JPH04131756A - 半導体ガスセンサおよびガス濃度測定方法 - Google Patents

半導体ガスセンサおよびガス濃度測定方法

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JPH04131756A
JPH04131756A JP2253101A JP25310190A JPH04131756A JP H04131756 A JPH04131756 A JP H04131756A JP 2253101 A JP2253101 A JP 2253101A JP 25310190 A JP25310190 A JP 25310190A JP H04131756 A JPH04131756 A JP H04131756A
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JP
Japan
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gas
oxygen
ozone
layer
fluororesin
Prior art date
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Pending
Application number
JP2253101A
Other languages
English (en)
Inventor
Izumi Serizawa
和泉 芹澤
Nobuo Adachi
安達 伸雄
Shoichi Kinoshita
木下 昭一
Norio Ishibashi
紀雄 石橋
Teruaki Katsube
勝部 昭明
Norio Miura
則雄 三浦
Noboru Yamazoe
昇 山添
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Orc Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Orc Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は常温で作動可能な半導体素子構造の酸素0□7
オゾン0.ガスセンサおよびガス濃度測定方法に関する
〔従来の技術〕
近年、計測制御や防災、公害防止分野において酸素およ
びオヅンセンサの需要か高まっており、これに応して従
来の電気化学反応を利用するクラーク型酸素センナやガ
ルバニ型酸素センサに代わり、小型軽量である半導体カ
スセンサか実用化されている。
例えば、金属酸化物の半導体に還元性ガスが吸着すると
その電気伝導度が増加する現象を利用し、主に金属酸化
物半導体の焼結体、焼結膜、あるいは薄膜などからなる
悪心体部と、これを加熱するヒータとで構成され、ヒー
タで高温に保持された半導体にガスが触れるとその半導
体およびガスの種類に応じて電気伝導度が変化する性質
を利用するもの等が知られている。
しかしながら、これらの半導体ガスセンサはヒータを内
蔵し、加熱のための電源を必要とする等の問題がある。
そこで、現在、常温作動可能な半導体ガスセンサの開発
が続けられており、例えばM OS (metalox
ide semiconductor)型1゛ランシス
タのケート部にフッ化うンタンLaF:+層を形成し、
この上に増感作用を行う貴金属として白金Pt層や、被
検ガスの吸着効果を高める作用を行う白金黒Ptbla
ck層を形成する半導体素子の酸素0□オゾン03ガス
センサが実用の段階に入っている。
〔発明が解決しようとする課題] しかしながら、上記の酸素02.オゾン0.ガスセンサ
においては水蒸気にも恣度を有するので、その時々の湿
度によってガス濃度測定に正確性が欠ける場合があった
このため、ガス濃度測定にあたっては水蒸気センサを同
時に作動させて、この湿度の計測値に基づき、ガス濃度
の計測値を計算で補正して、測定の確度を高める等の処
理が行われている。
本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、常温作
動が可能であり、かつ湿度変化の影響を受けない半導体
素子の酸素Oz、オゾン03ガスセンサおよびガス濃度
測定法の提供を目的としている。
[課題を解決するための手段] 本発明は上記課題を解決するために、半導体素子構造の
ガスセンサを、ガス透過性を有するフン素樹脂材で被覆
する構成とするものである。さらに、半導体素子構造の
ガスセンサをシート状のフッ素樹脂材で包み被検ガスに
臨ませて酸素濃度を測定し、あるいは、半導体素子構造
のガスセンサをシート状のフッ素樹脂材で包み被検ガス
に臨ませて計測した測定値と、半導体素子構造のガスセ
ンサをメンプランフィルター状のフッ素樹脂材で包み被
検ガスに臨ませて計測した測定値との差を求めることに
よりオゾンガス濃度を測定する手法によるものである。
〔作用〕
フッ素樹脂材は酸素02およびオゾン0.ガスを透過さ
せるが水蒸気を透過させない。したがって、半導体素子
をフッ素樹脂材で被覆することにより酸素02.オゾン
03ガスのみが半導体センサのガス感応面に到達し感応
する。さらに、シート状のフッ素樹脂は酸素02のみを
透過させメンプランフィルター状のフッ素樹脂は酸素0
2とオゾン○、の両方を透過させる。したがってシート
状のフッ素樹脂の使用による計測値によって酸素濃度を
求めることができ、あるいはメンプランフィルター状の
フッ素樹脂の使用による計測値の差によってオゾン濃度
を求めることができる。
〔実施例〕
本発明の第一実施例ないし第三実施例を図面に基づき説
明する。
第1図は本発明の第一実施例を示し、半導体素子の酸素
02.オゾン03ガスセンサ1のガス感応面をフッ素樹
脂2で被覆した構造の側面断面図である。
ここで使用される半導体素子の酸素Of、オゾン03ガ
スセンサ1は次のような構造となっている。すなわち、
n型シリコンn−3i基板1aに加熱によって酸化シリ
コンSiO□層1bが形成されており、この上にスパッ
タリング法にてフ・ン化うンタンLaF3層1cが膜厚
2000人程度に成膜されている。このフッ化ランタン
L a F 3は酸素イオン導電体であり、酸素02に
は感応するが水素やアルコール等には感応しない性質を
有する。したがって、フッ化ランタンl、aFzをガス
感応面に使用することにより酸素02を選8沢的に検出
することが可能である。
このフッ化うンタンLaF:+層上には電極として、ま
たセンサとしての増感作用を行う白金pt層1dがスパ
ッタリング法等により500人厚程度に形成され、この
白金Pt層1dの対極には一方の電極としてアルミニウ
ムA1層1eが形成されている。これらの白金Pt層1
dとアルミニウムA1層1eとからはいずれもリード線
1f。
1f′が引きだされている。1gのエポキシ樹脂はリー
ド線1fの保護膜である。
第一実施例は上記のように、MISダイオード(met
al 1nsulator semiconducto
r diode)構造の半導体素子ガスセンサの、フン
化ランタンLaF3層1cと、電極の白金Pt層1d上
にフッ素樹脂2をスバ・ツタリング法で2000人程度
に成膜したものである。すなわち、フッ素樹脂は酸素0
□あるいはオゾン03を透過させるが水蒸気を透過させ
ない性質を有する。したがって、検知環境としての外気
中の湿度の影響を受けずに酸素02オゾン03のみを選
択的に検出することが可能となる。
この、フッ素樹脂の有する水蒸気と酸素02゜オゾン0
3との選択透過性については必ずしも理論的に明らかに
なっていないが、経験的事実として一般的に承認されて
いるものである。
第2図は上記構造の半導体ガスセンサを用いて各種の試
験を行った結果を示すグラフである。すなわち、同図に
おいて、グラフ(ア)、(1)はセンサのガス感応面を
フッ素樹脂で被覆しない従来の場合のセンサ出力を示し
、このうち、グラフ(ア)は酸素0□のドライガスにセ
ンサを臨ませた場合のグラフであり、グラフ(1)はウ
ェットガスにセンサを臨ませた場合のグラフである。こ
れをみれば、計測値に倍以上の開きがあり、明らかにセ
ンサはウェットガスの水蒸気に感応していることがわか
る。なお、ドライガスとはガスボンベより流量計を介し
て直接、試験チャンバ内に流入させたガスであり、ウェ
ットガスとはガスボンへより取り出したガスを水中に導
き、バブリングさせて試験チャンバ内に導いた場合のガ
スをいう。
グラフ(イ)、(つ)はガス感応膜をフッ素樹脂で被覆
し、ウニ・ノドガスに臨ませた場合の応答波形を示す特
性図である。このうち、グラフ(イ)はフン素樹脂を2
000人厚に成膜した場合であり、グラフ(つ)はフッ
素樹脂を1000人に成膜した場合である。
これによれば、グラフ(イ)はフッ素樹脂を成膜しない
センサをドライガスに臨ませた場合のグラフ(ア)と大
差ない測定値を示している。すなわち、ガス感応面にフ
ッ素樹脂を2000人程度に成膜した場合、水蒸気の影
響を大幅に除去できることがわかる。
第3図のグラフはフッ素樹脂を2000人程度に成膜し
た上記半導体センサのドライガスとウェットガスに対す
る反応を示す特性図であり、このグラフによってもセン
サ出力の飽和値がほぼ同じであることから、フッ素樹脂
の成膜によって水蒸気の影響を著しく減少できることが
わかる。
第4図は第二実施例を示し、半導体素子の酸素0□、オ
ゾン03ガスセンサの全体をシート状あるいはメンプラ
ンフィルター状のフッ素樹脂材で包んだものである。
図において、3は半導体素子の酸素02.オゾン03ガ
スセンサであり、この実施例においてはMO3構造電界
効果トランジスタ(F ET ; fieldeffe
ct transistor)のゲート絶縁膜上に白金
黒Pt−blackをスパッタリング法で形成してこれ
をガス感応膜とする半導体素子を用いた。
この半導体素子3をリード線を外部に引き出すための基
板4上に搭載し、全体をシート状またはメンプランフィ
ルター状のフッ素樹脂5でバッキングする。シート状の
フッ素樹脂は電子顕微鏡で拡大してみると、隙間のない
緻密な構造をしており、酸素02は通すがオゾン03は
通さない性質がある。これに対してメンプランフィルタ
ー状のフッ素樹脂は2〜5μm程度の孔がランダムにお
いており、酸素0□、オゾン03ともに透過することが
できる。水蒸気はシート状、メンプランフィルター状い
ずれのフン素樹脂とも通さない。
第6図のグラフは上記第二実施例の半導体素子のガスセ
ンサを上記シート状のフッ素樹脂でバッキングして試験
を行った時の応答波形を示す特性図である。
図において、酸素0220%の雰囲気中の(力)(キ)
の部分に対応する形でセンサ出力(μA)は低下してお
り、酸素02を窒素N、100%に入れ換えた(す)の
部分においてはセンサ出力が上昇していること、また、
50ppmのオゾン03を流入させた(り)、(ケ)、
(コ)、の部分においてはセンサ出力の変動が見られず
、さらに、湿度60パーセントから湿度O%となった(
シ)部分に対応するセンサ出力の変動が見られないこと
を考えれば、この、シート状のフッ素樹脂で包んだ半導
体素子のガスセンサはオゾン03と水蒸気に感応せず、
酸素0□にのみ選択的に感応していることがわかる。
第7図のグラフは第二実施例の上記半導体素子ガスセン
サをメンプランフィルター状のフ・ン素樹脂で包んで試
験を行った時の応答波形を示すものである。このメンプ
ランフィルター状のフ・ン素樹脂は上記のように酸素0
2とオゾン03を通すものであり、これをグラフにみれ
ば、50ppmのオゾン03を流入させた(ス)、(セ
)、(ソ)の部分に対応するセンサ出力の低下がみられ
、この、メンプランフィルター状のフッ素樹脂で包んだ
半導体素子のガスセンサはオゾン03に感応しているこ
とがわかる。
酸素0゜およびオゾン03ガス濃度の測定手順は次のよ
うになる。
すなわち、酸素02ガスの測定にあっては、リード線を
外部に引き出すための基板上に搭載された半導体素子の
ガスセンサをシート状のフッ素樹脂で包む。つぎに、こ
のシート状のフッ素樹脂に包まれた半導体素子のガスセ
ンサを被検ガスに臨ませて計測するという手順となる。
この場合、上記のようにシート状のフッ素樹脂は酸素0
2ガスのみを通すので酸素02のガス濃度を選択的に測
定することができる。
オゾン03ガス濃度の測定にあっては、リード線を引き
出すための基板上に搭載された半導体素子のガスセンサ
をシート状のフッ素樹脂で包み、被検ガスを測定する。
次いで、同じ半導体素子のガスセンサをメンプランフィ
ルター状のフッ素樹脂で包み、被検ガスを測定する。こ
の場合、上記のようにシート状のフッ素樹脂は酸素0□
のみを通し、メンプランフィルター状のフッ素樹脂は酸
素0□とオゾン03の両方を通すので、シート状のフッ
素樹脂を用いて計測した場合の測定値と、メンプランフ
ィルター状のフッ素樹脂を用いて計測した場合の測定値
との差を求めればオゾン0゜ガスのガス濃度を求めるこ
とができる。
第5図は第三実施例を示し、半導体素子の酸素0□、オ
ゾン03ガスセンサを包むパッケージの一部にシート状
およびメンプランフィルター状のフッ素樹脂を用いたも
のである。
図において、3′は半導体素子の酸素02.オゾン03
ガスセンサであり、リード線を引き出すための基板4′
に搭載されている。この半導体素子のガスセンサを、ガ
ス非透過性物質、例えば金属7などでパッケージする。
この場合、金属7の一部分はシート状またはメンプラン
フィルター状のフッ素樹脂材6で形成されており、酸素
Oz。
オゾン03ガスはこの部分を透過し半導体素子3′のガ
ス感応面に到達する。
ガス測定法については上記第二実施例の説明と同様であ
る。
〔発明の効果〕
以上説明のように、半導体素子構造のガスセンサをフッ
素樹脂材で被覆することにより、常温作動が可能であり
、かつ湿度変化の影響を受けない半導体素子のガスセン
サとすることができる。
また、シート状のフッ素樹脂は酸素02ガスのみを通し
、メンプランフィルター状のフッ素樹脂は酸素0□とオ
ゾン03ガスの両方を通す性質を利用することにより、
酸素0□の測定方法やオゾン03の測定方法とすること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第一実施例を示し、半導体素子の酸素
02.オゾン03ガスセンサのガス感応面をフッ素樹脂
で被覆した構造の側面断面図、第2図および第3図は第
1図に示す半導体構造のガスセンサを用いて各種の試験
を行った時の応答波形を示すグラフ、第4は第二実施例
を示し、半導体の素子の酸素02.オゾン03ガスセン
サをシート状あるいはメンプランフィルター状のフッ素
樹脂材で包んだ側面断面図、第5図は第三実施例を示し
、半導体素子の酸素02.オゾン03ガスセンサを包む
パッケージの一部分にシート状およびメンプランフィル
ター状のフッ素樹脂を用いた側面断面図、第6図は第二
実施例で使用する半導体素子のガスセンサをシート状の
フッ素樹脂でパッキングし試験を行って得られた特性図
、第7図は第二実施例で使用する半導体素子のガスセン
サをメンプランフィルター状のフン素樹脂でバンキング
し試験を行って得られた特性図である。 M I S型半導体素子ガスセンサ フッ素樹脂膜 センサ素子 センサ素子 リード線引き出し基板 リード線引き出し基板 フッ素樹脂膜 フッ素樹脂膜 ガス非透過性物質 第2図 (ア)Dry (1) Wet (り) C71”) 2Gas 02GO5(before Coating)’   
 (Teflon 1000A)、、    (Tef
lon 2000A)第3図 ]b IJ 第6図 時間(min) vf間 第4図 第5図 第7図 時間

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体素子構造のガスセンサをフッ素樹脂材で被
    覆して成ることを特徴とする半導体ガスセンサ。
  2. (2)半導体素子構造のガスセンサをシート状のフッ素
    樹脂材で包み被検ガスに臨ませて酸素濃度を測定するこ
    とを特徴とするガス濃度測定方法。
  3. (3)半導体素子構造のガスセンサをシート状のフッ素
    樹脂材で包み被検ガスに臨ませて計測した測定値と、半
    導体素子構造のガスセンサをメンプランフィルター状の
    フッ素樹脂材で包み被検ガスに臨ませて計測した測定値
    との差を求めることによりオゾンガス濃度を測定するこ
    とを特徴とするガス濃度測定方法。
JP2253101A 1990-09-21 1990-09-21 半導体ガスセンサおよびガス濃度測定方法 Pending JPH04131756A (ja)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102016558A (zh) * 2008-04-25 2011-04-13 罗伯特.博世有限公司 废气适用的、高温传感器的保护层

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