標値ｄａがδに
達したか否かを調べ、否である限りステップ７６で目標
値ｄ１をδだけ歩道させて流れをステップ５５に戻す、
従って、今度はヘッド３をオントラックさせた状態で、
さらに次にはδだけ正方向にオフトラックさせた状態で
上述と同じ動作が繰り返される。このように１番目の試
験データＤｊに対するオントラックと正負のオフトラッ
ク状態での読取試験が終了したとき、動作がステップ７
５から試験データ書込手段６０のステップ６８に移る。

このステップ６８では、試験データ番号ｊが予定の量大
値ｊ―に達したか否かを調べ、否である限りステップ６
９で試験データ番号ｊを歩道させた上で流れをステップ
６７に戻して試験データＴＤに新しい試験データＤｊを
指定する。以降は、ステップ６２に動作が戻され、試験
データ書込手段６０と読取試験手段７０の上と同じ動作
が繰り返される。このように試験データＤｊを順次切り
換え番号ｊの最大値ｊａに対する動作を終えた時、流れ
はステップ６８から読取試験手段７０のステップ７７に
移る。

この時までにステップ７４で逐次加算された読取エラー
回数Ｃｉには、電流指定コードｉに対応する書込電流で
オーバライトにより順次に書き込んだｊｓ個の試験デー
タをそれぞれオントラックおよび正負のオフトラック状
態で読み取った結果の読取エラー回数の総和が記憶され
ていることになる。

ステップ７７では、この値を電流指定コード五の値に対
応させて記憶する。

以後の動作は書込電流指定手段４０のステップ４３に移
され、その時の電流指定コードｉの値がその最大値１膳
、この実施例では７に到達したか否かが判定され、否で
ある限り次のステップ４４でｉの値を歩道させた上で流
れをステップ４２に戻すことにより、新しい電流指定コ
ードｉにより指定される書込電流で今までと同じ動作を
繰り返す。

このように、電流指定コードｉを逐次歩進させながら試
験を繰り返してその最大値ｉ−により指定された最大書
込電流における試験を終了した時、流れはステップ４３
から今までの動作ループを抜は出してステップ８１に移
る。

二のステップ８１からステップ８５まではそれまでに記
憶されたｉｎ個の読取エラー回数Ｃｉ中の最低値に対応
する電流指定コードｉの値を求めるためのものである。

ステップ８１では電流指定コードｉを０にし、かつ最低
読取エラー回数Ｃに充分大きな値０膳を入れる。ステッ
プ８２では電流指定コードｉに対応する読取エラー回数
Ｃｉの記憶値が最低読取エラー回数Ｃより小か否かを調
べ、否の時は動作をステップ８４に移すが、然りの時は
ステップ８３で前者の値を後者に入れ、かつ電流指定コ
ードｉの値を最適電流指定コードｉｎに入れる。ステッ
プ８４ではｉの値が最大値ｉｓより小か否かを調べ、熱
りの限りステップ８５でｉの値を歩道させた上で動作を
ステップ８２に戻して同じ動作を繰り返す。

電流指定コードｉが最大値１口に達した時、すべての読
取エラー回数Ｃ３中の最低読取エラー回数Ｃの値および
それに対応する最適電流指定コードｉｎが判明している
ので、ステップ８６でこれらの値を記憶することにより
本発明の最適書込電流試験の全動作を終了させる。

以上説明した本発明による最適書込電流試験の結果は、
例えば第１図の表示灯１６を最適電流指定コードｉｎの
値に応じ点灯させる形で表示するのが実用上非常に便利
であり、磁気ディスク記憶装置に計）Ｅｌｌｌを接続し
て置いて上述のｉｎとＣのほかに各電流指定コードｉに
対応する読取エラー回数Ｃｉを記録に留めることができ
る。

いずれの場合も最適書込電流試験結果に基づき各磁気デ
ィスク記憶装置ないしそのロットに対し書込電流値を合
理的に設定できる。第３図の最適書込電流試験の動作ス
テップ数はかなり多いが、実際の試験時間は量産時に支
障を生じない程度の短時間で済み、かつ自動試験なので
ほとんど手間を要しない。

なお、第３図の実施例では無用な煩雑を避けるためヘッ
ドの切り換えや移動用のステップを省略したが、実際に
はヘッドをディスク内の複数個のトラック上に順次に置
き、かつヘッドを切り換えながら複数個のディスク面に
ついて試験を行なうのが望ましい。

また必要な場合には、試験時間は若干掛かるが複数の温
度下で最適書込電流試験を行なう、この際、温度によっ
て最適書込電流値が異なって来る場合があるが、各温度
下のかつ各電流指定コードに対する読取エラー回数の記
録値から総合判断して最適書込電流値を決定するのがよ
い。

〔発明の効果〕

以上述べたとおり、本発明の磁気ディスク記憶装置の最
適書込電流試験では、データの書込電流を所定値に保ち
かつディスクのトラックにヘッドをオントラックさせた
状態で所定の試験データを書き込み、このトラックに対
しへラドをオンおよびオフトラックさせた状態でそのつ
ど試験データを読み取って読取エラーの有無を検定した
上で、読取エラー回数の総和を書込電流値に対応させて
記憶し、書込電流を所定範囲内に変化させながらその値
ごとに記憶された読取エラー回数中の最低回数に対応す
る書込電流を最適書込電流値として選定することによっ
て、以下の効果を上げることができる。

（ａ）実際の読み書き用のヘッドや回路を用い、実際の
コードパターン方式で試験データを書き込んで読取試験
を行なうので、最適書込電流を磁気記録媒体の特性だけ
でなく装置のデータ読み書き上の総合特性を含めた形で
試験して磁気ディスク記憶装置の実情に最も則した値に
設定できる。

（ロ）簡単な書込電流調整回路を接続し試験用ソフトウ
ェアを装荷するだけで、量産工程中の磁気ディスク記憶
装置自体に最適書込電流試験を自動的に進めさせること
ができる。

（Ｃ）試験データの読み取りをヘッドのオフトラック状
態でも行なうので磁気記録媒体のデータ記録上の分解能
を鋭敏に評価できる。また、試験データを重ね書きする
ので磁気記録媒体のオーバライト特性の書込電流依存性
を正確に評価できる。

（４温度等に関する環境試験を比較的簡単に行なうこと
ができる。

なお、本発明のかかる特質は磁気ディスク記憶装置の量
産品の品質管理レベルの向上にとくに大きな効果を発揮
するものである。

【図面の簡単な説明】

図面はすべて本発明に関し、第１図は本発明を実施した
磁気ディスク記憶装置の概要構成を例示する構成回路図
、第２図は書込電流調整回路の構成例を示す回路図、第
３図は本発明の全体動作を例示する流れ図である０図に
おいて、 ｌ：ディスク、２ニスピンドルモータ、２ａ：パルス発
生器、３：ヘッド、４：揺動アーム、５：アクチュエー
タ、５ａ：アクチュエータ駆動回路、６；リードライト
回路、７：読取信号復調回路、８：データ分離回路、９
：エンコーダ・デコーダ回路、１０：データ回路、ｌｌ
：磁気ディスク記憶装置の内蔵プロセッサ、１２：内部
バス、１３：インタフェース回路、１４：計Ｘ１ｌｌ用
外部バス、１５：連絡バス、１６：表示灯、２０：オフ
トラック検出回路、３０：書込電流調整回路、３１：高
抵抗、３２〜３４：低抵抗、３５〜３７：低抵抗短絡用
スイッチ、４ｏ：書込電流指定手段、４１〜４４：書込
電流指定手段の動作ステップ、５０：ヘッド位置制御手
段、５１〜５８：ヘッド位置制御手段の動作ステップ、
６ｏ：試験データ書込手段、６１〜６９：試験データ書
込手段の動１作ステップ、７０：読取試験手段、７１〜
７７：読取試験手段の動作ステップ、８１〜８６：プロ
セッサの動作ステップ、９０：磁気ディスク記憶装置、
Ｃ：最低読取エラー回数、Ｃｊ：読取エラー回数、ｃ−
二最低読取エラー回数の初期値、ｄ：オフトラック量、
δ：ヘッドをオフトラックさせるべき値、ｄａ：オフト
ラック量に対する目標値、ｄｄ：オフトラック目標値か
らの偏差、ｄ−：オフトラック量に対する許容限度、Ｄ
ｊｓｊ番目の読取データ、ｏｏ：被消去データ、Ｆ：フ
ラグ、Ｒ５：ヘッド選択指令、ｉ：電流指定コード、五
−：電流指定コードの最大値、ｉｎ：最適電流指定コー
ド、Ｉｘ：インデックスパルス、ｊ：試験データ番号、
ｊ−：試験データ番号の最大値、Ｒ５：読取信号、Ｒ−
：リードライト指令、ＴＤ：試験データ、鱒ｓ：書込信
号、である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）データの書込電流を所定値に保ちかつヘッドをディ
   スク内のトラックにオントラックさせた状態で所定の試
   験データを書き込み、そのトラックに対しヘッドをオン
   トラックおよびオフトラックさせた状態でそのつど試験
   データを読み取って読取エラーの有無を検定した上で読
   取エラー回数の和を書込電流に対応させて記憶し、所定
   の範囲内に書込電流を変化させて書込電流ごとに記憶さ
   れる読取エラー回数中の最低回数に対応する書込電流を
   最適書込電流として選定するようにしたことを特徴とす
   る磁気ディスク記憶装置の最適書込電流試験方法。 ２）請求項１に記載の方法において、所定のデータの書
   き込み後に試験データをオーバライトにより書き込むこ
   とを特徴とする磁気ディスク記憶装置の最適書込電流試
   験方法。 ３）ヘッドを介しディスク内のトラックにデータを書き
   込む電流値を調整する書込電流調整回路と、この書込電
   流調整回路に書込電流を指定する書込電流指定手段と、
   ヘッドのトラックに対する位置を制御可能なヘッド位置
   制御手段と、ヘッド位置制御手段によりヘッドをオント
   ラックさせた状態で書込電流指定手段により指定される
   書込電流で所定の試験データを書き込む試験データ書込
   手段と、試験データが書き込まれたトラックに対してヘ
   ッド位置制御手段によりヘッドをオントラックおよびオ
   フトラックさせてそのつど試験データを読み取って読取
   エラーの有無を検定しながら読取エラー回数を計数した
   上で読取エラーの回数の和を記憶する読取試験手段とを
   備え、書込電流指定手段により試験データの書込電流を
   切り換えながらそのつど読取試験手段により読取エラー
   回数の和を記憶させてこの記憶値中の最低値に対応する
   書込電流を最適書込電流として選定するようにしたこと
   を特徴とする磁気ディスク記憶装置の最適書込電流試験
   装置。