JPH04127894U - 真空ポンプ - Google Patents

真空ポンプ

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JPH04127894U
JPH04127894U JP1991033786U JP3378691U JPH04127894U JP H04127894 U JPH04127894 U JP H04127894U JP 1991033786 U JP1991033786 U JP 1991033786U JP 3378691 U JP3378691 U JP 3378691U JP H04127894 U JPH04127894 U JP H04127894U
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JP
Japan
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temperature
rotor
casing
vacuum pump
side member
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Pending
Application number
JP1991033786U
Other languages
English (en)
Inventor
浩行 須田
Original Assignee
セイコー精機株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by セイコー精機株式会社 filed Critical セイコー精機株式会社
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Publication of JPH04127894U publication Critical patent/JPH04127894U/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F04POSITIVE - DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS FOR LIQUIDS OR ELASTIC FLUIDS
    • F04DNON-POSITIVE-DISPLACEMENT PUMPS
    • F04D19/00Axial-flow pumps
    • F04D19/02Multi-stage pumps
    • F04D19/04Multi-stage pumps specially adapted to the production of a high vacuum, e.g. molecular pumps

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Non-Positive Displacement Air Blowers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本考案は、ベーキング温度を高めて真空ポン
プ内の壁面からの放出ガスをより多く除去することによ
って、より高真空が得られる真空ポンプを提供すること
を目的とする。 【構成】 本考案の真空ポンプは、検出面15aがロー
タ側部材8に対向するような非接触式の温度センサ15
と、この温度センサ15の検出温度に基づいて真空ポン
プを加熱するヒータ13の温度を制御する制御回路16
とを設けた構成としたものである。 【効果】 本考案によれば、ロータ側部材4、8が回転
していても非接触式の温度センサ15によりその温度を
正確に検出することができ、その検出温度信号を入力し
た制御回路16はその検出温度に基づいてヒータ13の
温度を制御することができるため、許容されるギリギリ
の温度までベーキング温度を高くすることが可能とな
る。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、真空チャンバ等を真空にする真空ポンプに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、例えばIC製品等を製造する場合に、各工程を各作業室内において行っ ており、一作業室内で一工程が完了すると、被作業物をゲートバルブを経由して 次の作業室へ搬送している。ここで、一作業室においてはこの室内を真空にする 必要がある場合があり(真空チャンバ)、この場合には半導体製造装置に真空ポ ンプを使用していた。
【0003】 このような真空ポンプとしては、例えば図3に示すような複合型ターボ分子ポ ンプがある。同図において、符号101はケーシングであり、このケーシング1 01には吸入口102が形成され、ケーシング101の内側にはロータ104が 収装されている。ロータ104には、ケーシング101内周壁面に向かってロー タ翼105と、螺旋状のネジ溝部108(ネジ溝およびネジ山を含む)が形成さ れ、このロータ翼105およびネジ溝部108に対向して、ステータ翼106お よびステータ109がケーシング101内周壁面に取り付けられている。ロータ 104はケーシング101内に収装されたモータ107によって回転駆動され、 このことによりロータ翼105およびネジ溝部108がステータ翼106および ステータ109に対して相対的に高速回転する。
【0004】 このように、ロータ104をモータ107によって回転駆動させると、ロータ 翼105およびネジ溝部108がステータ翼106およびステータ109に対し て相対的に高速回転するが、このロータ翼105およびネジ溝部108とステー タ翼106およびステータ109との協働によって、作業室(真空チャンバ)内 の半導体製造時のプロセスガス等の分子を吸入口102から吸込んでいる。吸込 まれた前記分子はステータ109とネジ溝部108の間を通り、さらにケーシン グ101に固設されたベース110内の連通路111を通って、排出口103か ら排出している。
【0005】 またこのような真空ポンプは、ロータ104を回転させた状態でヒータ113 により加熱することにより、真空ポンプ内の壁面からの放出ガスを除去して高真 空を得ることが可能となっている(ベーキング)。その際のベーキング温度は、 通常100℃前後で行われている。これは、真空ポンプのロータ104にはAl 合金が用いられており、このAl合金の強度は120℃位から急激に低下するた めである。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来の真空ポンプにあっては、ベーキングの際にロ ータ104は回転しているため、直接接触するタイプの温度センサでは、その温 度を検出することができないことから、大体の目安で安全性を考慮して、Al合 金の強度が急激に低下する120℃から20℃も低い100℃前後でベーキング を行っている。このため、ベーキング温度が高いほど真空ポンプ内の壁面からの 放出ガス量が大きくなるにもかかわらず、120℃直前までベーキング温度を高 くしてより高真空を得ることができないという問題点があった。そこで本考案は 、このような問題点を解決することを課題とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本考案は、一端部に吸入口を有する略円筒状のケー シングと、前記ケーシング内に同軸状に配置されて回転するロータと、前記ケー シングの他端部に連結され排出口を有するベースと、前記ケーシングの外周に設 けられたヒータと、前記ロータ側に設けられて一体的に回転するロータ側部材と 、前記ケーシング側に設けられたケーシング側部材とを備え、前記ロータ側部材 と前記ケーシング側部材との相対回転により前記吸入口から強制的にガスを吸入 して前記排出口から排出させる真空ポンプにおいて、検出面が前記ロータ側部材 に対向してロータ側部材の温度を非接触で検出する温度センサと、前記温度セン サの検出温度に基づいて前記ヒータの温度を制御する制御回路とを設けたことを 構成とし、さらに、前記温度センサを前記ベース側に設けたことを構成としたも のである。
【0008】 このような構成の真空ポンプによれば、ロータ側部材が回転していても非接触 でロータ側部材の温度を検出する温度センサによりその温度を正確に検出するこ とができ、その検出温度信号を入力した制御回路はその検出温度に基づいて前記 ヒータの温度を制御することができるため、材料の強度が低下しないギリギリの 温度までベーキング温度を高くすることが可能となり、それ以上の温度に達しな いようにヒータの加熱作用を低減させるか、あるいは停止させて、材料の強度が 低下することを防止することができる。
【0009】
【実施例】
以下、本考案の実施例について図面に基づいて説明する。図1は本考案による 真空ポンプの第1実施例に係る複合型ターボ分子ポンプを示す図である。同図に おいて、符号1はケーシングであり、このケーシング1は全体が略円筒状となっ ており、このケーシング1の上方には真空チャンバとしての作業室(図示せず) の開口部と接続する吸入口2が形成されている。ケーシング1の内部にはロータ 4が収装されており、このロータ4はモータ7により回転駆動される。ロータ4 の図1中略上半部には、ケーシング1内壁面に向かって複数のロータ翼5が形成 されており、またこのロータ翼5はロータ4の軸線方向に多段に形成されている 。ケーシング1側にはロータ翼5と同じように複数形成されたステータ翼6がロ ータ翼5に対向して配設されるとともに、多段のロータ翼5間に交互に位置し、 ケーシング1の略上半部に多段に取り付けられている。また、ロータ4の略下半 部の外周壁には螺旋状のネジ溝およびネジ山から構成されるネジ溝部8が形成さ れ、このネジ溝部8と対向して略円筒状のステータ9が、ケーシング1の内周壁 の略下半部に取り付けられている。
【0010】 ケーシング1の外周壁の図中上方には、帯状のヒータ13が巻きついて取付け られている。また、ケーシング1の図中下方にはベース10が連結されており、 このベース10には吸入されたガスが通るガス通路11が形成され、ベース10 にはさらにそのガスを排出する排出口3が形成された排気ポート17が嵌合して 取付けられている。さらにベース10の図中右側には、図中上下方向にのびる孔 10aが形成されており、この孔10aにはロータ4のネジ溝部8の図中下端面 が対向している(図中矢印)。孔10aの図中下側のベース10には、非接触式 の温度センサ15(例えば赤外線放射温度計)が設けられており、この温度セン サ15の検出面15aが孔10aを介してロータ4のネジ溝部8の図中下端面に 対向している。温度センサ15はその検出信号を制御回路16に入力させ、制御 回路16はヒータ13に信号を出力してヒータ13の温度を制御することができ るようになっている。
【0011】 このような真空ポンプにおいては、真空チャンバを真空にする場合に作動させ るが、それにはまずモータ7を起動させてロータ4を回転駆動させ、ロータ翼5 およびネジ溝部8を静止しているステータ翼6およびステータ9に対して相対的 に高速回転させる。このように、ロータ翼5およびネジ溝部8がステータ翼6お よびステータ9に対して相対高速回転すると、真空チャンバ内で半導体製造時に 用いられたプロセスガス等の分子は強制的に吸入口2から吸引され、ステータ9 とネジ溝部8のネジ溝との間を通って排出口3から排出される。
【0012】 このような真空ポンプは、ロータ4を回転させた状態でヒータ13により加熱 することにより、真空ポンプ内の壁面からの放出ガスを除去するベーキングを行 って高真空を得ることができる。このようなベーキング時においては、ロータ4 およびネジ溝部8が回転していても、非接触式の温度センサ15によりその温度 を正確に検出することができ、その検出温度信号を入力した制御回路16はその 検出温度に基づいてヒータ13の温度を制御することができるため、120℃直 前までベーキング温度を高くすることが可能となり、それ以上の温度に達しない ようにヒータ13の加熱作用を低減させるか、あるいは停止させて、ロータ4お よびネジ溝部8を構成するAl合金の強度が低下することを防止することができ る。
【0013】 図2には、本考案の第2実施例を示している。前記第1実施例にあっては、非 接触式の温度センサ15はそのほとんどがベース10の外側に出た状態で構成さ れていたが、この第2実施例は、その非接触式の温度センサ25をすっかりベー ス10の内部に包含するよう構成したものである。ベース10の一部には元々比 較的スペースに余裕があり、このスペースを用いて温度センサ25を収納するこ とにより、前記第1実施例の真空ポンプよりも小型化することができる。
【0014】 なお、上記実施例においては複合式の真空ポンプについて説明したが、翼部材 だけから構成される真空ポンプ、あるいはネジ溝部のみの真空ポンプにも本考案 を適用することが可能である。また、上記実施例においては非接触式の温度セン サ15、25をベース10に設けた場合について説明したが、場合によってはケ ーシング1にその温度センサを設けてもよい。さらに、上記実施例においては非 接触式の温度センサの一例として赤外線放射温度計を挙げたが、非接触式の温度 センサであればその他どのようなタイプのものであってもよい。
【0015】
【考案の効果】
以上説明したように本考案によれば、ロータ側部材が回転していても非接触で ロータ側部材の温度を検出する温度センサによりその温度を正確に検出すること ができ、その検出温度信号を入力した制御回路はその検出温度に基づいて前記ヒ ータの温度を制御することができるため、材料の強度が低下しないギリギリの温 度までベーキング温度を高くすることが可能となり、それ以上の温度に達しない ようにヒータの加熱作用を低減させるか、あるいは停止させて、材料の強度が低 下することを防止することができる。また、何等かの影響でロータが高温となっ た場合、例えばポンプ冷却用水が停止してしまったり、最大動作圧力を越えたり した場合等においても、制御回路によりロータを停止させることができる。さら に、前記第2実施例によれば、上記効果の他に真空ポンプの小型化をも図ること ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案による真空ポンプの第1実施例を示す全
体断面図である。
【図2】本考案による真空ポンプの第2実施例を示す全
体断面図である。
【図3】従来の真空ポンプを示す全体断面図である。
【符号の説明】
1 ケーシング 2 吸入口 3 排出口 4 ロータ 5 ロータ翼(ロータ側部材) 6 ステータ翼(ステータ側部材) 8 ネジ溝部(ロータ側部材) 9 ステータ(ステータ側部材) 13 ヒータ 15、25 温度センサ 16 制御回路

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一端部に吸入口を有する略円筒状のケー
    シングと、前記ケーシング内に同軸状に配置されて回転
    するロータと、前記ケーシングの他端部に連結され排出
    口を有するベースと、前記ケーシングの外周に設けられ
    たヒータと、前記ロータ側に設けられて一体的に回転す
    るロータ側部材と、前記ケーシング側に設けられたケー
    シング側部材とを備え、前記ロータ側部材と前記ケーシ
    ング側部材との相対回転により前記吸入口から強制的に
    ガスを吸入して前記排出口から排出させる真空ポンプに
    おいて、検出面が前記ロータ側部材に対向してロータ側
    部材の温度を非接触で検出する温度センサと、前記温度
    センサの検出温度に基づいて前記ヒータの温度を制御す
    る制御回路とを設けたことを特徴とする真空ポンプ。
  2. 【請求項2】 前記温度センサを前記ベース側に設けた
    ことを特徴とする請求項1記載の真空ポンプ。
JP1991033786U 1991-05-14 1991-05-14 真空ポンプ Pending JPH04127894U (ja)

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JP (1) JPH04127894U (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10266991A (ja) * 1997-01-22 1998-10-06 Seiko Seiki Co Ltd ターボ分子ポンプ
JP2001329991A (ja) * 2000-05-18 2001-11-30 Alps Electric Co Ltd ターボ分子ポンプ
JP2006242069A (ja) * 2005-03-02 2006-09-14 Shimadzu Corp ターボ分子ポンプ

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10266991A (ja) * 1997-01-22 1998-10-06 Seiko Seiki Co Ltd ターボ分子ポンプ
JP2001329991A (ja) * 2000-05-18 2001-11-30 Alps Electric Co Ltd ターボ分子ポンプ
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