JPH04121722U - セラミツク電子部品 - Google Patents

セラミツク電子部品

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Publication number
JPH04121722U
JPH04121722U JP3572191U JP3572191U JPH04121722U JP H04121722 U JPH04121722 U JP H04121722U JP 3572191 U JP3572191 U JP 3572191U JP 3572191 U JP3572191 U JP 3572191U JP H04121722 U JPH04121722 U JP H04121722U
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JP
Japan
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ceramic
ceramic electronic
electrodes
electronic component
semiconductor
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Withdrawn
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JP3572191U
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English (en)
Inventor
久男 阿部
昭一 岩谷
典正 坂本
祐樹 森
Original Assignee
テイーデイーケイ株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】熱残留応力を緩和し、特性劣化を防止し得るセ
ラミック電子部品を提供する。 【構成】半導体磁器素地1の厚み方向の両面に電極2、
3を設ける。電極2、3の面内に孔40、50を有する
磁器層4、5を付着する。磁器層4、5は両面に導電膜
61、62、71、72を有していて、導電膜62、7
2が電極2、3に接合されている。導電膜61、71に
リード導体8、9がロウ付けされている。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、チタン及びバリウムを含む半導体磁器素地の厚み方向の両面に電極 を設け、電極にリード導体を導通させたセラミック電子部品に関し、半導体磁器 素地の厚み方向の両面に設けられた電極の面内に、孔を有する磁器層を付着し、 磁器層の表面の導電膜上にリード導体をロウ付けすることにより、熱残留応力を 緩和し、特性劣化を防止し得るセラミック電子部品を提供できるようにしたもの である。
【0002】
【従来の技術】
この種のセラミック電子部品は、例えば放電灯の無接点始動器として使用され る非直線性誘電体素子、正特性サーミスタ素子及び半導体コンデンサ等が含まれ る。これらのセラミック電子部品において、電極にリード導体を直接にロウ付け した場合、電極食われや半導体磁器素地へのフリット拡散による特性劣化を招く 。かかる問題点解決を目的とした先行技術文献としては、特開昭63ー1366 12号公報、特開昭63ー296209号公報等が知られている。これらの従来 技術においては、半導体磁器素地の両面に形成されている電極の全面を、強誘電 性結晶化ガラスによって覆い、強誘電性結晶化ガラスの上にリード導体を固定し 、強誘電性結晶化ガラスを貫通させた通電部によって、リード導体をロウ付け等 の手段によって電極に導通させてあった。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、電極を強誘電性結晶化ガラスによって覆う従来構造では、リー ド導体のロウ付け時の半導体磁器素地と強誘電性結晶化ガラスとの間の線膨張係 数の差に起因する熱残留応力が発生し、特性劣化を招く。例えば、非直線性誘電 体素子ではパルス電圧が低下し、パルス電圧の時間的変動が大きくなる。また、 磁器層を貫通する通電部によって電極を引出す複雑な構造をとる必要もあった。
【0004】 そこで、本考案の課題は上述する問題点を解決し、熱残留応力を緩和して特性 劣化を防止でき、簡単な構造でリード導体を電極に導通接続させ得るセラミック 電子部品を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上述した課題解決のため、本考案は、チタン及びバリウムを含む半導体磁器素 地の厚み方向の両面に電極を設け、前記電極にリード導体を導通させたセラミッ ク電子部品であって、 前記電極の面内に、孔を有する磁器層が付着されており、 前記磁器層は、両面に導電膜を有していて、前記導電膜の一方が前記電極に接 合されており、前記導電膜の他方に前記リード導体がロウ付けされていること を特徴とする。
【0006】
【作用】
電極の面内に、磁器層が付着されているので、半導体磁器素地と電極の上に設 けられる磁器層との間の線膨張係数が近似するようになり、残留応力が軽減され 、安定した特性が得られる。
【0007】 しかも、磁器層は孔を有するので、孔により残留応力が更に軽減され、より一 層安定した特性が得られるようになる。
【0008】 磁器層は両面に導電膜を有していて、導電膜の一方が電極に接合されており、 導電膜の他方にリード導体がロウ付けされているから、リード導体接続時の熱処 理温度が高いときに生じる電極食われ、または半導体磁器素地へのフリット拡散 を阻止し、特性劣化を防止できる。
【0009】 電極及びリード導体を接合する導電膜は、磁器層の両面に設ければよいから、 構造が簡単化され、製造が容易になる。
【0010】
【実施例】
図1は本考案に係るセラミック電子部品の正面断面図、図2は同じくその平面 図である。図において、1は半導体磁器素地、2、3は電極、4、5は磁器層、 6、7は導電膜、8、9はリード導体、10、11は接合材、12、13はガラ スを示している。
【0011】 半導体磁器素地1は、チタン及びバリウムを含む半導体磁器材料で構成されて いる。このような半導体磁器材料は、一般には、チタン酸バリウム系半導体磁器 材料と呼ばれており、添加物や焼成条件等の差異によって特性の異なる種々のセ ラミック電子部品が得られる。代表例として、非直線性誘電体素子、正の抵抗温 度特性を有する正特性サーミスタ素子及び半導体コンデンサ等をあげることがで きる。半導体磁器素地1は円形や角形等の任意の形状を有する平板状となってい る。
【0012】 電極2、3は半導体磁器素地1の厚み方向の両面に形成されている。電極2、 3の電極材料は周知である。代表例としてはAg合金等をあげることができる。 電極2、3の面内には、電極面積よりも小さい面積で、孔40、50を有する磁 器層4、5が付着されている。非直線性誘電体素子の場合、パルス電圧変動幅を 小さく抑える観点から、孔40、50の孔径は、半導体磁器素地1の外径に対す る比が(3/14)よりも小さくなるように選定することが望ましい。
【0013】 磁器層4、5は、半導体磁器素地1の主成分であるチタン、バリウム系セラミ ック粉末を含有していることが望ましい。磁器層4、5の両面には導電膜(61 、62)、(71、72)が焼付等の手段によって一体的に被着されている。こ の導電膜(61、62)、(71、72)は電極2、3と同じ材質であっても、 異なる材質であってもよい。
【0014】 導電膜62、72は電極2、3に接合されて電気的に導通しており、導電膜6 1、71上にはリード導体8、9がロウ付けによって接合されている。リード導 体8、9はニッケル、鉄ーニッケル、鉄ーニッケルーコバルト系合金等によって 構成できる。リード導体8、9に電圧を印加した場合、半導体磁器素地1の両面 に設けられた電極2ー3間に電圧が印加され、所定の動作をする。
【0015】 上述のように、電極2、3の面内に磁器層4、5が付着されているので、磁器 層4、5と半導体磁器素地1との間の線膨張係数が近似し、残留応力が軽減され 、特性劣化が防止される。非直線性誘電体素子の場合には、時間的変動の小さい 安定した高いパルス電圧が得られる。磁器層4、5は孔40、50を有するので 、孔40、50により残留応力が更に軽減され、より一層安定した特性が得られ る また、磁器層4、5は、電極2、3に導通する導電膜62、72を有しており 、リード導体8、9は磁器層4、5の表面の導電膜61、71上に接合されてい るから、リード導体8、9を高温でロウ付けした場合でも、電極食われや半導体 磁器素地1へのフリット拡散を阻止し、特性劣化を防止できる。
【0016】 図示の電極2、3は外周端縁21、31が半導体磁器素地1の外周面からギャ ップG1 だけ内側に位置するように設けられている。電極2、3の外周端縁21 、31は、その全周がガラス12、13によってリング状に覆われている。従っ て、電極2、3の外周端縁21、31の全周が、ガラス12、13によって封止 され、電極2ー3間の電圧破壊が生じにくくなる。また、ガラス12、13はリ ング状となっているから、ガラス12、13と半導体磁器素地1との間の線膨張 係数の差に起因して生じる残留応力が軽減される。
【0017】 ガラス12、13は、電極2、3の外周端縁21、31の外側に0.1mm以上 のガラス被覆領域G2 が生じるように設けるのが望ましい。こうすることにより 、所定の破壊電圧を確保することができる。またガラス12、13は幅W1 が3 mm以内となるように設けることが望ましい。この範囲内であれば、ガラス12、 13と半導体磁器素地1との間の線膨張係数の差に起因する残留応力が軽減され る。更に、ガラス12、13には半導体磁器素地1の主成分であるチタン、バリ ウム系セラミック粉末を含有させることもできる。こうするとガラス12、13 と半導体磁器素地1との間の線膨張係数が近似したものとなり、半導体磁器素地 1に加わる残留応力が低下する。
【0018】 図3〜図9に他の実施例を示す。図3〜図6は正面断面図、図7〜図9は平面 図である。何れの実施例においても、電極2、3の面内に、孔430、50を有 する磁器層4、5が付着されており、磁器層4、5は両面に導電膜(61、62 )、(71、72)を有する。リード導体8、9は磁器層4、5に設けられた導 電膜61、71上にロウ付け等の手段によって接合されている。
【0019】 上述のような基本的な構造の下で、図3では、ガラス12、13は、半導体磁 器素地1の表面側から裏面側に連続し、半導体磁器素地1の外周面の全体を覆う ように設けてある。図4では、ガラス12、13は、半導体磁器素地1の表面側 及び裏面側において互いに独立し、半導体磁器素地1の外周面の一部を覆うよう に設けられている。図5では、電極2、3のうち、電極2のみにガラス12を付 与した例を示している。図6では、電極2のみに、半導体磁器素地1の端面から 外周面に達するように、ガラス12を設けた例を示している。素7は半導体磁器 素地1の外形を四角形状にした例、図8は半導体磁器素地1の四隅部を弧状にし た例、図9は半導体磁器素地1の相対する両端を半円弧状にした例をそれぞれ示 している。何れの実施例の場合も、図1及び図2を参照して説明したと同様の作 用及び効果が得られる。
【0020】 図10は非直線性誘電体素子におけるパルス電圧特性を示している。白丸印は リード端子接着無しの場合を示し、黒丸印はリード端子接着有りの場合を表示し ている。図11はリード端子の有無によるパルス電圧の差を示している。本考案 に係るセラミック電子部品(本考案品と表示されている)は、外径φ14mmの半 導体磁器素地に対し、孔径φ1mm、φ2mm及びφ3mmの孔40、50を設けた3 種とした。従来品の場合、リード端子の有無によってパルス電圧が800〜11 00(V)の間で約200(V)も変動する。これに対して、本考案品の場合、 孔40、50の孔径φ2mm以下の範囲では、100(V)以下のパルス電圧変動 に抑えることができた。孔径φ3mmに設定した場合でも、従来よりも低いパルス 電圧変動幅に抑えることができる。
【0021】
【考案の効果】
以上述べたように、本考案によれば、次のような効果が得られる。 (a)電極の面内に磁器層が付着されているので、磁器層と半導体磁器素地との 間の残留応力が軽減され、特性の安定したセラミック電子部品を提供できる。 (b)磁器層は孔を有するので、孔により残留応力が更に軽減され、より一層安 定した特性のセラミック電子部品を提供できる。 (c)磁器層は両面に導電膜を有していて、導電膜の一方が電極に接合されてお り、導電膜の他方にリード導体がロウ付けされているから、リード導体接続時の 熱処理温度が高いときに生じる電極食われ、または半導体磁器素地へのフリット 拡散を阻止し、特性劣化を防止シタセラミック電子部品を提供できる。 (d)電極及びリード導体を接合する導電膜は、磁器層の両面に設ければよいか ら、構造が簡単化され、製造が容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係るセラミック電子部品の正面断面図
である。
【図2】本考案に係るセラミック電子部品の平面図であ
る。図3〜図6本考案に係るセラミック電子部品の他の
実施例における各正面断面図である。図7〜図9本考案
に係るセラミック電子部品の他の実施例における各平面
図である。
【図10】リード端子接着の有無に伴う非直線性誘電体
素子のパルス電圧特性を示すデータである。
【図11】リード端子の有無によるパルス電圧の差を示
すデータである。
【符号の説明】
1 半導体磁器素地 2、3 電極 4、5 磁器層 40、50 孔 61、62 導電膜 71、72 導電膜 8、9 リード導体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 森 祐樹 東京都中央区日本橋1丁目13番1号 テイ ーデイーケイ株式会社内

Claims (9)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 チタン及びバリウムを含む半導体磁器素
    地の厚み方向の両面に電極を設け、前記電極にリード導
    体を導通させたセラミック電子部品であって、前記電極
    の面内に、孔を有する磁器層が付着されており、前記磁
    器層は、両面に導電膜を有していて、前記導電膜の一方
    が前記電極に接合されており、前記導電膜の他方に前記
    リード導体がロウ付けされていることを特徴とするセラ
    ミック電子部品。
  2. 【請求項2】 前記磁器層は、チタン及びバリウムを含
    むことを特徴とする請求項1に記載のセラミック電子部
    品。
  3. 【請求項3】 前記半導体磁器素地は、非直線性誘電体
    素地であることを特徴とする請求項1または2に記載の
    セラミック電子部品。
  4. 【請求項4】 前記半導体磁器素地は、正の抵抗温度特
    性を有することを特徴とする請求項1または2に記載の
    セラミック電子部品。
  5. 【請求項5】 前記半導体磁器素地は、前記電極と共に
    半導体コンデンサを構成することを特徴とする請求項1
    または2に記載のセラミック電子部品。
  6. 【請求項6】 前記電極の少なくとも一方は、外周端縁
    のほぼ全周がガラスによってリング状に覆われているこ
    とを特徴とする請求項1、2、3、4または5に記載の
    セラミック電子部品。
  7. 【請求項7】 前記ガラスは、チタン、バリウム系セラ
    ミック粉末を含有することを特徴とする請求項6に記載
    のセラミック電子部品。
  8. 【請求項8】 前記ガラスは、前記電極の前記外周端縁
    の外側に0.1mm以上のガラス被覆領域が生じるように
    設けられていることを特徴とする請求項6または7に記
    載のセラミック電子部品。
  9. 【請求項9】 前記ガラスは、幅が3mm以内であること
    を特徴とする請求項6、7または8に記載のセラミック
    電子部品。
JP3572191U 1991-04-18 1991-04-18 セラミツク電子部品 Withdrawn JPH04121722U (ja)

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